Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

19 страниц

396.00 ₽

Купить ГОСТ 21815.18-90 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Настоящий стандарт устанавливает метод измерения пространственной частотно-контрастной характеристики электронно-оптических преобразователей, предназначенных для применения в приборах видения

 Скачать PDF

Оглавление

1 Принцип измерения

2 Измерительная аппаратура

3 Подготовка и проведение измерения

4 Обработка результатов

5 Показатели точности измерения

Приложение 1 Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения

Приложение 2 Требования к диафрагме со щелью

Приложение 3 Требования к элементам схемы измерения

Приложение 4 Перечень средств измерения

Приложение 5 Методика определения поправочного коэффициента Кп

Приложение 6 Расчет погрешности

 
Дата введения01.01.1993
Добавлен в базу01.09.2013
Актуализация01.01.2021

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

29.12.1990УтвержденГосстандарт СССР3725

Image intensifier and image converter tubes. Modulation franster function

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ
ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ

МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ЧАСТОТНО-КОНТРАСТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

ГОСТ 21815.18-90

45 коп. БЗ 12—90/998


Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ Москва

УДК 621.383.8.083:006.354    Группа    329

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ

ГОСТ

21815.18—90

Метод измерения пространственной частотно-контрастной характеристики

Modulation transfer function

Image intensifier and image converter tubes.

окп 63 4m

Дата введения 01.01.93

Настоящий стандарт устанавливает метод измере'ния пространственной частотно-контрастной характеристики (далее — ЧКХ) электронно-оптических преобразователей (далее — ЭОП), предназначенных для применение в приборах видения.

Общие требования к проведению измерений и требования безопасности — по ГОСТ 21815.0, требования к источникам напряжения приемника излучения — по ГОСТ 11612.0.

Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в приложении 1 настоящего стандарта, в ГОСТ 16263 и ГОСТ 19803.

Требования настоящего стандарта являются обязательными.

1. ПРИНЦИП ИЗМЕРЕНИЯ

1.1.    Принцип измерения пространственной ЧКХ заключается в измерении коэффициента передачи контраста (далее — КПК) Тм к для ряда пространственных частот NK , приведенных к плоскости фотокатода испытуемого изделия, в диапазоне, который указывается в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

1.2.    Метод основан на гармоническом анализе функции рассеяния линии анализирующим растром с последующей регистра-

w    /    Amax Атш\

циеи модуляции сигнала 1-м—-т—А—    ,    представляющей    отноше-

\ лшахт^щщ/

ние амплитуды переменной составляющей распределения к среднему значению, т. е. к постоянной составляющей. Во время измерения значения постоянной составляющей должны быть неиз-

2 Зак. 462



Значение функции (0N ) на пространственной частоте #э— часляют по формуле

- 5т(Л/кД-я)

где А —ширина щели, приведенная к плоскости катода ЭОП, мм

(Д=а-Гвх оп).


вы-


(17)


Следовательно, в соответствии с формулой (15), на частоте N=NK ряемое значение КПК равно


; вых ,


изме-

(18)


Пользуясь формулами (16) я (16), можно получить искомое значение TN ЭОП


К 'Г 1


=TN -Кп,


(19)


ВХ • I вых •


N


"э *


■где Ка


Гвх -т -0„

1 К    э


’— поправочный коэффициент (20) установки на


частоте NK\

1

-— поправка, учитывающая погрешность, вносимую щелью при отступлении


1

ее размера Д от величины, равной Д= ‘ JojV7 ~ (практически но вносящей погрешность в метод измерения).


1. Методика определения К установки для измерения ЭОП с Гэ>0,81

1.1.    Для определения Кп установки используют измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, функциональная схема которой приведена на черт. 1.

1.2.    Входной блок с рабочей щелью (осветитель, входная оптика) н блок приемного устройства (анализирующий блок и регистрирующее устройство) сдвинуть навстречу друг другу до получения резкого ,изображения рабочей щели в плоскости анализирующего растра.

1.3.    Измерения КПК установки провести в соответствии с пп. 3.5—3.7, а обработку результатов — в соответствии с разд. 4 настоящего стандарта.

Полученное значение

стдг    •Т’вых.    =Nk.    (21)

к    к    э

1.4.    Измерение проводят не менее 9 раз. Среднее арифметическое значение TyCJN для каждой группы растра рассчитывают го формуле


ГОСТ 21815.18-90 С. И

где п—чис^о измерений; i—номер измерения.

1.В. Поправочный коэффициент Кп рассчитывают по формуле (20) с учетом расчета 0N по формуле (17) и TycjN по формуле (22).

к    к

1 — осветитель; 2 — диафрагма со щелью; 3 — входная оптика (микрообъектив в обратном ходе); 4 — выходной микрообъектив, 5 — выходной зрачок микрообъектива поз. 4\ 6 — анализирующий растр; 7 — коллектив; § — приемник излучения; 9 — регистрирующее устройство; 10 — микроскоп; А — анализирующий блок


7    2    3    4    5    6    7    8    9

Черт. 3

2. Методика определения Кп установки для измерения ЭОП с Г9<0»8

2.1. Для случая, когда эл е ктронно-оптическое увелздеяше испытуемого изделия Гэ <0,8, при измерении КПК ЭОП блок осветителя будет работать на

NK

частотах NKt а приемный блок — на частотах Ns~~г~~ -

1 э

В этом случае необходимо провезти раздельные измерения КПК блока осветителя и приемного блока, а поправочный коэффициент определять по формуле

поправочный коэффициент осветителя с ргбочей щелью;


Кп =


где


Т BV О

Ч WK


П1П1,    (23)

КП1= ~f-—поправочный коэффициент приемного блока.

ВЫЧ

2.2.    Измерения проводят поэтапно.

2 2.1. Провести измерения КПК по методике, указанной выше в полном диапазоне частот, и провести расчет по фсрмуле (22).

22.2.    В плоскость предиета выходною микрообъектива ввести вспомогательную щель

А    <-    РРП11П„_.

^всп^ 4 г    »

л вых.оп

где Ppmin^минимальный период растра анализирующего узла;

Рвых 0Г1—увеличение оптики анализирующего блока.

2 23 Рабочую щель вынуть

22 4 Провести намерения КПК выходного блока Измерения повторять не менее 9 раз.

22 5 Вычислить средние арифметические значения КПК для каждой группы растра по формуле


п

2 т'

I вы*Ы э


вых


N.


(24)


2 2 6 Искомое значение TBUxN вычислить по формуле


Ж


N..


О


(25)


N..


где



s 1 п(А/э Авсп я)

Л^э ^ВСП


— значение функции ОдгДля вспомогательной щели


^всп.

2 27 Поправочные коэффициенты Кп± и КП2 вычисляются соотвечствен но

по формулам


(ИХ


КпГ¥


уст^


О


N.


где Т'вых —рассчитывают по формуле (26),

__ Na

О дг —рассчитывают по формуле (17),


УСТдг


рассчитывают по формуле (22) I


*п.=


N


где ТBbaN —рассчитано по формуле (25)

2 2 8 Построить графики зависимости ХП1=/(ЛГК ) H*n2=/(JV9)


(26)


(27)


При расчете /Сп по формуле (23) значение /СП1 и Кп% берут из графиков, причем КП — на частотах NK , указанных в НТД на испытуемый тип


изделий, а К п


N

на частотах N3*= —

* э


где Гэ — электронно-оптическое уве-


личение испытуемого изделия


2 29 Основная приведенная погрешность при определении Кп не превышает 5 % при доверительной вероятности 0,95, закон распределения — нормальный


Примечание При определении Кп увеличение микрообъективов входного блока и выходного должно быть одинаковым (например для случая, когда Г э >^,81, 1 ОХ, а для случая, когда Гэ«0Д 2QX)



ПРИЛОЖЕНИЕ 6 Справочное


РАСЧЕТ ПОГРЕШНОСТИ

1. Формула вычисления коэффициента передачи контраста на заданной частоте NK по «веденной в плоскость катода 1июпытуе1мого ЭОП, по данным измерений имеет следующий вид


г* =


N.


к Tycr 0N


(28)


где Тм — измеряемое значение КПК;

к

Кп — поправочный коэффициент, учитывающий системат шескую по-грешность, вносимую измерительной установкой 2 Средняя квадратическая погрешность измерения КПК вычисляется по формуле


aTN = yKv yc+^i ст1/пф "+ л+°кп .


(29)


где 0цр >с—средняя квадратическая случайная погрешность приемного блока установки,

а^иф — сРеДняя квадратическая погрешность, обусловленная нестабильностью подфокусирующего напряжения ЭОП;

Кц—коэффициент влияния приращения подфокусирующего напряжения ЭОП на приращение отсчета п (Ки = 1), о 1д — средняя квадратическая погрешность, связанная с нестабильностью питания лампы;

ок N — средняя квадратическая погрешность при определении системати-

п к    ^

ческой ошибки установки Кп^к— “—^-] на частоте NK .


ТуСТ0^


2 1 Средняя квадратическая случайная погрешность приемного блока установки (приемник ФЭУ-84) составляет а11р ус =2,0 %

2 2 Среднюю квадратическую погрешность оц , обусловленную подфоку-си рующим напряжением ЭОП, вычислять по формуле

^пф^пр4    ’    (30)

где О// , <5 г г    , 0/; — СКО прибора контроля подфокусирующего    напряже-

лр ‘•'пульс t

ния, связанные с пульсациями и нестабильностью нап


ряжения.

6


«и. в


пр


и


1,5


1,73


1,73


=0,87 %,


где бj —основная погрешность прибора контроля подфокусирующего напряжения;

Оц— дополнительная средняя квадратическая погрешность прибора на краю интервала температур (25—30) °С.


6 ц -0,5 aU= 1,73


1,5 0,5 1,73


=0,43 %.


<*и


пульс



3


где еи п-максимальная величина пульсации

(в. „=0,1 %).


—0,033 96 » источников


питав ия изделий


2    /    еист в    , ( ®ИСТ С^2 Л

гист= [ 1,73    ) + IX4-J =0,42%,


вист — максимальное значение нестабильности подфокуоирующего напряжения (еист в — во времени — 1 % и еист с —по сети — 1 %). Подставляя полученные значения в формулу (30), получим

= 0,87*4 0,434 3 033?+0,422= 1,12 %.

пф

2 3 Среднюю квадратическую погрешность о> связанная с нестабильностью питания лампы, вычисляют по формуле


К\ (а.2 -\-а2    ),

Л с Л.В


(31)


где Кл — коэффициент влияния нестабильности источника питания лампы на отсчеты л и п0 (определен экспериментально Кл =6,5).

С,л с , а/л ь—средняя квадратическая погрешность нестабильности источника питания лампы при изменении напряжения сети на ±10 % и за время измерения соответственно


О/ —crt =

‘л с    ‘'л.в


л в    0,2

3- =    X    —0,067    %;


е1л с — 8^л в— максимальное значение нестабильности источника питания лампы. Подставив численные значения в формулу (ЭР), получим


с^=6,5*(0,067*4-0,067*)=0,38 %.


24 Определение погрешности о ^ дj .

2 4 1. Среднюю квадратическую погрешность о к N при определении сис-

п д г

тематической ошибки установки на частоте NK **—-—вых оп для изделий с Гэ > 0,81 вычисляют по формуле


°*п N-°lcr N + 4к2о N •


(32;


где сТуС1 yv —средняя квадратическая погрешность при определении КПК самой установки на частоте NK ,

Одг — средняя квадратическая погрешность при вычислении NK;

OpN    —средняя квадратическая погрешность за счет поправки на шири

ну рабочей щели dux установки.

2 4.2. Среднюю квадратическую погрешность аустдг при определении КПК

самой установки вычисляют по формуле


уст


N.. пр Ус^



(33)


ГД6 0рр,уст ^ %»

dлст — средняя квадратическая погрешность нестабильности источника питания лампы.

о\    =    о?    4    А    =2    0,0672=0,01    %.

^ЛСТ л с *л в

Подставив численные значения в фср,мулу (S3), получим

®ycTWK=222+0,01    =8,01%.

2.4.3 Среднюю квадратическую погрешность при вычислении NK опреде-ляют по формуле

+аГ +ар астр»    (34)

к вых оп э *    *


где аг -средняя квадратическая погрешность при определении оптическо-вых оп

го увеличения микро объект ива блока (вр =1,75 % для це-

вы\ оп

ны деления окулярного микрометра С= 0,03103 мм);

Ор —средняя квадратическая погрешность при измерении электрояно-

оптического увеличения (сгг =1,5 % по ГОСТ 21815.10);

1 э

0растр— средняя квадратическая погрешность при измерении периода растра Р.

1 АР    АР

арастр— "з—р~ 400 % -р- =0,025 для любого периода растра в соответствии с ОСТ 3.4804.

0,025

Орастр^ з * 100=0,83 % .

Подставляя числе я яые значения в формулу (33), голучим а% =1,752-Ь1,52+0,832 =6,0 %.


2 4.4. Поправку за ширину рабочей щели (^щ) установки вычисляют по фор


муле


°N.=


sin(n ЛГк-<УГвхоп) n-NK-d.M-rBX оп


(35)


Среднюю квадратическую погрешность за счет поправки па ширину рабочей щели (а—    )    вычисляют по формуле


=(xclgx~l)t/r 2а%+2о§ +2аг

N    f    к    Щ    е


(36>


где x—n-NK.dui -Гвх оп

aN =2,45 % в соответствии с формулой (34);

сг^щ — средняя квадратическая г о грешность при измерении рабочей щели сУйГщ=1 % (измерительный компаратор ИЗА-2);



Г -средняя квадратическая по греши эсть при определении оптического

вх оп

увеличения микро объектива осветителя;

<sr =1,75 % (для микроскопа с 1 ОХ микро объективом и окуляром вх оп

MOB-1—16Х с детой деления 0,00103 мм).


Для <*щ=0,1 мм, NK—16 мм 1 , Гвх оп =0,1Х


ады =0,1    2-6+2• 12+2• 1,752 =0,1 |/20,125-0,45 % .

Подставив численные значения в формулу (32), получим

4 Л, =8 0,1+6,0 +0,452=14,2 %;

чп iVK

ок ы ~3,8 % .

Чп 'VK

2 4.5 Погрешность <у к N для изделий с Гэ<0,% определяют по формуле

% *к=уст N+°N+a\ N    +°счит >    (37)

к ” э

где    -средняя квадратическая псгрешность за счет поправки на

0 N3

ширину вспомогательной щели А Всп при определении КПК приемного блока; смочит — погрешность считывания с графика значений КП1 и КПг составляют 1,0 % (определено экспериментально); ovrTA/ , од; , a— —в соответствии с пп. 2.4 2, 2.4.3, 2.4.4.

' к 'к Одг

к

2.4 5. Попразку за ширину echoмогательной щели АВсп при определении КПК приемного блока вычисляют по формуле


' _ sin(K N3 ДВсп)

°N~


я Ai


(38)


Среднюю квадратическую погрешность за счет поправки на ширину вспомогательной щели (о—,    )    вычисляют    по    формуле

о дгэ


a-^=(xctg(x-l)) |/2a^+2a^


pen


(39)


где х=я-ЛГэДвсп;


aN —средняя квадратическая погрешность при вычислений


N*=


4 =ОрастР+ 4    =0.832 1-1,752 =2,58 % ;

э F    ПЫХ    оп

0Д —средняя квадратическая погрешность при измерении вспомогатель-

всп

ной щели АВСп (измерительный компаратор ИЗА-2);

0Д =1 %.

всп

Для А всп =0,015 мм, N3= 16 мм-1


ГОСТ 21815.18-90 С. 17

o-n =С,2 1^2-2,58+2 12=0,54 %.

Подставив численные значения в формулу (317), получим

oi м =2-8,01 -6,0 |-0,452+0,512+12=.23,5 %;

N “4,8%.

ti к

3. Среднюю квадратическую погрешность измерения коэффициента передачи контраста вычисляют по формуле (29), подставляя численные значения.

Для изделий с Гэ<0,8

ат = уг2,2а+1,12а+0,382 +4,82=^32,4=5,7 % .

Суммарная погрешность измерения для частоты, не превышающей 1€ мм-1, с вероятностью 0,95 находится в 'интервале

Ьт =-t-1,96а т =±1 ,96-5,7=±11,2 % .

Ч Ч

Для изделий с Гэ<0,81

лл.


от * V2 22+1,122+0,383-|-3,8s—4,9 % .

=±1,96 4,9= ± 9,6 % ,

Закон распределения — нормальный.

С 18 ГОСТ 21815.18-90

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1.    РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством электронной промышленности СССР

РАЗРАБОТЧИКИ

С. Н. Крестинин (руководитель темы); С. А. Муравлева; М. В. Ненашева; А. В. Смазнов

2.    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 29.12.90 № 3725

3.    Срок первой проверки — 3 квартал 1997 г.

Периодичность проверки — 5 лет

4.    Взамен ОСТ ВЗ—4119—78

5. Ссылочные нормативно-технические документы

Об значение Н1Д, на который дала

ссылка

Н iM^p пункта

ГОСТ 7721-89

аз

ГОСТ 11612.0-81

Вводная чгсть

ГОСТ 16263-70

Вводная чгсть

ГОСТ 1G8C3—86

Вводная чгсть

ГОСТ 21815.0-8S

Вводная чгсть, 2.2, 2 9

ГОСТ 218-15 10 -86

4.1

Редактор Р. Г. Говердовская Технический редактор Л. Я. Митрофанова Корректор Е. Ю. Гебрук

Гдчио в иаб 97.02.91 Подп. в печ. 24.05,91 1,25 уел. п. л. 1,25 уел. кр.-отт. 1,10 уч-изт л.

Т, раж ЗСЭ0 Цена 45 к.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, ГСП, Новопресненский пер., 3 Калужская типография стандартов, ул. Московская, 236. Зак 462

С. 2 ГОСТ 21815.18-90

менны, тогда измеренные амплитуды будут пропорциональ* ны КПК, а КПК для каждого значения пространственной частоты NK , приведенной к фотокатоду ЭОП, вычисляют по формуле

7\. _ ^max An in    /1\

1 N А I А У    V1/

к лшахтлтт

где А тах —максимальное значение полезного сигнала;
А т|п —минимальное значение полезного сигнала.

Примечания:

1* Гармонический анализ позволяет использовать:

сканирование изображения щели растром переменной плотности или переменной площади с с 1 нусоидальным законом пропускания в направлении сканирования;

сканирование изображения щели растром с прямоугольной формой волны с последующим выделением основной гармоники сигнала путем электро иной фильтрации;

сканирование изображения полуплоскости узкой щелью с представлением результатов в виде ЧКХ

Все указанные методы должны удовлетворять требованиям по погрешности измерений, указанным в настоящем стандарте.

2. Допускается сканирование растром с прямоугольной формой волны без выделения основной гармоники сигната. В этом случае произведенные измерения следует квалифицировать, как с пределение КПК по растру с прямоугольной формой волны (ТN с указанием в стандартах или технических уело-

К

виях на ЭОП конкретного типа).

2. ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА

2.1. Для измерения КПК ЭОП следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, в соответствии с черт. 1.

12    3    4    5    6    7    8    9    Ю    11

I — осветитель; 2 — диафрагма со щелью; 3 — входная оптика (микрообъектив в обратном ходе); 4 — ЭОП; 5 — держатель ЭОП; 6 — выходной микрообъектив; 7 — выходной зрачок микрообъектива поз, 6; 8 — анализирующий растр; 9 — коллектив; 10 — при-емник излучения, 11 — регистрирующее устройство; 12 — микроскоп; ФК — фотокатод; Э — экран; А — анализирующий блок

Черт. 1

ГОСТ 21815.18-90 С. 3

2.2.    Осветитель с нормируемым по ГОСТ 21815.0 спектральным составом должен обеспечивать равномерную яркость (неравномерность не более ±1 %) рабочей щели ,и совместно с входной оптикой создавать предельно допустимую освещенность в плоскости входа ЭОП, допускаемую стандартом или техническими условиями на ЭОП конкретного типа.

Максимальная погрешность установления освещенности не должна превышать 15 %, закон распределения нормальный.

Примечание. Допускается применение осветителя с ненормированным спектральным составом излучения. При этом в эксплуатационной документации на осветитель должна быть приведена методика определения указанной освещенности с погреши эстью, не превышающей значений п 2.2.

2.3.    Диафрагма со щелью должна быть установлена на оптической оси установки в плоскости предмета входного объектива, и удовлетворять требованиям, изложенным в приложении 2.

2.4.    Типы входного и выходного микрообъективов, их апертуры и увеличение указывают в стандартах или технических условиях на конкретные типы ЭОП.

2.5.    Держатель ЭОП должен обеспечивать надежное крепление ЭОП и обеспечивать возможность измерения ЧКХ в точках фотокатода испытуемого ЭОП, заданных в стандарте или в технических условиях.

2.6.    Анализирующий растр должен быть установлен в плоскости изображения выходного объектива. Контраст растра должен быть абсолютным, т. е. равен 1. Светопропускание растра допускается с синусоидальной и прямоугольной формой волны. Высота растра не должна превышать изображение щели в его плоскости. Остальные требования — в приложении 3.

2.7.    Коллектив располагается на оптической оси выходного микрообъектива и должен проектировать выходной зрачок микрообъектива в плоскость светочувствительной площадки приемника излучения Геометрические размеры должны удовлетворять требованиям приложения 3.

2.8.    Регистрирующее устройство должно обеспечивать удобную индикацию электрических сигналов (амплитудные значенья), прц необходимости, с последующим усилением и дополнительной электронной обработкой. Средняя квадратическая случайная погрешность регистрирующего устройства не должна превышать 2 %, доверительная вероятность Р = 0,95, закон распределения — нормальный.

2.9.    Выбор элементов схемы (микрообъективов, приемников излучения, регистрирующего устройства) проводят согласно приложению 3, ГОСТ 21815.0 и приложению 4 настоящего стандарта*

С. 4 ГОСТ 21815.18-90

3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

3.1.    Испытуемый ЭОП устанавливают в держателе в положении, указанном в документации на данный тип ЭОП, соединяют с источником питания (участок фотокатода для измерения ЧКХ указывается в ТУ на ЭОП).

3.2.    На ЭОП подают номинальное напряжение, указанное в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

3.3.    Лампе накаливания задают режим, соответствующий источнику света с цветовой температурой 2856 К по ГОСТ 7721.

3.4.    С помощью осветителя обеспечивают яркость щели или освещенность ее изображения на фотокатоде, не превышающую максимальной рабочей освещенности £шах для ЭОП конкретного типа (в соответствии с ТУ).

3.5.    Наблюдая в микроскоп, находящийся на оптической оси выходного объектива и сфокусированный на растр, производят необходимые предварительные фокусировки:

изображения щели на входе ЭОП;

изображения щели с выхода ЭОП в плоскость анализирующего растра.

Изображение щели (его средняя часть) должна перекрывать по высоте размер растра.

Окончательный контроль фокусировок — по максимальной величине сигнала.

3.6.    Для регистрации сигналов от изображения щели, промо Аудированного растром, на оптическую ось выходного объектива за растром вводят коллектив, изображающий выходной зрачок выходного микрообъектива на рабочую площадку приемника излучения, подключенного к регистрирующему устройству.

3.7.    Проводят регистрацию сигналов во всем диапазоне частот растра, сканируя им изображение щели с экрана испытуемого ЭОП. Для повышения точности измерения проводят не менее 5 раз.

3.8.    Для определения нулевого отсчета Л0 проводят регистрацию сигнала при работе испытуемого ЭОП без световой нагрузки на катод (учет темнового фона и посторонних засветок). Полученное значение сигнала принимают за нулевой отсчет Л0.

3.9.    Измерение КПК и нулевого отсчета Л0 проводят в темноте.

4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

4.1. Коэффициент передачи контраста Ты испытуемого ЭОП для каждой частоты NK, приведенной к плоскости фотокатода испытуемого ЭОП, вычисляют по формуле


Ты =


Hmin


Ащах+Am vn 24 0


*/Сп,


(2]


где Атах — максимальное значение сигнала, соответствующее совмещению центра прозрачного штриха растра в середине элемента каждой группы с изображением ццик;

-Лmm — минимальное значение сигнала, соответствующее совмещению центра непрозрачного штриха в середине элемента каждой группы с изображением щели;

Л о — значение нулевого отсчета;

К л — поправочный коэффициент, учитывающий систематическую погрешность, вносимую измерительной установкой.

Поправочный коэффициент Кп определяют для каждого конкретного варианта входной и выходной оптики для каждого типа измеряемых ЭОП.

Определение поправочного коэффициента Кп проводят по методике, указанной в приложении 5, и результат заносят в формуляр измерительной установки.

Пространственную частоту (iVK), мм-1, — рассчитывают по формуле


Гъ-Гт


(3)


где Гэ —электронно-оптическое увеличение испытуемого ЭОП, измеренное по ГОСТ 21815.10;

Гвь-х оп *—увеличение выходного микрообъектива (указывают в ТУ на изделие конкретного типа);

Р — период растра анализирующего блока, мм (указывают в формуляре измерительной установки).

4.2.    Строят график зависимости значений КПК от частоты NKiT~f(NK ), представляющий собой частотно-контрастную характеристику ЭОП.

4.3.    С графика ЧКХ снимают значения Tn для заданных частот по НТД на испытуемое изделие.


5. ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ

5.1. При соблюдении требований настоящего стандарта суммарная погрешность измерения КПК ЭОП для частоты, не превышающей 16 шт./мм, с вероятностью 0,95 находится в интервале

±10 % — Для изделий с Гэ >0,81;

±12 % — для изделий с Гэ -<0,80.

Закон распределения — нормальный.

Расчет погрешности приведен в приложении 6.


С. 6 ГОСТ 21815.18-90

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Справочное

Термин

Буквенное

обозначение

Определение

Анализирующий растр

Испытательный элемент с известными формой, размерами и размещением темных и светлых участков, •лх пропусканием, плотностью Величина, обратная расстоянию между последовательными максимумами в распределении растра

Пространственная частота растра

N

Пространственная частота, приведенная к фотока-году ЭОП

нл

Пространственная частота растра, пересчитанная в плоскость фотокатода ЭОП с учетом увеличения элементов схемы

Пространственная частота, приведенная к экрану ЭОП

N э

Пространственная частота растра, пересчитанная в плоскость экрана ЭОП, с учетом увеличения элементов схемы

Функция рассеяния линии

Цх)

Распределение интенсивности света в изображении бесконечно тонкой светящейся линии

Оптическая передаточная ф>нкция

G(cо)

Норма лизова иное фурье-преобразование функции рассеяния линии


ТЕРМИНЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ В НАСТОЯЩЕМ СТАНДАРТЕ, И ИХ ПОЯСНЕНИЯ

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Рекомендуемое

ТРЕБОВАНИЯ К ДИАФРАГМЕ СО ЩЕЛЬЮ

(4)

(5)

Диафрагма представляет собой непрозрачную пластину с окном прямоугольной формы щелью в соответствии с черт. 2. Отношение коэффициента пропускания, соответственно, щели (Тщ) и непрозрачного поля диафрагмы (т ) должно удовлетворять условию

>200.

Ширину щели (а) определяют из условия

а<

1_

шах * ^вх .оп

где Л^кгаах—максимальное значение пространственной частоты на катоде испытуемого ЭОП в диапазоне частот, указанных в документации на ЭОП конкретного типа, мм-1;

ГОСТ 21815.18-90 С 7

Гвх on — увеличение входной оптики

Рабочую высоту щели {йр) в миллиметрах определяют из условия

(6)

h_    "р

lP~ г ,r_ r 9

1 ВЫХ ОП * Э * вх оп

где Ир —высота элемента анализирующего растра,

7'*вых ой ” увеличение выходной оптики,

Гэ — электронное увеличение испытуемого ЭОП Полная высота щели (Я) должна удовлетворять условию


Я>1,1ЯР,

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Рекомендуемое

ТРЕБОВАНИЯ К ЭЛЕМЕНТАМ СХЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ

1 Длина элемента /р анализирующего растра должна удовлетворять требованию

/р>3 ГВЬ1Х оп Г9>    (7)

где б—ширина функции рассеяния линии ЭОП, приведенная к плоскости катода,, в пределах которой содержится не менее 99 % энергии светящейся щели;

иых оп —увеличение выходной оптики,

Гэ — электронно оптическое увеличение ЭОП

Значение б — функция рассеяния линии, в пределах которой сосредоточено R 100 %-ной энергии светящейся линии, определяется распределением энергии в изображении линии, выражаемая Гауссовской функцией

Цх)=е'ьг .    (8)

где х — приведено к плоскости катэда ЭОП.

В этом случае

С. 8 ГОСТ 21815.18-90

ь

*=— -**

(9)

}    e46‘    dx

_у 2

С/'t    л

f e4b‘ dx

Интеграл в числителе

-1*

е 2 dt — интеграл

Интеграл в знаменателе формулы (9) равен ~V~nb .

^ 1 ^ формулы (9) равен 2b У" п Ф0(х), где Ф0(*)= ~Г7~ Г

V 2п о

вероятности.

Решая формулу (9), получим

R~ 2Ф0(х).    (10)

R

Найдя по значению функции Ф0(л:) = —значение аргумента х (по таблицам интеграла вероятности), определяют (б) из соотношения

б=*2 /2~Ь9    (11)

где Ъ — параметр, характеризующий степень размытия изображения точки ЭОП.

Параметр (Ь) может быть приб/ изительно определен по известие му значению предела разрешения ЭОП JVnp

-- О.ЭОЗ^пр 5,75— р р

(12)

_1 э J ок

м2

1 пр

где IVпр — предел разрешения ЭОП;

Г9 > Гок — электронно-оптическое увеличение ЭОП н увеличение окуляра при измерении Nnp соответственно.

Так например, если Nnp =30 мм-i, Гэ=1, Гок = 15х, то Ь = 0,СЕб [по формуле 12) и 6=0,3 мм (л о формуле 11)

2    Прозрачность светлых участков растра должна быть 0,05, плотность непрозрачного слоя <3

3    Линзйное поле зрения (2 Г) выходного микро объектива должно удовлетворять услэваю

21'>ун1+1\ ,    (13)

где Яр —высота элемента анализирующего растра;

1р — длина элемента анализирующего растра,

4. Световой диаметр коллектива (D ) должен быть не менее линейного

поля зрения выходного микрообъектива.

(14)

£>св= }/" -Ир •

ГОСТ 21815.18-90 С. 9

ПРИЛОЖЕНИЕ 4 Рекомендуемое

ПЕРЕЧЕНЬ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЯ

Приемник излучения    —    ФЭУ—84 OP3.25S.044 ТУ чувствительность фо

Бьз стродей ствующ ий    са

мопишущий прибор

Микрообъект и вы

токатода не менее 130 мкА/лм; анодная чувст-вителыпсть не менее 100 А/л»м; тшновой ток не боле г 3-10—8 А

—    Н328 ТУ 25—04—236 3—74 постоянные регистрации: 0,02; 0,05 В/см; частотный диапазон

0-1С0 Гц

—    по РМО 912—68 ОМ-12 увеличение 3,7Х, апер

тура 0,11; М-42 увеличение К)Х, апертура 0,2; ОМ-5 увеличение 10Х, апертура 0,3;    ОМ-27

Окуляры Гюйгенса Установка для измерений частотно-контрастных характеристик (ЧКХ) ЭОП

увеличение 2ОХ, апертура 0,4; ОМ-16 увеличение 40Х, апертура 0,95, ОХ-14 фокусное расстояние 13,9 мм

—    AM & увеличение 4Х; АМ-11 увеличение 7Х

—    К 03 421 ТУ диапазон пространственных частот миры от Л^0,С6 до 2,0 мм-1; длина измеряемых ЭОП от £0 мм до 36 0 мм; ширина рабочей щели ОД мм; освещенность на входе испытуемого ЭОП от 5 10-4 лк до 52 лк.

ПРИЛОЖЕНИЕ 5 Обязательное

МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОПРАВОЧНОГО КОЭФФИЦИЕНТА Кп

Из теории спектров известно, что спектр сигнала на выходе системы I N связан со спектром входного сигнала 0N соотношением

=fn '°n *    (15)

где 0N — спектр < игнала на входе системы;

Fn—частотнэ-контрастная характеристика системы в целом.

На установке, функциональная схема которой показана на черт. 1, измеряемая величина T*N представляет значение функции xN на частоте М=МК. Значение функции на пространственной частоте N=NK равно

XN~ТвХМ -Ч*ГвЬ^ •

к    к    „9

где Т вхл/ — коэффициент передачи коЕгграста входной оптики; к

Т N — коэффициент передачи контраста ЭОП;

* к

Т BbixN —коэффициент передачи контраста выходного блока.