Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

4 страницы

Купить 1 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Цена на этот документ пока неизвестна. Нажмите кнопку "Купить" и сделайте заказ, и мы пришлем вам цену.

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

  Скачать PDF

Показать даты введения Admin

Изменение № 1 ГОСТ 9853.6-79 Титан губчатый. Спектральный метод определения кремния, железа и никеля

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17.06.85 Лк 1688 срок введения установлен

с 01.01.86

Под наименованием стандарта проставить код: ОКСТУ 1709.

Вводная часть. Второй абзац изложить в новой редакции: «Метод спектрального анализа основан на возбуждении спектра дуговым разрядом с фотографической и фотоэлектрической регистрацией интенсивности эмиссионных спектральных линий определяемых элементов*.

Пункт 1.1. Заменить ссылку: ГОСТ 9853.0-79 на ГОСТ 9853.1-79. Раздел 1 дополнить пунктом — 1.2: «1.2. Анализ проводят по методу «трех эталонов» или «контрольного эталона».

Регистрация спектра — фотографическая или фотоэлектрическая.

При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в координатах AS—lg С. где А5 разность почернений линий определяемого элемента и элемента сравнения, С — концентрация определяемого элемента в стандартных образцах.

При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в координатах п—lg С; п—С, где С — концентрация определяемого элемента в стандартных образцах; п — показания выходного измерительного прибора, пропорциональные логарифму относительной интенсивности линий определяемого элемента и линии сравнения.

Для квантометров, в которых показания выходного прибора п пропорциональны относительной интенсивности спектральных линий, градуировочный гра* фик строят в координатах п—С или lg л—lg С».

Раздел 2 изложить в новой редакции:

«2. Аппаратура, материалы и реактивы

2.]. Общего назначения

Установка для заточки угольных электродов.

Токарный станок.

Угли спектральные марки ОСЧ 7—4 или ОСЧ 7—3 диаметром 6 мм.

Стандартные образцы (комплект стандартных образцов) с диапазоном определяемых содержаний, охватывающих пределы содержаний элементов в губчатом титане.

3 Зак. 2216

(Продолжение см. с. 66) 65

(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6-79)

Спирт этиловый — ректификованный технический по ГОСТ 18300-72.

2.2.    При спектральном анализе с фотографической регистрацией спектра

Спектрограф кварцевый средней дисперсии.

Генератор дуги переменного тока.

Микрофотометр.

Фотопластинки спектрографические тип I, ЭС или УФШ-3.

Раствор А:

вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72-1000 см*; метол (пара-метиламинофеносульфат) — 2 г;

натрий сернистокислый (сульфит натрия) кристаллический по ГОСТ 429-76 — 104 г или натрий серннстокислый по ГОСТ 195-77 — 52 г; гидрохинон (парадиоксибензол) по ГОСТ 19627-74 — 10 г; калий бромистый по ГОСТ 4160-74 — 2 г.

Раствор Б:

вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72 — 1000 см*; натрий углекислый кристаллический по ГОСТ 84-76 — 108 г или натрий углекислый по ГОСТ 83-79 — 54 г.

Перед проявлением раствор А и Б смешивают (3:1).

Фиксаж:

вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72 — 1000 см*;

тиосульфат натрия кристаллический (гипосульфит натрия) по ГОСТ 244-76 — 300 г;

аммоний хлористый по ГОСТ 3773-72 — 60 г.

2.3.    При спектральном анализе с фотоэлектрической регистрацией спектра: установка фотоэлектрическая типа ДФС-36, генератор типа УГЭ-4». Раздел 4. Первый абзац перед словами «Освещение щели спектрографа»

дополнить словами: «4.1. При фотографической регистрации спектраэ;

последний абзац изложить в редакции: «На одной и той же фотопластинке фотографируют в одинаковых условиях стандартные образцы и пробы по два раза.

Аналитические линии (длины волн, нм)

железо:    от    0,01    до    0,10 %..... 238,20

св.    0,1    до    0,3 %..... 248,41

кремний:    от    0,002    до    0,02 %.....251,43

св.    0,02    до    0,13 %..... 243,51

никель:    от    0,005    до    0,05 %..... 232,00

титан 243,83 — линия сравнения».


св. 0,05 до 0,15%.....231,23

(Продолжение см. с. 67}

(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6-79)

Раздел 4 дополнить пунктами — 4.2, 4.3: «4.2. При анализе с фотоэлектрической регистрацией спектра сила тока дуги генератора (4±0,5) А, напряжение питающей сети — 220 В, фаза поджига 90°, частота разрядов — 100 имп/с, разрядная индуктивность — 10 мкГн. Аналитический межэлектродный промежуток должен быть (1,5±0,1) мм.

Величину аналитического промежутка осуществляют по измерительной шкале отсчетного барабана. Ширина входной щели квантометра — 0,068 мм. Ширина выходных щелей для железа и кремния — 0,05 мм, для никеля — 0,15 мм. Аналитические линии (длины волн, нм) железо — 238,20 кремний —288,16 никель    —341,48

титан    —294,83    — линия сравнения.

4.3. Допускается использование других аналитических линий и режимов возбуждения элементов при условии получения метрологических характеристик, отвечающих требованиям настоящего стандарта».

Раздел 5 изложить в новой редакции:

«5. Обработка результатов

d2 — допускаемое расхождение между результатами двух параллельных определений.

5.1. За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое двух параллельных определений, если выполняется условие |Aj— где Х\ и Х7— результаты параллельных определений;

Абсолютные допускаемые расхождения результатов двух параллельных определений проб одного слитка и результатов анализов проб двух слитков, отобранных из одной и той же объединенной пробы, не должны превышать величин, указанных в таблице (см. с. 68).


5.2. Контроль правильности результатов спектрального анализа проводят химическим методом по ГОСТ 9853.2-79. Результаты анализа считают правильными, если выполняется условие

(Продолжение см. с. 68)

67

где


Q{p,nv)tQ(p,


(Продолжение изменения к ГОСТ 9853.6—79)

Х\ — результат анализа, полученный спектральным методом для л, параллельных определений;

Х7 — результат анализа той же пробы, полученный химическим методом для л2 параллельных определений;

!я> — регламентированные допускаемые расхождения между результатами параллельных определений соответственно для спектрального и химического методов;


Кремний


Железо


Никель


п2) — численные коэффициенты, зависящие от л| и л2>.

Определяемый элемент

Массовая доля определяемого элемента, %

Абсолютные допускаемые расхождения результатов параллельных определений пробы одного слитка, %

Абсолютные допускаемые расхождения результатов анализа проб двух слитков, %

фотогра

фический

метод

фотоэлект

рический

метод

фотогра

фический

метод

фотоэлект

рический

метод

От 0,002

до 0,004

0,001

0,001

0,001

0,001

Св. 0,004

до 0,008

0,002

0,002

0,003

0,003

Св. 0,008

до 0,015

0,006

0,004

0,007

0,006

Св. 0,015

до 0,03

0,010

0,С10

0.012

0,012

Св. 0,03

до 0,06

0,02

0,01

0,02

0,02

Св. 0,06

до 0,13

0,03

0,02

0,04

0,03

От 0,01

до 0,02

0,005

0,005

0,006

0,006

Св. 0,02

до 0,04*

0,010

0,010

0,015

0,015

Св. 0,04

до 0,08

0,020

0,015

0,030

0,020

Св. 0,08

до 0,15

0,04

0,03

0,05

0,04

Св. 0,15

до 0,30

0,07

0,06

0,08

0,07

От 0,005

до 0,01

0,003

0,003

0,004

0,004

Св. 0,01

до 0,02

0,006

0,006

0,007

0,007

Св. 0,02

до 0,04

0,013

0,010

0,015

0,013

Св. 0,04

до 0,08

0,02

0,02

0,03

0,03

Св. 0,08

до 0,15

0,05

0,03

0,06

0,04

(ИУС № 9 1985 г.)


68