Стр. 1  

45 страниц

Распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители.

 Скачать PDF

Ограничение срока действия снято: Протокол № 5-94 МГС от 17.05.94 (ИУС 11-94)

Оглавление

2 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность напряжения (класс 1000)

3 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность тока (класс 2000)

4 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность мощности (класс 3000)

5 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность частоты (класс 4000)

6 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность времени (класс 5000)

7 Методы измерения относительных параметров (класс 6000)

8 Методы измерения электрических параметров, имеющих размерность сопротивления (класс 7000)

9 Методы измерения электрических параметров, имеющих прочие размерности (класс 8000)

10 Методы определения характеристик (класс 9000)

Приложение 2 (справочное) Пояснение нумерации методов измерения

Приложение 3 (справочное) Термины и определения электрических параметров и характеристик микросхем

Приложение 4 (справочное) Информационные данные о соответствии ГОСТ 19799-74 СТ СЭВ 1622-79 и СТ СЭВ 3411-81

Приложение 5 (справочное)

 
Дата введения 01.01.1976
Добавлен в базу 01.09.2013
Завершение срока действия 01.07.1998
Актуализация 01.01.2021

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

15.05.1974 Утвержден Госстандарт СССР 1178
Издан Издательство стандартов 1974 г.
Издан ИПК Издательство стандартов 1999 г.

Analog integrated microcircuits. The measurement methods of the electric parameters and determination of the responses

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20
Стр. 21
стр. 21
Стр. 22
стр. 22
Стр. 23
стр. 23
Стр. 24
стр. 24
Стр. 25
стр. 25
Стр. 26
стр. 26
Стр. 27
стр. 27
Стр. 28
стр. 28
Стр. 29
стр. 29
Стр. 30
стр. 30

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК

БЗ 12-98


Издание официальное

ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ    СТАНДАРТ

ГОСТ

19799-74

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

Методы измерения электрических параметров и определения характеристик

Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses

Дата введения 01.01.76

Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик.

Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители.

Настоящий стандарт должен применяться:

при разработке и пересмотре стандартов или технических условий на микросхемы конкретных типов;

при разработке установок для измерения электрических параметров микросхем;

при проведении научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ.

Степень соответствия настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 приведена в приложении 4.

Общие требования к аппаратуре — в соответствии с ГОСТ 30350.

(Измененная редакция, Изм. JSfe 1, 2, 3, 4, 5, 6).

Разд. 1. (Исключен, Изм. № 6).

2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ИМЕЮЩИХ РАЗМЕРНОСТЬ НАПРЯЖЕНИЯ (класс 10001 2)

Метод 150 0. Измерение входного напряжения (£/м).

Измерение Un проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1. Измеряют напряжение на входе микросхемы при ее работе в заданном режиме, указанном в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Метод 1510. Измерение максимального входного напряжения (Un ^ для микросхем с одним входом.

* Порядок нумерации методов измерения, применяемый в настоящем стандарте, приведен в приложении 2.

С. 2 ГОСТ 19799-74


Измерение 1/вли проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1.

Черт. 1

На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Увеличивая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение выходного сигнала микросхемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Измерителем напряжения измеряют £/мтм на входе микросхемы.

Метод 1511. Измерение максимального входного напряжения (£/и вця) для микросхем с двумя входами на переменном токе.

Структурная схема для измерения U„_на переменном токе

приведена на черт. 2.

Значения чистоты и сопротивления нагрузки должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. В случае применения модулированного сигнала измерители 2 и 5должны обеспечивать измерение эффективного смодулированного напряжения. Конденсаторы С/и С2должны являться короткозамкнутыми цепями при заданной частоте.

Черт. 2

Для проведения измерения испытуемую микросхему (при необходимости) балансируют в соответствии с условиями, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Сигнал генератора 1 на заданной частоте устанавливают на уровне, обеспечивающем значение напряжения на входе (выходе) испытуемой микросхемы, указанное в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Значения максимального входного напряжения измеряют измерителем 2.

Методы 150 0, 151 0, 151 1. (Измененная редакция, Изм. № 2).

Метод 1512. Измерение максимального входного напряжения (Unmu) для микросхем с двумя входами на постоянном токе.

Структурная схема измерения Unem на постоянном токе приведена на черт. 2а.

/ — источник постоянного напряжения; 2, 5 — измерители постоянного напряжения; 3 — микросхема; 4 — источник питания Черт. 2а

ГОСТ 19799-74 С. 3

Для измерения ^мтмна источнике У устанавливают напряжение Un< Unmtx и постепенно увеличивают его до тех пор, пока не достигнет значения, указанного в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Значение 0штж измеряют измерителем 2.

(Введен дополнительно, Изм. № 2).

Метод 152 0. Измерение минимального входного напряжения (t/^J для микросхем с одним входом.

Измерение илтл проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1.

На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Уменьшая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение выходного сигнала микросхемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Измерителем напряжения измеряют Unmta на входе микросхемы.

Метод 1521. Измерение минимального входного напряжения (6^жвмв) для микросхем с двумя входами.

Измерение ишШ проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 2.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять требованиям, указанным в методе 1511.

При необходимости микросхему балансируют с точностью, указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Уменьшая напряжение входного сигнала, устанавливают напряжение на входе (выходе) испытуемой микросхемы равным значению, указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. После этого измеряют (/Л(и измерителем 2.

Метод 153 0. Измерение чувствительности ($)

Измерение S проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Уменьшают входное напряжение до такого значения, при котором параметры микросхемы примут значения, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, при этом измеряют напряжение входного сигнала, которое численно равно чувствительности.

Метод 154 0. Измерение диапазона входных напряжений (д£/в).

Для измерения ДUn измеряют значение максимального входного напряжения (/итм (методы 1510 и 1511) и значение минимального входного напряжения £/emin (методы 1520 и 1521). Диапазон входных напряжений определяют по формуле

Д U = U - U ,

U    II    ПЫЛ    IX    пил

Метод 155 0. Измерение входного напряжения покоя (U^) и выходного напряжения покоя

Соизмерение £/ и U^ микросхем с одним входом проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 3.

Емкость С, конденсатора должна быть достаточной для того, чтобы исключить паразитные самовозбуждения, и должна соответствовать стандартам или техническим условиям на микросхемы конкретных типов.

Переключатель BI устанавливают в положение 1 и измерителем 3 измеряют значение входного напряжения покоя U^. Затем переключатель В1 переводят в положение 2 и измерителем 3 измеряют значение выходного напряжения покоя U^.

(Измененная редакция, Изм. № 2).    Черт.    3

Метод 156 0. (Исключен, Изм. № 2).

Метод 157 0. Измерение входного напряжения ограничения ({/**,,„)•

Измерение проводят согласно структурной схеме, выбранной для измерения коэффициента усиления напряжения Доданной микросхемы.

2-1361

На вход микросхемы подают синусоидальный сигнал напряжением (fn , указанным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, и измеряют переменное напряжение на выходе микросхемы цшх Увеличивают входной сигнал до напряжения и“я = 1,1 Un и измеряют

Una Дифференциальный коэффициеггг усиления определяют по формуле

к'шиш’Чтя

0,11/ш

Изменяя входное напряжение и определяя Кул, находят такое значение Un, при котором Куя равен 0,1 Кул ■ Входное напряжение ограничения U0lKpn равно найденному значению Un.

Метод 158 0. Измерение э. д. с. смещения (Есм) и напряжения смещения нуля (С/^) для микросхем с двумя и одним входами.

Измерение £ш, UCH для микросхем с двумя входами проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 4, а для микросхем с одним входом — согласно структурной схеме, приведенной на черт. 4а.

Инвентируюший усилитель 4 применяется, если выходное напряжение испытуемой микросхемы не сдвинуто по фазе. Усилитель должен обеспечивать коэффициент усиления напряжения AfyU«l и иметь входное сопротивление /?п »/^.

Значения сопротивлений резисторов, входящих в структурные схемы черт. 4 и черт. 4а, должны удовлетворять следующим требованиям:

Л, * Л, 2 AlO/^u;

Л, £ 0,01л, или R+Z -—^-.

°J ^yUa\in ’

s Л»;

где \х — входное сопротивление испытуемой микросхемы;

— выходное сопротивление испытуемой микросхемы;



Черт. 4

KyV — коэффициент усиления напряжения испытуемой микросхемы при условии, что цепь обрат-ной связи разомкнута.

Черт 4а


Испытуемую микросхему балансируют, изменяют напряжение £, источника / до тех пор, пока напряжение на измерителе 5 будет равно нулю или значению указанному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, и измеряют значение £, измерителем 2.

Э. д. с. смешения и напряжения смещения нуля определяют по формуле


EeH(Uc») - Ех


_*2_ Л, +Л2


+ ^0#ых


Метод 1581. Измерение э. д. с смещения (£ем) и напряжения смещения нуля (Uctt) для микросхем с двумя входами с автоматической балансировкой испытуемой микросхемы с помощью вспомогательного усилителя.

Измерение Еш, 1/ш проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 5.

Параметры вспомогательного дифференциального усилителя должны обеспечивать:

усиление при разомкнутой обратной связи более 60 дБ;

размах выходного напряжения, достаточный для обработки входного напряжения испытуемой микросхемы;

диапазон напряжений синфазного сигнала на входе нс меньше диапазона выходного напряжения испытуемой микросхемы.

Значения сопротивлений резисторов, входящих в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям:

/г, = £,;*, = /?,; /?,«£,«£„;



Черт. 5


2*


Значения сопротивлений резисторов R устанавливают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Переключатель ВЗ устанавливают в положение У, когда выходное напряжение испытуемой микросхемы равно нулю, или в положение 2, когда выходное напряжение не равно нулю. Напряжение источника 6должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Для измерения £сц переключатели В1 и В2 замыкают, а для измерения — размыкают.

Устанавливают напряжение источника б и положение переключателя ВЗ в соответствии со стандартами или техническими условиями на микросхемы конкретных типов и измеряют напряжение £/, измерителем 1. Э. д. с. смещения и напряжение смещения нуля определяют по формуле:

Есысм)=и}

R2

Л2 + Л4 ‘


Метод 159 0. Измерение синфазного входного напряжения (п). Измерение U^r проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 6.

Черт. 6

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям

/?, - Л^0,01Л„; /?3 = Ra»Rj.

На микросхему подают 6^ с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, и измеряют его напряжение измерителем напряжения.

Методы 157 0—1 5 9 0. (Измененная редакция, Изм. № 2).

Метод 160 0. Измерение максимального синфазного входного напряжения ((LwnMI) для микросхем с двумя входами.

Для измерения максимального синфазного входного напряжения Uc* n^ измеряют коэффициент ослабления синфазных входных напряжений (методы 6550 и 6551). Измеряя Кжс^, плавно увеличивают напряжение входного синфазного сигнала до значения, при котором Кж сф уменьшится на 6 дБ, при этом регистрируют постоянное напряжение входного синфазного сигнала или амплитуду синусоидального входного синфазного сигнала (при измерении на переменном токе), которые равны

^сф.вх.вах‘

Метод 1610. Измерение выходного напряжения

Для измерения на выводах микросхемы устанавливают режим, указанный в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

ГОСТ 19799-74 С. 7

Измерение 11шх проводят измерителем напряжения, подключаемым к выходу микросхемы.

Метод 162 0. Измерение максимального выходного напряжения (^,швих) для микросхем с одним входом.

Измерение ____проводят согласно струюурной схеме, приведенной на черт. 1. На микросхему

подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Увеличивают напряжение входного сигнала до такого значения, при котором параметры микросхемы примут значения, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, при этом измеряют измерителем напряжения на выходе микросхс-МЫ

Метод 1621. Измерение максимального выходного напряжения (U%tumtx) для микросхем с двумя входами на переменном токе.

Измерение ^ проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 2. Требования к элементам схемы аналогичны изложенным в методе 1511.

Сигнал генератора 1 на заданной частоте устанавливают на уровне, обеспечивающем значение напряжения на входе (выходе) испытуемой микросхемы, указанное в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Измеряют максимальное выходное напряжение измерителем 5.

Методы 1610—162 1. (Измененная редакция, Изм. № 2).

Метод 162 2. Измерение максимального выходного напряжения (£/,ыхтах) для микросхем с двумя входами на постоянном токе.

Измерение mix на постоянном токе проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 2а.

На источнике 1 устанавливают напряжение (/ы, указанное в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Значение £/шхпих измеряют измерителем 5.

(Введен дополнительно, Изм. № 2).

Метод 163 0. Измерение минимального выходного напряжения    для    микросхем    с

одним входом.

Измерение проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 1. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Уменьшают напряжение входного сигнала до такого значения, при котором параметры микросхемы примут значения, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, при этом измерителем напряжения на выходе микросхемы измеряют 1/твМя.

Метод 1631. Измерение минимального выходного напряжения (_,п) для микросхем с двумя входами.

Измерение ииалЛл проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 2. Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять требованиям, указанным в методе 1511.

Микросхему балансируют (при необходимости) с точностью, указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. На микросхему подают входное напряжение с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов. Уменьшают напряжение входного сигнала до такого значения, при котором параметры микросхемы примут значения, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов; при этом измерителем напряжения на выходе микросхемы измеряют (/ашл^.

Метод 164 0. Измерение выходного напряжения баланса    для    микросхем    с    двумя

входами.

Измерение    проводят    согласно    структурной    схеме,    приведенной    на    черт.    6а.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять требованиям, указанным в методе 1580.

Микросхему балансируют (метод 1580) с точностью, указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Затем переключатель В1 переводят в положение 2 и измерителем постоянного напряжения измеряют £/ыхбм между одним из выходов микросхемы и общим выводом микросхемы.

3-1361

Метод 1641. Измерение выходного напряжения баланса    для    микросхем    с    двумя

входами с автоматической балансировкой испытываемой микросхемы с помощью вспомогательного усилителя.



Черт. 6а


Измерение 6/шввл проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 66.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям:

*,«*,$0,01*,,,; А,-*«>>*,;

Если напряжения на входах вспомогательного усилителя не превышают допустимых значений, то резисторы А 7 и R8 исключают.

Параметры вспомогательного усилителя должны удовлетворять требованиям, указанным в методе

1581.

Измерителем 4 измеряют постоянное напряжение (/втЛи между одним из выходов микросхемы и общим выводом микросхемы.

Метод 165 0. Измерение приведенного ко входу напряжения шумов (£/ш м) для микросхем с одним входом.

Измерение Um и проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 7.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям

*Ci £ 0,1*,.

Для измерения Umn измеряют эффективное значение напряжения шумов £/щ на выходе микросхемы и коэффициент усиления напряжения KyV методом, выбранным для испытаний данной микросхемы (методы 6500—6504).

Приведенное ко входу напряжение шумов определяют по формуле

‘у и

U,и

Черт. 7

ГОСТ 19799-74 С. 9

Метод 1651. Измерение приведенного ко входу напряжения шумов (Um м) для микросхем с двумя входами.

Измерение 1/ш п проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 7а.

Основные элементы, входящие в структурную схему, должны удовлетворять следующим требованиям:

я, = /^0,01^;/?, = /?,>>*,;

С, - С,; Л-С| s0,01/t„.

Для микросхем с двумя выходами положение переключателей при измерении Um v, показано на черт. 7а, а для микросхем с одним выходом переключатель ВЗ переводят в положение 2.

Переменное напряжение на выходе генератора устанавливают равным нулю. Входы микросхемы через конденсаторы С7 и С2 закорачивают на общий вывод, для чего замыкают переключатели В1 и

В2.

Микросхему балансируют с точностью, указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, затем к выходу микросхемы подключают измеритель переменного напряжения (переключатель В4устанавливают в положение 2).

Ебых

\Е2

I — источник управляющего напряжения; 2 — измеритель постоянного напряжения; 3 — микросхема; 4 — источник питания; 5 — измеритель постоянного напряжения

Черт. 8

Черт. 7а

Измеряют эффективное значение напряжения шумов Um непосредственно на выходе микросхемы и коэффициент усиления напряжения KyU (методы 6500—6504).

Приведенное ко входу напряжение шумов U определяют по формуле

и,

1у и

Метод 166 0. Измерение остаточного напряжения (

Измерение U^ проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 8.

На вход микросхемы подают управляющее напряжение £,, соответствующее открытому состоянию микросхемы, с параметрами, указанными в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

Остаточное напряжение измеряют измерителем напряжения на выходе микросхемы.

Метод 167 0. Измерение напряжения срабатывания (6^).

Измерение проводят согласно структурной схеме, приведенной на черт. 8.

Увеличивают управляющее напряжение £,, начиная от Е\ <Ucp6, указанного в стандартах или

у

1

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

2

© Издательство стандартов, 1974 © ИПК Издательство стандартов, 1999 Переиздание с Изменениями