Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

18 страниц

396.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на фотоэлементы измерительные, предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений.

Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений

Оглавление

1 Общие положения

2 Основные параметры и характеристики

3 Методы измерений

Приложение 1 Измерительная аппаратура и оборудование

Приложение 2 Диафрагма

Приложение 3 Делительная пластина

Приложение 4 Расчет погрешности измерений основных параметров фотоэлементов

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ^ ГОСТ 25369-82 Издание официальное ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ Москва:

Страница 2

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Б. М. Степане* (руководитель темы), Л. И. Андреем, М. М. Егеров. И. Н. Гусем, С. А. Кейде лов, А. Ф. Котюк, В. И. Очкое, 3. М. Семичастнова, А. П. Ромашке*. ■. А. Якоепеа

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л. К. Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитата СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. N9 2990

Редактор В. П. Огурцов Технический редактор А. Г. Каширин Корректор И. Н. Жуховцева

Сдано в и»б. H.QS.82 Подп. к ист. М.С9.82 1.0 и. д. ».»9 уч.-чд, л. Тир. WOW Ц««а Ь *бп.

Ордена «Знак Почет»» Надвтыьстао стандартов, 123357. Мосхза. Нпаопреспеисх** вс*.. 3.

Калужская типографа» стандартов. ул. Мо«хоасквя. 26S. Зап. 21*8

Страница 3

УДК 621.385.083:046.154 Групм П4» ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ Основные параметры. Методы измерений основных параметров Measuring photocells Bask parameter«, measuring methods of basic poraou-lors Постановлением Государственного комитете СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. МФ 2990 срок введения установлен с 01.07.83 Несоблюдение стандарта преследуется по закону Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы измерительные (далее фотоэлементы), предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений. I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ 1.1. Все измерения проводятся при нормальных условиях н соответствии с ГОСТ 24469-80. 1.2. В помещении, где проводятся измерения, не должно быть конвекционных потоков (в том числе активной вентиляции), источников пыли, посторонних тепловых возмущений, внешних маг* нитных полей. 1.3. Аппаратура J.3.1. Все параметры фотоэлементов измеряют в защитной ка-мере. Защитная камера должна обеспечивать защиту фотоэлементов от внешних источников излучения, а также от воздействия магнитных и электрических полей. Защитная камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы испытательной установки. Не ГОСТ 25369-82 Издание официальное ★ Перепечатка воспрещена © Издательство стандартов, 1982

Страница 4

Стр. 2 ГОСТ 1J1M-82 допускается использовать материалы с высокой люминесценцией в качестве конструктивных элементов, находящихся вблизи фотокатода. Предпочтительным материалом для этих целей является органическое стекло. Конструкция камеры должна исключить появление побочных отражений' от стенок камеры и деталей, расположенных в камере. 1.3.2. Для ослабления потока оптического излучения используют измерительные ослабители. Для ослабителей излучения должны быть указаны следующие технические и метрологические характеристики: коэффициент ослабления как функция длины волны, погрешность коэффициента ослабления как функция коэффициента ослабления и длины волны, стабильность коэффициента ослабления во времени. 1.3.3. Источники питания В качестве источников питания фотоэлементов должны применяться источники постоянного напряжения с нестабильностью выходного напряжения не более 0.1 % при изменении напряжения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение времени, необходимого для проведения измерений, не более 0,1 Напряжение на выходе источника питания должно регулироваться в пределах, необходимых для измерения конкретного параметра фотоэлемента. 1.3.4. Источники питания источника излучения В качестве источников питания источника излучения применяют источники постоянного или переменного напряжения. Нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ±10% ив течение времени, необходимого для проведения измерения, должна быть не более — 0,2 %. 1.3.5. Измерительные приборы Предел допускаемой относительной погрешности приборов, контролирующих напряжение питания фотоэлементов, должен соответствовать требуемой точности измерений, указанной н нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. 1.4. Требования безопасности 1.4.1. При подготовке к измерениям и при проведении измерений параметров фотоэлементов следует руководствоваться общими правилами безопасности в соответствии с ГОСТ 12.2 003—74 и ГОСТ 24469-80. 1.4.2. Защитная камера с фотоэлементом должпа быть оборудована блокировкой, исключающей возможность прикосновения оператора к. токопроводящим частям, а также сигнализацией о включении высокого напряжения. 1.4.3. Металлические корпуса измерительных приборов, в том числе переносных, необходимо заземлить.

Страница 5

ГОСТ 213*9—»2 Стр. 3 1.4.4. Включение и отключение оборудования должно производиться с помощью выключателей, размещенных на пультах и панелях управления. 1.4.5. Приборы переносного типа размещают на рабочем столе. полках или выдвижных столиках оборудования. Осциллографы и другие аналогичные приборы размещают на специальных тележках, рабочем столе, стеллажах. 1.5. Подготовка к измерениям 1.5.1. Все средства измерений перед началом работы должны быть установлены в рабочее положение, заземлены, включены в сеть и прогреты в течение времени, указанного в эксплуатационной документации. 1.5.2. При измерении параметров фотоэлементов необходимо (Зблучать рабочую поверхность фотокатода в соответствии с требованиями нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. » 2. ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ 2.1. Основные параметры и характеристики фотоэлементов, а также диапазоны значений параметров, на -которые распространяются методы измерения, приведены в табл. I. Таблица 1 Параметры {xipivraptciMi.M) фото»лоыеыта I Значение пара-метро», на которые ркпрэстра-ntK'Tct истоаы, приасгышые а И1стзаш

Страница 6

Стр. 4 ГОСТ 25369-32 I I Е 3 5 — 3. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ 3.1. Область спектральной чувствительности фотоэлемента определяют по измерениям относительной спектральной чувствительности фотокатода. При этом за границы области принимают длины волн, на которых относительная спектральная чувствительность составляет!),01 от максимального значения. 3.1.1. Принцип измерений 3.1.1.1. Метод измерений основан на сравнении спектральной чувствительности исследуемого фотокатода со спектральной чувствительностью контрольного приемника. 3.1.2. Аппаратура 3.1.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной да черт. 1. 3.1.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и 'вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3.1.3. Подготовка и проведение измерений 3.1.3.1. Фотоэлемент в защитной камере устанавливают у выходной щели монохроматора таким образом, чтобы поток излучения не выходил за пределы фотокатода. 3.1.3.2. За выходной щелью монохроматора в защитной камере устанавливают поочередно контрольный приемник излучения и ис-' следуемый фотоэлемент и регистрируют показания соответствующего прибора, поочередно заменяя контрольный приемник фотоэлементом либо на каждой длине волны, либо после прохождения псего спектрального диапазона. 3.1.3.3. В зависимости от вида кривой определяемой спектральной характеристики чувствительности измерения проводят с интервалом 5—20 нм в ультрафиолетовой области спектра и 10—30 нм в видимой и инфракрасной областях спектра. 3.1.3.4. Полуширина спектрального интервала, выделяемого монохроматором, не должна превышать интервала, указанного в п. 3.1.3.3. - 3.1.4. Обработка результатов 3.1.4.1. При использовании в качестве контрольных неселектив-ных приемников относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода 5 0п(»> определяют по формуле /—блек пятни* и контроля режима цС-точявха ылучеоня; 2—ест очи ик излучении: Л—оеввтя. тельнах система; 4~ спектральный * при-вор; в—контрольны!! приемник излучения; 6—исследуемый фотоэлсмавт; 7— устройство для как«-, ренжя выходного сигнала ХМЛ*Д)'»МСГО фотоэлемента; $— устройство дл* и»-мерокя выходною евгиала контроль««, го орвеыикжа} *— блок пптвивя фото-элемептг. Черт. 1

Страница 7

ГОСТ 25369-82 Стр. 5 где п(А.) — выходной сигнал исследуемого фотокатода; п «(X) — выходной сигнал контрольного приемника. 3.1.4.2. При использовании в качестве контрольных селективных приемников с известной относительной спектральной характеристикой чувствительности относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода определяют по формуле (2) где 6'„„,,,(*) —относительная спектральная характеристика чувствительности контрольного приемника. 3.1.4.3. Основная относительная погрешность измерения спектральной характеристики чувствительности фотоэлементов при принятой доверительной вероятности Р-0,95 для видимой области спектра (380—780 им) не должна превышать 12%, для ближней инфракрасной области (780—1200 им) — 15%, для ближней ультрафиолетовой области (220—380 нм) — 25 %. . 3.2. Метод измерений спектральной чувствительности на фиксированных длинах волн 3.2.1. Принцип измерений 3.2.1.1. Спектральную чувствительность на фиксированных длинах волн определяют методом сравнения с аттестованным (поверенным) средством измерений максимальной мощности (далее СИ ММ). 3.2.2. Аппаратура 3.2.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на чеот. 2. 3.2.2 2. Перечень рекомендуемых средств измерений к вспомогательных .устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3.2.3. Подготовка и проведение измерений 3 2.3.1. При подготовке к измерениям напряжение питания фотоэлемента устанавливают в соответствии с нормативно-технической документацией на фотоэлементы конкретных типов. 3.2.3.2. Оптическую плотность измерительных 'ослабителей подбирают таким образом, чтобы обе- □ ЛЬ И I □ 1 - источник импульсов оптического нллучеян« ил основе лак-рл; 7—делитсяьма и пластин«; 3, < «мерительные ослабктели; 4—СИ М.М с инестним* параметрами. 5 контрольно« средство намерений. Т-камера с ассхедуеиии фотоах*иеятои; «-источник акта-и** ♦отом«и»нт»: 9—нипульсяыА юльтметг или осаиллсщчф Черт. 2

Страница 8

Стр. 6 ГОСТ спечить работу исследуемого ^фотоэлемента на уровне не более (0,5 + 0,7) /дия (где 1 ти— значение предела линейности фототока, указанное в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов) и чтобы обеспечить работу контрольного средства измерений в линейном режиме. 3.2.3.3. Коэффициент деления делительной пластины определяют, подавая одиночный импульс излучения н снимая показания СИ ММ и контрольного средства измерений. Коэффициент деления К , рассчитывают по формуле Лг, К,= ~7Г- • (3) Г!Т>«1,< ' где К, — результат единичного наблюдения коэффициента деления делительной пластины; М/ — показание контрольного средства измерений — максимальное значение мощности излучения, отраженного от делительной пластины; Р°ии( —максимальное значение мощности излучения, прошедшего через делительную пластину. Проводят серию из п наблюдений К/ (л>.6). Среднее значение коэффициента деления делительной пластины К определяют по формуле п и принимают его за результат измерений. 3 2.3.4 Средство измерений максимальной мощности с известными параметрами заменяют исследуемым фотоэлементом. Спектральную чувствительность определяют путем измерений фототока в цепи или напряжения на выходе фотоэлементов и вычисляют по формуле . Axt~K -fc- . (5) где Au—результат единичного наблюдения спектральной чувствительности; I,—фототок (напряжение) в цепи (на выходе) фотоэлемен-_ та; К — коэффициент деления делительной пластины. 3.2.3.5. Проводят серию из п наблюдений Ац («>5)._Среднее значение спектральной чувствительности фотоэлемента Л* определяют по формуле п и принимают его за результат измерений. 4-2 Ам

Страница 9

ГОСТ 25369-82 Стр. 7 3.2.4. Обработка результатов" 3.2.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры л оборудования основная относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности Р=0,95 не должна превышать 15 * . • ,3.3. Метод измерений темпового тока 3.3.1. Принцип измерений 3.3.1.1. При измерении темнового тока фотоэлемента измеряют ток в цепи фотоэлемента полностью защищенного от действия оптического излучения. 3.3.2. Аппаратура 3.3.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать схеме приведенной на черт. 3. 3.3.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3.3.2.3. Металлические заземленные детали защитной камеры не должны касаться баллона фотоэлемента на участке анод— охранное кольцо. 3.3.2.4. При измерении темнового тока фотоэлемента без охранного кольца допускается включение микроамперметра как в цепь анода, так и в цепь катода фотоэлемента. При этом заземляют либо положительный, либо отрицательный полюс источника питания. ■ 3.3.2.5. Ток утечки в измерительной цепи не должен превышать 0,1 от ожидаемого темнового тока фотоэлемента. 3.3.3. Подготовка и проведение измерений 3.3.3.1. Фотоэлемент помещают в защитную камеру и соединяют его электроды с источником питания и измерительными приборами по схеме, приведенной на черт. 3. 3.3.3.2. На фотоэлемент подают напряжение питания в соответствии с нормативно-технической документацией на.фотоэлементы конкретных типов. 3.3.3.3. Измеряют ток в цепи фотоэлемента. Значение темнового тока I тл отсчитывают непосредственно но шкале прибора 3.3.3.4. Проводят серию из п наблюдений /Г{ (п>5). Среднее значение темнового тока /г определяют по формуле /-охранное кольцо ф»то>.:с -ЫСК71>: 1— ИССЛСХуСии* ф»то >лек»ит: Л—источит питан».« фото»ленелто;

Страница 10

Стр. 8 ГОСТ 1НМ-Ы (7) /7= 4-2 /т., п ,-1 и принимают его за результат измерении. 3.3.4. Обработка результатов 3.3.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности Р-0,95 не должна превышать 1 %. 3.4. Метод измерений соответствия характеристик)! преобразования заданному пределу линейности в импульсном режиме 3.4.1. Принцип измерений 3.4.1.1. Метод заключается в определении соответствия между изменениями амплитуды импульса фототока в цепи фотоэлемента и изменениями амплитуды импульса потока излучения. 3.4.1.2. Параметры импульсов оптического излучения, частота их следования, значение предела линейности в амперах должны быть указаны в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. 3.4.2. Аппаратура 3.4.2 1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать указанной на черт. 4 или 5. 3.4.2.2. Вид схемы включения должен быть указан в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. 3.4.2.3. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3 4.3 Подготовка и проведение измерений 3.4.3.1. Устанавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фотоэлементы конкретных типов. /—источник амсульсоа оата-КСКОГО тдучеияя; тмгри тельный ослабитель; Л—диафрагмы; исследуемы» фото алемепт: 6-р«»мстор ра>м»ки; е ■ окопагге^ьпи» раздели тельный конденсатор: 7—вольтметр; 4-кстояпик питания фо томемскта; Р-ре>истор не-груши. 10— ямпульелый вольтметр »ли осэялхограф. Черт. 4

Страница 11

гост ш»»—и стр. 9 3.4.3.2. Перед началом измерений фотоэлемент выдерживают включенным в течение времени и в условиях, указанных в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. Да /—источим* импульсов оптического иалучевяи; 7-шмерн-тельяыв ослабитель: J-дмаф рагиы; исследуемыЛ -фото элемент: 5— импульсный вольтметр или осциллограф; t-резистор натру»»»; 7 накопительный конденсатор; в источник питания фотоэлемента: 1—вольтметр * Черт. 5 3.4.3.3. С помощью измерительных ослабителей регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы значение фототока в цепи фотоэлемента соответствовало пределу линейности, указанному в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. Фототок расчитывается но формуле /..<= . ' " (8) где и — напряжение на резисторе нагрузки. В; /? — сопротивление нагрузки. Ом. 3.4.3.4. Ослабляют импульс оптического излучения от 2 до 10 раз и измеряют фототек по формуле (8). 3.4.4. Обработка результатов 3.4.4.1. Отклонение от линейности х1 в % определяют по формуле - РРР '00. (9) где Я — кратность изменения амплитуды импульсов потока излучения; Р'— кратность изменения амплитуды импульсов фототока. 3.4.4.2. Проводят серию из п наблюдений х, («>5) определяют среднее значение х по формуле * = (Ю) " /-1 и принимают его за результат измерений. 3.4.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности Р=0,95 не должна превышать 10 V

Страница 12

Стр. 10 ГОСТ 25369-32 3.5. Метод измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0.5 3.5.1. Принцип измерений 3.5.1.1. Измерения производят путем обработки осциллограммы сигнала на выходе исследуемого фотоэлемента. 3.5.2. Аппаратура 3.5.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт. 6. Й-ёнБ-И ^-источник яипулхо» оя-тляесхого тлучеяяя; 7—ослабитель соток» излучения; Л-Кямор* с ксслелуе иыи Фсгтоэх«.исятом; 4-источим» питания $сто»л«м«ят»; 5— стробоскопический осциллограф Черт 6 3.5.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений н вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3.5.3. Подготовка и проведение измерений 3.5.3.1. Устанавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фотоэлементы конкретных типов. 3 5.3.2. С помощью ослабителя регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы амплитуда импульса фототока не превышала предела линейности, указанного в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. 3.5.3.3. Получают на экране осциллографа изображение выходного сигнала фотоэлемента. 3.5.3.4. Измеряют длительность импульсной характеристики на уровне 0.5 от максимального значения выходного сигнала исследуемого фотоэлемента ^о.а* . 3.5.3.5. Проводят серию из п наблюдений тол (я>5). Среднее значение длительности импульсной характеристики.!о,5 определяют но формуле _ | ч 45 2^0.51 (П) п I-1 и принимают его за результат измерений. 3.5.4. Обработка результатов 3.5.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности Р^О.95 не должна превышать 15

Страница 13

ГОСТ 25369-82 Стр. 11 ПРИЛОЖЕНИЕ I Рекомендуемое ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА И ОБОРУДОВАНИЕ И*мер»т?лыИ1 аппарату р». о«орудо»*ние Типы и оскоа арами рм Примечали« Спектральный прибор КонтрольныЛ лрием-ник излучения при н.шс-ренин относительной чувствительности фото катода Защитная камера Источник следуемого питания не фотозлемеи та Источники излучения Двойней моиохроматор типа ДМР-4. Рассеянный свет в измеряемом диапазоне спектра не должен превышать 1%. Погрешность измерения 4% ТеплОвые приемники излучения термоэлемента типа РТН с отклонением от неселсктивнооя не более 2% в используемом спектральном диапазоне или кремниевые фотодиоды типа ФД-24К, имеющие си-Сильную спектральную характеристику По п. 2.3.1 настоящего стандарта По п. 2.3.3 настоящего стандарта Для работы в ультрафиолетовой части спектра (110—340 им) применяют газоразрядные лампы с водородным наполнением — водородная лампа типов ВЛФ-25, ВЛФ-40 или газоразрядные лампы с дейте-риевым наполнением типов ДДС-30, ДДС-400 с увио-левыми, кварцевыми, сапфировыми ИЛИ фтористо-магнневыми окнами и зависимости от исследуемого спектрального диапазона Для работы в длиннопол-новом участке ультрафиолетового спсктра (300— —300 нм>, а также в видимой и ближней ИК-облас-ти (360-1500 им) следует

Страница 14

Стр. 12 ГОСТ 25369-32 Проаолжслиг И.1М*рит«аьял аппаратура. оборудован»« Типы н осяоамые аараметри Примечание Источник импульс >п оптического излучения Блок питания и контроля режима источника излучение Измерительные приборы Вольтметр постоянного тока Микроамперметр постоянного тока применять ленточную лам пу накаливания тиса СИ-30—ЭООу. иуеюшую упиолевое, сапфировое или кваруеэоо ркно В хачестве источника оптического излучении могут использоваться: источник излучения по ГОСТ 8 198—76 н другие метрологические аттестованные лазеры. работающие в им-пульсно-модулированном режиме с аналогичными параметрами ИСТ,

Страница 15

ГОСТ 1$JW— 82 Стр. >3 Нродо.йкича* Измерительная аппаратура, оборудоаааие Таль! я оскоа«ми параметры Примачаи*« \ Регистратор графический осиилло- Типа 6ЛОР-04 Погрешность измерений по оси процесса 5% Погрешность измерений по оси времени 5% • Импульсный метр вольт- Типа В-4-17 Для измерений амплитудных значений электрических сигналов с погрешностью не более 4% Динамический диз.м-зон 10-»—100 В Длительность электрических импульсов 10"м— -10-» с с Стробоскопический осциллограф Тина С7-12 Полоса частот 5 ГГц, чувствительность о мВ/см. Погрешность амплитуд-ных измерений не более 5%, погрешность временных измерений не более 5% • Средство измерения максимальной мощности однократного импульса оптического излучения. аттестованное или прошедшее поверку (СИ ММ с известными параметрами) Динамический диапазон 10*—10е Вт Рабочая длина волны в диапазоне 0,53—1,00 мхм Основная погрешность не более 15^ - Контрольное измерений средство К СИ ММ, используемому "в качестве контрольного, мредьявляется требование к стабильности спектральной чувствительности за время измерений, определяемой допустимой погрешностью измерений Диафрагма нз цемента асбо- См, приложение 2 • Делительная на из стекла БСЗ пласти- ГОСТ 94И—81 Толщина 5 мм См. приложение 3

Страница 16

Стр. 14 ГОСТ 2»69—82 г Продолжение р», оборудование Типы и сч'шгии-: парвметры Прич«чаиие Измерительные осла- По п. 2.3.2 настоящего бители стандарта. Составляющая основной погрешности, обусловленная нестабильностью коэффициента ослаб ления измерительных ослабителей, не должна превы шать погрешность остальных средств измерений за аремя измерений параметров фотоэлементов Для измерений могут применялся другие средства измерений с аналогичными или лучшими характеристиками. ПРИЛОЖИ НИ С 2 Справочное Диафрагма Материал — доска асбсстоцементная по ГОСТ 4248-78 необработанная. Применяются диафрагмы с размером 4, равным 2, 4, 7, 10 и 12 мм.

Страница 17

ГОСТ 25349-12 Стр 15 Делительная плаошм 9 <1, '•яг Материал — стекло БС 3 по ГОСТ 9411-Й!. приложение з Справочное ПРИЛОЖЕНИЕ 4 Справочное! РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ФОТОЭЛЕМЕНТОВ 1. Основную относительную погрешность измерений иараметроя фотоэлементов А в % определяют согласно ГОСТ 8.207-76 по формуле К\/ «Ч-у!,®/' (1) где К — коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неиск.1 юченной систематической погрешности и принятой доверительной вероятности, определяется по ГОСТ 8.207-76; 5 — оценка относительного среднего квадратичсского 01клоиснкй резулыа-та измерений. 0 / — граница /-Й составляющей исключенной систематической погрешио- ст. 1.1. Для основной относительной погрешности измерений спектральной чуя ствительности на фиксированных длинах волн составляющие основной относительной погрешности определяют по формулам (2). е> = в»-ь 6* + 4- $ . (3) 1ЯС ^ а* — относительное среднее квадратическос отклонение результата измерений среднего значения спектральной чувствительности. оценивают по результатам измерений, полученным п п. 32 настоящего стандарта по формуле

Страница 18

Стр. 16 ГОСТ 25369-32 ' Т/1^-^.100, (4) ^ ^ —1ФГТ)— где п — число измерений; в,, в,, 0,. 9«. — основные относительные погрешности средств измерении — контрольного 4. с известными параметрами 5, регистрирующего устройства 9 на выходе исследуемого фотоэлемента н источника импульсов оптического излучения I, соответственно, черт. 2. 1.2 Основная относительная погрешность измерения темнового тока. Относительное среднее квадратнческое отклонение 5 результата измерений темнового том оценивают по результатам измерений, полученный, в п. 33 настоящего стандарта по формуле (4), заменив в ней Л^ на Гг , а А ,, на 1Г(. В качестве иенсклю (енкой систематической погрешности результата измерений 0 учитывают основную относительную погрешность средства измерений 5, . черт. 3. 13. Основная относительная погрешность измерений предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме. Относительное среднее квадратнческое отклонение 5 результата измерений предела линейности в импульсном режиме оцениваюг по результатам измерений, полученным в п. 3.4 настоящего стандарта по формуле <4>, заменив б иен на а А на*/ . Не исключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле е»-.е? + е» + е* (5) тде0|, — основная относительная погрешность источника импульсов оптического излучения. измерительного ослабителя и средств измерений 10 (черт. 4) или 9 (черт 5) соответственно. 1.4. Основная относительная погрешность измерений длительности импульсной характеристики ло уровню 0,5. Относительное среднее квадратнчесхос отклонение 5 результата измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0.5 вычисляют по результатам, полученным в п 3.5 настоящего стандарта по формуле (4). заменив п ней Л А на т0(8, а А Х4ма тв