Изменение № 4 ГОСТ 20.57.406-81 Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 25.04.86 № 1096 срок введения установлен
с 01.01,87
На обложке и первой странице под обозначением стандарта указать обозначения: (СТ СЭВ 5121—85, СТ СЭВ 5244—85); заменить ссылку: СТ СЭВ 781—72 на СТ СЭВ 781—77.
Вводную часть после слов «в части методов испытаний на ВВФ» дополнить словами: «СТ СЭВ 5121—85 н СТ СЭВ 5244—85 в части методов испытаний на ВВФ изделий электронной техники».
(Продолжение см. с. 234)
(Продолжение изменения к ГОСТ 20.57.406-81)
Пункт 2.21.4. Заменить значение: «минус (20±5) °С* на «минус (25±3) °С*. Пункт 2.25.5. Заменить значение: ±0,2 кгс/см2 на ±20 кПа (±0,2 кгс/см2). Приложение 26. Таблицу дополнить методами испытаний:
|
ГОСТ 20.S7.405 -81 |
Стандарты СЭВ |
|
Методы испытаний |
Номера
мето
дов |
Методы испытаний |
Номера
методов |
Обозначение СТ СЭВ |
|
Испытание на воздействие инея и росы Испытание на воздействие повышенного давления |
206-1
210—1 |
Испытание на воздействие инея и росы
Испытание на воздействие повышенного давления газов |
2100.1
2071.1 |
СТ СЭВ 5121—85 СТ СЭВ 5244—85 |
|
|
(МУС № 8 1986 г.) |
