ISO 19830:2015
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

 

30 страниц

Опубликован 05.11.2015

Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy