ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
