ISO 17862:2013
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов

 

32 страницы

Опубликован 10.12.2013

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers