ISO 15632:2002
Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами

Заменен на ISO 15632:2012
 

12 страниц

Завершение срока действия 31.07.2012
Опубликован 05.12.2002

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors