ISO 20263:2017
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов

 

52 страницы

Опубликован 01.12.2017

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials