ISO 11938:2012
Микроанализ поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Методы для анализа элементного отображения, используя дисперсную спектроскопию по длине волны

 

18 страниц

Опубликован 06.03.2012

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy