Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

7 страниц

244.00 ₽

Купить ГОСТ 28976-91 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

В стандарте приведены методики коррекции по температуре и облученности результатов измерения вольт-амперных характеристик фотоэлектрических приборов из кристаллического кремния.

 Скачать PDF

Переиздание. Сентябрь 2004 г.

Оглавление

1 Область применения

2 Методика коррекции

3 Определение температурных коэффициентов

4 Определение внутреннего последовательного сопротивления

5 Определение коэффициента корреляции кривой

 
Дата введения01.01.1992
Добавлен в базу01.09.2013
Актуализация01.01.2021

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

19.04.1991УтвержденГосударственный комитет СССР по управлению качеством продукции и стандартам530
РазработанМежотраслевое гос. Объединение КВАНТЭМП
ИзданИздательство стандартов1991 г.
ИзданИПК Издательство стандартов2004 г.

Photovoltaic devices of crystalline silicon. Procedures for temperature and irradiance corrections to measured current voltage characteristics

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7

ГОСТ 28976-91 (МЭК 891-87)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ ИЗ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ

МЕТОДИКА КОРРЕКЦИИ ПО ТЕМПЕРАТУРЕ И ОБЛУЧЕННОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМНЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Издание официальное

1

БЗ 3-

I

ИНК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ


ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ ИЗ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО

КРЕМНИЯ

Методика коррекции но температуре и облученности результатов измерения волы-амперной характеристики

Photovoltaic devices of crystalline silicon. Procedures for temperature and irradiancc corrections to measured current voltage characteristics

VI КС 27.160 ОКСТУ 3480


ГОСТ 28976-91 (МЭК 891-87)


/laта введения 01.01.92


В настоящем стандарте представлены методики, по которым должна проводиться коррекция по температуре и облученности результатов измерения вольт-амперной характеристики фотоэлектрических приборов, изготовленных из кристаллического кремния.

I. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

В настоящем стандарте приведены методики коррекции по температуре и облученности результатов измерения вольт-амперных характеристик фотоэлектрических приборов из кристаллического кремния.

Стандарт включает в себя методики для определения температурных коэффициентов, внутреннего последовательного сопротивления и коэффициента корреляции кривой. Эти методики применимы в диапазоне облученности ± 30 % уровня, при котором выполнены измерения.

Примечания:

1.    Настоящие методики применимы только для приборов с линейной характеристикой преобразования.

2.    Фотоэлектрическими приборами называют как одиночные солнечные элементы, так и сборочные узлы и плоские модули.

Для оценки приборов каждого типа используют разные параметры. Температурные коэффициенты модуля или сборочного узла вычисляют по результатам их измерения для одиночного солнечного элемента. Внутреннее последовательное сопротивление и коэффициент корреляции кривой должны измеряться отдельно для модуля и сборочного узла.

3.    Термин испытуемый образец используют для обозначения любого из этих приборов.

2. МЕТОДИКА КОРРЕКЦИИ

Измеренная вольт-амперная характеристика должна быть приведена к виду, который она будет иметь при стандартных условиях испытаний или при других выбранных значениях температуры и облученности. Для этой пели должны использоваться следующие формулы:


h


/. + /


sc


-1


+ а(Г2- Тх)


О)


У2 = У\ — Ял</2 — /,) — А72( Т2 — Г,) +р(7'2-7'1),    (2)

где /,. Г, — координаты точек измеренной характеристики;

/2, V2 — координаты соответствующих точек скорректированной характеристики; he — измеренное значение тока короткого замыкания испытуемого образна;

/»гя измеренное значение тока короткого замыкания эталонного прибора;


Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

© Издательство стандартов, 1991 © ИПК Издательство стандартов. 2004


С. 2 ГОСТ 28976-91

1stt — ток короткого замыкания эталонного прибора при стандартном (или другом заданном) значении облученности;

7", — измеренное значение температуры испытуемого образца;

Т2 — стандартное (или другое заданное) значение температуры:

а. Р — температурные коэффициенты тока и напряжения испытуемого образца при стандартной или другой заданной облученности н представляющем интерес температурном диапазоне;

Rs — внутреннее последовательное сопротивление;

К — коэффициент корреляции кривой.

Примечания:

1.    В приведенных >раннсниях должна использоваться единая система единиц дли всех ветчин.

2.    Обозначения физических величин взяты в соответствии с общими рекомендациями (Публикации МЭК 27 «Обозначения буквенные, применяемые в электротехнике»).

3.    Символ Vрекомендуется как резервный (Публикации МЭК 27).

В настоящем стандарте буква V рекомендована как основной символ дзя обозначения напряжения, поскольку его используют в литературе по фотоэлектричеству и электронике во многих странах мира.

3. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕМПЕРАТУРНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ

Температурные коэффициенты тока а и напряжения (5 зависят от облученности и в меньшей степени от температуры.

Коэффициенты предпочтительнее измерять на имитаторах солнечного излучения, используя не менее двух солнечных элементов того же типа, площади и размеров, из которых изготовлен модуль.

Примечания:

1.    Любое несоответствие между измеренными солнечными элементами и теми, из которых изготовлен модуль, может неблагоприятно влиять на точность коррекции вольт-ампериой характеристики модуля.

2.    Предпочтительнее использовать импульсный имитатор, т. к. он создаст меньший добавочный нагрев солнечного элемента во время измерений.

Методика измерений

3.1.    Установить на испытуемом солнечном элементе датчик температу ры таким образом, чтобы обеспечить измерение температуры с погрешностью не более ± 0,5 *С.

3.2.    Испытуемый солнечный элемент установить на тсрмостатирусмый столик, обеспечив хороший тепловой контакт с поверхностью. Присоединить выводы датчика к управляющему блоку для передачи контрольного сигнала.

3.3.    Испытуемый и эталонный солнечные элементы установить возможно ближе таким образом, чтобы их активные поверхности находились в рабочей плоскости имитатора.

Отклонение нормали испытуемого и эталонного солнечных элементов от оси пучка излучения не должно превышать ± 5 *С.

3.4.    Отрегулировать облученность в рабочей плоскости имитатора таким образом, чтобы ток короткого замыкания эталонного солнечного элемента при температуре (25 ± 5) *С соответствовал его градуировочному значению.

3.5.    Измерить ток короткого замыкания 1Х и напряжение холостого хода Vqc испытуемого солнечного элемента в установившемся тепловом режиме при температуре, близкой к минимальной ■заданного температурного диапазона.

Примечание. Если измерения проводят при температуре ниже температуры воздуха, то необходимо учесть возможность конденсации алаги на активных поверхностях испытуемого и эталонного элементов. Предупредить конденсацию алаги можно использованием потока сухого азота или помещением солнечных элементов в вакуумную камеру.

3.6.    Повысить температу ру испытуемого солнечного элемента приблизительно на 10 *С и вновь измерить 1$с и У ос.

Повторять эту процедуру, каждый раз увеличивая температуру приблизительно на 10 *С до максимального заданного значения температурного диапазона.

3.7.    Повторить операции по пп. 3.1—3.6 со всеми испытуемыми солнечными элементами.

3.8.    Нанести на график значения / и Vqc в функции температуры и построить соответствующие зависимости по методу наименьших квадратов.

ГОСТ 28976-91 С. 3

3.9.    По наклону кривых, выражающих зависимости тока и напряжения от температуры, в точках, лежащих посередине температурного диапазона, вычислить значения температурных коэффициентов ц. и рс для каждого испытуемого элемента.

3.10.    Для модуля или сборочных углов температурные коэффициенты аир вычисляют по формулам:

а - пр а*;    (3)

P-vAc    <4>

где пр — число параллельно соединенных солнечных элементов; п, — число последовательно соединенных солнечных элементов.

4. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВНУТРЕННЕГО ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ

Внутреннее последовательное сопротивление R, может быть определено на имитаторе солнечного излучения но следующей методике (см. чертеж).

4.1.    Измерить вольт-амперную характеристику испытуемого образца при двух значениях облученности (знать точное значение облученности обязательно). Измерения следует проводить при комнатной температуре, причем температура образца в двух измерениях может отличаться не более чем на 2 *С.

4.2.    Выбрать точку Р на верхней кривой при напряжении несколько выше, чем Уртах. Измерить разность Д/ между током в этой точке и током короткого замыкания Isc .

4.3.    Определить точку Q на нижней кривой, при которой ток равен fSCj — Д/.

4.4.    Измерить разность напряжений AVточек Р и Q.

4.5.    Вычислить Rs из R* ш -j-1—j— ,

1    '    'sc, ~ 'sc,

4.6. Измерить вольт-амперную характеристику испытуемого образна при третьем значении облученности (температура должна быть той же. что и в первых двух случаях). Повторить операции по пп. 4.3—4.5. используя третью кривую поочередно с первой и второй для определения Rs и Rs .


Вычислить последовательное сопротивление образца Rs, как среднее из трех: /?Ч(. /?с, Rs,


где ISc, и Isc — токи короткого замыкания.

5. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТА КОРРЕЛЯЦИИ КРИВОЙ

Коэффициент может быть определен на имитаторе солнечного излучения по следующей методике.

5.1.    Измерить вольт-амперную характеристику испытуемого образца при облученности в пределах ± 30 % выбранного уровня и при трех разных температурах (Г3, Г4. Ту) в интересующем диапазоне по крайней мере 30 *С.

Примечание. Когда измеряют характеристики модуля, необходимо при установке герметизированного модуля в температурно-контролируемой камере с пропускающим окном обеспечить однородность температуры салнсчного элемента в пределах ± 2 ’С предполагаемого уровни.

5.2.    Используя принятое значение коэффициента (например 1,25 хЮ-5 Ом/*С, которое типично для кристаллического кремниевого солнечного элемента), пересчитать характеристику, измеренную при температуре Ту, к температуре Ti% применяя следующие формулы:

/4-/3 + а(7*43);    (6)

Vtm У} — КЩТ* — Ту) +Р(Г43).    (7)

где /3, Уу — координаты точек характеристики при температуре Ту,

/4. Г4 — координаты соответствующих точек характеристики при температуре <Г4.

С. 4 ГОСТ 28976-91

5.3.    Если характеристика, рассчитанная для температуры ТА, нс совпадает с желаемой точностью с характеристикой, измеренной при температуре Г4. то необходимо повторить расчеты по п. 5.2 с использованием другого значения коэффициента А'до тех пор, пока рассчитанная характеристика не совпадет с измеренной.

5.4.    Когда значение К определено, пересчитывают характеристики Ту и ТА соответственно к температуре Т5. Если пересчитанные и измеренные характеристики не совпадают, то следует повторить пересчет, используя слегка измененное значение коэффициента А"до тех пор. пока они нс будут совпадать.

5.5.    Используют среднее значение коэффициента К из этих определений.

ГОСТ 28976-91 С. 5

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ I. ПОДГОТОВЛЕН И ВНЕСЕН Межотраслевым государственным объединением «КВАНТЭМГГ

2.    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 19.04.91 № 530

3.    Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 891—87 «Фотоэлектрические приборы из кристаллического кремния. Методика коррекции по температуре и облученности результатов измерения вольт-амперной характеристики» и полностью ему соответствует

4.    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

5.    ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение отечественного нормативно-технического документа, на который дана ссылка


Обозначение соответствующего международного стандарта

Раздел, » котором приведена ссылка


2

МЭК 27 (серим стандартов)    Требования    указаны    в    раза.    2    на

стоящего стандарта

6. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Сенгабрь 2004 г.

Редактор В.П. Огурцов Технический редактор О.Н. Власова Корректор Т.Н. Кононенко Компьютерная нерстка Л.Н. Заьнпаревои

Им. лиц. N? 02354 от 14.07.2000. Сдано и набор 24.09.2004. Подписано к печать 12.10.2004. Усл.печл. 0,93. Уч.-изд.г 0.50.

Тираж 54 экз. С 4170. Зак. 256.

ИПК Издательство стандартов. 107076. Москка. Колодезный пер., 14. http: //www.standards.m    e-mail: infoftstandards.ni

Набрано и отпечатано в ИПК Издательство стандартов