Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

35 страниц

487.00 ₽

Купить ГОСТ Р 8.623-2015 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает методики измерений относительной диэлектрической проницаемости эпсилон и тангенса угла диэлектрических потерь тангенс дельта твердых диэлектриков в микроволновом диапазоне частот на основе резонансных методов.

 Скачать PDF

Оглавление

1 Область применения

2 Нормативные ссылки

3 Требования безопасности

4 Условия выполнения измерений

5 Требования к квалификации оператора

6 Требования к средствам измерений

7 Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте

8 Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной длине

9 Метод щелевого резонатора

10 Метод металлодиэлектрического резонатора

11 Метод объемного резонатора в закритическом режиме

12 Метод объемного резонатора для стержневых образцов

Приложение А (рекомендуемое) Рекомендуемые средства измерений

Приложение Б (рекомендуемое) Размеры резонаторов

Приложение В (обязательное) Подготовка образцов для измерений

Приложение Г (обязательное) Измерение добротности резонатора

Приложение Д (обязательное) Определение глубины скин-слоя в отражателях МДР

 
Дата введения01.10.2016
Добавлен в базу01.02.2017
Актуализация01.01.2019

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

16.11.2015УтвержденФедеральное агентство по техническому регулированию и метрологии1814-ст
ИзданСтандартинформ2016 г.
РазработанФГУП ВНИИФТРИ

State system for ensuring the uniformity of measurements. Relative dielectric permittivity and the loss tangent of solid dielectrics. Procedure of measurements at microwave frequencies

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20
Стр. 21
стр. 21
Стр. 22
стр. 22
Стр. 23
стр. 23
Стр. 24
стр. 24
Стр. 25
стр. 25
Стр. 26
стр. 26
Стр. 27
стр. 27
Стр. 28
стр. 28
Стр. 29
стр. 29
Стр. 30
стр. 30

ГОСТР

8.623—

2015

ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

НАЦИОНАЛЬНЫЙ

СТАНДАРТ

РОССИЙСКОЙ

ФЕДЕРАЦИИ

Государственная система обеспечения единства измерений

ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ И ТАНГЕНС УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

Методики измерений в диапазоне сверхвысоких частот

ш

Издание официальное

Москва

Стандартинформ

2016

Предисловие

1    РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (ФГУП «ВНИИФТРИ»), Восточно-Сибирский филиал»

2    ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК206 «Эталоны и поверочные схемы», Подкомитетом ПК 206.7 «Эталоны и поверочные схемы в области измерений электрических величин»

3    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 16 ноября 2015 г. № 1814-ст

4    ВЗАМЕН ГОСТ Р 8.623-2006

Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8).Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

© Стандартинформ, 2016

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

0j,02- параметры, определяемые по формулам

sin(2x)


Ф, =1-


(8.6)

(8.7)


sin[2h2 (L0 - 7)]


Ф2=1-


2h2(L0 -1)

д- параметр, учитывающий изменение омических потерь в стенках резонатора после введения образца и определяемый по формуле


rh2a^2


+^Ф„


f 7-Ь-'

r] = G 1


(8.8)


8(Ф1+^-()Ф2

f \

2

1

ш

1

£

рс

+ L0


G - параметр, определяемый по формуле

G = aL0


(8.9)


/0 - резонансная частота резонатора без образца, Гц.

8.4.3 При определении диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образца проводят не менее четырех измерений и за результат принимают среднее арифметическое.

8.5    Требования к неопределенности измерений

8.5.1    При выполнении изложенных выше требований к неопределенности входных величин расширенная неопределенность результата измерений s и tg5, оцененная в соответствии с ГОСТ Р

54500.3 при уровне доверия 0,95 и коэффициенте охвата 2, не превышает:

1    % — для 6 от 1,2 до 10;

1.5    % — для 6 от 10 до 60;

2    % —для е от 60 до 100;

3    % —для е более 100;

з. 1 о-3

(10 +    )    %    —для tg5.

tgs

8.5.2    Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725-2.

9 Метод щелевого резонатора

Данный метод применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 4 до 20 ГГц при относительной диэлектрической проницаемости s от 1,2 до 20 и тангенсе угла диэлектрических потерь tgS от 3-105 до 1-10'2. Измеряемые образцы имеют форму диска или пластины (подложки, листа) толщиной t от 0,5 мм до 2,5 мм в зависимости от диапазона частот и диэлектрической проницаемости.

Преимуществом метода является возможность измерения образцов в виде пластин, листов, подложек и дисков малой толщины и различной площади при достаточно больших коэффициентах заполнения измерительного резонатора.

Условие применимости метода - перекрытие образцом резонансной полости и выполнение неравенства t < c/(5fs 4ё).

9.1    Сущность метода

9.1.1    Для измерений применяют щелевой резонатор, в котором возбуждается колебание Н01р

с нечетным индексом р = 1 или р = 3. Резонатор образован двумя соосными цилиндрами одного диаметра D и длины L каждый, в щель между которыми помещают образец. Один из цилиндров делают подвижным. Схематическое изображение щелевого резонатора приведено на рисунке А.4 приложения А. Размеры щелевого резонатора для измерений в диапазонах частот выбирают в соответствии с таблицей Б.2 приложения Б.

8

ГОСТ Р 8.623-2015

Длина резонансной полости резонатора без образца L0 = 2L и внутренний диаметрD должны быть определены со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. Значения L0 и D могут быть взяты из технической документации на

резонатор или определены в соответствии с приложением Б.

9.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость s определяют по резонансной частоте

резонатора без образца /0 и с образцом fs .

9.1.3    Тангенс угла диэлектрических потерь tg5 определяют по собственной добротности резонатора без образца Q00 и с образцом QoS с учетом изменения в распределении поля и

изменения омических потерь в стенках резонатора после помещения образца.

9.2 Подготовка к измерениям

9.2.1    Собирают измерительную установку на основе анализатора цепей в соответствии с рисунком 1 или на основе других приборов в соответствии с рисунком А.1 приложения А.

9.2.2    Фланцы обоих цилиндров измерительного резонатора протирают мягкой белой бязью.

9.2.3    Приборы в составе установки подготавливают к работе в соответствии с технической документацией на них.

9.2.4    Образцы подготавливают к измерениям и измеряют их толщину в соответствии с приложением В.

9.3 Выполнение измерений

9.3.1    На анализаторе цепей устанавливают полосу обзора с центральной частотой, равной резонансной частоте /0 резонатора длиной L0(при сомкнутых цилиндрах) без образца. Измеряют

значение резонансной частоты /0 со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

9.3.2    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора без образца Q00 со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

9.3.3    Перемещают подвижный цилиндр резонатора и помещают образец в щель между цилиндрами таким образом, чтобы образец перекрывал резонансную полость и фланцы цилиндров плотно прилегали к поверхностям образца. После помещения образца длина резонатора будет L0+t. Устанавливают на анализаторе цепей предварительно рассчитанную частоту резонатора с образцом /е и необходимую полосу обзора до появления резонанса. Резонансная частота резонатора с

образцом fe меньше резонансной частоты резонатора без образца /0. Измеряют резонансную

частоту резонатора с образцом fe со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

9.3.4    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора с образцом Qos со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

9.3.5    При измерении на колебании Нои (с индексом р = 1) возможно понижение резонансной частоты резонатора с образцом /е ниже критической частоты волны Нт в пустой части резонатора fc =cvu/(2mjs^).

9.4 Обработка результатов измерений

( \

2

Г/. \2

с

X

V. fe ;

Ч t у

Л, Л

+

9.4.1 Обработку результатов измерений начинают с проверки выполнения неравенства fe < fили fe > /с. При выполнении неравенства fe > fc диэлектрическую проницаемость образца относительно вакуума определяют по формуле

где


(9.1)

с = 299,792458-109 мм с-1- скорость света в вакууме; fe - резонансная частота резонатора с образцом, Гц;

х - безразмерная величина («электрическая толщина» образца), определяемая из уравнения

9

\K-


/    \    2

V a J


We


ctg(x / 2) 2tg (h2L)


x/2


h2t


0,


(9.2)


- фазовая постоянная в пустой части резонатора, мм'1;


- волновое число в воздухе на частоте fe, мм'1; с

se = 1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях (атмосферное давление 760 мм рт. ст., температура 20 °С, относительная влажность до 40 %); vn = 3,831706 - первый корень функции Бесселя Jx(z); a=0,5D - радиус резонатора, мм (D - диаметр резонатора, мм);

L - длина каждого цилиндра резонатора, мм; t - толщина образца, мм.

9.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формуле


(


tg 5 = К


1


чQoe Q00 J

Q00- собственная добротность резонатора без образца;

Qoe - собственная добротность резонатора с образцом;

Кш- коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формуле


(9.3)


энергии в


L Ф 1 + £- 0 2


st Ф,


(9.4)


параметр, определяемый по формуле


/ N 2    ,

X ] COS 0


sin 0


(9.5)


h2tj cos2(h2L) sin2(h2L)

Примечание — Два способа определения параметра £ в формуле (9.5) даны для исключения операции деления на 0.

Г Y    1    (9-6)


0 = arctgj— tg(h2L)j ;

ФФ2 - параметры, определяемые по формулам:

_ sin[2(x + 0)] - sin(20) 1    2х


(9.7)


Ф2=1-


sin(2h2L )


2 h2L


(9.8)


rj - параметр, учитывающий изменение омических потерь в стенках резонатора после введения образца и определяемый по формуле



( 1 > п2а

to

>

_1

г

2

+—ф2

а

Ui j

а

st Ф1 +£ Ь0Ф2


G


2а

параметр, определяемый по формуле


(9.9)



G = a(L0 +1)

f Л

2

(2 a-(L0 + /))

pc

+ (L0 +t)

v2(£o + Of^


(9.10)


f0 - резонансная частота резонатора без образца, Гц.

9.4.3 При выполнении неравенства fs < fc диэлектрическую проницаемость е относительно вакуума определяют по формуле (9.1), в которой х находят из уравнения

ctg(x/2) 2 th(/?2Z,)_Q х/2    P2t

- к2 - продольное волновое число в пустой части резонатора, мми.


образца

(9.11)



9.4.4 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формулам (9.3), (9.4), где


£ = -


sin2 0

sh W)


0 = arctg


n = G,


Pit.


\Г21 J


cos2 0 ch2(/?2I)


(9.12)


-j-MPiL)

P'T


i

к

к2а


(9.13)


-Ф,

—Ф, -2

fMl

2

a

a

I vn J

^Ф,+^Ц,Ф2


(9.14)


G - параметр, определяемый по формуле (9.10);


sin[2(x + 0)]- sin(20) 2х


(9.15)


Ф2 =1-


sh(2(3 2L) 2(3 2L


(9.16)


9.4.5 При определении диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образца проводят не менее четырех измерений и за результат принимают среднее арифметическое.

9.5    Требования к неопределенности измерений

9.5.1 При выполнении изложенных выше требований к неопределенности входных величин, расширенная неопределенность результата измерений s и tgc>, оцененная в соответствии с ГОСТ Р


54500.3 при уровне доверия 0,95 и коэффициенте охвата 2, не превышает: 1 % — для s от 1,2 до 10;

1,5 % — для s от 10 до 20


2 • 10"3

(10 +    )    %    —    для    tgS.

tg8


9.5.2 Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725-2.


10 Метод металлодиэлектрического резонатора

Метод металлодиэлектрического резонатора (МДР) применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 1 до 20 ГГц при относительной диэлектрической проницаемости s


11


от 2 до 500 и тангенсе угла диэлектрических потерь tg8 от 1-10 5 до 5-10 3. Измеряемые образцы

имеют форму цилиндров диаметром D и высотой L .

Преимуществом метода является широкий диапазон измеряемых значений s, возможность измерения образцов различных размеров и возможность измерения температурных зависимостей s и tgS. Высокие значения диэлектрической проницаемости наиболее точно измеряются данным методом.

В методе МДР резонатором является измеряемый образец с металлическими отражателями и для измерения tg£ образца омические потери в отражателях находят расчетным путем или их отдельной калибровкой.

10.1    Сущность метода

10.1.1    В методе МДР для измерений используют цилиндрический образец диаметром D и высотой L, зажатый между двумя параллельными металлическими плоскостями (отражателями). Рекомендуемое соотношение 0,4D < L < 1,4D . Схематическое изображение резонатора приведено на рисунке А.5 приложения А. Соотношение основных размеров МДР приведено в приложении Б.

10.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость е определяют по резонансной частоте

fe колебания Нои, возбуждаемого в МДР. Колебание Нои соответствует второму по частоте наблюдаемому резонансу. Для повышения точности измерения в диапазоне частот возможно использование резонансных частот колебаний Нотр при индексах т = 1,2,3 и р = 1,2, 3.

10.1.3    Тангенс угла диэлектрических потерь tgS определяют по собственной добротности МДР с образцом Qoe с учетом омических потерь в металлических отражателях.

10.2 Подготовка к измерениям

10.2.1    Собирают измерительную установку на основе анализатора цепей в соответствии с рисунком 1 или на основе других приборов в соответствии с рисунком Г.1 приложения Г.

10.2.2    Отражатели измерительного резонатора протирают мягкой белой бязью.

10.2.3    Приборы в составе установки подготавливают к работе в соответствии с технической документацией на них.

10.2.4    Образцы подготавливают к измерениям и измеряют их диаметр D и высоту L в соответствии с приложением В.

0.3 Выполнение измерений

10.3.1 По измеренным значениям диаметра D и высоты L образца, приближенно известному значению £ образца рассчитывают спектр резонансных частот колебаний Нотр по уравнению

(10.1)

■Л(«) , *.00

«Л (и) уК0(У)

Jn(u),Kn(y)    -    функции    Бесселя    и    модифицированные    функции Бесселя третьего

рода (функции Макдональда) порядка п = 0,1;

и = а Jk? -h2 - внутреннее поперечное безразмерное волновое число

(2,405 < и <3,832 для т= 1; 5,520 < и <7,016 для т = 2;

8,654 < и < 10,173 для т = 3); a = 0,5D - радиус образца, мм (D - диаметр образца, мм);

р -у о

кх =--волновое    число    в    материале    образца    на    частоте    je    ,    мм    ,

с

fe - резонансная частота колебания, Гц; s - приближенное значение диэлектрической проницаемости; с = 299,792458-109 ммс1 - скорость света в вакууме; h = ртг/L - продольное волновое число, мм'1;

L- высота образца, мм;

р = 1,2, 3 - число полуволн по высоте резонатора (продольный индекс);

ГОСТ P 8.623—2015


у = a-sjh2 -kl - внешнее поперечное безразмерное волновое число (0 < у < 50); 2^5 V*e


волновое число в воздухе на частоте fs , мм-1;


ев = 1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях (атмосферное давление 760 мм рт. ст., температура 20 °С, относительная влажность до 40 %).

10.3.2    Начиная с частоты колебания Нои проводят измерение резонансной частоты /е на выбранных типах колебаний со стандартной относительной неопределенностью не более 10 кГц. Колебание Нои является вторым по частоте наблюдаемым экспериментально резонансом.

10.3.3    На каждом типе колебаний определяют в соответствии с приложением Г собственную добротность Qoe со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

10.3.4    Сопоставляют расчетный и измеренный спектры резонансных частот и идентифицируют индексы т,р.

10.4    Обработка результатов измерений

10.4.1 Диэлектрическую проницаемость образца относительно вакуума определяют по формуле


а =


<У)


\2


+ /г


,2Л fej

с = 299,792458-109 мм с-1 - скорость света в вакууме;

/Е - резонансная частота резонатора с образцом, Гц; и(у)- корень уравнения (10.1);

а = 0,5D - радиус образца, мм (D - диаметр образца, мм); h = рж/L - продольное волновое число, мм-1;

L- высота образца, мм;

р -1,2,3- число полуволн по высоте резонатора.

10.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формуле


(10.2)


tg 5 = K~h


1


в,


V^o s


Qr J


(10.3)


K\E — коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической энергии в


образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формуле

i-i


КЛ


1 +


W


(10.4)


W — параметр, определяемый из выражения


г ■/,» к.ад^оо-^оо]

к;<у) [/.х-щм] '


(10.5)


Qoe - собственная добротность МДР;

Qr - частичная добротность МДР, обусловленная омическими потерями в металлических отражателях и определяемая по формуле


1

Q.

R \

Г 1

Г£/2>|

U J

1£)


[1 +(г-1X1


(10.6)


А - глубина скин-слоя в отражателях МДР, мм, на частоте fe , определяемая в соответствии с приложением Д;

U - коэффициент замедления волны в МДР, определяемый из выражения


13


10.4.3 При определении диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образца проводят не менее четырех измерений и за результат принимают среднее арифметическое.

10.5 Требования к неопределенности измерений

10.5.1    При выполнении изложенных выше требований к неопределенности входных величин, расширенная неопределенность результата измерений е и tg5, оцененная в соответствии с ГОСТ Р

54500.3 при уровне доверия 0,95 и коэффициенте охвата 2, не превышает:

0,5 % —для е ;

МО”3

(10 +-)    % — для tg^.

tg S

10.5.2    Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725-2.

11 Метод объемного резонатора в закритическом режиме

Данный метод применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 4 до 20 ГГц при относительной диэлектрической проницаемости s от 1,2 до 100 и тангенсе угла диэлектрических потерь tg^ от 3-10 5 до 1 -10'3. Измеряемые образцы имеют форму диска диаметром

D , толщиной t при D > t и t от 2 до 15 мм.

Достоинство метода состоит в возможности измерения образцов в виде дисков малой толщины при достаточно больших коэффициентах заполнения измерительного резонатора.

11.1    Сущность метода

11.1.1    Для измерений применяют объемный цилиндрический резонатор, в котором возбуждается колебание Нот с резонансной частотой fE ниже критической частоты f£ < fc волны

Нот в свободных от образца частях резонатора /с = cvlm/, где vlm- т-ый корень

функции Бесселя Jx{z), т= 1,2, 3. При этом волна Н{)т распространяется в области резонатора, занятой образцом, и испытывает отражение от закритических полостей резонатора.

Схематическое изображение резонатора с колебанием Н$т\, работающего в закритическом режиме, приведено на рисунке А.6 приложения А.

Резонатор образован двумя соосными цилиндрами диаметра D . В нижнем цилиндре установлено узкое тонкое кольцо из диэлектрика с диэлектрической проницаемостью не более 3 и тангенсом угла диэлектрических потерь не более 5-10 4. Это кольцо служит опорой для измеряемого дискового образца. Длина нижнего цилиндра от торцевой крышки до опорной поверхности кольца равна L . Верхний подвижный цилиндр имеет перемещаемый поршень с индикатором перемещения. В исходном состоянии цилиндры резонатора сомкнуты, и расстояние от опорной поверхности кольца до поршня верхнего цилиндра также равно L. Устройства связи резонатора с трактом должны находиться на цилиндрической стенке резонатора ниже опорного диэлектрического кольца и вблизи него.

Внутренний диаметр D и длина резонансной полости резонатора L0 = 2L должны быть

определены со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в

соответствии с ГОСТ Р 54500.3. Значения L0 и D могут быть взяты из технической документации на

используемый резонатор или определены в соответствии с приложением Б. Размеры резонатора для измерений в диапазонах частот выбирают в соответствии с таблицей Б.2 приложения Б.

11.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость s определяют по резонансной частоте

fe резонатора с образцом толщиной t при равных длинах пустых цилиндров L, общей длине резонатора и частоте /0 резонатора той же длины 2L + t без образца.

14

ГОСТ Р 8.623-2015

11.1.3 Тангенс угла диэлектрических потерь tg8 определяют по собственной добротности резонатора без образца <200 и с образцом Qoe с учетом изменения в распределении поля и

изменения омических потерь в стенках резонатора после помещения образца.

11.2 Подготовка к измерениям

11.2.1    Собирают измерительную установку на основе анализатора цепей в соответствии с рисунком 1 или на основе других приборов в соответствии с рисунком А.1 приложения А.

11.2.2    Фланцы обоих цилиндров измерительного резонатора протирают мягкой белой бязью.

11.2.3    Приборы в составе установки подготавливают к работе в соответствии с технической документацией на них.

11.2.4    Поршень верхнего цилиндра резонатора устанавливают в нижнее положение. При этом расстояние от опорной поверхности кольца до поршня равно L и расстояние от опорной поверхности кольца до торцевой крышки нижнего цилиндра также равно L. На индикаторе перемещения устанавливают показание «0,000».

11.2.5    Образцы подготавливают к измерениям и измеряют их толщину в соответствии с приложением В.

11.3 Выполнение измерений

11.3.1    Перемещают поршень на величину t (на толщину образца) вверх, чтобы расстояние от верхней поверхности измеряемого образца до поршня осталось равным L .

11.3.2    На анализаторе цепей устанавливают полосу обзора с центральной частотой, равной резонансной частоте /0 резонатора длиной 2L + t без образца. Измеряют значение резонансной

частоты /0 со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

11.3.3    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора без образца <200 со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

11.3.4    Помещают образец на опорное диэлектрическое кольцо в нижнем цилиндре резонатора и опускают верхний цилиндр.

11.3.5    Устанавливают на анализаторе цепей предварительно рассчитанную частоту резонатора с образцом fe и необходимую для наблюдения резонанса полосу обзора. Резонансная частота

резонатора с образцом fe меньше частоты /0 резонатора без образца. Измеряют резонансную

частоту резонатора с образцом fe со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

11.3.6    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора с образцом Qoe со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

11.4 Обработка результатов измерений

е =

11.4.1 Обработку результатов измерений начинают с проверки выполнения неравенства fe < /с Для каждого используемого колебания Нот. Невыполнение неравенства означает ошибку в выборе типа колебания. При выполнении неравенства диэлектрическую проницаемость образца s относительно вакуума определяют по формуле

(11.1)

с = 299,792458-109 мм-с1 - скорость света в вакууме;

/Е - резонансная частота резонатора с образцом, Гц;

х- безразмерная величина («электрическая толщина» образца), определяемая из уравнения

(11.2)

ctg(x / 2)    2th(/?2Z)_Q

2

х/2    /?21

к\ - продольное волновое число в пустой части резонатора, мм1;

vu =3,831706 - первый корень функции Бесселя Jfz); vu =7,015587 - второй корень функции Бесселя Jfz) ;

15

v13 =10,17347 -третий корень функции Бесселя Jx{z)\ a = 0,5D - радиус резонатора, мм (D - диаметр резонатора, мм);


fо -\Jse


- волновое число в воздухе на частоте fe, мм1;


s6 = 1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях (атмосферное давление 760 мм рт. ст.; температура 20 °С, относительная влажность до 40 %);

L- длина каждого цилиндра резонатора, мм; t - толщина образца, мм.

11.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формуле


tg 8 = К-1е


(


1


___]_

\Qoe Qoo


(11.3)


Q00 - собственная добротность резонатора без образца;

Qoe - собственная добротность резонатора с образцом;

К- коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической энергии в образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формулам:


L Ф 1 + £- 0 2


st Oj


£ = -


sin 0



sh \P2L)


0 = arctg


—th(/?2Z) P2^


cos 0 ch\P2L)


где


L0 = 2L - длина резонансной полости резонатора без образца;

sin[2(x + 0)]-sin(20)

1 “    2х    ’

sh(2^2L)


Ф2=1-


2 P2L


(11.4)

(11.5)

(11.6)

(11.7)

(11.8)


rj - параметр, учитывающий изменение омических потерь в стенках резонатора после введения образца и определяемый по формуле


г/

yk2aj


G = a(^+0


1+£

—Ф2 -2

2

а

а

1V11J

stФl+^L0Ф2


(11.9)


(2*-М0)

/ >

2

рс

+ (^+0

[2(1,+04^,


(11.10)


/0 - резонансная частота резонатора длиной L0 +t без образца, Гц.

11.4.3 При определении диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образцов проводят не менее четырех измерений, и за результат принимают среднее арифметическое.

11.5 Требования к неопределенности измерений

11.5.1 При выполнении изложенных выше требований к неопределенности входных величин, расширенная неопределенность результата измерений s и tgS, оцененная в соответствии ГОСТ Р

54500.3 при уровне доверия 0,95 и коэффициенте охвата 2, не превышает:

16


ГОСТ P 8.623—2015

0,5 % — для е ;

2 - Ю“3

(10 +-)    %    —    для    tg£.

tgj

11.5.2 Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725-2.

12 Метод объемного резонатора для стержневых образцов

Данный метод применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 7 до 15 ГГц при относительной диэлектрической проницаемости s от 1,2 до 20 и тангенсе угла диэлектрических потерь tgc> от 3-10'5 до 1-10'2. Измеряемые образцы имеют форму цилиндрических

стержней диаметром d от 3 до 13 мм.

12.1    Сущность метода

12.1.1    Для измерений применяют цилиндрический объемный резонатор, в котором возбуждается колебание Нтр. Резонатор имеет внутренний диаметр D и длину L. В крышке

резонатора имеется круглое отверстие для ввода измеряемого образца. Длина образца должна быть больше длины резонатора L не менее, чем на толщину верхней крышки резонатора с запасом, необходимым для установки и извлечения образца. При измерении стержней различного диаметра используют переходные втулки из меди или другие приспособления для центрирования образца. Схематическое изображение резонатора для измерения стержневых образцов приведено на рисунке А.7 приложения А. Размеры резонатора для измерений в диапазонах частот выбирают в соответствии с таблицей Б.2 приложения Б.

Внутренний диаметр D и длина резонансной полости резонатора L должны быть известны со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. Значения L и D могут быть взяты из технической документации на используемый резонатор или определены в соответствии с приложением Б.

12.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость е определяют по резонансной частоте

резонатора без образца /0 и с образцом fe .

12.1.3    Тангенс угла диэлектрических потерь tg<5 определяют по собственной добротности резонатора без образца Q00 и с образцом Qoe с учетом изменения в распределении поля и

изменения омических потерь в стенках резонатора после помещения образца.

12.2 Подготовка к измерениям

12.2.1    Собирают измерительную установку на основе анализатора цепей в соответствии с рисунком 1 или на основе других приборов в соответствии с рисунком А.1 приложения А.

12.2.2    Приборы в составе установки подготавливают к работе в соответствии с технической документацией на них.

12.2.2    Образцы подготавливают к измерениям и измеряют их диаметр d в соответствии с приложением В. При необходимости подготавливают переходные втулки для центрирования образца.

12.3 Выполнение измерений

12.3.1    На анализаторе цепей устанавливают полосу обзора с центральной частотой, равной резонансной частоте /0 резонатора без образца. Измеряют значение резонансной частоты /0 со

стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

12.3.2    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора без образца (200 со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

12.3.3    Помещают стержневой образец через отверстие в верхней крышке в резонатор до упора в нижнюю крышку, при необходимости используя центрирующую втулку.

12.3.4    Устанавливают на анализаторе цепей предварительно рассчитанную частоту резонатора с образцом fe с необходимой для наблюдения резонанса полосой обзора. Резонансная частота

резонатора с образцом fe меньше резонансной частоты /0 резонатора без образца. Измеряют резонансную частоту резонатора с образцом fe со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

17

ГОСТ P 8.623—2015

Содержание

1    Область применения..........................................................................................................................1

2    Нормативные ссылки.........................................................................................................................2

3    Требования безопасности..................................................................................................................2

4    Условия выполнения измерений.......................................................................................................2

5    Требования к квалификации оператора...........................................................................................2

6    Требования к средствам измерений.................................................................................................2

7    Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте....................................3

8    Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной длине.......................................6

9    Метод щелевого резонатора.............................................................................................................8

10 Метод металлодиэлектрического резонатора.............................................................................12

11 Метод объемного резонатора в закритическом режиме.............................................................14

12 Метод объемного резонатора для стержневых образцов..........................................................17

Приложение А (рекомендуемое) Рекомендуемые средства измерений......................................20

Приложение Б (рекомендуемое) Размеры резонаторов.................................................................24

Приложение В (обязательное) Подготовка образцов для измерений...........................................26

Приложение Г (обязательное) Измерение добротности резонатора...........................................28

Приложение Д (обязательное) Определение глубины скин-слоя в отражателях МДР.............30

III


12.3.5 Измеряют собственную добротность резонатора с образцом Qoe в соответствии с

приложением Г со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

12.4 Обработка результатов измерений

12.4.1 Диэлектрическую проницаемость образца относительно вакуума определяют по формуле


х2 +(ha)

(м)2


(12.1)


х - безразмерная величина («электрический радиус» образца), определяемая из уравнения

ЛМ Zi (у)


0(*) yz0(y)

Jn{x) - функции Бесселя порядка п = 0, 1;

У = № 2а)2 - (ha)2 - поперечное безразмерное волновое число;


(12.2)


к2


- волновое число в воздухе на частоте fe, мм1;


fE - резонансная частота резонатора со стержнем;

ев = 1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях

(атмосферное давление 760 мм рт. ст., температура 20 °С, относительная влажность до 40 %); с = 299,792458-109 мм-с1 - скорость света в вакууме; h = рж/L - продольное волновое число;

/7=1,2, 3- продольный индекс колебания;

L - длина резонатора; а - радиус стержня;

Z, (у)=л 00 - [7, ММ Ml • N« (у) ■

Z, (v) = 7, W- [(7, ММ (у*))]' X, (у);

Nn(y) - функции Неймана порядка п = 0,1;

b = D/d = Rq /а\

D = 2- диаметр резонатора (7?0 - радиус); d = 2а - диаметр стержня (а - радиус).

12.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца вычисляют по формуле


tg S = K~


1


Q,


л

Qoo J


(12.3)


Qm - собственная добротность резонатора без образца;

Q - собственная добротность резонатора с образцом;

К - коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической энергии в образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формуле


^ к 2а^


К.

1 + -


•Л) (-*“)

{ У ) Lz0 (у).


[b’ztiybyz^+zMzM]


(12.4)


г] - параметр, учитывающий изменение омических потерь в стенках резонатора введения образца и определяемый по формуле


после


НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Государственная система обеспечения единства измерений

ОТНОСИТЕЛЬНАЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ И ТАНГЕНС УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

Методики измерений в диапазоне сверхвысоких частот

State system for ensuring the uniformity of measurements. Relative dielectric permittivity and the loss tangent of solid dielectrics. Procedure of measurements at microwave frequencies

Дата введения — 2016—10—01

1 Область применения

Настоящий стандарт устанавливает методики измерений относительной диэлектрической проницаемости s и тангенса угла диэлектрических потерь tgs твердых диэлектриков в микроволновом диапазоне частот на основе резонансных методов.

В настоящем стандарте представлены следующие методы измерений:

-    объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте;

-    объемного резонатора при фиксированной резонансной длине;

-    щелевого резонатора;

-    металлодиэлектрического резонатора;

-    объемного резонатора в закритическом режиме;

-    объемного резонатора для стержневых образцов.

Образцы твердых диэлектриков для измерений (далее — образцы) могут иметь форму:

-    дисков диаметром D > t, где t - толщина диска;

-    пластин (подложек) толщиной t « А,В , где А, В - длина и ширина прямоугольной пластины (подложки);

-    тонких дисков при t <<D \

-    цилиндров диаметром D и высотой L при различных отношениях D/L\

-    стержней диаметром d, высотой L» d .

В зависимости от типоразмера образца применяют различные методики измерений и типы резонаторов, приведенные в приложении А.

Для дисковых образцов:

-    объемный    цилиндрический    резонатор с колебанием    Нтр, реализующий    метод    при

фиксированной резонансной частоте;

-    объемный    цилиндрический    резонатор с колебанием    Нтр, реализующий    метод    при

фиксированной длине резонатора;

-    объемный цилиндрический резонатор с колебанием Н0wi, работающий в закритическом

режиме (на частотах ниже критической).

Для пластин, подложек и тонких дисков:

-    объемный щелевой резонатор с колебанием Н0хр .

Для цилиндрических образцов:

-    металлодиэлектрический резонатор с колебанием Нотр .

Для стержней:

-    объемный цилиндрический резонатор с колебанием Нтр .

Здесь т = 1, 2, 3,/>=1, 2, 3 - радиальный и продольный индексы колебания. Размеры

применяемых резонаторов и образцов определены диапазоном частот измерения._

Издание официальное

2    Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 2789-73 Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики ГОСТ 6433.1-71 Материалы электроизоляционные твердые. Условия окружающей среды при подготовке образцов и испытании

ГОСТ 24643-81 Основные нормы взаимозаменяемости. Допуски формы и расположения поверхностей. Числовые значения

ГОСТ Р 54500.3-2011/Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008 Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения

ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений

Примечание — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю «Национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты» за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.

3    Требования безопасности

К измерениям допускают лиц, прошедших инструктаж по технике безопасности при работе с электроприборами и радиоизмерительными приборами СВЧ.

Выполняют требования безопасности в соответствии с технической документацией на используемые приборы.

Отсоединение шин заземления, подключение или отключение соединительных кабелей проводят только при выключенных приборах.

В помещении, где проводят измерения, должны отсутствовать газы и пары веществ, вызывающие коррозию металлических деталей.

4    Условия выполнения измерений

При выполнении измерений температура окружающего воздуха, относительная влажность, барометрическое давление, вибрации и другие условия в помещении должны соответствовать нормам, установленным в эксплуатационной документации на применяемые средства измерений.

Изменение температуры окружающего воздуха за время измерений образца не должно превышать +1 °С.

5    Требования к квалификации оператора

К выполнению измерений и обработке их результатов допускают лиц, имеющих подготовку для работы с радиоизмерительными приборами СВЧ и навыки пользователя компьютера.

6    Требования к средствам измерений

Для реализации приведенных методов измерений рекомендуется применение анализатора цепей (скалярного или векторного) с цифровым синтезатором частоты в качестве генератора СВЧ. Технические характеристики анализатора цепей типа Р2М-18:

-диапазон рабочих частот..............................от    10    до    18000 МГц;

- дискретность установки частоты...................1    Гц; 1

ГОСТ Р 8.623-2015

-    пределы допускаемой относительной погрешности

установки частоты..    ...+    1-10'6;

-    диапазон измерений модуля коэффициента передачи от минус 65 до 35 дБ;

-    пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения

модуля коэффициента передачи (А)..............................±    (0,02|А|+0,2)    дБ;

-    диапазон мощности........................................от    минус    55    до    13    дБ    (1    мВт).

Структурная схема измерительной установки на основе анализатора цепей для резонансных методов измерения е и tg5 приведена на рисунке 1. Структурная схема установки с другими средствами измерений приведена на рисунке А.1 приложения А.

Рисунок 1 - Структурная схема измерительной установки для резонансных методов измерений е и tg8

7 Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте

Данный метод применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 6 до 20 ГГц. Измеряемые образцы имеют форму дисков диаметром D, толщиной t, D>t с относительной диэлектрической проницаемостью е от 1,2 до 200 и тангенсом угла диэлектрических потерь tg8 от 5-105 до 1-10'1. Преимуществами метода являются широкий диапазон измеряемых значений е, tgS и малая перестройка частоты, необходимая только для измерения добротности резонатора.

7.1    Сущность метода

7.1.1    Для измерений применяют цилиндрический объемный резонатор, в котором возбуждается колебание Н01р, где р = 2, 3, 4, 5 — число полуволн на длине резонатора (продольный индекс).

Схематическое изображение объемного резонатора для измерений при фиксированной резонансной частоте приведено на рисунке А.2 приложения А.

В диапазоне частот от 8 до 12 ГГц рекомендуемый внутренний диаметр резонатора 50 мм, длина резонансной полости — не менее 80 мм.

Размеры резонатора в других диапазонах частот выбирают в соответствии с таблицей Б.1 приложения Б.

Длина резонансной полости резонатора без образца L0 на частоте измерения /0 и внутренний

диаметр резонатора D должны быть определены со стандартной неопределенностью не более

0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. Значения L0 и D могут быть

взяты из технической документации на резонатор или определены по спектру резонансных частот в соответствии с приложением Б.

7.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость s определяют по разности AL = Lg-Ls

резонансной длины резонатора без образца L0 и резонансной длины Ц, после помещения образца в резонатор при фиксированной резонансной частоте f&=f0.

3

7.1.3 Тангенс угла диэлектрических потерь tg8 определяют по собственной добротности резонатора без образца Q00 и резонатора с образцом Ц,е с учетом изменения в распределении

поля и изменения омических потерь в стенках резонатора после помещения образца.

7.2 Подготовка к измерениям

7.2.1    Собирают измерительную установку на основе анализатора цепей в соответствии с рисунком 1 или на основе других приборов в соответствии с рисунком А.1 приложения А.

7.2.2    Подвижный поршень измерительного резонатора протирают мягкой белой бязью.

7.2.3    Приборы в составе установки подготавливают к работе в соответствии с технической документацией на них.

7.2.4    Образцы подготавливают к измерениям и измеряют их толщину t в соответствии с приложением В. Предпочтительной для данного метода является полуволновая (или кратная ей) толщина образца.

7.3 Выполнение измерений

7.3.1    На анализаторе цепей устанавливают заданную частоту /0 с необходимой для

наблюдения резонанса полосой обзора.

7.3.2    Перемещением подвижного поршня настраивают резонатор без образца в резонанс на частоте /0, фиксируют значение резонансной частоты /0 со стандартной неопределенностью не

более 10 кГц и показания микрометра (датчика перемещения подвижного поршня) /0, мм, со

стандартной неопределенностью не более 0,005 мм.

7.3.3    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора без образца <200 со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %. Допускается

использование значения Q00 на частоте /0 из технической документации на резонатор.

7.3.4    Подвижный поршень резонатора отводят в крайнее нижнее положение, помещают на него образец и перемещением поршня вверх настраивают резонатор в резонанс на частоте /0 со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

7.3.5    Фиксируют показание микрометра (датчика перемещения поршня) 1е , мм со стандартной

неопределенностью не более 0,005 мм и находят перемещение поршня AL = |/0 ~ls \ = L0 —Le , мм.

7.3.6    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора с образцом Qoe со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

7.4 Обработка результатов измерений

7.4.1 Диэлектрическую проницаемость образца относительно вакуума определяют по формуле


(7.1)


с = 299,792458-109 мм-с1 - скорость света в вакууме;

/0 - резонансная частота, Гц;

х- безразмерная величина («электрическая толщина» образца), определяемая из уравнения


tgx tg[/?2 (AZ. + /)] Q


(7.2)


х    h2t


где



фазовая постоянная в резонаторе без образца и в пустой части резонатора с


образцом, мм-1;


волновое число в воздухе на частоте /0, мм'1;


4



8е =1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях

измерений (атмосферное давление 760 мм рт. ст., температура 20 °С, относительная влажность до 40 %);

Vl1 =3,831706 - первый корень функции Бесселя J^(z);


a=0,5D - радиус резонатора, мм (D - диаметр резонатора, мм);


AL- перемещение поршня, необходимое для восстановления резонансной частоты после помещения в резонатор образца, мм; t - толщина образца, мм.

7.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формуле


tgS = Kj



(7.3)


Q00 - собственная добротность резонатора без образца; Qos- собственная добротность резонатора с образцом;


КХЕ- коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической энергии в


образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формуле


*1Е =


1+|


(^-0Ф2


8 t Ф1


где Lg = (Ц - AL) - длина резонатора с образцом, мм; 4 - параметр, определяемый по формуле


% =


COS X


sin X


yh2t) cos2 [ft2 (Lg -f)]    sin2[/)2(Lg    -f)]


(7.4)


(7.5)


Примечание — Два способа определения £ в формуле (7.5) даны для исключения операции деления


на 0.


ФФ2 - параметры, определяемые по формулам


Ф, =1


sin


(2дг)


Ф, =1-


sin[2/?2 (Ls


■0]


2h2{Ls -1)


(7.6)

(7.7)


ri - параметр, учитывающий изменение омических потерь в стенках резонатора после введения образца и определяемый по формуле


г \2


£)Дф,+?


rh2a^2


—Ф,


ri = G


8f®1+|(Lg-f)02 G - параметр, определяемый по формуле


(7.8)


в = а^

f \

2

1

аз

1

£

рс

(2^\

+ L0


(7.9)


/0 - резонансная частота резонатора без образца, Гц.

7.4.3 При определении диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образца проводят не менее четырех измерений и за результат принимают среднее арифметическое.

7.5 Требования к неопределенности измерений

7.5.1 При выполнении изложенных выше требований к неопределенности входных величин и при измерении образцов полуволновой толщины расширенная неопределенность результата


5


измерений е и tg8, оцененная в соответствии с ГОСТ Р 54500.3 при уровне доверия 0,95 и коэффициенте охвата 2, не превышает:

0,5 % — для s от 1,2 до 10;

1    % —для s от 10 до 60;

2    % —для s от 60 до 100;

3    % —для s более 100;

3 • 103

(10+———)%— для tgS. tg8

7.5.2 Если необходима оценка повторяемости (сходимости) и воспроизводимости измерений, ее осуществляют в соответствии с ГОСТ Р ИСО 5725 -2.

8 Метод объемного резонатора при фиксированной резонансной длине

Данный метод применяют для измерения диэлектрических параметров в диапазоне частот от 6 до 20 ГГц. Измеряемые образцы имеют форму дисков диаметром D, толщиной t, D > t с относительной диэлектрической проницаемостью е от 1,2 до 200 и тангенсом угла диэлектрических потерь tgS от 5-10-5 до 1 -10-2.

Преимуществами метода являются широкий диапазон измеряемых значений s и tg5 и отсутствие механизма точного перемещения подвижного поршня.

8.1    Сущность метода

8.1.1    Для измерений применяют объемный цилиндрический резонатор, в котором возбуждается колебание Н01р, где р= 2, 3,4,5 — число полуволн на длине резонатора (продольный индекс).

Схематическое изображение объемного резонатора для измерений при фиксированной резонансной длине приведено на рисунке А.З приложения А.

В диапазоне частот от 8 до 12 ГГц рекомендуемый внутренний диаметр резонатора 50 мм, длина резонансной полости не менее 80 мм.

Размеры резонатора на другие диапазоны частот выбирают в соответствии с таблицей Б.1 приложения Б.

Длина резонансной полости пустого резонатора L0 на частоте измерения /0 и внутренний диаметр резонатора D должны быть определены со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. Значения L0 и D могут быть

взяты из технической документации на резонатор или определены в соответствии с приложением Б.

8.1.2    Относительную диэлектрическую проницаемость s определяют по резонансной частоте

резонатора без образца /0 и с образцом f& при фиксированной резонансной длине Z0 = Lg .

8.1.3    Тангенс угла диэлектрических потерь tgS определяют по собственной добротности резонатора без образца Q00 и с образцом Qoe с учетом изменения в распределении поля и

изменения омических потерь в стенках резонатора после помещения образца.

8.2    Подготовка к измерениям

Подготовку к выполнению измерений проводят в соответствии с 7.2.

8.3    Выполнение измерений

8.3.1    На анализаторе цепей устанавливают резонансную частоту резонатора без образца /0 с необходимой для наблюдения резонанса полосой обзора. Определяют значение резонансной частоты /0 со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

8.3.2    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора без образца Q00 со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %. Допускается

использование значения Q00 на частоте /0 из технической документации на резонатор.

8.3.3    Отводят поршень резонатора в крайнее нижнее положение и помещают образец в резонатор. Возвращают поршень резонатора в исходное положение (восстанавливают длину резонатора L0). При фиксированной длине L0 резонансная частота резонатора с образцом fs

меньше резонансной частоты резонатора без образца /0.

6

ГОСТ P 8.623—2015


8.3.4    Устанавливают на анализаторе цепей предварительно рассчитанную резонансную частоту резонатора с образцом f£ с необходимой полосой обзора, находят резонанс и измеряют резонансную

частоту резонатора с образцом 7е со стандартной неопределенностью не более 10 кГц.

8.3.5    Измеряют в соответствии с приложением Г собственную добротность резонатора с образцом Qoe со стандартной относительной неопределенностью не более 5 %.

8.4 Обработка результатов измерений

8.4.1 Диэлектрическую проницаемость образца относительно вакуума определяют по формуле



где


с = 299,792458-109 мм-с1 - скорость света в вакууме; f8- резонансная частота резонатора с образцом, Гц;

х - безразмерная величина («электрическая толщина» образца), определяемая из уравнения

tg* , tg[/?2(X -0]


h2t


= 0,


(8.2)


h2 = Jk2 - I I - фазовая постоянная в пустой части резонатора, мм1;


к2=-


2nf,.


- волновое число в воздухе на частоте L , мм-1;


se =1,0006 - относительная диэлектрическая проницаемость воздуха при нормальных условиях

измерений (атмосферное давление 760 мм рт. ст., температура 20 °С, относительная влажность до 40 %);

vu = 3,831706 - первый корень функции Бесселя Jx(z) ; а = 0,5Z) - радиус резонатора, мм (D- диаметр резонатора, мм);


L0- длина резонатора, мм; t - толщина образца, мм.

8.4.2 Тангенс угла диэлектрических потерь образца определяют по формуле


tgS = К,'Е


Q™


(8.3)


Q00 - собственная добротность резонатора без образца;

Qoe- собственная добротность резонатора с образцом;

К- коэффициент заполнения резонатора, равный отношению электрической энергии в образце к полной энергии резонатора с образцом и определяемый по формуле


К,Е =

£ - параметр, определяемый по формуле


% =


1+|


cos2 X


(L О“0Ф2


6 t Ф,


sin2 х


h2t ) cos [h2(L0-t)\ sin [h2(L0-t)\


(8.4)


(8.5)


Примечание —Два способа вычисления параметра £ в формуле (8.5) приведены для исключения операции деления на 0.


7


1