ISO 17470:2014
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии

 

18 страниц

Опубликован 06.01.2014

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry