ISO 17470:2004
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии

Заменен на ISO 17470:2014
 

18 страниц

Завершение срока действия 06.01.2014
Опубликован 20.09.2004

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry