Стр. 1
 

10 страниц

304.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре

Оглавление

1 Область применения

2 Нормативные ссылки

3 Условия измерений

4. Аппаратура

5 Требования безопасности

Страница 1

ГОСТ 30350-96

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ К ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ АППАРАТУРЕ И УСЛОВИЯМ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

Издание официальное

БЗ 3-95/111


МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОВЕТ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ, МЕТРОЛОГИИ И СЕРТИФИКАЦИИ Минск

Страница 2

ГОСТ 30350-%

Предисловие

1    РАЗРАБОТАН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 «Изделия электронной техники, материалы и оборудование»

ВНЕСЕН Госстандартом России

2    ПРИНЯТ Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол № 10 от 4 ноября 19% г.)

За принятие проголосовали:

Наимснонанмс государства

Наимеиоашше национального органа по стандарт и latixst

Азербайджанская Республика Республика Армения Республика Белоруссия Республика Казахстан Киргизская Республика Республика Молдова Российская Федерация Республика Таджикистан

Туркменистан

Украина

Азгосстандарт Армгосстандарт Бел стандарт

Госстандарт Республики Казахстан

Киргизстандарт

Молдовастандарт

Госстандарт России

Таджикский государственный центр

по стандартизации, метрологии

и сертификации

Главгосинспскиия Туркменистана Госстандарт Украины

3 ВЗАМЕН ГОСТ 19799-74 в части общих требований к аппаратуре

4 Постановлением Государственного комитета Российской Федерации по стандартизации, метрологии и сертификации от 14 апреля 1997 г. Ке 133 межгосударственный стандарт ГОСТ 30350-96 введен в действие непосредственно в качестве государственного стандарта Российской Федерации с 1 июля 199S г.

© ИПК Издательство стандартов. 1997

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания на территории Российской Федерации без разрешения Госстандарта России

Страница 3

ГОСТ 30350-96

Содержание

1    Область применения................................ 1

2    Нормативные ссылки............................... I

3    Условия измерений.................................2

4    Аппаратура .......................................2

5    Требования безопасности............................5

III

Страница 4

ГОСТ 30350-96

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ АНАЛОГОВЫЕ

Обшнс требования к н {мерительной аппаратуре и условиям ишерения электрических параметров

Analog integrated circuits. General requirements for apparatus and conditions for measurement of electrical parameters

Дата введения 1998—07—01

1    ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы (далее — микросхемы) и устапаатнвает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре.

2    НОРМАТИВНЫЕ ССЫЛКИ

В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 12.2.007.0-75 ССБТ. Изделия электротехнические. Общие требования безопасности

ГОСТ 20.57.406-81 (СТ СЭВ 781-86, СТ СЭВ 1341-87, СТ СЭВ 1342-87. СТ СЭВ 1343-78. СТ СЭВ 1344-87. СТ СЭВ 1456-88. СТ СЭВ 1457-85, СТ СЭВ 1458-86. СТ СЭВ 2010-79, СТ СЭВ 2119-80. СТ СЭВ 2727-80, СТ СЭВ 2728-80. СТ СЭВ 2730- 89, СТ СЭВ 2731-80, СТ СЭВ 3222-81. С Г СЭВ 36S8-82, CI СЭВ 5121-85, СТ СЭВ 5244-85. СТ СЭВ 5358-85. СТ СЭВ 5359—85. СТ СЭВ 6698—89) Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний

ГОСТ 19799-74 (СТ СЭВ 1622-79, СТ СЭВ 3411-81) Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик

ГОСТ 22261-94 Средства измерений электрических и магнитных величин. Общие технические условия

Издание официальное

i

Страница 5

ГОСТ 30350-%

3    УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЙ

3.1    Климатические условия измерения электрических параметров микросхем должны соответствовать требованиям ГОСТ 20.57.406 и других нормативных документов по стандартизации на микросхемы конкретных типов.

3.2    Измерения проводят в установившемся тепловом режиме. Если условия измерений вызывают термическую нестабильность испытуемой микросхемы, измерения проводят импульсным методом.

3.3    Время между отдельными измерениями идентичных параметров должно быть минимальным, чтобы уменьшить изменение результатов измерений, вызванное временной нестабильностью некоторых параметров или изменением условий окружающей среды.

3.4    Во время проведения измерений отклонение установленной температуры окружающей среды должно быть ±5 *СГ, если иное не указано в технических условиях на микросхемы конкретных типов.

3.5    Требования к значениям температуры окружающей среды (корпуса), напряжения (тока) питания, параметрам нагрузки и измерительных сигналов должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

4    АППАРАТУРА

4.1    Измерительные приборы и установки, предназначенные для измерения электрических параметров микросхем, должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261 и требованиям, приведенным в настоящем разделе. К измерительным приборам относятся также источники измерительных сигналов и источники питания измеряемой микросхемы.

4.2    Нестабильность источников питания, вызванная изменением напряжения сети и окружающей температуры, должна быть ±1 % для источников постоянного тока и ±2 % для источников переменного и импульсного токов.

4.3    Коэффициент пульсации напряжения (тока) источников питания должен быть ±1 %.

4.4    Погрешность установления напряжения питания микросхем должна быть т5 %.

2

Страница 6

ГОСТ 30350-96

4.5    Относительная погрешность методов измерения микросхем в статическом режиме должна быть ±10 %, в динамическом режиме

±20 %.

4.6    Если измеряемое значение характеризует определяемый параметр (например, выходное напряжение) или если для определения значения параметра проводят только одно измерение (например, время нарастания), то погрешность измерительного прибора должна быть не менее чем в три раза меньше максимальной погрешности при измерении параметра.

Если значение параметра вычисляют по двум или более измеренным значениям, то погрешность измерения о определяют по формуле

О а V Of + Oj + ... +    ,    (1)

где о,, о,,.... о„ — погрешности отдельных измерений параметра.

Погрешность измерения параметра должна быть в три раза меньше допустимого отклонения параметра.

4.7    При измерении временных параметров с помощью осциллографа или другого измерительного устройства, характеризуемого шириной паюсы пропускания или временем нарастания, необходимо, чтобы длительность измеряемого временного параметра (например, время нарастания) превышала время нарастания измерительного прибора не менее чем в три раза, а погрешность измерения интервала времени была не менее чем в три раза меньше максимального отклонения параметра.

4.8    Полное входное сопротивление измерительного прибора должно превышать полное сопротивление между точками подключения измерительной цепи не менее чем в 100 раз. Если это требование неосуществимо, то необходимо учитывать влияние подключения измерительного прибора, а в результаты измерения вносить соответствующую поправку, или входное сопротивление измерительного прибора должно быть включено в эквивалентное сопротивление нагрузки.

4.9    При измерении электрических параметров микросхем с помощью полуавтоматизированных и автоматизированных измерительных установок применяют методы, указанные в ГОСТ 19799.

Допускается применение других методов измерений, погрешность

3

Страница 7

ГОСТ 30350-%

измерений при этом должна соответствовать погрешности измерения параметров, указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

4.10    Измерительные приборы и установки должны обеспечивать электрический режим и условия эксплуатации, указанные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

4.11    Допускается замена измерительных приборов и элементов, приведенных в структурных схемах методов измерения электрических параметров, другими устройствами, выполняющими те же функции и обеспечивающими точность измерений, указанную в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

4.12    Допускается исключать из структурных схем приборы и элементы, не используемые при измерении конкретного параметра.

4.13    В целях автоматизации измерений в качестве переключающих устройств могут быть применены любые коммутирующие элементы, при этом погрешность измерения параметров должна быть не больше указанной в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

4.14    Характер, значение нагрузки и схема ее подключения должны быть указаны в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.

При необходимости емкость и индуктивность монтажных проводов, испытательных зажимов и измерительных приборов, подключаемых к выходу микросхемы, учитывают в параметрах нагрузки.

4.15    Дтя защиты микросхем от перегрузок, возникающих под действием переходных процессов, статического электричества и паразитного самовозбуждения, измерительные установки должны быть снабжены устройствами защиты, исключающими возможность превышения предельно допустимых режимов, установленных в технических условиях па микросхемы конкретных типов.

Применение защитных устройств не должно приводить к увеличению погрешности измерений.

4.16    Контактирующие устройства измерительных установок должны обеспечивать надежное электрическое подключение микросхем, исключающее механическое повреждение их выводов.

4

Страница 8

ГОСТ 30350-96

4.17 Частотный диапазон приборов должен соответствовать частотному диапазону измеряемых микросхем или быть шире. При необходимости требования к частотному диапазону приборов должны быть указаны в методах измерения конкретных параметров микросхем.

5 ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ

5.1    Измерительные установки, применяемые для измерения электрических параметров микросхем, должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261 и ГОСТ 12.2.007.0.

5.2    Измерительные установки не должны быть установлены в пожаро- и взрывоопасных помещениях.

5

Страница 9

ГОСТ 30350-%

УДК 621.382.82.083.8:006.354 ОКС 31.200    Э29 ОКСТУ 6230

Ключевые слова: интегральные аналоговые микросхемы; условия измерения электрических параметров; общие положения

Страница 10

Редактор JJ. В. А((измасепко Технический редактор В. П. Прусаками Корректор В.Е. Нестерова Компьютерная верстка В.it. Гришспхо

Изд. лиц. №021007 О! 10.08.95. Сдано и набор 25.04.97. Подписано и печать 13.05.97. Уел. псч. д. 0.70. Уч.-над. л. 0.40. Тираж 455 jkj. С500. Зак. 360.

И П К Ишгедмгво стандартов 107076. Москва, Кололелнай пер.. 14.

Набрано и Издательстве на ПЭВМ Филиал ИПК Издательство стандартов — inn. "Московский печатник" Москва, Лялин пер.. 6.