ГОСУДАРСТВЕННЫЕ СТАНДАРТЫ СОЮЗА ССР
ФОТОЭЛЕМЕНТЫ
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ
Издание официальное
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СТАНДАРТОВ СОВЕТА МИНИСТРОВ СССР
Москва
Шг <УзП,о~1* зла.
алоЛ.имиы-' Aotcyv сшf СЩ> т> 16.0£, // л/ МДо ‘‘е^чи
"Шму 0^ 0lot зо, W *у 3' /W/
©Издательство стандартов, 1976
УДК 621.383.2.083(083.74) Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ФОТОЭЛЕМЕНТЫ
Методы измерения параметров
Общие положения
Photocells. Methods of characteristics measurements. General considerations
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 2 декабря 1975 г. Ns 3747 срок действия установлен
с 01.01.79 до 01.01.84
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает общие положения для стандартов на метод измерения следующих параметров: световой чувствительности; нестабильности; темнового тока; сопротивления изоляции;
неравномерности чувствительности по фотокатоду; предела линейности световой характеристики в непрерывном режиме;
предела линейности световой характеристики в импульсном режиме.
1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Измерение электрических и светотехнических параметров фотоэлементов следует производить в нормальных климатических условиях по ГОСТ 16962-71, если иное не установлено в стандартах на фотоэлементы конкретных типов1 (далее—стандартах).
1.2. Измерение электрических и светотехнических параметров фотоэлементов следует производить в режимах, установленных в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
Стр. 2 ГОСТ 21316.0-75
1.3. Параметры фотоэлементов измеряют в светонепроницаемой камере»
1.4. При измерении световой чувствительности, нестабильности, темнового тока, сопротивления изоляции, неравномерности чувствительности по фотокатоду, предела линейности световой характеристики в непрерывном и импульсном режиме необходимо облучать всю рабочую поверхность входного окна фотоэлемента.
Поверхность входного окЬа фотоэлемента должна быть расположена под углом 90±3° к направлению падения излучения, если иное не оговорено в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
1.5. Перед измерением параметров фотоэлементы должны быть выдержаны в течение времени и в условиях, указанных в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
2. АППАРАТУРА
2.1. С в етон еп р о н и ц а е м а я камера
2.1.1. Светонепроницаемая камера должна обеспечивать полную защиту фотоэлементов от внешних источников излучения, а также от воздействия магнитных, электрических полей и проникающей радиации в том случае, если они превышают естественный фон.
2.1.2. Светонепроницаемая камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы (испытательной установки).
2.1.3. В качестве изоляционного материала для проводных изоляторов не следует применять фторопласт и другие материалы с большим коэффициентом пропускания без специальной свето-защиты.
2.1.4. Конструкция камеры должна исключать появление отражений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.
2.2. Источники излучения
2.2.1. При измерении параметров фотоэлементов следует применять источники излучения, указанные в стандартах на методы измерения конкретных параметров.
2.3. И сточн и к и питания фотоэлементов
2.3.1. В качестве источников питания фотоэлементов должны применяться источники постоянного напряжения с нестабильностью выходного напряжения не более 1% при изменении напряжения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение времени, необходимом для проведения измерения, не более 1%.
Напряжение на выходе источника питания должно регулироваться в пределах, необходимых для измерения конкретного пара метра фотоэлемента.
4
ГОСТ 21316.0-75 Стр. 3
2.3.2. В случае применения маломощных источников питания при измерении параметров фотоэлементов, работающих в импульсном режиме, параллельно источнику питания должен быть включен накопительный конденсатор, емкость С в фарадах которого определяется из соотношения
/а 4<CU,
где /а — амплитуда импульса тока, А; ти — длительность импульса, с;
U — допустимое изменение напряжения питания за время дей* ствия импульса, В.
Значение допустимого изменения напряжения питания должно быть указано в стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
2.3.3. Падение напряжения на элементах защиты, включаемых в цепь фотоэлемента не должно превышать 1% заданного напряжения питания.
2.4. Источи ики питания источника излучения
2.4.1. В качестве источников питания источника излучения должны применяться источники постоянного или переменного напряжения.
Нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ,±10% и в течение времени, необходимого для проведения измерения, должна быть не более 0,2% —для питания светоизмерительных ламп накаливания и не более 0,5%—для питания остальных источников излучения.
2.5. И з м е р и т е л ьн ы е приборы
2.5.1. Напряжение питания фотоэлементов следует контролировать прибором класса не ниже 1,0.
2.5.2. Измерение токов до 10~7 А должно выполняться приборами класса не ниже 1,5, а токов менее 10 7 А—электрическими усилителями, электрометрами и гальванометрами, приведенная погрешность которых не более 10%.
Предел измерения прибора должен выбираться таким, чтобы при измерении тока использовались последние 2/з шкалы, если иное не указано в стандартах на методы измерения конкретных параметров.
2.5.3. Режим работы источников излучения следует контроли-эовать приборами класса не ниже 0,2 — для светоизмерительных [амп накаливания и класса не ниже 0,5 — для остальных источ-шков излучения.
3. ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ
3.1. Светонепроницаемая камера с фотоэлементом должна быть борудована блокировкой, исключающей возможность прикосно-гния оператора к токопроводящим частям, а также сигнализа-
5
Стр. 4 ГОСТ 21316.0-75
цией о включении высокого напряжения.
3.2. Металлические корпуса измерительных приборов должны иметь надежное соединение с шиной заземления испытательной установки.
3.3. Включение и отключение оборудования должны производиться с помощью выключателей, размещенных на пультах и панелях управления, и штепсельных разъемов.
3.4. Приборы переносного типа размещают на рабочем столе, полках или выдвижных столиках оборудования.
Осциллографы и другие аналогичные приборы размещают на специальных тележках, рабочем столе, стеллажах или нишах оборудования.
До включения в электрическую сеть необходимо заземлить (за-нулить) металлические корпуса переносных измерительных приборов.
3.5. Персоналу, осуществляющему управление радиоэлектронным оборудованием в процессе измерения параметров фотоэлементов разрешается:
а) постановка (снятие) фотоэлемента на место измерения в светонепроницаемую камеру;
б) соединение (отсоединение) фотоэлемента с электрической частью испытательной установки;
в) выполнение вспомогательных операций, необходимых для проведения измерений;
г) включение и отключение оборудования и манипуляции органами управления на наружных панелях и пультах испытательных установок и измерительных приборов.
Выполнение операций по подпунктам а, б, в должно производиться при выключенном высоком напряжении.
Изменение 1 ГОСТ 21316.0-75 Фотоэлементы- Методы измерения парамет-ров. Общие положения
Постановлением Государственного комитета СССР 1,0 стандартам от 02.12.83 J* 5679 срок введения установлен
с 01.05.84
Наименование стандарта изложить в нор°й редакции: «Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров»
(Продолжение см стр. 66) (Продолжение изменения к ГОСТ 21316 0--75)
Photocells. General requirements for characteristics measurements».
Пункт U. Заменить ссылку: ГОСТ 16932-71 на ГОСТ 20.57.05—$ 1. Пункт 1.4. Исключить слова: «темнового тока, сопротивления изоляции неравномерности чувствительности по фотокатоду».
Пункт 2.1 3. Заменить слово: «проводных» на «проходных»
(ИУС № 3 1984 г.)
1
Здесь и далее при отсутствии стандартов на фотоэлементы конкретных типов, нормы, режимы и требования указываются в технической документации, утвержденной в установленном порядке.
