Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

8 страниц

244.00 ₽

Купить ГОСТ 18683.2-83 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на цифровые интегральные микросхемы и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров микросхем.

  Скачать PDF

Заменяет ГОСТ 18683-76 в части п. 3.11

Ограничение срока действия снято: Протокол № 3-93 МГС от 12.03.93 (ИУС 5-93)

Издание (февраль 2000 г.) с Изменениями № 1, 2

Оглавление

1 Измерение времени задержки включения и времени задержки выключения

2 Измерение времени задержки распространения сигнала при включении и времени задержки распространения сигнала при выключении

3 Измерение времени перехода при включении и времени перехода при выключении

4 Измерение максимальной тактовой частоты

5 Измерение динамических параметров, характеризующих время выполнения функции микросхемой

6 Измерение динамического тока потребления

Показать даты введения Admin

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

БЗ 5-


Издание официальное

ПИК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

УДК 621.3.049.77.083:006.354


Группа Э29


МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ


МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

Методы измерении .динамических электрических параметром

Digital integrated circuits.

Methods of measuring dynamic electrical parameters

ОКП 62 3100


ГОСТ

18683.2-83


Дата введения 01.01.84


Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров микросхем.

Общие требования при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18683.0.

(Измененная редакция, Изм. № 1, 2).

1. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВКЛЮЧЕНИЯ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВЫКЛЮЧЕНИЯ

1.1.    Измерение следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

1.2.    Подготовка к измерениям

1.2.1.    Подготавливают измерительную установку к работе.

1.2.2.    Подключают микросхему к измерительной установке.

1.3. Проведение измерений

1.3.1.    Подают на микросхему напряжение питания от источника G2, входные постоянные напряжения от источника GI и входные импульсные напряжения от источника GJ. значения которых установлены в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.

1.3.2.    Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с черт. 2 при значениях уровней отсчета V\, (/j, Uy Vy указанных в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.


<7/, G2 — источники постоянного напряжения; D— микросхема; G3— генератор импульсного напряжения; Р— шмермтель динамических параметров; £ — эквивалент нагрузки

Черт. 1

(Измененная редакция, Изм. № I).



Издание официальное ★


Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1983 © ИПК Издательство стандартов. 2000


1.4. Показатели точности измерении

/

1.4.1.    Погрешность измерении времени задержки включении и времени задержки выключении должна быть в пределах:

±10 % — дли интегральных микросхем со средним временем задержки распространения 5 нс и более;

±15 % — дли интегральных микросхем со средним временем задержки распространения от 1,0 до 5,0 нс;

±20 % — дти интегральных микросхем со средним временем задержки распространении от 1,0 нс и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.4.2.    Доверительную вероитность погрешности измерении выбирают из ряда: 0,950; 0,990; 0,997. Конкретное значение доверительной вероятности устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

Черт. 2

1.4.3.    Границы интервала погрешности измерении времени задержки включении и времени задержки выключении б определяют по формуле


А-I


(-1


У-1


б /    *    ^02    XT'    ®1г2    г ®2г2

1~г> + < а ОТ~> + I(°lrT-) + I(fl2rT~)


+ ( а


(1)


Z6 VW „ 2 V ^ х 2

ГЧ    *

* -2

W > г


+ ( Т”)


где а а а^г а^г — относительные коэффициенты влияния соответственно фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на r-м входе на измеряемый параметр;

а/, qq — относительные коэффициенты влиянии уровня отсчета соответственно на входном и выходном импульсе на измеряемый параметр;

а, — относительный коэффициент влиянии напряжении питании на /-м выводе питании на измеряемый параметр;

dj — относительный коэффициент влиянии постоянного напряжении нау-м входе на измеряемый параметр;

ак — относительный коэффициент влиянии параметра к-го элемента нагрузки на измеряемый параметр;

Oj — относительный коэффициент влияния температуры окружаюшей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр:

— относительный коэффициент влиянии временной нестабильности сдвига входного импульса на н>-м входе относительно аходного импульса на v-м входе на измеряемый параметр:

5|r f>2r Ьуг б — относительные погрешности установления и поддержания соответственно фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на г-м входе;


ГОСТ 18683.2-83 С. 3

5/, 6q — относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета соответственно на входном и выходном импульсе;

6, — относительная погрешность устаноатения и поддержания напряжения питания на /-м выводе питания;

5у — относительная погрешность установления и поддержания постоянного напряжения на у'-м входе;

8к — относительная погрешность устаноатения и поддержания параметра А-го элемента нагрузки;

— относительная погрешность измерителя динамических параметров;

5, — относительная погрешность временной нестабильности фронта (спада) входного импульса;

дт — относительная погрешность устаноатения и поддержания температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы;

— относительная погрешность временной нестабильности сдвига входного импульса на н’-м входе относительно входного импульса на к-м входе;

6Х — относительная погрешность, обусловленная неучтенным х-м источником погрешности;

К. Kir К2п КУг КЛг К„ К, Kj. Kh Ко. Кр. К,.

Ку^. Кх — коэффициенты. зависящие от закона распределения соответствующей погрешности 8. 6,г &2г б54г $/• 6Г h' $о- V 5Г 5 Г-    Ьх и доверительной вероятности;

/— число выводов питания;

m — число входов, на которые подают постоянное напряжение;

п — число элементов нагрузки;

Z — число входов, на которые подают импульсное напряжение.

2. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА

1


ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ

2.1.    Аппаратура — по п. 1.1.

2.2.    Подготовка к измерениям — по п. 1.2.

2.3.    Проведение измерений

2.3.1.    Подают на микросхему напряжения питания от источника G2 входные постоянные напряжения от источника GI, входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.3.2.    Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с черт. 3 при значениях уровнен отсчета U\, U2, указанных в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм.

№ 1).

2.3.3.    (Исключен. Изм. № 1).

2.4. Показатели точности измерения — по п. 1.4.

Черт. 3

С. 4 ГОСТ 18683.2-83

3. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА МРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ

3.1.    Аппаратура - по п. 1.1.

3.2.    Подготовка к измерениям — по п. 1.2.

3.3.    Проведение измерений

3.3.1.    На микросхему подают напряжения питания от источника G2, входные постоянные напряжения от источника Gin входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.



Черт. 4


3.3.2.    Интервал времени измеряют в соответствии с черт. 4 между моментами достижения выходным напряжением уровней отсчета U\. (/2* значения которых указаны в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм. № I).

3.4. Показатели точности измерения

3.4.1.    Погрешность измерения времени перехода при включении и времени перехода при выключении — по п. 1.4.1.

3.4.2.    Доверительная вероятность погрешности измерения — по п. 1.4.2.

3.4.3.    Границы интервала погрешности измерения времени перехода при включении (времени перехода при выключении) 6Т определяют по формуле


5 | 2    5 j    л г- 5|г 2 V    г ^ > 2

+ 2>>т;> ♦


+


ХС-4гТ^)



(2)


где Я|. а2 ~ относительные коэффициенты влиянии фронта (спада) выходного импульса соответственно в I и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр:

6|, 8т — относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета на выходном импульсе соответственно в I и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр;

А',. А'2 — коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующих погрешностей 5|, б2 и доверительной вероятности:

остальные обозначения — см. формулу (I).


4. ИЗМЕРЕНИЕ МАКСИМАЛЬНОЙ ТАКТОВОЙ ЧАСТОТЫ

4.1.    Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

4.2.    Подготовка к измерениям — по п. 1.2.

4.3.    Проведение измерений

4.3.1.    Подают на микросхему напряжения питания от источника G2. входные постоянные напряжения от источника GI и входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.3.2.    Измеряют частоту следования импульсов на выходе микросхемы, при которой обеспечивается функционирование микросхемы в соответствии с требованиями, установленными в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.4.    Максимальную тактовую частоту /ск определяют по

гтш>

формуле

Лк__“/<?" '»/о


С7

1

G3


| G1 ■ D


где f(j— частота следования импульсов на выходе генератора: fo~ частота следования импульсов на выходе микросхемы; п — целое число, указанное в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.5. Показатели точности измерения

4.5.1.    Погрешность измерения максимальной тактовой частоты — по п. 1.4.1.

4.5.2.    Доверительная вероятность погрешности измерения максимальной тактовой частоты — по п. 1.4.2.

4.5.3.    Границы интервала погрешности измерения максимальной тактовой частоты (уопределяют по формуле


01 — генератор импульсного напряжения; 02, 03— источники постоянного напряжения; D — микросхема; £ — экви-кпеш нагружи; Р — и(мертель частоты

Черт. 5


v р 2 V- 51 ■> v ° I •> V ° К 2    °Г

()    +    *    £/ а^>" +


г-1


У-I


3-1


V-    ^    |г    2 г    52 v-    Н    2    V-    5    2    г- ° х 2

+    +I<fl2r*7>    +    1<*з,*7) +I<o4r-^) +    •


О)


Гм |


Гм |


где обозначения — см. формулу (I).


5. ИЗМЕРЕНИЕ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ ВРЕМЯ ВЫПОЛНЕНИЯ ФУНКЦИИ МИКРОСХЕМОЙ

5.1. Методы измерения динамических параметров, характеризующих время выполнения микросхемой функции (время выСюрки, время выборки адреса, время выборки разрешения, время восстаноатсния и т. п.) должны соответствовать указанным в разд. 1 и 2.

Конкретный метод измерения устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.


6. ИЗМЕРЕНИЕ ДИНАМИЧЕСКОГО ТОКА ПОТРЕБЛЕНИЯ


6.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 6.



Черт. 6


Примечание.

Допускается при измерении к выходу микросхемы подключать нагрузку.

6.2.    Подготовка к измерениям — по п. 1.2. Измеритель постоянного тока должен быть таким, чтобы с его помощью можно было измерить средний суммарный ток.

6.3.    Проведение измерений

6.3.1.    Подают на микросхему напряжение питания от источника GJ, входные постоянные напряжения от источника (7/. входные импульсные напряжения от источника G2, значения которых установлены встандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

6.3.2.    Измеряют ток измерителем РА.

6.4.    Показатели точности измерения

6.4.1.    Погрешность измерения динамического тока потребления должна быть в пределах ±5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

6.4.2.    Доверительная вероятность погрешности измерения — по п. 1.4.2.


6.4.3. Границы интервала погрешности измерения динамического тока потребления 6| определяют но формуле


6, = ± К




(4)


где Of— относительный коэффициент влияния частоты повторения входных импульсов на измеряемый параметр;

_ относительная погрешность установления и поддержания частоты повторения входных импульсов;

ЬрЛ — относительная погрешность измерителя постоянного тока;

К, Kf, КРЛ — коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности 8|.

бу; ЬрЛ и доверительной вероятности; остальные обозначения — см. формулу (I).

Разд. 6. (Введен дополнительно. Изм. № 2).


ПРИЛОЖЕНИЕ. (Исключено, Изм. № 2).


ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11.04.83 № 1688

Изменение № 2 принято Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол № 12 от 21.11.97)

Зарегистрировано Техническим секретариатом МГС № 2731

За принятие изменения проголосовали:

Наименование государства

Наименование национального органа по стандартизации

Азербайджанская Республика

Азгосстандарт

Республика Армения

Армгосстандарт

Республика Беларусь

Госстандарт Беларуси

Грузия

Груэстандарт

Республик;! Казахстан

Госстандарт Республики Казахстан

Киргизская Республика

Киргиэстандарт

Республика Молдова

Молдоваста ндарт

Российская Федерация

Госстандарт России

Республика Таджикистан

Тадж и кгосста ндарт

Туркменистан

Главная государственная инспекция Туркменистана

Республика Узбекистан

Узгосстандарт

Украина

Госстандарт Украины

2.    ВЗАМЕН ГОСТ 18683-76 (в части п. 3.11)

3.    ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД. на который дана ссылка

Номер пункта

18683.0-83

Вводная часть

4.    Ограничение срока действия снято но протоколу № 3—93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 5-6—93)

5.    ИЗДАНИЕ (февраль 2000 г.) с Изменениями №1,2, утвержденными в июле 1988 г., августе 1998 г. (ИУС 12-88, 11-98)

Редактор Л. В. Каретникова Технический редактор Н.С. Гришанова Корректор РЛ. Ментона Компьютерная верстка Л.А. Круговой

Изд. лиц. № 021007 от 10.08.95. Сдано в набор 24.01.2000. Подписано в печать 14.03.2000. Уел. печ. я. 0,93. _Уч.-изд. л. 0,75. Тираж 106 жз. С 4667. Зак. 217._

ИПК Издательство стандартов. 107076. Москва, Колодезный пер., 14.

Набрано в Издательстве на ПЭВМ Филиал ИПК Издательство стандартов — тип. “Московский печатник", 103062, Москва, Лялин пер., 6.

Плр № 080102