Изменение № 3 ГОСТ 12228.1-78 Рутений. Метод спектрального анализа Принято Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол № 10 от 04.10.96)
Зарегистрировано Техническим секретариатом МГС № 2252
Дата введения 1997—09—01
За принятие проголосовали:
|
Наименование государства |
Наименование националы!ого органа стандартизации |
|
Азербайджанская Республика |
Азгосстандарт |
|
Республика Белоруссия |
Белстандарт |
|
Республика Казахстан |
Госстандарт Республики Казахстан |
|
Республика Молдова |
Молдовастандарт |
|
Российская Федерация |
Госстандарт России |
|
Республика Таджикистан |
Таджикский государственный центр по стандартизации, метрологии и сертификации |
|
Туркменистан |
Туркменглавгосинспекция |
|
Республика Узбекистан |
Узгосстандарт |
(Продолжение см. с. 18)
Вводная часть. Первый абзац после слова «свинца» дополнить словами: «титана, осмия, олова»;
второй абзац. Заменить слова: «переменного тока» на «переменного и постоянного токов».
Раздел 2. Второй абзац. Заменить слова: «переменного тока» на «переменного и постоянного токов»;
одиннадцатый абзац изложить в новой редакции: «Фотопластинки спектрографического типа ЭС чувствительностью 5 — 10 ед. или другие контрастные фотоматериалы».
Пункт 3.1. Второй абзац. Исключить слова: «и тщательно растирают с 200 мг графитового порошка в течение 30 мин».
Пункт 4.1 изложить в новой редакции:
«4.1. Спектры градуировочных образцов и проб фотографируют на спектрографе при следующих условиях: ширина щели 0,015 мм, освещение щели трехлинзовым конденсором, сила постоянного тока 10 А, экспозиция 60 с. Межэлектродное расстояние 2,5 мм устанавливают и поддерживают постоянным в течение экспонирования спектров по изображению на промежуточной диафрагме. Электрод с анализируемой пробой является анодом. При определении примесей, массовая доля которых: Pt, Fe, Ti — более 0,01 %; Pd, Mg, Si — более 0,003 %; Rh, Ni, Pb, Au, Sn — более 0,005 %; Ag, Cu, A1 — более 0,001 %; Ir — более 0,025 % от аналитической пробы отбирают навеску в 100 мг и тщательно растирают с 200 мг графитового порошка в течение 30 мин. Спектры градуировочных
(Продолжение см. с. 19)
образцов и проб фотографируют в дуге переменного тока силой 7 — 8 А, экспозиция 90 с. Для определения бария спектры градуировочных образцов и проб фотографируют при силе тока 7 А, экспозиция 45 с. Для определения осмия от аналитической пробы отбирают навеску 400 мг и тщательно перемешивают с 400 мг окиси меди (СиО) в течение 30 мин. Спектры градуировочных образцов и проб фотографируют в дуге переменного тока силы 8 — 10 А, экспозиция 90 с. Спектры фотографируют на высококонтрастные фотоматериалы (пластинки, пленку). Фотопластинки (фотопленки) проявляют в течение 5 мин при температуре проявителя 20 *С. Проявленные фотопластинки и фотопленки ополаскивают в воде, фиксируют, промывают в проточной воде, высушивают и фотометрируют».
Пункт 5.1. Таблица 1. Головка таблицы. Графа «Длина волны, нм». Заменить
(Продолжение см. с. 20)
слова: «Аналитической линии* на «аналитической линии*; «Внутреннего стандарта» на «линии «внутреннего стандарта»;
дополнить новыми элементами с соответствующими длинами волны:
|
Определяемый элемент |
Длина волны, нм |
|
аналитической линии |
линии «внутреннего стандарта* |
|
Титан |
307,86 |
307,66 |
|
Осмий |
315,63 |
315,07 |
|
Олово |
326,23 |
326,65 |
|
|
(ИУС N° 5 1997 г.) |
