Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

20 страниц

456.00 ₽

Купить ГОСТ 4.198-85 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает номенклатуру основных показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив этой группы, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).

 Скачать PDF

ИЗДАНИЕ (октябрь 2001 г.) с Изменением № 1

Оглавление

1. Номенклатура показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов

2. Применяемость показателей качества рентгеновских аналитических аппаратов

Приложение 1. Алфавитный перечень показателей

Приложение 2. Термины , применяемые в стандарте, и пояснения к ним

Приложение 3. Примеры определения некоторых показателей качества продукции

 
Дата введения01.01.1987
Добавлен в базу01.09.2013
Актуализация01.01.2021

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

30.09.1985УтвержденГосударственный комитет СССР по стандартам3195
РазработанМинистерство приборостроения, средств автоматизации и систем управления
ИзданИздательство стандартов1986 г.
ИзданИздательство стандартов1989 г.
ИзданИПК Издательство стандартов2002 г.

System of product-quality indices. X-ray analytical apparatus. Nomenclature of indices

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20

СТАНДАРТ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ

СОЮЗА ССР

СИСТЕМА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

АППАРАТЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ

НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ

ГОСТ 4.198-85

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

УДК 621.386.1 : 006.354    Группа    Т51

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСТ

4.198-85

Система показателей качества продукции

АППАРАТЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ

Номенклатура показателей

Product-quality index system X-ray analytical apparatus Nomenclature of indices

01.01.87

ОКСТУ 0004

Дата введения

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества рентгеновских аналитических .аппаратов, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив этой группы, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).

Коды рентгеновских аналитических аппаратов, входящих в труппу однородной продукции по ОКП:

го назначения (прецизионные, средней точности, упрощенные), дифрактометры специализированные (текстурные, для исследования монокристаллов, для определения макронапряжений, малоугловые, для исследования в особых условиях — низкотемпературные и высокотемпературные, для исследования реальной структуры кристаллов—на основе детекторов телевизионного типа), аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом);

42 7651 —аппаратура рентгеноспектральная: спектрометры крис-

42 7651 —аппаратура рентгеноструктурная: дифрактометры обще

Издание официальное

талл-дифракционные (многоканальные, сканирующие), спектрометры бездифракционные с полупроводниковым детектором, анализаторы рентгеновские;

Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1989

С. 10 ГОСТ 4.198-85

дена в табл. 2, рентгеноспектральной—в табл. 3, микроскопов рентгеновских, аппаратов рентгенолюминесцентных, микроанализаторов рентгеновских — в табл. 4, приборов рентгенофизических — в табл. 5.

Применяемость показателей качества аппаратов рентгеновских аналитических, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития, ГОСТ ОТТ, в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТУ, КУ, ТЗ на ОКР, приведена в табл. 6

(Измененная редакция, Изм. № 1).


се

И

К

ч

ю

СО

н


Применяемость по подгруппам однородной продукции


a s « ч*

° Я Я Я

Я а


о а

о о Я я о. с* >» Й

Зн о. я о

S&S

£я-


я я S

а- о О в S е£ в я О

£ак

« d я о


je * о

О v ко*: я в о я о я Я Я’О Я й> ?>ч

н £■■ о. О g н

О 4)

а


<у*.:яЗо2оЙя

с-КаламхОс

5s£>;§og-ag

»siis«g£3H

к“1&ян"° се ио §■ Я tx £ я


И I м I I +i +1 I I I I II I I I I И I I


I I I I I II -Н+ II I I I I I I I I I L I I I


I I II II I +1 I I I I I + I I I I + I I ИП


1)

3 я a я a о а. a п X

4 я я a

О)

с

о

3

а.

н

V

s

о

н

я

я

а

■е

я

Cl


2° а о

0) О

у я я к


aiHHdAi

-Bdauwai

-омоэня


ЭНН

-dAiBclau

•кэюмеин


anaoii'JAoL'BK


в

i к ■ к

£■ я о а> о $ §“* ^ я


я


я з ” о.

S    S

R    Я

Я


2 я я я

5 5 q2

О Е Я ч я S о ч

я я я

к о о н

с; г( 2 о


BHHdAiOHai


. я о я н - О Е d d ф Я С. Щ N.

•в-^ю Е S2Oя я


et


Sg

О Е —

С Я •

о. чд

US'®

5 t- « 5 Я н О т


+i I I II I + I I


I l + i I I 1+1+1


+] | 1 i I I + i i I I I 1 I 1 1 i + И 1 I +1 +1


+ 1 I +1 + I I +


■н


I I II + + I +! И I II I I + I I I I I +1 +1 I


+ +Н-+-1 I ш I I +1 I I I I I I I I -н-н-н |


+ + I


+1


+1 +1


+ + + II I I -Н II II


+ +I+I


<м ю <N <М


I    I    СО    I    СО

©ЮСОЬ-ОООСЧСОЮСОСООО—-<<N СЧСОтЬ'ЮСОГ--СОО>^’—'^^'-*^Cq<N<N<NC4<NcOOOCO


CN

Vo

сз

hi

ж


о

о

§


я

5

я

>1

Ч

О

а.

я

*

о

я

§

9

я

ч

о

3

В

в

>1

а

и

4

О

в

о

в

JS

f-

о

о

3

О)

Я

в

а)

2

В

а

G


а> л Я х

§59

°s§

S в £ о о |££ Зяо

»е-&

«3

С у

с К


2 „

со Я 2 ч У О

И 3 Я я я о


в S со

о

О

я

я

в о

я

о я

яхо

с

и >>

н

р о.

о

£ н я

о.


ч 5

а * о я Я я в к о ч ч

Ч


- аз « й о О Си Ч в h ч

Я Н eg

ч ^ н я >^и «£•*«,


I+U + I 1 + 1 I I I 1+ + + + + +I+I + + -H +


I +i I + I I I I I I I I + + + + + +1 +1 + +1 +1 +


I I I I + I I I I + I I + + + + + +1 +1 + -H +1 +


а)

3 я я ез я о а я

со

Я

4 со Я Я О)

с

о

3

Си

н

О)

г

о

н

я

я

с.

•&

я

st


о о Я а аз о с;

о в

Я « У

я ^ я я я ч в з « «хо


Э1чнс1Л1

-Bd9UW01

-0М0Э1ЧЯ


91ЧН

-d^iedan

•мэюмеин


aiqaoifiXoirBw


£ я я


*я я ' я

о <и


S*sS

я


Ч М

о 5

и Я

я в в я о


я


я аз а о я ч


ч *


9MHdXl.0H81


I Я о Я

н I— о я 5 tj D в Р15i я"

■9-0® Я 2 о «

ч £


5 °

} E -Ч

“ W ■

*s|

5 в S

: «


+


+ 11+ + + + + +1 +1 + +1 +1 +


-H


+ 1 I + + + + + +1 +1 + +1 +1 +


I I I I + I I + + + + + +I+I + -H + +


I II I I + I I I + II + + + + + +1 +1 + +1 +1 +


+1


+ 1 I +    +    +    +    +    +MI + +l +i +


+l


+l| |+ + + + + +1+1+-Ц-Н +


I +1 1 I I I I I +1 +1 +1 I + + + + + +1 +1 + +1 +1 +


h-    CO

CO    ^

^    I    03 —< Tt< 03

i    i    -co    an

cOTMnoooo*“<wiC0Soo№dd^(N.'-.w.,H. I I I I

CO CO CO CO    CO Tf ^    Tji Tf tJ« Tp    IO Ю ^ 1-H OJ <03 CO    —* — *-<    —<

i—■ p-ч i—t-i—»    i—i —<    »-ч r—i i—i i—i i—i    i-ч 03 03 03 03 03    CO LO    CO



<N

vo

сз

ь

«ii

а


О

<0

О

СХ

fcj


Я

S

я-

я

§

а

с

о

Я

4 О О.

о

Я

О

5 я с с >» о.

U

к

о

я

о

с

л

е-

и

о

S

а>

к

я

а>

S

Я

сх

С


я ”

Я я

^.Чй

и я и>

о*к

-н Я


Z.O

£§

cj i г

fs О* а>>2 g£ о

£н.е

Я о

£*“

<5


g*

я


2 к Я 5я

5*3

« я

О. я-Я Я


«а

«я

о

О V

Я

г> >Я

я

Я О

я

О Я

я

яхо

с

я р>,

Е-

Ь а

О

£ н я

о

0)

а


's§a§«g.og

1 *S&S £

-ч*В“я*

|sa§®Sli


+ + + + +I


+ + + + +1


+ + + + +1


а

3 я к я я о о.

X

л

Я

4 я Я X 0) с о

3

а

н

0>

г

о

Е-

X

Я

а

•8-

х

et


66 к

Эё

к

о я

я 5

я

К Я X

Ч « 3

Ч и


0i4HdAi

-Bdauwai

-омоэгаа


Э1ЧН

-dXiBdau

•кэюнеин


arcaoi/MAoirBw


«

«R,X

я О о

§£&* «s з ё. 5*s§

Я


0> — 1 ч 5 я Я o®ftO о я « ч я я о ч


0i4HdAio>i0i


6 s

*з££

я Q II n

£8 Я«

•8* я\о я

я * о «

et £


Sg

О Сн

с«в

|ёв

ж л


+ + + I +1


+ + 4" | -И


+ + + + "Н


+ + + + -Н


+ + + + +1


+ + + + +1


+ + + + +1


ю

со см см ~

г--.’ СО СТ> I


. . . о

SOOO^-H


Таблица 3

Номер показателя по табл 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Спектрометры кристалл-дифракционные

Спектрометры без-дифракционные с полупроводниковым детектором

Анализаторы

рентгеновские

многоканальные

сканирующие

1.1

—, ,

1.2

4

4

4-

4-

1.3—1.9

1.10

4

4

4-

4-

1.11

4

4-

1.12

4

+

о-

1.13

4

4

4-

±

1.14

4-

_

1.15—1.26

1.28

±

1.29—1.30

1.31

±

-4-

±

1.32—1.33

_

1.34

±

±

±

1.35

1.36

4

4

4-

1.37

±

zt

1.38—1.42

.—.

1.43

4

н-

1.45—1 46

4

±__

4-

-4-

1.47—1.48

~

1А9

4

4

4-

4-

1.50.1—1.50.3

4

4

4

4

2.1.1

4

4

4*

4

2.1.2

+

4

4-

4

2.2.1

4

4

4~

4

2.2.2

±

±

+

2.3.1

±

±

±

-4-

3.1—-3.2

4

4

4-

4

4.1—4.11

±

dz

5.1—5 4

±

zb

±

6.1—6.2

4

4

4-

4

7.1—7.3

4

4

+

4

8.1—8 2

+

4

4

4

9.1—9.2

4

4

4-

4

10.1

4-

4-

4-

4

11.1—11.5

±

±

zt

Таблица 4

Номер показателя по табл 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Микроскопы

рентгеновские

Аппараты рентгенолюминесцентные

Микроанализаторы

рентгеновские

1.1—17

_

_

1.8

+

1.9

1.10

+

1.11

+

1.12

1.13

+

1.14—1.16

1.17

+

1.18

+

1.19

+

1.20

+

1.21

+

1.22—1.22а

1 23

+

1.24

+

1.25—1.25а

_

__

1.26

_

_

1.28—1.30

1.31

±

1.32—1.34

_

__

1.35

+

_

1.36—1.38

- —

1.39

_

---

1.40—1.41

_

_

1.42

_

1.43

+

1.45

___

_

1.46

+

+

1.47

_

_

ч-

1.48

-

1__

-

1.49

+

+

+

1.50.1—1.50.3

+

+

2.1.1

+

+

+

2.1.2

+

+

+

2.2.1

+

+

+

2.2.2

±

23.1

±

±

3.1—3.2

+

+

+

4.1—4.11

Чп

+

±

5.1—5.4

±

±

6.1—6.2

+

н-

+

7.1—7.3

+

+

+

8.1—8.2

+

+

+

9.1—9.2

+

+

+

10.1

+

+

11.1—11.5

±

±

±

Таблица 5

Номер показателя по табл. 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Приборы рентгенофизические

спектрометры рентгеноэлектронные

спектрометры оже-электронные

аппараты для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров

1.1—1.12

1.13

+

1.14

+

+

+

1.15—1.17

1.18

+

1.19—1.21

1.22

+

1.22а

1.23—1.24

1.25

+

1.25а

1.26—1.32

1.33

±

±

Ч-

1.34—1 35

1.36

+

ч-

1.37—1.45

1.46

±

±

1.47

+

4-

1 48

+

±

1.49

+

+

+

1.50.1—1.50.3

+

+

4-

2.1.1

4-

+

2.1.2

+

+

+

2.2.L

+

+

+

2 2.2

±

Ч-

2.3.1

ч-

±

3.1—3.2

+

+

J-

i

4.1—4.11

±

±

ч-

5.1—5.4

Ч-

±

ч-

6.1—6.2

ч-

7.1—7.3

+

+

+

8.1—8.2

+

+

+

9 1—9.2

4-

+

+

10.1

+

+

+

11.1—11.5

±

±

Таблица б

Область применения

показателя

Номер по-

Стандарты

казателя

ТЗ на НИР,

по табл. 1

ГОСТ ОТТ

(кроме ГОСТ ОТТ)

ТЗ на ОКР

ТУ

КУ

1.1

+

+

4

4

4

1.2

+

+

4

4

±

1.3

+

+

4

4

4

1.4

+

+

4

4

4

1.5

+

+

4

4

4

1.6

+

±

4

4

1.7

+

+

±

±

4

1.8

+

+

±

4

±

1.9

+

+

4

4

4

1.10

+

+

4

4

±

1.11

+

+

4

4

4

1.12

+

4

4

4

1.13

+

+

±

4

4

1.14

+

+

4

±

4

1.35

+

+

4

4

4

1.16

+

4

4

±

1.17

+

4

4

4

1.18

+

+

4

4

4

1.19

+

4-

4

4

1.20

+

4

4

4

1.21

+

4

4

4

1.22

+

4

4

4

1.22а

+

4

4

4

1.23

+

4

4

4

1.24

+

4

4

4

1.25

+

4

4

4

1.25а

+

+

±

4

1.26

1

4

4

4

1.28

—■

■—

4

4

4

1.29

+

+

4

4

4

1.30

4

±

4

1.31

+

4

4

4

1.32

±

4

4

1.33

+

4

4

4

1.34

_

4-

4

4

1.35

+

4-

4

4

1.36

+

+

4-

4

4

1.37

4-

4

4

1.38

+

+

4-

4

4

1.39

1.40

+

+

+

4;

4-

4

4

4

4

1.41

+

+

4-

4

1.42

4-

4

4

1.43

+

+

4-

4

4

1.45

+

+

4-

4

4

1.46

+

+

±

4

1.47

+

+

4-

±

Продолжение табл. 6

Область применения

показателя

Номер показателя по табл. 1

ТЗ на НИР, ГОСТ ОТТ

Стандарты (кроме ГОСТ ОТТ)

ТЗ на ОКР

ТУ

КУ

1.48

_

гЬ

±2

1.49

+

+

+

1.50.1 — 1 50 3

«м»

+

+

4*

+

2.1.1

4-

+

+

4-

4-

2.1.2

+

4-

+

+

4-

2.2 1

+

4-

_1_

1

4-

4-

2.2 2

4-

±

±__

±

2.3.1.

"f-

zb

±

±

3.1—3.2

4-

+

4-

4-

4.1—4 11

—.

+

_

4-

5.1—5 4

—.

+

_

6 1—6 2

—.

4-

+

7 1—7.3

+

+

4-

8 1—8 2

---

4-

9.1—9 2

_

_

,

+

10 1

__

Н—

11.1 — 11.5

-

±

Примечание к табл. 2—6. Знак « + » означает применяемость, знак —* — неприменяемость, знак «±» — ограниченную применяемость (в технически обоснованных случаях) соответствующих показателей качества.

ГОСТ 4.198-85 С. 19

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Справочное

АЛФАВИТНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ

Номер показателя по табл 1

Возможность восприятия и переработки    информации    4.9

Воспроизводимость положения линии спектра    1.48

Время восстановления работоспособного состояния среднее    2.3.1

Время одного цикла    1.12

Время срабатывания защиты    11.1

Выразительность информационная    5.1

Выход материала на отсечку    1.21

Давление в рабочем объеме наименьшее (предельное остаточное)    1 33

Диапазон анализируемых элементов    1.10

Диапазон исследуемого излучения    1.22

Диапазон поворота по углу а    1.4

Диапазон регулировки высокого напряжения и анодного тока    1.34

Диапазон рабочих углов    1.5

Диапазон угловых перемещений рентгеновской трубки    1.30

Диапазон ускоряющих напряжений    1.23

Диапазон углового перемещения блока    детектирования.    1.1

Значение относительной влажности при температуре верхнее    7.2

Извлечение минерала    1.19

Интервал рабочих температур, при которых исследуется образец    1.7

Класс крупности обрабатываемого материала    1.35

Количество одновременно анализируемых элементов максимальное    1.11

Контрастность    1.36

Коэффициент повторяемости    8.2

Коэффициент применяемости    8.1

Масса    3.1

Мощность потребляемая    3.2

Мощность рентгеновской трубки номинальная    1.8

Мощность экспозиционной дозы рентгеновского излучения    10.1

Нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки удельная    1 38

Наличие аварийных сигнализаций, световой индикации    115

Наличие автоматизации управления и обработки данных    1 46

Наличие блокирующих устройств    11 4

Наличие сканирующего канала    1.43

Наработка на отказ средняя    2.1.1

Наработка безотказная установленная    2 1.2

Нестабильность анодного напряжения и тока    1.41

Оснащенность дополнительными устройствами (например, наличие приставок)    1 47

Отношение сигнал/шум    1.25

42 7651 —микроскопы рентгеновские: с фоторегистрацией, анализаторы, рентгенотелевизионные;

42 7651 — аппараты рентгенолюминесцентные: сепараторы люминесцентные;

42 7651 — микроанализаторы рентгеновские;

42 7651 —приборы рентгенофизические: аппараты для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров;

42 7658 — приборы рентгенофизические:    спектрометры    рентгено

электронные, спектрометры оже-электронные.

Алфавитный перечень показателей качества продукции приведен ь справочном приложении 1.

Термины, применяемые в стандарте, и пояснения к ним приведены в справочном приложении 2.

Примеры расчета некоторых показателей качества продукции приведены в справочном приложении 3.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

1. НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ


1.1. Номенклатура показателей качества и характеризуемые ими ствойетва рентгеновских аналитических аппаратов приведены в табл. 1.


Таблица 1


Обозначение

показателя

качества


Наименование характеризуемого свойства


Наименование показателя качества


1. ПОКАЗАТЕЛИ НАЗНАЧЕНИЯ


1.1.    Диапазон углового перемещения блока детектирования, град

1.2.    Основная аппаратурная погрешность, (ГОСТ 16865-79), %

1.3.    Допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, град

1.4.    Диапазон поворота по углу а, . . • °

1.5.    Диапазон рабочих углов, ... °

1.6.    Сходимость показаний аппарата

1.7.    Интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, °С

1 8. Номинальная мощность рентгеновской трубки, Вт (кВт)

1.9.    Угловая установка кристалла (ф, X, со), . .. °

1.10.    Диапазон анализируемых элементов


Диапазон регистрации дифрактограмм

Стабильность аналитического сигнала аппарата Искажение дифракто-граммы

Аналитические возможности аппарата

То же

Стабильность выходного параметра аппарата Диапазон воздействующих факторов Аналитические возможности аппарата То же

Аналитические возможности аппарата


20н, 20к;

VH, Vk, Yh, Yk

Ao

бо


20 т(Д T)

w


С. 20 ГОСТ 4.198-85

Отклонение блока детектирования от заданного угла поворота допускаемое    1.3

Отклонение от среднего значения измеряемых деформаций среднее квадратическое    1.22а

Осциллирование блока детектирования сцинтилляционно-го    1.40

Параметры питающей сети    1.50.1

Площадь входного окна детектора рабочая    1.26

Погрешность основная аппаратурная    1.2

Погрешность регулирования заданной температуры    1.25а

Погрешность угловой установки кристалла    1.15

Показатели безотказности    2.1

Показатели долговечности    2.2

Показатель патентной защиты    9.1

Показатель патентной чистоты    9.2

Показатель ремонтопригодности    2.3

Показатель уровня вибрации    4.4

Показатель уровня освещенности    4.2

Показатель уровня температуры, влажности    4.3

Показатели уровня шума    4.1

Предел обнаружения    1.37

Прочность изоляции электрическая    11.2

Производительность на классе крупности    1.20

Размеры габаритные (или площадь установочная)    1.49

Размеры исследуемого образца допускаемые    1.31

Размеры экрана для визуального    наблюдения    1.42

Разрешение    1.16

Разрешение линейное    1.18

Разрешение спектральное (волновое, энергетическое)    1.14

Рациональность формы    5.2

Себестоимость изделия технологическая    6.2

Скорость счета на линии на контрольном образце    1.13

Скорость угловых перемещений блока детектирования установочная    1.29

Совершенство производственного исполнения (товарный вид)    5.4

Сопротивление изоляции электрическое    11.3

Соответствие изделия силовым, энергетическим возможностям человека    4.6

Соответствие изделия слуховым и зрительным возможностям человека    4.7

Соответствие изделия закрепленным и вновь формируемым навыкам человека    4.8

Соответствие изделия размерам тела человека и его частей    4.10

Соответствие изделия форме тела человека и его отдельных частей    4.11

Соответствие современным эстетическим представлениям    5.1.1

Среда рабочая    1.32

Срок службы установленный    2.2 2

Срок службы полный средний    2.2.1

Сходимость показаний аппарата    1.6

Температура транспортирования    7.1

Трудоемкость изготовления изделия    6.1

Тряска при частоте ударов в минуту транспортная    7.3

Увеличение    1.17

Увеличение в растровом режиме наименьшее    1.24

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

1.11. Максимальное количество одно-

Аналитические возмож-

временно анализируемых элементов

ности аппарата

1.12. Время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), с

—•

Производительность

1.13. Скорость счета на линии на

11

Аналитические возмож-

контрольном образце, с-1

ности аппарата

1.14. Спектральное разрешение (волновое, энергетическое), нм, зВ, %

Селективность анализа

1.15. Погрешность угловой установки кристалла (по ф, X» «),... °

Достоверность анализа

1.16. Разрешение, ../

1.17. Увелинениех ,

Возможность получения требуемого линейного разрешения

1.18. Линейное разрешение, мкм

--

Линейная разрешающая Способность

1.19. Извлечение минерала, %

Эффективность работы аппарата

1.20 Производительность на классе крупности, т/ч

-—

Производительность

1.21. Выход материала на отсечку

(или на 10 отсечек), кг (зерен)

'--

Качество сортировки

1.22. Диапазон исследуемого излуче-

Аналитические возмож-

ния, нм, кэВ

ности аппаоата

1.22а. Среднее квадратическое откло-

Стабильность аналити-

нение от среднего значения измеряемых деформаций, %

ческого сигнала

1.23. Диапазон.ускоряющих напряжений, кВ

То же

1.24. Наименьшее увеличение в растровом режимех

-—

Наибольшее поле зрения

1.25. Отношение сигнал/шум

■—

Чувствительность прибо-

1.25а. Погрешность регулирования за-

__

ра

Стабильность аналити-

данной температуры

ческого сигнала

1.26. Рабочая площадь входного ок-

Аналитические возмож-

на детектора, мм2

1.27—1.27.2. (Исключены, Изм. № 1).

ности аппарата

1.28. Минимальный шаг сканирова-

•—

Аналитические возмож-

ния, нм

ности аппарата

1.29. Установочная скорость угловых

Производительность ап-

перемещений блока детектирования,

. .. °/мин

парата

1.30. Диапазон угловых перемещений

Аналитические возмож-

рентгеновской трубки,... 0

ности аппарата

1.31. Допускаемые размеры исследуемого образца, мм

1.32. Рабочая среда

1.33. Наименьшее (предельное остаточное) давление в рабочем объеме,

Па

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

1.34. Диапазон регулировки высокого

Аналитические возмож-

напряжения и анодного тока, кВ, мА

ности аппарата

1.35. Класс крупности обрабатываемо-

Характеристика обогаща-

го материала, мм

емого материала

1.36. Контрастность (ГОСТ 16865-79)

к

1.37. Предел обнаружения (ГОСТ

Аналитические возмож-

16865-79), г, %

ности

1.38. Удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки (ГОСТ 20337-74), Вт/мм2

Производительность

1.39.    Контрастная чувствительность,

%

1.40.    Осциллирование блока детекти-

Качество изображения

Аналитические возмож-

рования сцинтилляционного, . .. °

ности аппарата

1.41. Нестабильность анодного напряжения и тока, %

-

То же

1.42. Размеры экрана для визуально-

Удобство наблюдения,

го наблюдения, мм

обзорность

1.43.    Наличие сканирующего канала

1.44.    (Исключен, Изм. № 1).

Аналитические возможности аппарата

1.45. Автоматическое управление сме-

Способность автомати-

ной образцов

ческого управления сменой образцов

1.46. Наличие автоматизации управ-

Возможность комплекс-

ления и обработки данных

ной работоспособности системы «аппарат—ЭВМ»

1.47. Оснащенность дополнительными

Ускорение анализа

устройствами (например наличие приставок)

1.48. Воспроизводимость положения линии спектра, эВ

111 "

1.49. Габаритные размеры (или установочная площадь), мм (мм2)

1 1

1.50. Условия эксплуатации 1.50.1. Параметры питающей сети

1.50.2. Устойчивость к климатическим воздействиям

1.50.3. Устойчивость к механическим воздействиям

2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ

2.1.    Показатели безотказности

2.1.1. Средняя наработка на отказ    Т0

(ГОСТ 27.002-83), ч (цикл)

2.1.2. Установленная безотказная на-    Ту работка (РД 50—650—87), ч (цикл)

ГОСТ 4.198-85 С. 5

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

2.2. Показатели долговечности

2.2.1. Полный средний срок службы

Тел

(ГОСТ 27.002-83), лет

2.2.2. Установленный срок службы

Тел у

(ГОСТ 27.003-83), лет 2.3. Показатель ремонтопригодности

2.3.1. Среднее время восстановления

работоспособного состояния (ГОСТ

Тв

27.003—83), ч

3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ,

Экономичность расхода материала

Экономичность энергопотребления

ЭНЕРГИИ

3.1.    Масса, кг

3.2.    Потребляемая мощность, В -А

4. ЭРГОНОМИЧЕСКИЕ ПОКАЗАТЕЛИ

4.1.    Показатель уровня шума    —

4.2.    Показатель уровня освещенности    —

4.3.    Показатель уровня температуры,    —

влажности

4.4.    Показатель уровня вибрации    —

4.5.    Уровень радиопомех

4.6.    Соответствие изделия силовым,    —

энергетическим возможностям человека

4.7.    Соответствие изделия слуховым и    —

зрительным возможностям человека

4.8.    Соответствие изделия закреплен-    —

ным и вновь формируемым навыкам человека

4.9.    Возможность восприятия и пере-    —

работки информации

4.10.    Соответствие изделия размерам    —

тела человека и его частей

4.11.    Соответствие изделия форме те-    —

ла человека и его отдельных частей

5. ЭСТЕТИЧЕСКИЕ ПОКАЗАТЕЛИ

5.1.    И н ф о р м а ц и о н н а я в ы р а-    —

зительность

5.1.1.    Соответствие современным эс-    —

тетическим представлениям

5.2.    Рациональность формы    —

5.2.1.    Функциональность

5.3.    Целостность компози-    —

ц и и

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

5.3.1. Уровень композиционного решения

5.4. Совершенство производственного исполнения (товарный вид)

6. ПОКАЗАТЕЛИ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ

(ГОСТ 14.205-83)

6.L Трудоемкость изготовления изделия, нормо-ч.

тИ

6.2. Технологическая себестоимость изделия, руб.

Ст

7. ПОКАЗАТЕЛИ ТРАНСПОРТАБЕЛЬНОСТИ

7.1. Температура транспортирования, °С

7.2. Верхнее значение относительной влажности при температуре, %

7.3. Транспортная тряска при частоте ударов в минуту

8. ПОКАЗАТЕЛИ СТАНДАРТИЗАЦИИ И УНИФИКАЦИИ

8.1. Коэффициент применяемости, %

Кир

8.2. Коэффициент повторяемости, %

Кп

9. ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ ПОКАЗАТЕЛИ

9.1. Показатель патентной защиты

П„ з

9.2. Показатель патентной чистоты

Я„.ч

10. ЭКОЛОГИЧЕСКИЙ ПОКАЗАТЕЛЬ

10.1. Мощность экспозиционной дозы рентгеновского излучения, А/кг

11. ПОКАЗАТЕЛИ БЕЗОПАСНОСТИ

11.1. Время срабатывания защиты, с

11 2. Электрическая прочность изоляции, кВ

1

11.3. Электрическое сопротивление изоляции, Ом

11 4. Наличие блокирующих устройств

115. Наличие аварийных сигнализаций, световой индикации

Примечания:

1.    Основные показатели качества набраны жирным шрифтом.

2.    Показатель 1.24 считать основным только при отсутствии встроенного све тового микроскопа.

ГОСТ 4.198-85 С. 7

1.2. Показатели качества аппаратов, приведенные в табл. 1, могут быть дополнены показателями, которые отражают особенности функционального назначения, области применения и др.

2. ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

2.1. Перечень основных показателей качества: дифрактометров общего назначения (прецизионных, средней точности, упрощенных): диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, установочная скорость угловых перемещений блока детектирования, оснащенносгь дополнительными устройствами, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных текстурных: диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, диапазон поворота по углу, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования монокристаллов: диапазон углового перемещения блока детектирования, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, угловая установка кристалла, погрешность угловой установки кристалла, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования реальной структуры кристаллов (на основе детекторов телевизионного типа): рабочая площадь входного окна детектора, линейное разрешение, контрастная чувствительность, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для определения макронапряжений: диапазон рабочих углов, среднее квадратическое отклонение от среднего значения измеряемых деформаций, осцил-лирование блока детектирования сцинтилляционного, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных малоугловых: диапазон рабочих углов, разрешение, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования в особых условиях (низкотемпературных, высокотемпературных): интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, погрешность регулирования заданной температуры, наличие автоматизации управления и обработки данных, наименьшее давление в рабочем объеме* установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгеновских для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом): удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки, нестабильность анодного напряжения и тока, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных многоканальных: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наличие сканирующего канала, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных сканирующих: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров бездифракционных с полупроводниковым детектором: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, спектральное разрешение (энергетическое), установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

анализаторов рентгеновских: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количес-

ГОСТ 4.198-85 С. 9

тво одновременно анализируемых элементов, скорость счета на

линии на контрольном образце, контрастность, предел обнаружения, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроскопов рентгеновских (с фоторегистрацией, анализаторов, рентгенотелевизионных): номинальная мощность рентгеновской трубки, увеличение, линейное разрешение, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгенолюминесцентных:    извлечение минерала,

производительность на классе крупности, выход материала на отсечку, класс крупности обрабатываемого материала, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроанализаторов рентгеновских: максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, линейное разрешение, диапазон анализируемых элементов, диапазон ускоряющих напряжений, наименьшее увеличение в растровом режиме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров рентгеноэлектронных: разрешение спектральное (энергетическое), воспроизводимость положения линии спектра, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров оже-электронных: отношение сигнал/шум, линейное разрешение, спектральное разрешение (энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов для исследований гонкой структуры рентгеновских спектров: диапазон исследуемого излучения, воспроизводимость положения линии спектра, спектральное разрешение (волновое, энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность.

2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции для рентгеноструктурной аппаратуры приве-