Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

16 страниц

304.00 ₽

Купить ГОСТ 8.358-79 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на твердые диэлектрические материалы толщиной не менее 0,5 мм с относительной диэлектрической проницаемостью от 2 до 20 и тангенсом угла диэлектрических потерь от 1х10 в степени минус 4 до 1х10 в степени минус 1 и устанавливает методы измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь этих материалов в диапазоне частот от 0,2 до 1,0 ГГц

  Скачать PDF

Оглавление

1. Общие указания

2. Отбор образцов

3. Средства измерений

4. Подготовка к измерениям

5. Проведение измерений

6. Обработка результатов измерений

Приложение 1. Основные технические характеристики средств измерений, используемых для определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Приложение 2. Основные технические характеристики вспомогательных средств измерений

Показать даты введения Admin

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,2 - I ГГц

ГОСТ 8.358-79

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Н. М. Карих, панд. техн. наук; Н. Л. Яцынина, канд. техн. наук

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта В. И. Кипаренко

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государст-венного комитета СССР по стандартам от 12 июня 1979 г. № 2112

УДК 621.31 >.61:621.317.335.3:006.354

Группа Т88.5

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

——за    —■——в ....... ■ в——м——

Государственная система обеспечения единства

измерений МЕТОДИКА ВЫПОЛНЕНИЯ ИЗМЕРЕНИЙ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА    ГОСТ

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ

ЧАСТОТ 0,2-г 1 ГГц    8-    358—79

Stale system for ensuring the uniformity of measurements Method of making measurements of relative permittivity and dielectric loss tangent in the

]Ц^втяятт^тш^ш^я^шятт^тттттт^ш^ш^т

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 12 июня 1979 г. К? 2112 срок введения установлен

с 01.07.1980 г.

Настоящий стандарт распространяется на твердые диэлектрические материалы толщиной не -менее 0,5 мм с относительной диэлектрической проницаемостью e=2-f-20 и тангенсом угла диэлектрических ‘потерь tg6 ИО'ЧНО-1 и устанавливает методы измерений е и tg6 этих материалов в диапазоне частот 0,2-г 1,0 ГГц.

В стандарте учтены рекомендации СЭВ по стандартизации PC 604—66, стандарты МЭК 377—2 и ИСО 6—77 в части методов и средств измерений.

1. ОБЩИЕ УКАЗАНИЯ

1.1.    Измерение относительной диэлектрической проницаемости е и тангенса угла диэлектрических потерь tg6 производят следующими методами:

резонансным методом, основанным на использовании измерителей добротности, тороидальных резонаторов и коаксиальных резонаторов постоянной и переменной длины;

методом измерения в линиях передач, основанным па использовании коаксиальных измерительных систем.

1.2.    Погрешность измерения при доверительной вероятности 0,95 не должна быть более:

+: (1 j_4)    —для относительной диэлектрической проницаемос

ти 2 “г- 20;

Издание официальное

± (20+0,005/tg6 ) % — для тангенса угла диэлектрических потерь ЫО-'-МО-1.

Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1979

Стр. 2 ГОС! 8.358—79

2. ОТБОР ОБРАЗЦОВ

2.1.    Порядок отбора образцов из партии и их подготовка к измерениям (увлажнение, сушка, выдержка) должны быть указаны в стандартах или технических условиях на материалы.

2.2.    Число образцов для измерений указывают в стандартах или технических условиях на материалы конкретного вида. При отсутствии таких указаний число образцов должно быть не менее трех.

2.3.    В зависимости от метода измерений образец должен быть выполнен:

в виде плоскопараллельного диска — при резонансном методе;

•плоской коаксиальной шайбы — при методе измерения в линиях передан и резонансном методе.

2.4.    Образец в виде плоскопараллельного диока должен быть ■выполнен в соответствии с черт. 1.

2.4.1.    Толщина образца диэлектрика Л при измерении .посредством измерителей добротности зависит от значений тангенса угла диэлектрических потерь с учетом пределов измеряемых емкостей и должна быть не более 5 мм для tg6 =М0"3 и 3 мм для tg6 =H0-J-H-1C-'.

2.4.2.    Толшнпу образца диэлектрика h при измерении в тороидальном резонаторе выбирают любой в пределах от 0,5 до 2 мм независимо от значения тангенса угла диэлектрических потерь.

2.4.3.    Толщину образца измеряют в семи точках, обозначенных на черт. 2.

При расчете берут среднее арифметическое значение всех измерений. Погрешность измерения толщин от 0,5 до 1 мм не должна превышать ±0,001 мм,свыше 1 мм — ±0,01 мм.

2.5. Образец в виде плоской коаксиальной шайбы должен быть выполнен в соответствии с черт. 3.

Размеры образцов для испытаний .в коаксиальных трактах выбирают в соответствии с сечением тракта. Испытуемый образец запрессовывают в контактные кольца толщиной S для ликвидации погрешности за счет зазора между образцом и резонатором и для фиксации образца в максимуме электрического поля.

2.5.1.    Толщина образца диэлектрика должна быть от 1 до 10 мм.

2.5.2.    Толщину образца измеряют в семи точках, обозначенных на черт. 4, с погрешностью яе более ±0,01 мм. При расчете берут среднее арифметичеокое значение всех измерений.

2.6. Квалитеты точности, классы шероховатости поверхности, степени отклонения от параллельности, цилиндричности, соосности при обработке неорганических и органических материалов выбирают из таблицы.

Материалы

Наименование параметра

неорганические

органические

Квалвтет точности по СТ СЭВ

145-

-75

3

7

Класс шероховатости по ГОСТ 2789

-73

11

7

Отклонение от параллельности 10358-83

ПО

гост

ш

VI

Отклонение от плоскостности 10358-63

по

гост

ш

VII

Отклонение от цнлиндричности 10358-63

по

гост

IV

VII

Отклонение от соосности 10356-63

по

гост

III

VI

2.7. Наносить маркировку на поверхность образцов не допускается.

У СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

3.1.    Средства измерений, используемые для определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, и их основные технические характеристики приведены в справочном приложении 1.

Допускается применять другие средства измерений, работающие в диапазоне частот ОД-f-f ГГц и удовлетворяющие требованиям п. 1.2 и техническим характеристикам, приведенным в справочном'приложении 1.

3.2.    Поверку средств измерений осуществляют стандарт,ными образцами, аттестованными метрологическими органами Госстандарта в соответствии с ГОСТ 8.274-78.

3.3.    Вспомогательные средства измерений и их основные технические характеристики приведены в справочном приложении 2.

4. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ

4.1.    При проведении измерений измерителем добротности типа ВМ 409G (ВМ 409Е) в комплекте с приставкой ВР 4090 присоединяют их друг к другу в соответствии с требованиями нормативно-технической документации

4.2.    При проведении измерений приборами типов Ш2-4, ИПДП и КР-500 собврают установку, электрическая структурная схема которой дриведева на черт. 5.

4.3. При проведении измерений на измерительной линии собирают установку, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 6.

4.4.    Подготавливают к работе основные и вспомогательные средства измерений.

4.5.    При проведении измерений соблюдают нормальные условия по ГОСТ 22261-76.

4.6.    Перед проведением измерений на приборе типа ИПДП проводят его частотную градуировку.

Стр. i ГОСТ 8.358-79

5. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

5.1.    Относительную диэлектрическую проницаемость е и тангенс угла диэлектрических потерь tgб резонансным методом измеряют при помощи измерителя добротности, а также приборов типов ИПДП, КР-500 и Ш2-4.

5.1.1.    Измерения при помощи измерителя добротности выполняют в последовательности, приведенной ниже:

устанавливают рабочую частоту измерителя добротности;

помещают образец диэлектрика в измерительную ячейку приставки ВР 4090;

настраивают прибор в резонанс по максимальному отклонению стрелки индикатора;

снимают показания по отсчетному устройству приставки d\, по шкале измерительного конденсатора С и по шкале измерителя добротности Q,;

вынимают образец и настраивают прибор в резонанс изменением положения подвижного электрода измерительной ячейки;

снимают показания по отсчетному устройству измерительной ячейки di и по шкале измерителя добротности Qi.

5.1.2.    Измерение при помощи прибора типа ИПДП выполняют в последовательности, приведенной ниже:

устанавливают рабочую частоту генератора при помощи частотомера;

помещают образец диэлектрика в резонатор и настраивают его на рабочую частоту по максимальному отклонению стрелки индикатора;

по отсчетным устройствам снимают показания, соответствующие положению максимума <2, и ширине резонансной кривой I]—U на уровне '/г от показания индикатора при резонансе. Положение максимума определяют методом «вилки»;

вынимают образец и настраивают резонатор по максимальному отклонению стрелки индикатора;

по отсчетным устройствам снимают показания, соответствующие положению максимума rf, и ширине резонансной кривой /t—/г на уровне '/г1 от показания индикатора при резонансе. Положение максимума определяют методом «вилки».

5.1.3.    Измерение при помощи прибора типа КР-500 выполняют в последовательности, приведенной ниже:

настраивают прибор в резонанс по максимальному отклонению стрелки индикатора изменением частоты генератора и снимают показания частотомера, соответствующие максимальному отклонению стрелки индикатора /2рез и ширине резонансной кривой на уровне 1/5 от показания индикатора при резонансе Д /г;

помещают ® резонатор образец, повторяют операции, перечисленные выше, снимают показания f 1Реэ и Д/|.

ГОСТ 8.358-79 Crp. 7

5.1.4. Измерение при помощи прибора типа Ш2-4 выполняют в последовательности, приведенной ниже:

определяют электрическую длину L, добротность резонатора Q 2», положение максимума а2 и ширину Д 1г резонансной кривой пустого резонатора;

помещают образец диэлектрика в резонатор и снимают показания, соответствующие положению максимума а, и ширине ЛД резонансной кривой на уровне Уг от показания индикатора при резонансе.

5.2. Относительную диэлектрическую проницаемость е и тангенс угла диэлектрических потерь tg6 методом измерений в линиях передач определяют в последовательности, приведенной ниже: помещают образец диэлектрика в измерительную ячейку ДП и присоединяют ее к измерительной линии;

определяют значение коэффициента стоячей волны напряжения и смещение минимума кривой распределения напряжения Л'к; помещают образец диэлектрика в измерительную ячейку ДП на расстоянии Л/4 от короткозамыкателя и присоединяют ячейку к измерительной линии;

опоеделяют значение коэффициента стоячей волны напряжения /СскУк и смещение минимума кривой распределения напряжения вдоль линии Хх.

6. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ

6.1.    Измерение при помощи измерителя добротности

6.1.1.    Диэлектрическую проницаемость е для образцов диаметром, равным диаметру электродов, определяют по формуле

8~ (1 + T)d*)

(0,5-fdj)    о,5.    0.5+dj    0,5.    0.5+d,    4

^(0,5+dO    "    0,5    dt    ln    0,5    >’

где h — толщина образца диэлектрика, см; г — радиус образца, см; d.\, dz — расстояние между электродами измерительной ячейки с образцом и без него, см.

«?,-(?, )(С+1.3) bdt 17.35CV0J

(2>

6.1.2. Тангенс угла диэлектрических потерь tg6 для образцов, равных по диаметру электродам, вычисляют по формуле

tg6 =

где

b = (\-a'LcdCY

Q1, Qj — добротность резонансной системы с образцом и без него, С — резонансное значение емкости, считываемое по шкале измерителя добротности, пФ,

Стр. 8 ГОСТ 8.358-7*


to — круговая частота, Гц,

Lca— индуктивность электродов конденсатора, Гн.

6.2. Измерение при помощи прибора типа ИПДП 6.2.1. Диэлектрическую проницаемость е для образцов, равных по диаметру электродам, в случае выполнения условия ква-зистационарности firy/е <0,24 определяют по формуле (1). При несоблюдении условия квазистационарности е >0,24 диэлектрическую проницаемость определяют по формуле


4 г, . Р'АЛ(Рг) e-(Pr)» L1 ■ 2JMr)(h-dl+d,)


Рг7»Уг(рг)


2Jt(Pr)(h-dt+dt)


(3)


где    (3—фазовая постоянная, рад/см,

Jo (pr), J\(pr)— функции Бесселя первого рода нулевого и первого порядков.

6.2.2. Тангенс угла диэлектрических потерь tg6 вычисляют по формуле

где /ipe3 — резонансная частота резонатора с образцом, Гц.

A/i=fi— b, A ft=fi—ft' — ширина резонансной кривой резонатора с образцом и без него, Гц.

Значения f\, ft, f{ и ft' определяют по измеренным значениям l\, U, l\, /2' при помощи градуировочных таблиц.

6.3. Измерение при помощи прибора типа КР-500 6.3.1. Диэлектрическую проницаемость е для образцов диаметром, равным диаметру стержня резонатора, вычисляют по формуле

2^fipc3pC|)tg    Сщ    ^    ^


где


р= 138 \gDHID,


СО=1,110716А;

nflpeyL Т°1= 1,510‘0


I


эрезР tg


о*~ 1,5- К)1*


-С.,


D, D„ — диаметры внутреннего и внешнего электродов резонатора, см,

L — длина резонатора, см, f 2реэ — резонансная частота пустого резонатора, Гц,

6.3.2. Тангенс угла диэлектрических потерь tg6 вычисляют по формуле


(зт-<?7) ’


(6)


где