ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАЕТ СОЮЗА ССР

МИКРОМОДУЛИ ЭТАЖЕРОЧНОЙ КОНСТРУКЦИИ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ГОСТ 20281-74

Издание официальное

ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

Редактор А, Л. Владимиров Технический редактор О. Н. Никитина Корректор Е. Ю. Гебрук

наб. 24.05.94. Подп. в печ. 1].07.94, Уел. п. л. 2,79. Уел. кр.-отт. Уч.-изд. л. 2,95. Тир. 232 экз. С 1512.

Ордена «Знак Почета* Издательство стандартов, 107076, Москва, Колодезный пер,, 14. Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256, Зак, 1040

ГОСТ 20281-74 С. 9

пределы допустимого значения, установленного в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.14. Метод 1865. Измерение минимального входного напряжения U_8х>тш

2.14.1.    Аппаратура

2.14.1.1.    Измерение минимального входного напряжения производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 4.

7—генератор синусоидальных сигналов; 2—измеритель параметров гинусоидальных сигналов; 3—источник питания; 4—микрокодуль; 5—эквивалентная нагрузка; 5—измеритель параметров синусоидальных сигналов; 7—измеритель нелинейных искажений или анализатор гармоник

Черт. 4

2.14.2. Подготовка к измерению и проведение измерения

2.14.2.1.    Подготавливают установку для измерения в соответствии со схемой черт, 4 и устанавливают режим работы испытываемого микромодуля в соответствии с п. 1.13.

2.14.2.2.    На входе микромодуля уменьшают напряжение от номинального значения, указанного в стандартах на микромодули конкретных типов, до наименьшего значения, при котором на выходе микромодуля параметры, характеризующие искажение сигнала, не выходят за пределы допустимого значения, установленного в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.14.2.3.    Измеряют достигнутое наименьшее значение напряжения на входе микромодуля, которое является минимальным входным напряжением.

2.15. Метод 1870. Измерение максимального входного напряжения U_BX._max

2.15.1.    Аппаратура — по п. 2.14.1.

2.15.2.    Подготовка к измерению — по п. 2.14.2.1.

2.15.3.    Проведение измерений

С. 10 ГОСТ 20281-74

2.15.3.1.    На входе микромодуля увеличивают напряжение от номинального значения, указанного в стандартах на микромодули конкретных типов, до наибольшего значения, при котором на выходе микромодуля параметры, характеризующие искажение сигнала, не выходят за пределы допустимого значения, установленного в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.15.3.2.    Измеряют достигнутое наибольшее напряжение на входе микромодуля, которое является максимальным входным напряжением.

2.16.    Метод 1880. Определение диапазона вход-ных (выходных напряжений Д вх (Д вых)

Диапазон входных напряжений определяется как диапазон изменения напряжения на входе микромодуля от минимального до максимального значения, измеренных по методам 1865, 1870.

Диапазон выходных напряжений определяется как диапазон изменения напряжения на выходе микромодуля при минимальном и максимальном входных напряжениях, измеренных по методам 1865, 1870.

2.17.    Метод 1885. Проверка рабочего диапазона напряжений Д_р.

2.17.1.    Аппаратура — по п. 2.14.1.

2.17.2.    Подготовка к измерению — по п. 2.14.2.1.

2.17.3.    Проведение измерений

2.17.3.1.    На вход микромодуля подают напряжения, соответствующие крайним значениям диапазона, указанным в стандартах на микромодули конкретных типов, при этом параметры сигнала на выходе микромодуля должны оставаться в пределах, установленных в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.18.    Метод 1890. Измерение напряжения собственных шумов U ш

Метод применяют при испытаниях усилителей.

2.18.1.    Аппаратура

2.18.1.1.    Измерение напряжения собственных шумов производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 5.

2.18.2.    Подготовка к измерению и проведение измерений

2.18 2.1. Подготавливают установку для измерения в соответствии со схемой черт. 5.

2.18.2.2.    Закорачивают вход усилителя через конденсатор С1 на общий вывод.

2.18.2.3.    Измеряют напряжение собственных шумов непосредственно на выходе усилителя.

2.19.    Метод 1895. Измерение высокого и низкого уровней потенциала t/_B, t/_H

ГОСТ 20281-74 С. П

1— источник питания; 2~микромодуль; 3—нагрузка; ^—измеритель переменного напряже ния (вольтметр эффективных значений); С1, С2— разделительные конденсаторы

Черт. 5

2.19.1.    Параметры потенциального сигнала приведены на черт. 6 и черт. 7.

2.19.2.    Аппаратура

2.19.2.1.    Измерение высокого и низкого уровней потенциала производят на измерительной установке, структурная схема которой приведена на черт. 8.

2.19.3.    Подготовка и проведение измерений

2.19.3.1.    Подготавливают измерительную установку в соответствии со схемой черт. 8 и устанавливают режим работы испытываемого микромодуля в соответствии с п. 1.13.

2.19.3.2.    Высокий уровень потенциала (низкий уровень потенциала), соответствующий открытому состоянию схемы, измеряют в положении 1 переключателя В1\ низкий уровень потенциала (высокий уровень потенциала), соответствующий закрытому состоянию схемы, измеряют в положении 2 переключателя В1.

2.19.3.3.    Высокий и низкий уровни потенциалов измеряют в заданном в стандартах на микромодули конкретных типов режиме вольтметрами постоянного тока непосредственно на выходе схемы микромодуля (переключатель В2—в положении /) или косвен-' ным способом по падению напряжения (U_R) на сопротивлении R_y включенном между выходом микромодуля и шиной питания (переключатель В2 — в положении 2).

Структурная схема измерения высокого и низкого уровней потенциала

/—источник управляющего напряжения; у—микромодуль; 3—источник питания; 4—измеритель постоянного напряжения с входным сопротивлением значительно меньшим, чем у прибора 5; 5—измеритель постоянного напряжения с входным сопротивлением значительно ббльшим, чем у прибора 4; UJ—управляющее напряжение, обеспечивающее открытое состояние схемы микромодуля; 1/2—управляющее напряжение, обеспечивающее закрытое состояние схемы микромодуля; Bl, В2, ВЗ—переключатели, Я—резистор.

Черт. 8

Косвенный способ дает возможность измерять уровни потенциала, соответствующие закрытому состоянию схемы микромодуля, с помощью прибора 4 (переключатель ВЗ— в положении /) С входным сопротивлением значительно меньшим, чем у прибора 5 (переключатель ВЗ—в приложении 2), при измерении тех же уровней непосредственно на выходе схемы микромодуля.

2.19.3.4.    Допускается измерение высокого и низкого уровней потенциала производить с помощью осциллографа, позволяющего измерять постоянную составляющую (постоянное напряжение).

2.19.4.    Обработка результатов измерения

При измерении косвенным способом высокий и низкий уровни определяют из соотношения

2.20. Метод 1900. Измерение перепада потенция-

•Л а — Um вх (вых)

Измеряют высокий и низкий уровни потенциала по методу J895.

ГОСТ 20281-74 С. 15

Перепад потенциала определяют по формуле

^(Ш.ВХ.(ВЫХ) -г/н,

где Uв и £/_н— алгебраические значения напряжений.

3. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ИМЕЮЩИХ РАЗМЕРНОСТЬ ТОКА (класс 2000)

ЗЛ. Метод 2800. Измерение потребляемого тока/_п Метод применяют при испытаниях микромодулей для измерения тока, потребляемого ими от любого источника питания.

3.1.1. Аппаратура

3.1 Л Л. Измерение потребляемого тока производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 9.

/—источник питания; 2-»измеритель постоянного напряжения; 3—измеритель постоянного тока; 4-~микромодуль; 5— генератор; в—нагрузка

Черт. 9

3.1.1.2.    Во избежание измерения тока, протекающего по вольтметру, контролирующему напряжение питания, миллиамперметр ставится после вольтметра (относительно источника питания).

3.1.2.    Подготовка к измерению и проведение измерений

3.1.2.1, Для измерения потребляемого тока /_п в точке А (черт. 9) устанавливают режим измерения, указанный в стандартах на микромодули конкретных типов.

ЗЛ.2.2. Потребляемый ток равен току, показываемому измерителем постоянного тока.

3.2.    Метод 2801. Измерение потребляемого то* к а — In

Метод применяют при испытаниях микромодулей для определения тока, потребляемого ими от любого источника питания,. Данный метод отличается от метода 2800 тем, что в структурную схему измерительной установки добавлен резистор. Метод удобен при автоматизации измерений и при измерении токов в нескольких цепях с помощью одного измерительного прибора.

3.2.1.    Аппаратура

3.2.1.1.    Измерение потребляемого тока производят на установке, структурная "хема которой приведена на черт. 10.

/—источник питания; 2—измеритель постоянного напряжения; 3—микромодуль; 4—генератор; 5—нагрузка; /?—резистор.

Черт. 10

3.2.1.2.    Резистор R должен быть выбран так, чтобы его сопротивление было меньше общего сопротивления цепи, потребляющей ток, не менее чем в 100 раз, и чтобы напряжение, снимаемое с него, было реальным для измерения.

3.2.2.    Подготовка к измерениям и проведение измерений

3.2.2.1.    Для определения потребляемого тока /„ в точке А (черт. 10) устанавливают режим измерения, указанный в стандартах на микромодули конкретных типов.

3.2.2.2.    Измерителем постоянного напряжения измеряют падение напряжения U на измерительном резисторе R.

3.2.3. Обработка результатов

Потребляемый ток определяют по формуле

3.3. Метод 2805. Измерение нулевого тока модулятора -—Лье.

Метод применяют при испытаниях модуляторов постоянного тока.

3.3.1.    Аппаратура

3.3.1.1.    Измерение нулевого тока модулятора производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 11.

ГОСТ 20281-74 С. 17

I—измеритель постоянного тока; 2—источник постоянного тока; 3—микромодуль; 4—генератор опорного напряжения; 5—нагрузка; б—измеритель переменного напряжения; 7—измеритель переменного напряжения.

Черт. 11

3.3.2. Подготовка к измерениям и проведение измерений

3.3.2.1.    От источника опорного напряжения подают переменное напряжение, величину которого контролируют измерителем переменного напряжения.

3.3.2.2.    С помощью источника постоянного тока устанавливают входной ток модулятора 1_ВХ, величину которого контролируют измерителем постоянного тока.

3.3.2 3. Параметры опорного напряжения и величину входного тока указывают в стандартах на микромодули конкретных типов.

3.3.2.4. Напряжения на выходе модулятора измеряют измерителем переменного напряжения, изменяя полярность входных токов с помощью переключателя В1.

3.3.3. Обработка результатов

Нулевой ток модулятора определяют по формуле

/    _    г    ^вых ^вых

^ивах“вых

где U'вых — напряжение на выходе модулятора при входном томе /_Вх одной полярности;

U"вых — напряжение на выходе модулятора при входном токе /вх противоположной полярности.

3.4.Метод 2810. Определение токов продвигающих, считывающих, записывающих импульсов, среднего тока записи, среднего выходного тока и среднеготока помехи /_пр, 1_С, 13> Iз. ср> /вых. ср) /пои.ср

Метод применяют при испытаниях ферродиодных и ферро-транзисторных ячеек.

3.4.1.    Аппаратура

3.4.1.1.    Измерение параметров ферродиодной ячейки производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 12.

/—измеритель постоянного тока; 2—источник записывающих импульсов; 3—источник продвигающих импульсов; 4—ферро-диодная ячейка; 5—источник продвигающих импульсов; ^—измеритель постоянного тока; 7—нагрузка; 3—измеритель импульсного напряжения.

Черт. 12

3.4.1.2.    Измерение параметров ферротранзисторной ячейки производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 13.

3.4.2.    Подготовка к измерениям и проведение измерений

3.4.2.1.    Подготавливают установки в соответствии со схемой черт. 12 или 13 и устанавливают режим работы испытываемого микромодуля в соответствии с п. 1.13.

3.4.2.2.    Для определения токов продвигающих и записывающих импульсов ферродиодных ячеек измеряют падения напряже-

УДК 621.396.6.083.8:006.354    Групп^{1 2}    В29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ стандарт СОЮЗА ССР

микромодули ЭТАЖЕРОЧНОЙ КОНСТРУКЦИИ

Методы измерения электрических параметров    ГОСТ

20281—74²

Micromodules of stacked and spacked construction.

Measuring methods of electrical characteristics

Дата введения 01.01.76

Ограничение срока действия снято по протоколу Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 2—93)

Настоящий стандарт распространяется на микромодули эта-жерочной конструкции (далее — микромодули) и устанавливает методы измерения электрических параметров микромодулей.

Стандарт применять только для микромодулей, изготавливаемых для ЗИП, ремонта аппаратуры, находящейся в эксплуатации, а также для комплектования аппаратуры старых разработок, ТЗ на которые утверждены до 01.01.82.

Настоящий стандарт не распространяется на микромодули, представляющие собой сборки микроэлементов и имеющие электрические параметры, свойственные микроэлементам.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Измерительные установки, предназначенные для измерения электрических параметров, должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261-82 и требованиям настоящего стандарта.

ГОСТ 20281-74 С. 19

/—источник записывающих импульсов; 2—источник считывающил импульсов; 3—ферротранзисторная ячейка; 4—источник питания; 5—осциллограф; Е1—напряжение, подаваемое в коллекторную цепь ферротранзисторной ячейки; Е2—напряжение, подаваемое в цепь смещения ферротранзисторной ячейки.

Черт. 13

ния Uпи UR2, t/*3 на сопротивлениях Rl\ R2; R3_t включенных в цепи продвигающих и записывающих обмоток на схеме черт. 12.

Падение напряжения Ur* контролируют в положении 1> U_R2 — в положении 2, U_R3 — в положении 3 переключателя В2.

3.4.2.3.    Средний ток записывающих импульсов, средний выходной ток и средний ток помехи определяют непосредственно измерителями постоянного тока, включаемыми в цепь записывающей обмотки и в выходную цепь ферродиодной ячейки.

Средний выходной ток определяют при подаче продвигающих и записывающих импульсов (переключатель В1 — в замкнутом положении).

Средний ток помехи определяют без подачи записывающих импульсов (переключатель В1 — в нормально разомкнутом положении) .

3.4.2.4.    Для определения токов считывающих и записывающих импульсов ферротранзисторных ячеек измеряют падение напряжений Uru U_R2, £/*₃ на сопротивлениях Rl, R2, R3, включенных в цепи считывающих и записывающей обмоток на схеме черт. 13.

Падение напряжения £/*i контролируют в положении /, U_R2 — в положении 2, t/*₃ — в положении 3 переключателя ВЗ.

С 2 ГОСТ 20281-74

1.2.    Измерительные установки должны обеспечивать электрические режимы и погрешности измерения параметров микромодулей, установленные в стандартах на микромодули конкретных типов *.

1.3.    В автоматизированных и полуавтоматизированных установках допускается для контроля параметров применение измерительных приборов с отсчетом по принципу «годен — негоден».

1.4.    Измерительные установки должны предусматривать защиту микромодулей от воздействия статического электричества и возникновения паразитной генерации.

1.5.    Количество однотипных измерительных приборов, указанных в структурных схемах настоящего стандарта, может быть изменено путем соответствующей коммутации, при этом погрешность измерения или контроля параметров должна находиться в пределах, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов.

1.6.    В целях автоматизации измерений в качестве переключающих устройств могут применяться любые коммутирующие элементы, обеспечивающие измерение с погрешностью, не превышающей значений, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов.

1.7.    Сопротивления нагрузки, указанные в структурных схемах, могут быть активными, реактивными и комплексными: конкретные значения их устанавливают в стандартах на микромодули конкретных типов.

Емкость и индуктивность монтажных проводов, испытательных зажимов и измерительных приборов, подключенных к выходу микромодуля, учитывают при расчете реактивной нагрузки.

1.8.    Если в настоящем стандарте приведено несколько методов измерения данного параметра, то при выборе метода следует руководствоваться указаниями о точности и области применения каждого метода, а также соображениями удобства компоновки общей схемы измерительной установки на основе приводимых в стандарте структурных схем измерения отдельных параметров.

1.9.    Для измерения параметров микромодулей конкретных типов структурные схемы, приведенные в настоящем стандарте, дополняют необходимыми элементами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов. При этом разделительные конденсаторы во входной (С 1) и выходной (С2) цепях применяют в

^т Здесь и далее при отсутствии стандартов на микромодули конкретных типов требования и нормы указывают в технических условиях, утвержденных в установленном порядке.

ГОСТ 20281-74 С. S

случае, когда вход и выход микромодуля не должны иметь гальванического соединения с общим выводом.

Величины емкостей Cl, С2 выбирают из соотношений:

2п/СГ    2ЩС2    <0,01£„,

где Rbx — входное сопротивление микромодуля, Ом;

R_H —нагрузочное сопротивление микромодуля, Ом; f —частота, на которой производится измерение параметра, Гц.

1.10. Конкретные значения величин электрических элементов;, типы измерительных приборов и источников питания, приведенных в структурных схемах настоящего стандарта, указывают в стандартах на микромодули конкретных типов.

1Л1. Требования к измерительным установкам в части погрешности измерения, формулы расчета погрешности измерения приведены в приложении 1.

1.12.    Значения погрешности измерения конкретного электрического параметра указывают в стандартах на микромодули конкретных типов.

1.13.    Режим работы микромодуля при измерении параметров должен соответствовать указанному в стандартах на микромодули конкретных типов.

2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ИМЕЮЩИХ РАЗМЕРНОСТЬ НАПРЯЖЕНИЯ (класс 1000³)

2.1.    Метод 1800. Измерение амплитуды прямоугольного импульса U⁴

2.1.1.    Аппаратура

2.1.1.1.    Измерение амплитуды прямоугольного импульса производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 1.

/—генератор прямоугольных импульсов; 2—осциллограф или измеритель напряжений и временных параметров; 3—источник питания; 4—микромодуль; 5—эквивалентная нагрузка; 5—осциллограф или измеритель напряжений и временных параметров Черт. 1

2Л.2. Подготовка к измерению и проведение измерений

2Л.2Л. Подготавливают установку для измерения в соответствии со схемой черт. 1 и устанавливают режимы работы испытываемого микромодуля в соответствии сп. 1ЛЗ.

2Л.2.2. Амплитуду прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряжение между начальным уровнем (установившееся значение потенциала в отсутствии импульса) и уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с его фронтом (точка А на черт» 2)»

Параметры прямоугольного импульса

Черт. 2

ГОСТ 20281-74 С. 5

2.1.2.3. Параметры прямоугольного импульса, приведенные на чертеже, являются параметрами выходных импульсов измерительных приборов, которые подаются на вход испытуемого микромодуля, определяя режим испытания, либо являются параметрами выходных импульсов испытуемого микромодуля.

2.2. Метод 1805. Измерение средней амплитуды прямоугольного Uср

2.2.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.2.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.2.3.    Проведение измерений

2.2.3.1.    Среднюю амплитуду прямоугольного импульса измеряют по изображению выходного импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряжение между начальным уровнем и уровнем, проходящим через точку плоской вершины, соответствующую середине длительности импульса (точка В на черт. 2).

2.3.    Метод 1810. Измерение выброса фронта пря~ моугольного импульса U_Bl

2.3.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.3.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.3.3.    Проведение измерений

2.3.3.1.    Выброс фронта прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряжение между уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с фронтом (точка А на черт. 2) и уровнем, проходящим через вершину выброса фронта импульса.

2.4.    Метод 1815. Измерение выброса среза прямоугольного импульса U_b2

2.4.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.4.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.4.3.    Проведение измерений

2.4.3Л. Выброс среза прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряжение между начальным уровнем и уровнем, проходящим через вершину выброса среза импульса.

2.5.    Метод 1820. Измерение скола вершины прямоугольного импульса — Д(У

2.5.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.5.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.5.3.    Проведение измерений

Скол вершины прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряжение между уровнем, проходящим через точку пересечения продол-

жения плоской вершины импульса с его фронтом (точка А на черт. 2) и уровнем, проходящим через точку пересечения продолжений плоской вершины импульса и его среза (точка Б на черт. 2).

2.6.    Метод 1825. Измерение минимальной амплитуды запускающих импульсов—U_3a„, _mi_n

2.6.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.6.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.6.3.    Проведение измерений

2.6.3.1.    На вход микромодуля подают импульсы, плавно увеличивая их амплитуду от нуля. Наименьшее значение амплитуды импульсов на входе микромодуля, при котором на экране осциллографа, подключенного к выходу микромодуля, появится устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов, будет являться минимальной амплитудой запускающих импульсов.

2.7.    Метод 1830. Измерение максимальной амплитуды ЗапуСКаЮЩИХ ИМПУЛЬСОВ—U₃ ап. max.

2.7.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.7.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.

2.7.3.    Проведение измерений

2.7.3.1.    На входе микромодуля плавно увеличивают амплитуду запускающих импульсов от значения минимальной амплитуды. Наибольшее значение амплитуды импульсов на входе микромодуля, при котором на экране осциллографа, подключенного к выходу микромодуля, наблюдается осциллограмма с искажением, не превышающим норм, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов, будет являться максимальной амплитудой запускающих импульсов.

2.8.    Метод 1835. Проверка гарантируемой амплитуды запускающих импульсов U_aап.г.

2.8.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

2.8.2.    Подготовка к измерениям — по п. 2,1.2.1.

2.8.3.    Проведение измерений

2.8.3.1.    При подаче на вход микромодуля наибольшего допустимого значения минимальной амплитуды запускающих импульсов, указываемого в стандартах на микромодули конкретных типов, на экране осциллографа, подключенного к выходу микромодуля, должен наблюдаться устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.9.    Метод 1840. Проверка диапазона гарантируемых амплитуд запускающих импульсов Дзап.г..

2.9.1.    Аппаратура — по п. 2.1.1.

ГОСТ 20281-74 С. 7

2.9.2.    Подготовка к измерениям — по 2.1.2.1.

2.9.3.    Проведение измерений

2.9.3.1.    При подаче на вход микромодуля гарантируемой амплитуды запускающих импульсов, указанной в стандартах на микромодули конкретных типов, на экране осциллографа, подключенного к выходу микромодуля, должен наблюдаться устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.9.3.2.    При подаче на вход микромодуля наименьшего допустимого значения максимальной амплитуды запускающих импульсов па экране осциллографа, подключенного к выходу микромодуля, должна наблюдаться осциллограмма с искажением, не превышающим норм, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.10. Метод 1845. Измерение допустимого уровня помехи без сигнала U_n0M

2.10.1.    Аппаратура

2.10.1.1.    Измерение допустимого уровня помехи без сигнала производят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 3.

Генератор входного сигнала подключается при измерении

UГЮМ с И UПОМ.С.Г.

2.10.2. Подготовка к измерению и проведение измерений

2.10.2.1.    Подготавливают установку для измерения в соответ-с I в и и со схемой черт. 3.

Г 2 I

/—генератор входного сигнала; 2—измеритель входною напряжения и уровня помехи; 3—источник уровня помехи; 4—источник питания; 5—микромодуль; 5—нагрузка; 7—измеритель выходного напряжения

Черт. 3

2 Зак. 1040

С. 8 ГОСТ 20281-74

2.10.2.2.    На входе микромодуля уровень помехи плавно увеличивают от нуля до наибольшего уровня помехи, при котором схема микромодуля не запускается или на выходе микромодуля уровень помехи не выходит за пределы допустимого значения, установленного в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.10.2.3.    Измеряют достигнутый наибольший уровень помехи на входе микромодуля, который является допустимым уровнем помехи без сигнала.

2.11.    Метод 1850. Измерение допустимого уровня помехи с сигналом U_noм.с

2.11.1.    Аппаратура — по п. 2.10.1.

2.11.2.    Подготовка к измерению по — п. 2.10.2.1.

2.11.3.    Проведение измерений

2.11.3.1.    На вход микромодуля одновременно с входным сигналом (в наихудшем сочетании) подают уровень помехи, плавно увеличивая его от нуля до наибольшего значения, при котором искажение выходного сигнала не выходит за пределы допустимого значения, установленною в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.11.3.2.    Измеряют достигнутый наибольший уровень помехи на входе микромодуля, который является допустимым уровнем помехи с сигналом.

2.12.    Метод 1855. Проверка гарантируемого уровня помехи без сигнала б/_Пом.г

2.12.1.    Аппаратура — по п. 2.10.1.

2.12.2.    Подготовка к измерению — по п. 2.10.2.1.

2.12.3.    Проведение измерений

2.12.3.1.    На вход микромодуля подают гарантируемый уровень помехи, указанный в стандартах на микромодули конкретных типов, при этом схема микромодуля не должна запускаться или на ее выходе уровень помехи не должен выходить за пределы допустимого значения, указанного в стандартах на микромодули конкретных типов.

2.13.    Метод 1860. Проверка гарантируемого уровня помехи с сигналом U_nом.с.г

2.13.1.    Аппаратура — по п. 2.10.1.

2Л3.2. Подготовка к измерению — по п. 2.10.2.1.

2.13.3.    Проведение измерений

2.13.3.1.    На вход микромодуля одновременно с входным сигналом (в наихудшем сочетании) подают гарантируемый уровень помехи, указанный в стандартах на микромодули конкретных типов, при этом искажение выходного сигнала не должна выходить за

1

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

★

(6) Издательство стандартов, 1974 © Издательство стандартов, 1994

2

Переиздание (май 1994 г.) с Изменением М 1, утвержденным в сентябре 1990 г. (ИУС 12—90)

3

Порядок нумерации методов измерения, применяемый в настоящем стандарте, приведен в приложении 2.

4

Термины, определения и условные обозначения электрических параметров к характеристик микромодулей приведены в справочном приложении 3.