ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
