УДК 621.383.8.083.86 Группа 329
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ
Метод измерения электронно-оптического увеличения
Взамен ГОСТ 2181S—78 в части л. 4.11
Image intensifier and image converter tubes Method of measuring the electron optic magnification
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 26 сентября 1986 г. № 2908 срок действия установлен
с 01.01.88 до 01.01.93
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения электронно-оптического увеличения электронно-оптических преобразователей (ЭОП), предназначенных для применения в приборах видения.
Общие требования к проведению измерений и требования безопасности по ГОСТ 21815.0-86.
1. ПРИНЦИП ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Принцип измерения электронно-оптического увеличения состоит в определении отношения диаметра изображения окружности на экране к размеру диаметра окружности на фотокатоде ЭОП.
2. ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА
2.1. Для измерения электронно-оптического увеличения следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, функциональная схема которой приведена на чертеже.
2.2. Элементы схемы должны удовлетворять следующим требованиям: микроскоп должен иметь окулярную сетку со шкалой,
rOCT2iei$.10—«6 Стр. 2
цена деления которой, приведенная к плоскости экрана ЭОП, не более 0,05 мм, увеличение не менее 10х.
При измерении увеличения на краю рабочего поля ЭОП допускается использование микроскопа с увеличением не менее 5х.
Микроскоп устанавливают на основание, имеющее горизонтальное (поперечное и осевое) и вертикальное плавные микрометрические перемещения и отсчетные шкалы.
/—источник света. 2~светозащитная диафрагма; 5—диафрагма с калиброванным отверстием; 4—ЭОП; 5—микроскоп; 6— фотокатод; 7—держатель ЭОП; 8—экран
Для измерения увеличения используют также проекционную систему, состоящую из коллимационного объектива, в фокусе которого располагается сетка с окружностью соответствующего диаметра или диафрагма с калиброванным отверстием.
Диаметры изображений проектируемой окружности сетки или калиброванного отверстия диафрагмы указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
3. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ
3.1. Испытуемый ЭОП устанавливают в держатель и соединяют с источником питания.
3.2. На ЭОП подают напряжения, указанные в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
3.3. На минимальном расстоянии от входа ЭОП, допускаемом конструкцией ЭОП и измерительной аппаратурой, устанавливают диафрагму с калиброванным отверстием. Диаметр калиброванного отверстия указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа. Центр калиброванного отверстия диафрагмы должен быть совмещен с центром базовой поверхности фотокатодного узла. Точность совмещения центров указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
Примечание. При использовании проекционной системы проводят фокусировку и центрировку изображения окружности на фотокатоде испытуемого ЭОП.
51
3.4. Для исключения влияния на результаты измерений параллакса между плоскостью диафрагмы и плоскостью фотокатода и влияния размытия изображения за счет конечных размеров тела накала лампы необходимо, чтобы расстояние L между телом накала или апертурной диафрагмой осветителя и диафрагмой с калиброванным отверстием удовлетворяло условию
L> (Ца")/к 100> О)
'.о
где d — диаметр калиброванного отверстия диафрагмы, мм;
ан—максимальный поперечный размер тела накала лампы или апертурной диафрагмы осветителя, мм;
&гд0—составляющая погрешности в определении электроннооптического увеличения, связанная с размытием изображения калиброванного отверстия на фотокатоде и с параллаксом между плоскостью калиброванного отверстия диафрагмы и фото катодом (устанавливают равной 2 %);
1К —расстояние между диафрагмой с калиброванным отверстием и плоскостью фотокатода, мм
» (1а)
h— расстояние между диафрагмой и катодным стеклом, мм;
Ас — толщина катодного стекла, мм;
п\ — показатель преломления катодного стекла.
3.5. В схеме (см. чертеж) для освещения калиброванного отверстия диафрагмы допускается применять источник света с коллимационным объективом. Фокусное расстояние коллимационного объектива должно удовлетворять условию
/кол>^-100. (2)
Гзо
4. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ
4.1. На фотокатоде ЭОП устанавливают освещенность, обеспечивающую яркость экрана, достаточную для уверенных наблюдений, если иная не указана в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
4.2. Микроскопом измеряют диаметры изображения калиброванного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на экране в направлениях, указанных в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
52
IUVI 4101». 1W
5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1. Электронна-оптическое увеличение (Гэо ) для каждого из направлений вычисляют по формуле
Г>0=Цг, (3)
где d3 —диаметр изображения калиброванного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на экране ЭОП, мм;
d — диаметр калиброванного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на фотокатоде испытуемого ЭОП, мм.
5.2. Суммарная относительная погрешность измерения электронно-оптического увеличения (е/-80) при соблюдении требований настоящего стандарта для отношения d/Dp >0,05, где Dp — рабочий диаметр фотокатода, при доверительной вероятности Р=0,95 не более:
3.0 % — Для стеклянных ЭОП;
2.0 % — для ЭОП с волоконно-оптическим входом и выходом.
53
