ISO 25498:2010
Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ с применением трансмиссионного микроскопа

Заменен на ISO 25498:2018
 

36 страниц

Завершение срока действия 16.03.2018
Опубликован 17.05.2010

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope