ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
Surface chemical analysis – Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
