Купить бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее
Цена на этот документ пока неизвестна. Нажмите кнопку "Купить" и сделайте заказ, и мы пришлем вам цену.
Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"
Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.
Дата введения | 01.01.1986 |
---|---|
Добавлен в базу | 01.10.2014 |
Актуализация | 01.01.2021 |
Опубликован | ИУС 9-1985 |
Дополняет: | ГОСТ 9853.6-79 |
17.06.1986 | Утвержден | Государственный комитет СССР по стандартам | 1688 |
---|
Чтобы бесплатно скачать этот документ в формате PDF, поддержите наш сайт и нажмите кнопку:
Изменение № 1 ГОСТ 9853.6-79 Титан губчатый. Спектральный метод определения кремния, железа и никеля
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17.06.85 Лк 1688 срок введения установлен
с 01.01.86
Под наименованием стандарта проставить код: ОКСТУ 1709.
Вводная часть. Второй абзац изложить в новой редакции: «Метод спектрального анализа основан на возбуждении спектра дуговым разрядом с фотографической и фотоэлектрической регистрацией интенсивности эмиссионных спектральных линий определяемых элементов*.
Пункт 1.1. Заменить ссылку: ГОСТ 9853.0-79 на ГОСТ 9853.1-79. Раздел 1 дополнить пунктом — 1.2: «1.2. Анализ проводят по методу «трех эталонов» или «контрольного эталона».
Регистрация спектра — фотографическая или фотоэлектрическая.
При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в координатах AS—lg С. где А5 разность почернений линий определяемого элемента и элемента сравнения, С — концентрация определяемого элемента в стандартных образцах.
При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в координатах п—lg С; п—С, где С — концентрация определяемого элемента в стандартных образцах; п — показания выходного измерительного прибора, пропорциональные логарифму относительной интенсивности линий определяемого элемента и линии сравнения.
Для квантометров, в которых показания выходного прибора п пропорциональны относительной интенсивности спектральных линий, градуировочный гра* фик строят в координатах п—С или lg л—lg С».
Раздел 2 изложить в новой редакции:
«2. Аппаратура, материалы и реактивы
2.]. Общего назначения
Установка для заточки угольных электродов.
Токарный станок.
Угли спектральные марки ОСЧ 7—4 или ОСЧ 7—3 диаметром 6 мм.
Стандартные образцы (комплект стандартных образцов) с диапазоном определяемых содержаний, охватывающих пределы содержаний элементов в губчатом титане.
3 Зак. 2216
(Продолжение см. с. 66) 65
(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6-79)
Спирт этиловый — ректификованный технический по ГОСТ 18300-72.
2.2. При спектральном анализе с фотографической регистрацией спектра
Спектрограф кварцевый средней дисперсии.
Генератор дуги переменного тока.
Микрофотометр.
Фотопластинки спектрографические тип I, ЭС или УФШ-3.
Раствор А:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72-1000 см*; метол (пара-метиламинофеносульфат) — 2 г;
натрий сернистокислый (сульфит натрия) кристаллический по ГОСТ 429-76 — 104 г или натрий серннстокислый по ГОСТ 195-77 — 52 г; гидрохинон (парадиоксибензол) по ГОСТ 19627-74 — 10 г; калий бромистый по ГОСТ 4160-74 — 2 г.
Раствор Б:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72 — 1000 см*; натрий углекислый кристаллический по ГОСТ 84-76 — 108 г или натрий углекислый по ГОСТ 83-79 — 54 г.
Перед проявлением раствор А и Б смешивают (3:1).
Фиксаж:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72 — 1000 см*;
тиосульфат натрия кристаллический (гипосульфит натрия) по ГОСТ 244-76 — 300 г;
аммоний хлористый по ГОСТ 3773-72 — 60 г.
2.3. При спектральном анализе с фотоэлектрической регистрацией спектра: установка фотоэлектрическая типа ДФС-36, генератор типа УГЭ-4». Раздел 4. Первый абзац перед словами «Освещение щели спектрографа»
дополнить словами: «4.1. При фотографической регистрации спектраэ;
последний абзац изложить в редакции: «На одной и той же фотопластинке фотографируют в одинаковых условиях стандартные образцы и пробы по два раза.
Аналитические линии (длины волн, нм)
железо: от 0,01 до 0,10 %..... 238,20
св. 0,1 до 0,3 %..... 248,41
кремний: от 0,002 до 0,02 %.....251,43
св. 0,02 до 0,13 %..... 243,51
никель: от 0,005 до 0,05 %..... 232,00
титан 243,83 — линия сравнения».
св. 0,05 до 0,15%.....231,23
(Продолжение см. с. 67}
(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6-79)
Раздел 4 дополнить пунктами — 4.2, 4.3: «4.2. При анализе с фотоэлектрической регистрацией спектра сила тока дуги генератора (4±0,5) А, напряжение питающей сети — 220 В, фаза поджига 90°, частота разрядов — 100 имп/с, разрядная индуктивность — 10 мкГн. Аналитический межэлектродный промежуток должен быть (1,5±0,1) мм.
Величину аналитического промежутка осуществляют по измерительной шкале отсчетного барабана. Ширина входной щели квантометра — 0,068 мм. Ширина выходных щелей для железа и кремния — 0,05 мм, для никеля — 0,15 мм. Аналитические линии (длины волн, нм) железо — 238,20 кремний —288,16 никель —341,48
титан —294,83 — линия сравнения.
4.3. Допускается использование других аналитических линий и режимов возбуждения элементов при условии получения метрологических характеристик, отвечающих требованиям настоящего стандарта».
Раздел 5 изложить в новой редакции:
«5. Обработка результатов
d2 — допускаемое расхождение между результатами двух параллельных определений.
5.1. За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое двух параллельных определений, если выполняется условие |Aj— где Х\ и Х7— результаты параллельных определений;
Абсолютные допускаемые расхождения результатов двух параллельных определений проб одного слитка и результатов анализов проб двух слитков, отобранных из одной и той же объединенной пробы, не должны превышать величин, указанных в таблице (см. с. 68).
5.2. Контроль правильности результатов спектрального анализа проводят химическим методом по ГОСТ 9853.2-79. Результаты анализа считают правильными, если выполняется условие
(Продолжение см. с. 68)
67
где
(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6—79)
Х\ — результат анализа, полученный спектральным методом для л, параллельных определений;
Х7 — результат анализа той же пробы, полученный химическим методом для л2 параллельных определений;
!я> — регламентированные допускаемые расхождения между результатами параллельных определений соответственно для спектрального и химического методов;
Кремний
Железо
Никель
п2) — численные коэффициенты, зависящие от л| и л2>. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Определяемый элемент |
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
(ИУС № 9 1985 г.) |
68