ГОСТ Р 8.698-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:

- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.

Стандарт распространяется на:

- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;

- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках.