ISO 13084:2011
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Калибровка шкалы массы для масс-спектрометра

16 страниц

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer