← Все организации

ГУ Российской академии наук Институт кристаллографии имени А.В. Шубникова

• ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа