Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

18 страниц

396.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:

метод четырехполюсника;

метод последовательного резонанса диода;

резонаторный метод.

Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере

Ограничение срока действия снято: Протокол № 3-93 МГС от 12.03.93 (ИУС № 5-93)

Оглавление

1 Метод четырехполюсника

2 Метод последовательного резонанса диода

3 Резонансный метод

Приложение 1 Измерение Кст U методом удвоенного минимума

Приложение 2 Расчет погрешности измерения постоянной времени и предельной частоты

Показать даты введения Admin

Страница 1

УДК 621.382.2.029.6.08 : 006.3Л    Груш»    Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ

ГОСТ

ПАРАМЕТРИЧЕСКИЕ И УМНОЖИТЕЛЬНЫЕ

Методы измерения постоянной времени

19656.9-79

и предельной частоты

Взамен

Semiconductor microwave varactors and multiplier

ГОСТ 19656.9-74

diodes. Methods of measuring time constant

and limiting frequency

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентябре 1979 г. Н* 3457 срок действия установлен

с 01.01.11 до 01.01.86

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящей стандарт распространяется на лолупроводннковые СВЧ параметрические и умножительные диоды (далее — диоды) и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты: т, fepeя'

метод четырехполюсника;

метод последовательного резонанса диода;

резонаторный метод.

Методы измерения постоянной времени и продельной частоты диода учитывают потерн в измерительной диодной камере.

Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0 — 74.

1. МЕТОД ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКА

1.1.    Принцип и условия измерений

1.1.1.    Постоянная времени или предельная частота диода должна определяться из измерения входного комплексного сопротивления измерительной -камеры с включенным диодом с учетом коэффициентов пассивного линейного четырехполюсника, которые находят с помощью эквивалентов холостого хода (XX) и короткого замыкания (КЗ).

1.1.2.    СВЧ'.мощность Ра, частота измерений /о. нмаряжение смещения Lfw, при которых .производят намерения, должны приводиться в стандартах и технических условиях на диоды конкретных типов.

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

Переиздание. Октябрь 19&4 г.

52

Страница 2

ГОСТ 19414.9-79 Стр 2

1.2. Аппаратура

1.2.1. Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1

Г—.:исраг»р СВЧ хошвостп;    В—феррлтооыЛ

«еитиль; ЛИ- переменuuft аттенюатор; ИЛ— «"vrpnf.^MMK ли.уив:    НУ—    #»иер«г<’.1[.ныа    ус*,

лмгиль.    И К—a шгрИТОДЬйая кам«р>;    ИС—шс-

ТОЧУИХ КвЯрЯЯШШ» МШММ (евриамти I. И пах:«н напряжения сыгщеви» олреаелиются «он-сгрухияеЛ И)мернт«хы1с4 камеры)

Черт. I

1.2.2.    Эквивалентом XX является корпус диода, в котором полупроводниковая структура не подсоединена к выводу диода или отсутствует.

Эквивалентом КЗ является корпус диода, в котором осуществлено короткое замыкание в месте установки полупроводниковой структуры без изменения внутренней геометрии -корпуса.

Эквиваленты XX и КЗ выполняются в соответствии со стандартами и техническими условиями на диоды конкретных типов.

1.2.3.    Измерительная линия должна иметь абсолютную погрешность отсчета положения зонда не более 0.001 Яо. где А0 — длина волны в линии передачи в мм. на которой производят измерение.

1.2.4.    Источник напряжения смещения должен удовлетворять следующим требованиям:

обеопечивать плавную установку и поддержание заданного напряжения смещения с погрешностью в пределах ±2%;

коэффициент пульсации напряжения смещения при токе нагрузки до 10 мА не должен превышать 0,1%.

1.2.5.    Измерительный усилитель должен иметь чувствительность по напряжению не более 10 мкВ.

1.2.6.    Измерительная камера в зависимости от диапазона частот должна обеспечивать коэффициент стоячей волны 'по напряжению (/(etc) с эквивалентами XX и КЗ:

53

Страница 3

Стр. 3 ГОСТ IWit.9—79

лиэпазох ЧК-tot ыысрскхх. ГГц

К £г1. не

20

30

50

80

100


40 т

20-40 10-20 5-10 мснсс 5


сти камеры с измеряемым диодом не менее 1.2 при заданном напряжении смещения.

Измерение /Сети производят методом удвоенного минимума в соответствии с рекомендуемым приложением I.

1.3. Подготовка и проведение измереиий

1.3.1.    Устанавливают заданный режим измерений но частоте fo и мощности Р0.

1.3.2.    Находят 'положение минимума стоячей волны с эквивалентом XX —^хх в мм и измеряют /СсГиХх-

Находят положение плоскости отсчета /„.о в мм по формуле

la.o—1хх± .

(D

1.3.3. Находят положение минимума стоячей волны с эквивалентом КЗ, ближайшее к алоокости отсчета, и измеряют расстояние до плоскости отсчета /кз в мм и /Ссгикз.

Определяют угол сдвига минимума стоячей волны по напряжению | ф1 I относительно плоскости отсчета при напряжении

U сш

где /Bta. мм.

Если/ф, | >45°. то проводят дополнительные измерения при Uсм2, -при котором I | <45°.

1.4. Обработка результатов

1.4.1. Определяют постоянную времени диода т в секундах по одной из формул:

при | ?1 к 45°

где fo — частота измерений, Гц;

Raoc — расчетная величина, определяемая но формуле

54

(2)

Страница 4

ГОСТ 1М54.9-79 Cip 4

[Щ «(£-»)

^c»UXx при 45°<|<?,|<80o |?i|<45°

(3)

/2* \ I WlT'1

!+(/?«« ^cOxx-1)-^—- -U )

*e»UXX

'ctU*

(4)

x=

a»/o-co*(*    )•[«(*    p,«    )_l6(£    ■/e,m,)3

где Kcxv, /Сстс,— коэффициенты стоячей волны по напряжению при напряжении смешения Vси, Utu% соответственно;

W,>    —    расстояния    от    плоскости    отсчета до поло

жения минимума стоячей волны ло напряжению при Vси, и Ucы, соответственно, мм;

»ри l«Pil>80° и |?i|<45°

|    l + (/?n«/fCTl,xx-l)COS’(~--/nllo,)

v«tUi    *'ctUxx

!■*-««■(£• -U )['s(f - -'„Hdr

crlf

(5)

^nep, _

-n*p,

отношение емкостей перехода при смещении

где q•

{/см, и £/«,. соответственно;

Спер,, Спер, — емкость перехода при смещении С/г*, и U измеренная по ГОСТ 189в6.4—73, Ф,

Уем, и £/см, — приводят в стандартах или технических условиях на диоды конхретных типов.

1.4.2. Предельную частоту fiwea диода в Гц определяют по формуле

1

2r-.


/пред —


(6)

55


Страница 5

Стр. 5 ГОСТ 19656.9-79

1.5. Погрешность измерения постоянной времени и предельной частоты должна быть в (пределах ±15% с доверительной вероятностью /^0,997 п определяется но формулам (I) и (2) справочного приложения 2.

2. МЕТОД ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОГО РЕЗОНАНСА ДИОДА

2.1.    Принцип и условия измерений

2.1.1.    Постоянная времени или предельная частота на частоте последовательного резонанса диода должна определяться:

измерением частот /| и fa амплитудно-частотной характеристики измерительной камеры с диодом, на которых мощность в А раз больше, чем на резонансной частоте;

измерением ослабления Т измерительной камеры с диодом на резонансной частоте и измерением ослабления Г0 измерительной камеры без диода на той же частоте.

2.1.2.    СВЧ-мощность Р0, частота измерений f„a, напряжение смешения t/CM. ‘при которых производят измерения, должны приводиться в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

2.2.    Аппаратура

2.2.1. Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой лриведена на черт. 2.

Г KV— генератор качакнцеПся частоты; И У—анянкитсрис* >строПс»йо. НО/, НОг.

UOJ— ияпрлидгкиые ответмтеля: АФ—фиксированный аттенюатор: V—частотомер:

>4Г7—мергигмммА атиюагор: ИК—им<ср*:гльн«м каиррй; ИС—ксточанх маори-иссиая синиения; СИ—согласс«мичая iiaipy»a

Черт. 2

2.2.2.    Генератор ГКЧ и индикаторное устройство ИУ, входящие в состав автоматического измерителя /Семи, и ослабления, должны удовлетворять ГОСТ 16423-78.

2.2.3.    Погрешность измерения частоты частотомером Ч должна быть в пределах ±0,01% — при измерении полосы частот /(, f3 и не более 0.5% —при измерении ослабления Т.

2.2.4.    Направленные ответвители HOI, Н02, НОЗ должны отвечать следующим требованиям:

56

Страница 6

ГОСТ 19656.9-79 С?р. 6

направленность не менее 25 дБ;

переходное ослабление должно быть в пределах 10—30 дБ; Ktrv входа и выхода не более 1,15.

2.2.5. Аттенюатор АФ должен иметь ослабление в пределах 5—-10 дБ и Kctv не более 1,2.

2.2.G. Переменный аттенюатор АП должен иметь пределы изменения ослабления 0—40 дБ с погрешностью установки ослабления (O.ISiO.OOST"), где Т — вводимое ослабление в дБ, /Сети ат' тенюатора ие -более 1,25.

2.2.7.    Источник напряжения смещения ИС должен удовлетворять требованиям я. 1.2.3.

2.2.8.    Согласованная нагрузка СИ должна иметь /Сети не более 1.1 в полосе резонансных частот измеряемых диодов.

2 2.9. Измерительная камера И К при измерении (полосы частот U должна удовлетворять следующим требованиям

высота волновода в плоскости включения измеряемого диода должна быть равна высоте корпуса диода. В случае коаксиальной линии расстояние между внутренним и внешним проводниками должно быть равно высоте корпуса диода;

/(„и камеры в полосе резонансных частот должен быть не более 1.2;

камера должна обеспечивать подачу на диод постоянного напряжения смещения:

значение измеряемого сигнала на частоте последовательного резонанса должно превышать уровень помех не менее чем на 3 дБ;

ослабление камеры с диодом на частоте последовательного резонанса должно быть не менее 6 дБ.

2.2.10. Измерительная камера ИК при измерении ослабления Т должна удовлетворять следующим требованиям:

камера в плоскости включения диода должна иметь волновое сопротивление Z0, .которое указывается в стандартах или технических условиях на измерительную установку;

камера должна иметь элементы настройки, позволяющие осуществить последовательный резонанс камеры с диодом и без диода на частоте fM, заданной в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов;

Kctv камеры на частоте /кд — не более 1,06 при условиях, исключающих влияние элементов настройки.

Камера должна обеспечивать выполнение условия

> ЮГ.

2.3. Подготовка и проведение измерений 2.3.1. Устанавливают заданный режим измерений «о мощности />„ и частоте.

57

Страница 7

Стр. 7 ГОСТ 1«656.«-79

2.3.2.    Калибруют генератор качающейся частоты и индикаторное устройство ло ослаблению в соответствии с нормативно-технической документацией.

2.3.3.    Устанавливают в измерительную камеру диод и л од а ют напряжение смещения Ucx. Настраивают генератор качающейся частоты на резонансную частоту.

2.3.4.    При измерении лолосы частот расстраивают генератор в режиме ручной лерестройки частоты в сторону верхних частот и измеряют частоту /2. на которой мощность на выходе измерительной камеры измеряется в А раз то сравнению с мощностью в минимуме резонансной характеристики. Аналогично при расстройке в сторону нижних частот измеряют частот)- f%. Уровень А отсчитывают -по индикаторному устройству или аттенюатору АП.

2.3.5.    При измерении ослабления настраивают измерительную камеру с диодом в резонанс на частоте и измеряют ослабление Т в 'минимуме резонансной характеристики. Извлекают диод из камеры и настраивают измерительную камеру без диода в резонанс на частоте /кя и измеряют ослабление Г„ в минимуме резонансной характеристики.

2.4. Об р а бот к а результатов

2.4.1.    Предельную частоту fapcn н Гц при измерении по п. 2.3.4 определяют по формуле

, /tf.yTT    (7)

/nj'ca *    уг    _у    •    '    '

где ft, ft — измеренные частоты, Гц;

А — уровень, показывающий, во сколько раз изменена мощность на выходе измерительной камеры лри расстройке генератора до частот fi и fa чю сравнению с мощностью на частоте последовательного резонанса диода.

2.4.2.    Предельную частоту при измерении но п. 2.3.5 определяют по формуле

Cut р

Л,*,- - -^-—-—, (8)

*2, С«*(1+    1 -4f\x    (i7=- - 7=— )

cWa    \V т~\ V тп—I/

где Z0 — волновое сопротивление камеры в плоскости включения диода. Ом;

С,*о—емкость перехода диода при заданном напряжении смещения, измеренная 'по ГОСТ 18986.4 73, Ф;

Ском — конструктивная емкость диода указывается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Ф;

68

Страница 8

ГОСТ 19656.9-79 Стр. 8

Z-ooc ~ последовательная индуктивность диода указывается в стандартах или технических условиях на диоды конхретных типов, Г и;

Т, Т0 — ослабления, измеренные но л. 2.3.4, в разах;

/,,д — частота измерения, заданная в стандартах или технических условиях на диоды конкретных тилов. Гц.

2.4.3. Постоянную времени т в секундах определяют по формул е

2я/арсд

2.5. Погрешность измерения лостоянной времени и предельной частоты должна быть в -пределах ± 15% с доверительной вероятностью Р*=0,997 и определяется по формулам (3), (4) справочного 'приложения 2.

3. РСЗОН А торный метод

3.1. Принцип и условия измерений

3.J. Постоянную времени или предельную частоту диода следует определять измерением резонансной частоты камеры с диодом /1<д. частот f 1 и U на которых мощность на выходе камеры изменяется в А раз но сравнению с мощностью на частоте резонанса.

3.1.2.    СВЧ-мошность Ро, диапазон резонансных частот напряжение смещения Исм, три которых производят измерения, должны приводиться в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

3.1.3.    Частота измерений /, должна удовлетворять условиям

ft* и о,ЭЛ; Л,<.0,25/,; у->10*.

/»л

где /w ■— резонансная частота измерительной камеры с диодом, Гц;

/0 — резонансная частота измерительной камеры без диода, Гц;

/р — частота последовательного резонанса. Гц; с •- скорость света, мм/с; h — высота корпуса днола, мм.

3.2. Аппаратура

3.2.1.    Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 3.

3.2.2.    Элементы структурной схемы должны удовлетворять требованиям ни. 2.2.2—2.2.7.

3.2.3.    Детекторная секция ДС должна иметь КС1 ь не более 2 в диапазоне рабочих частот.

59

Страница 9

Стр. 9 ГОСТ 1MS6.9— T9

3.2.4. Измерительная -камера ИК должна удовлетворять следующим требованиям:

обеспечивать подачу на диод постоянного напряжения смещения;

высота промежутка, в который помещают диод, должна быть равна высоте корпуса диода;

полоса пропускания камеры с диодом должна более чем в 3 раза .превышать полосу пропускания камеру без диода, настроенной на ту же резонансную частоту с (помощью подстроечньгх элементов;

значение измеряемого сигнала на резонансной -частоте должно превышать уровень помех не менее чем на 3 дБ.

ГКЧ- теквратор качающейся частоты:    ЯУ-ииднкйгориое устройство:

not. ><01—направлены? иг»<-птт«ли; АФ—фиксированный аттемям-тор:    V—частотомер:    АП—всрсмеияый аттенюатор:    НК—щкк раггель-

пая камера. НС—uciouiiu напряжении смещения. ДС—£стсхто9*я* секанс

Черт. 3

3.3. Подготовка и проведение измерений

3.3.1.    Устанавливают заданный режим измерений по мощности и частоте.

3.3.2.    Калибруют генератор качающейся частоты и индикаторное устройство ло ослаблению. Конкретный порядок калибровки должен приводиться в стандартах или технических условиях на измерительную установку.

3.3.3.    Устанавлинают в измерительную камеру диод и подают напряжение смещения UCM.

IНастраивают генератор .качающейся частоты на резонансную частот)' и измеряют частоту fw.

Расстраивают генератор качающейся частоты в сторону верхних частот и измеряют частот)- f2, на которой мощность на выходе измерительной камеры изменяется в А раз по сравнению с мощностью на резонансной частоте камеры с диодом. Аналогично при расстройке генератора качающейся частоты в сторону ниж-60

Страница 10

ГОСТ 1W56.9—79 Op. tO

них частот измеряют частоту Значение А отсчитывают по индикаторному устройству и аттенюатору АП. Определяют полосу частот в Гц но формуле

-•Vf v

3.4. Обработка результатов

3.4.1. Предельную частоту диода /пред в Гц определяют по формуле

(-t)

yVA-x.fi,

{1—'^:.ос'^пср) |

[i+^(,-4*yVWCnep)]

(2Л/шД-24/к)

(Ю)

где /о—резонансная частота камеры без диода определяется при аттестации измерительной камеры. Гц;

£щ>с — последовательная индуктивность диода указывается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн;

См» — 'Конструктивная емкость диода указывается в стандартах и технических условиях на диоды конкретных типов, Ф;

емкость перехода диода при заданном напряжении смешении измеряется яо ГОСТ 18986.4-73, Ф;

2Д/К — полоса частот измерительной камеры -без диода, настроенной на частоту /кд с помошыо подстроенных элементов. Определение 2AfK в Гц производится методом, аналогичным изложенному и п. 3.3.3.

3.4.2. Постоянную времени диода определяют в соответствии с п. 2.4.3.

3.5. Показатели точности измерения

3.5.1. Погрешность измерения постоянной времени и предельной частоты должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью Р*=0,997 и определяется по формуле (5) справочного приложения 2.

61

Страница 11

Стр. 11 ГОСТ <9656.9—79

ПРИЛОЖЕНИЕ I Рекомендуемое

ИЗМЕРЕНИЕ Л',т V МЕТОДОМ УДВОЕННОГО МИНИМУМА

I Для измерения больших Кст и может быть использован метод «удвоенного минимума», основанный на измерении поля вблизи минимума стоячей волны напряжения.

2. Измерение производится на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

Г—генератор СВЧ моввослс ЛР— алчиюйто?    рйэаягывикзшй.    ИЛ—

■омвдегсльчца лкииа; ин—лчи ем-нагрузка:    ИП—ияиытораыЯ

врабор

Черт. I

3. Измерение лроиз&одяг следующим образом:

установить каретку измерительной линии (зонд) в минимум напряженности поля стоячей волны;

определить расстояние Д/ между двумя положениями лонда по обе стороны минимума    и    которых показания индикатора и два рэза больше пока

зания индикатора а минимуме Ui (черт. 2);

ВЫЧИСЛИТЬ Лет U ПО формуле

i+ 4ir-    <*>

s,n’~

где А1 — расстояние между двумя положениями зонда, мм;

?«, — длина волны в линии передачи, на которой производят измерение, мм

гЛ1

При —■— <0.12 и квадрагнчности детектора линии формулу (1) можио за-

о

mi-нить более простой формулой

Ktr\j- ТГГ •    (2)

«Л/

При этом ошибка при вычислении не будет превышать IV

Относительную погрешность измерения Л«т о методом удвоенного мяняму*--можио определить по формуле

ьК*игт V(сГът)*+{Ь ЪЫ)’+(Ь■**<.)> ,    (3)

т1

гда    * = - -; ;    (4)

i")'

Страница 12

ГОСТ 1V6S6.9—79 Стр. «2

(5)

6т —относительная погрешность измерения отношения напряжений;

Mi—относительная погрешность измерения расстояния между двумя положениями зонда:

б/*) — относительная погрешность измерения длины волны в линии.

Черт. 2

приложение 2

Справочное

РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ ВРЕМЕНИ И ПРЕДЕЛЬНОЙ ЧАСТОТЫ

1. Метод четырехполюсника

I I Погрешность измерения постоянной времени, определяемой по формулам (2) п (4) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

+(^ш1п)Ч-*/4-(т^кз)* •

(1)

где Л. т. п. р, у — определяют по формулам

^eTUjx”“^<TU 1>+(Л«ое ^стихх-,>СО,,(~ /ml" ) 1'

А

63

Страница 13

Стр. 13 ГОСТ 19ttt.9—7* -т~

^«TU'^crUx j"^noc'cos® ^ f ■ Лп1п j Л

(^crU—^ctUj; х) S<" [~Т^ ^nun ) X/U°SS ("f“ /ml")

I

^кз

7-

S:(t/к3)[ /K3)_e(t '“'"ll й/ап; MK3: A/; ft/Cc, ю —отиоснпмьиые погрешности соответствующих величии. оОозиаченных а соответствии с пп. I 3.2—1.3.4 настоящего стандарта.

Погрей!ность ДЛпос определяется по формуй

^.<с- V(^„х,кз)Ц-1М-1К„„хх):+ (AWK3)» . где L, М, N — определяются по формулам

И К ,/кз)-^ГКЗ__Кс г,;хх

Af г

Г( *o 'кэ)+*",:кз £ -1»)

*етик3

Итикз+,8' (т7 *'ks)] [«tcw-wfv *7кз)] sH»1)

(v-4)

*стихх-*ст1;кз-«‘п: ( -/кз j ^Tl(K3+ig:    ./K3j J

1218(тг,/|<з){^"Кз+,gj(тг ''•»)-~    \

I__

стикз+‘*1' ( ^ -/кз) s,n(x •/кз)'[т, кз+,8?(7:-/кз)]+2-18,(^: -'кз)

^eTUxx-^cTUKa-5lnS( i0/Кз)[Летикз+'8г( ^ ^кз)]

•4

Страница 14

ГОСТ 1WJ6.9-7* Стр. 14

где ЛКс.т ихх* WCct t кз — ОТ,|ОС1|ТСЛЫ,ЫС погрешности юмеревия К«гсхх

и Кч о КЗ*

1 2. Погрешность измерения постоянной времени, определяемой по формуле (5) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

'--V    1/с«и)    +("»А-сЛи)!+(я«.и)1КЛ,«),+»Я +

+ (Т«КЗ>*+^5.    .    (2)

где А: т\ п, р-, у — определяются по формулам, указанным в п, 1.1 настоящего приложении.

Погрешность намерения bq определяется по формуле

Ц- V 2(вСаг,,)‘ .

где дСвер—относительная погрешность емкостей ^пор, и ^п«р, •

1,3 Пример расчета погрешности формул (I) и (2) настоящего приложения.

1.3.1.    Исходные данные для расчета Ас-32 мм; 6Хо—0.5%; Iкз *-4,3 мм: «/«3-0.745%: ACctiiKS”80 (^кз “0.127 мм: ЛД/кз-25,2%);

Кст«хх“80 (Д/хх-0.127 мм: Mi**-25.2%-); ftm-1,5%; i»,B-35 мм;

= 1%. /f«TU“!5 {Мш-от «к:    ЛЛ/—4.7%) /?оо5~0.0124 Ом; й#-7%.

1.3.2.

wf«t>K3'“wc«i/xx " ^-25,4%: ьК*и~ V<2’0,1.5)4-4.74-0.52 -5,6%;

Itf.oc- Y(2.28 25.4)->+( 1.23-25.4)*-(0.003 0.745)* -66.5%.

13 3. Подставляя полученные значения в формулу (I). получим

У I(g -5,6 f'+(0.08-25.4):+(0.15-66.5)■+(].«9.|)-+0,5г+(4.8-0,75)*-

• 12,9%.

1.3.4 Подставляя полученные значения в формулу (2), получим

V (§'5*6),+<o*oe-25'4)*+<o>i5,ee'5>’+<,-49 i)*+o*5*+<4'8,°'76),+

+ ?J —14.6% .

). Метод поспедоаатепьного резонанса диода

‘2.1 Погрешность измерения предельной частоты, определяемой по формуле (7) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

V (/wrF + К 7&лУ+[м- «ЬгТ • <3)

где fifii б/} — относительные погрешности измерения частоты частотомером. %: 6/1 — относительная погрешность нзмереаяя уровня А, %.

65

Страница 15

Стр. 15 ГОСТ 19656.9—T9

2.2    Погрешность измерения предельной частоты, определяемой по формуле (8) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

Vnpei- V (‘>-бСвер)Н(«-бС,<И1)Ч-(Ь^)-Ч(С    •»Гп)ЧСе’(4)

где а; Ь; с; d; * — определяют по формулам

Cqjm

zdr+w'i» wc„,

---- ;

1+^=*—<*/}, д_    -2(1-4»^-■Lw,c.CBt>)

Uou

Кг(/г.~1)    |/г„ (Кг.,)

2(Kr-l) {Ута- Кг ) ’    2    [Vrn~l) (/Га-/ г) ’

__~®^5ж'^пос'^п*р _

С ” С

ij__!£££-_ 4яа/2 .£ .г

1 • /-    •г«л    апс    'пер

Окои

tyspt*; ФС«р;    ы,:    ЬТ\ ft?„; ftlooc — относительные погрешности соот

ветствующих величин з процентах, обозначенных в п. 2.4.2.

Относительная погрешность измерения частоты мала по сравнению с остальными погрешностями и ею можно пренебречь.

2& Пример расчета погрешности 2.3.1. Исходные данные для расчета формулы (3):

/,-1920 МГц; /1-1У60 МГц;

V,-6fi~±0.01%,

Л»3,1б раза (5 дБ);

M-.±lS%i (±0.6 дБ).

Подставляя приведенные данные в формулу (3), получим

•W /    -

Ко,24-Ь0,23-Ы20+/120,47 *11%.

2.3.2    Исходные данные д.*.я распета по формуле (4):

С0«**2 пФ; йС0.р=5%;

С*<„-0.4 пФ: ЙС„ оа** 5%; 2от-20 Ом; AZo“S%;

/•„„<-0.2 нГHi 6Lao(^35^;

Г =-63; Г„=.1С00;

6Г-Ю%; 6ГВ —10%; /«2 ГГц.

Подставляя приведенные данные в формулу (4), жмучим

«/о,«д= / (0,б6-5)-+(0.2У7 5)-Ч-5:+(0.75 Ю;-+(0,310):+(0.022-35).' = ... : =10.2%.

66

Страница 16

ГОСТ 1965*.*-7* Стр. 16

3. Реюматормый метод

3.1 Погрешность намерения предельной частота, определяемо* «о формуле (Ю) настоящего стандарта, рассчитывается по формуле

*/■** ~V (*•M)Ч•(*■»CюЖ)Ч-(e•^Clяp)*+lrf■»(2A/«)],+[*~*(21/«),3 • <5>

где в; Ь: с; d: е — определяют по формулам:

1 А

2 ‘ Л-1 ;

.    С кон_

ha ‘-oec'^'nep) •

• d-4 С11

C«H-C,W( 1-4«vL'-L noe'^ntp)

c = (l -*r.ifl.La0<Ca4?)-

noc ^oep)

C^+Crcd - L 24Л

2Д/„-2^/к

ДУ.Ж -2Д/„-2Д/к *

4/npea: A4; бСкоя; вС„р. 6(2Л/К*); й(2Л/») — относительные погрешности соответствующих величин в процентах, обозначенных о п. 3.4.1

Погрешности, вносимые в формулу (5) за счет погрешностей измерения fо; 1кг и Lear, малы по сравнению с остальными погрешностями и нма можно прспебречь.

32. Пример расчета погрешности 3.2.1. Исходные данные для расчета формулы (5)

/и*— 1960 МГц; 2А/ил“16 МГц; CVp-fcS пф;

А=3,16 раза (5 дЬ); 2Л/*-4 МГц;

/о— 2400 МГп. С»ео—0,2 г.Ф; 1По<=0.52 нГн; й/ив-±10-1%;    1*0.6    дБ);

4(*ДМ-4.9Ъ: *(2Д/„)«15%: йСя„.=«:к„,-5%

Подстанлня полученные данные в формулу (5), получим

.

•»

л п [ I

1.96* \

3.1615

+

(J.2 I I —

7.84-' /

2(3,16—1)

0,8+0,2

/. 1.96=\

( 7.84»)

СРД

+

«Ий


•5


.*(■


1.96» \ 7.8Р)


0.8+0.2 1


-г™-»*.


67

Страница 17

Редактор В. С. Бабкина Технический редактор В. И. Тушева Корректор В. .М. Смирнова

Сд«ио я пай. CC.0e.8l Пеан, о net. 30.01 Л» 4,28 уел. я. я- «.37S уел. кр.-отт. «.16 я>.чм. л. Тмр. 8Ж0    Uciu    '20    хоа.

Ордтя «Зяак Пж«та» И«влмяьст>стакл.1рто». 133940. Моогва. ГСП. Нмоар^снсмсжиЯ вор, 3 Т*п. «Московский пстатиик». Мояи. Лилии ntp.. в. Зак. 814

Страница 18

Цена 20 кол.

bwui

Humiiui*    I

ОСНОВНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ

Длина

метр

ш

Масса

килограмм

кг

Время

секунд»

8

Сида электрического тоха

ампер

А

Термодинамическая темнера-*УР»

кельвин

К

Количество вещества

моль

mol

Сила света

каидеда

cd

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ

Плоский угол

радиан i

rad

рад

Тслссиын угол

стерадиан |

вг

ер

ПРОИЗВОДНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ, ИМЕЮЩИЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ НАЮШЮВАНИЯ

Гадепм

Рмвп

111ПШ»

О&пмямм

•Г**МШ Ш IV

■инкм^с

ят

И™

С"“" С*

Частот

герц

Н*

Гц

с-'

Сида

кьюток

N

Н

М • ИГ - с~*

Давление

паскаль

Ра

Па

м-1 • кг - с-4

Энергия

джоуль

J

Д*

м* ■ кг ■ с-*

Мо<цн осп.

ватт

W

Вт

М* И Г*

Количество электричества

кулон

С

Кл

с А

Электрическое напряжение

вольт

V

В

м* КГ С-» А-1

Электрическая емкость

фарад

р

Ф

М-* - КГ' • с4 А'

Электрическое сопротивление

ом

Q

Ом

м*- КГ •«г*- А“*

Электрическая проводимость

сименс

S

См

M-* кг“' • с*- А*

Поток магнитной индукции

яебер

иъ

Вб

н'-кгс-'А-'

Магнитная индукция

тесла

т

Тл

кг-сГ*- А“*

Индуктивность

геяри

и

Гж

м’ кг с А-*

Световой ноток

люмен

лм

к: ср

Освещен и ос гь

люкс

лк

м-* кд «ср

Активность радионуклида

бекьсрсль

• Bq

Бк

С-

Поглощенная дола

гр^м

Gy

Гр

м’с**

ио)гилирующего излучения Эквивалентная доад излучения

зиверг

Sv

Зв

м* С-*

Заменяет ГОСТ 19656.9-74