Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

36 страниц

Является частью серии стандартов ISO/TS 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

 Скачать PDF

Идентичен ISO/TS 80004-6:2013

Оглавление

1 Область применения

2 Основные термины и определения

3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

     3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

     3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

     3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов

     3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

     3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

     3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов

     5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы

     5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов

     5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях

Алфавитный указатель терминов на русском языке

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке

Библиография

 

36 страниц

Дата введения01.07.2017
Добавлен в базу01.02.2017
Актуализация01.01.2019

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

25.10.2016УтвержденМежгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации92-П
09.11.2016УтвержденФедеральное агентство по техническому регулированию и метрологии1647-ст
ИзданСтандартинформ2016 г.
РазработанФГУП ВНИИНМАШ

Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20
Стр. 21
стр. 21
Стр. 22
стр. 22
Стр. 23
стр. 23
Стр. 24
стр. 24
Стр. 25
стр. 25
Стр. 26
стр. 26
Стр. 27
стр. 27
Стр. 28
стр. 28
Стр. 29
стр. 29
Стр. 30
стр. 30

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОВЕТ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ, МЕТРОЛОГИИ И СЕРТИФИКАЦИИ

(МГС)

INTERSTATE COUNCIL FOR STANDARDIZATION, METROLOGY AND CERTIFICATION

(ISC)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТА HДA PT

ГОСТ

ISO/TS

80004-6—

2016

НАНОТЕХНОЛОГИИ

Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения

Термины и определения

(ISO/TS 80004-6:2013, Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization, IDT)

Издание официальное

Москва Стандарт и нформ 2016

Предисловие

Цели, основные принципы и основной порядок проведения работ по межгосударственной стандартизации установлены в ГОСТ 1.0-2015 «Межгосударственная система стандартизации. Основные положения» и ГОСТ 1.2-2015 «Межгосударственная система стандартизации. Стандарты межгосударственные. правила и рекомендации по межгосударственной стандартизации. Правила разработки, принятия. обновления и отмены»

Сведения о стандарте

1    ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык документа, указанного в пункте 5

2    ВНЕСЕН Межгосударственным техническим комитетом по стандартизации МТК 441 «Нанотехнологии»

3    ПРИНЯТ Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол от 25 октября 2016 г. № 92-П)

За принятие проголосовали:

Краткое наименование страны no МК (ИСО 3166)004—97

Код страны по МК (ИСО 3166)004—97

Сокращенное наименование национального органа по стандартизации

Беларусь

BY

Госстандарт Республики Беларусь

Киргизия

KG

Кыргызстандарт

Россия

RU

Росстандарт

Таджикистан

TJ

Таджикстандарт

4    Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 9 ноября 2016 г. № 1647-ст межгосударственный стандарт ГОСТ 1ЭОЯ8 80004-6—2016 введен в действие в качестве национального стандарта Российской Федерации с 1 июля 2017 г.

5    Настоящий стандарт идентичен международному документу ISO/TS 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» («Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization». IDT).

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного документа для приведения в соответствие с ГОСТ 1.5 (пункт 3.6).

Международный документ разработан техническим комитетом по стандартизации ISO/TC 229 «Нанотехнологии» Международной организации по стандартизации (ISO).

Стандарт подготовлен на основе применения ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013

6 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

II

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

3.2.3 дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, применяв- neutron мое для исследования атомной или магнитной структуры вещества.    diffraction

Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией, примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества

3.2.4

малоугловое рентгеновское рассеяние: МРР: Метод исследования объекта, ос- small angle X-ray нованный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, scattering; SAXS проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,1* до 104 и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм

(ISO 18115-1. статья 3.18)

3.2.5

рассеяние света Преобразование распределения светового потока на границе light scattering раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства.

(ISO 13320:2009. статья 3.1.17)

dynamic light

scattering; DLS;

photon

correlation

spectroscopy;

PCS;

quasi-elastic light scattering; QELS

3.2.6 гидродинамический диаметр Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы hydrodynamic (2.9), имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и diameter реальная частица в этой среде.

3.2.7 динамическое рассеяние света; ДРС; фотонная корреляционная спектроскопия; ФКС; квазиупругое рассеяние света; КРС. Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13), основанный на анализе изменения интенсивности рассеянного света частицами (2.9). находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемого объекта лазерным лучом.

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3 2 6). по формуле Стокса — Эйнштейна

nanoparlicle tracking analysis;

NTA;

particle tracking analysis; PTA

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2 3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм Верхний предел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц

3.2 8 анализ траекторий движения наночастиц; АТДН; анализ траекторий движения частиц; АТДЧ: Метод определения размеров частиц (3.1.1). основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным пучком лазера частиц (2.9). находящихся в броуновском движении в суспензии (2.13).

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц например гидродинамический диаметр (3 2 6). по формуле Стокса — Эйнштейна

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2 3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц

3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов


3.3.1

счетчик конденсированных частиц; СКЧ: Устройство, измеряющее счетную кон-

condensation

центрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).

particle counter; CPC

Примечания

1    Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ,—от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров

2    СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности

(КДЭП) (3.32)

3 В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК)

(ISO 15900:2009. статья 2.5)

3.32


классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц;

КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров


differential

electrical

mobility

classifier. DEMC


Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое поле Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней

(ISO 15900:2009. статья 2.7)


3.3.3


система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц;

САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП. нейтрализатора, счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.


differential mobility analysing system; DMAS


(ISO 15900:2009. статья 2.8)


3.3.4

электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ: Устройство для измерения электриче- Faraday-cup ских зарядов аэрозольных частиц (2.9).    aerosol

electrometer

FCAE

Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц

(ISO 15900:2009, статья 2.12, определение термина изменено]


3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле; ПФП: Метод разделения field flow и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц суспензии fractionation; (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвиж- FFF ностью под действием внешнего силового поля.

Примечания

1    Силовое поле может быть различной природы, например, гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.

2    В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры на-нообьектов (2.2) и их распределение по размерам


6


ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

centrifugal liquid

sedimentation;

CLS;

differential

centrifugal

sedimentation;

DCS

3 4 2 центробежное осаждение частиц в жидкости; ЦОЖ; дифференциальное центрифугирование; ДЦ: Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.

Примечание — В зависимости от плотности частиц (2 9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%

343

гель-проникающая хроматография ГПХ: Вид жидкостной хроматографии, в size-exclusion котором разделение веществ основано на элюировании молекул определенного chromatography; гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной пористым не- SEC адсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.

Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).

(ISO 16014-1 2012, статья 3.1)

3.4 4 метод электрочувствительной зоны; метод Коултера Метод определе- electrical zone ния распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9). находящихся в sensing; растворе электролита, основанный на измерении импульса электрического напря- Coulter counter жения. возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).

Примечания

1    Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие

2    Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля

3    Для определения размеров нанообъектов (2 2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиалаэона (21).

3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.

3.5.1_

сканирующая зондовая микроскопия: СЗМ: Метод исследования объекта с no- scanning probe мощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем механического microscopy: перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью SPM объекта.

Примечания

1    Термин «сканирующая зондовая микроскопия* является общим термином для таких понятий, как «атомносиловая микроскопия» (ACM) (3 5 2). «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля* (СОМБП) (3 5 4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5 3).

2    С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например, в сканирующей термомикроскопии.

(ISO 18115-2. статья 3.30)

7

3.5.2

atomic force microscopy; AFM;

scanning force microscopy (deprecated); SFM

(deprecated)

Примечания

1    С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов

2    В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х, у. z. а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец

3    С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах и исследовать обьекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений

4    С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например, продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например, поперечно-силовая микроскопия Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии

5    ACM регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта

6    Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0,1 мкН, в противном случае могут произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера

(ISO 18115-2. статья 3.2]


атомно-силовая микроскопия. ACM (Нрк сканирующая сиповая микроскопия; ССМ). Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования


3.5.3


сканирующая туннельная микроскопия; СТМ: СЗМ (3.5.1), применяемая дпя исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.


scanning

tunnelling

microscopy;

STM


Примечания

1    С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта

2    Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта

3    С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости (туннельной плотности состояний) исследуемого объекта Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности

(ISO 18115-2. статья 3.34]


3.5.4


сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; бпижнепопь-ная сканирующая оптическая микроскопия; БСОМ. Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.


near-field scanning optical microscopy; NSOM; scanning near-field optical microscopy; SNOM


ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016


Примечания

1    Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта

2    Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм, что и определяет разрешающую способность микроскопа В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое слоем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм

3    С помощью СОМБП получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3 5 2) и других методов зондовой микроскопии

(ISO 18115-2, статья 3.17]


3.5.5


растровая электронная микроскопия: РЭМ (Нрк. сканирующая электронная scanning микроскопия; СЭМ). Метод исследования структуры, состава и формы объекта с electron помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования microscopy; его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации харак- SEM теристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение).

(ISO 17751, статья 4.10, определение термина изменено]


3.5.6


просвечивающая электронная микроскопия. ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.


transmission

electron

microscopy:

ТЕМ


(ISO 29301:2010, статья 3.37. определение термина изменено]


3.5.7


просвечивающая растровая электронная микроскопия; ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.


scanning

transmission

electron

microscopy:

STEM


Примечания

1    Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм

2    С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов (или мелких частиц (2 9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины

(ISO/TS 10797, статья 3.10. определение термина изменено]


3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий, генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта.


low energy electron microscopy; LEEM


ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Примечания

1    ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности

2    В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта

3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью scanning ion микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объ- microscopy екта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0.1 до 1 нм.

3.5.10

конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью confocal optical светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположен- microscopy ную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта, блокируя свет от остальных точек.

Примечания

1    Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта Формирование изображения происходит благодаря свойству инерционности зрения при быстром сканировании или посредством использования фотоприемников и электронных запоминающих устройств

2    Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей

(ISO 10934-2:2007, статья 2.11. определение термина изменено]


3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный свет от подложки или предметного стекла.


surface

enhanced

ellipso metric

contrast

microscopy;

SEEC

microscopy


Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон

Примечание — В микроскопе применяют специальные антиотражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз

3.5.12

флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим вы- fluorescence делением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.

(ISO 18115-2:2010. статья 5.52]

3.5.13 флуоресцентная микроскопия Метод исследования объекта с помощью fluorescence светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации microscopy испускаемой им флуоресценции (3.5.12).

Примечания

1    В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длина волны испускаемой объектом флуоресценции всегда больше длины волны света возбуждения Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры

2    К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроскопию. флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3 5 15)

3    В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном информационном указателе кНациональные стандарты» (по сослюянию на 1 января текущего года), а текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

© Стандартинформ. 2016

В Российской Федерации настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Содержание

1    Область применения..................................................................1

2    Основные термины и определения......................................................1

3    Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов

и методам их определения..............................................................3

3.1    Термины и определения понятий, относящихся    к размерам и форме нанообъектов..........3

3.2    Термины и определения понятий, относящихся    к методам рассеяния света.................4

3.3    Термины и определения понятий, относящихся    к устройствам, применяемым

для определения характеристик аэрозольных нанообъектов................................6

3.4    Термины и определения понятий, относящихся    к методам разделения веществ.............6

3.5    Термины и определения понятий, относящихся    к методам микроскопии....................7

3.6    Термины и определения понятий, относящихся    к площади поверхности нанообъектов

и методам ее определения...........................................................11

4    Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа................12

5    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

других характеристик нанообъектов......................................................17

5.1    Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы...............17

5.2    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

характеристик кристаллических нанообъектов...........................................17

5.3    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

характеристик нанообъектов в суспензиях..............................................17

Алфавитный указатель терминов на русском языке.........................................19

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке..........................23

Библиография........................................................................27

IV

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Введение

Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.

Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов. а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.

В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:

-    раздел 2 «Основные термины и определения»;

-    раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения»;

-    раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;

-    раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».

Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов. и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.

Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения нанообъектов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.

Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов. в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов. и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов. чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов

Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик на но объектов

Характеристика

Методы

Размер

Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ). система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС), растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Форма

Атомно-силовая микроскопия (ACM), растровая электронная микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Площадь поверхности

Метод Брунауэра. Эммета и Теллера (метод БЭТ)

Химические характеристики поверхности объекта

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)

Химический состав объекта

Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС), спектроскопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия)

Электрокинетический потенциал частиц в суспензии

Определение дзета-потенциала

Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.

Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

Для кахщого понятия установлен один стандартизованный термин.

Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».

Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.

Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки. раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.

В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.

В стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.

VI

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

НАНОТЕХНОЛОГИИ Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения

Термины и определения

Nanotechnologies Part б Characteristics of nano-objects and methods for determination Terms and definitions

Дата введения — 2017—07—01

1    Область применения

Настоящий стандарт является частью серии стандартов ISO/TS 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

2    Основные термины и определения

2.1

нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale Примечания

1    Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как в основном уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются

2    Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов

(ISO/TS 27687:2008. статья 2.1)

22

нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному, двум nano-object или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне

(ISO/TS 80004-1:2010. статья 2.5]

Издание официальное

2.3


наночастица: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по всем трем измере- nanoparticle ниям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекта значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица» можно использовать термины «нановолокно» (2 6) или «нанолластина» (2 4)

[ISO/TS 27687:2008, статья 4 1]


2.4

нанопластина Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапазоне (2.1). а размеры по двум другим измерениям значительно больше.

Примечания

nanoplate


1    Наименьший линейный размер — толщина нанопластины

2    Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем в три раза

3    Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона

[ISO/TS 27687:2008. статья 4.2]


2.5

наностержень: Твердое нановолокно (2.6). [ISO/TS 27687:2008. статья 4 5]

2.6

nanorod

нановолокно: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по двум измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше.

Примечания

nanofibre


1    Нановолокно может быть гибким или жестким

2    Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза

3    Наибольший линейный размер может находиться вне нанодиапазона

[ISO/TS 27687:2008. статья 4.3]


2.7

нанотрубка: Полое нановолокно (2 6). [ISO/TS 27687:2008, статья 4 4]

2.8

nanotube

квантовая точка: Нанообъект, линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами, при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях.

[ISO/TS 27687:2008. статья 4.7]

2.9

quantum dot

частица: Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами.

partide


Примечания

1    Физическая граница может также быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).

2    Частица может перемещаться как единое целое

3    Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2 2).

[ISO 14644-6:2007. статья 2.102. ISO/TS 27687:2008. статья 3.1]


ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

2.10_

агломерат Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9), или их arpe- agglomerate гатов (2.11). или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов.

Примечания

1    Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабыми и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса. или простым физическим переплетением частиц друг с другом

2    Агломераты также называют «вторичные частицы*, а их исходные составляющие называют «первичные частицы*

(ISO/TS 27687:2008. статья 3.2)

2.11

агрегат Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных частиц aggregate (2.9), общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.

Примечания

1    Силы, удерживающие частицы в составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом

2    Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы*

(ISO/TS 27687:2008, статья 3.3)

2.12

аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц (2.9). взвешенных в газе.

aerosol

(ISO 15900:2009, статья 2.1)

2.13

суспензия: Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой явпяются мепкие частицы твердого вещества.

suspension

(ISO 4618:2006, статья 2.243)

3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

3.1.1

размер частицы: Линейный размер частицы (2.9), определенный соответствую- particle size щими методом и средствами измерений в заданных условиях.

Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например, эквивалентный диаметр сферической частицы

(ISO 26824:2013. статья 1.5]

3.1.2

распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависимости particle size от их размеров (3.1.1).    distribution

Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости 1

от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают, относя число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц)

(ISO 14644-1:1999. статья 2.2.4, определение термина изменено]

3.1.3 __

форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9).    particle    shape

(ISO 3252:1999, статья 1401)

3.1.4 __

аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине.    aspect    ratio

(ISO 14966:2002. статья 2.8]

3.1.5 _

эквивалентный диаметр: Диаметр сферического обьекта. оказывающий такое equivalent же воздействие на средство измерения для определения распределения частиц diameter по размерам, что и измеряемая частица (2.9).

Примечания

1    Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ISO 9276-1 1998 (2]).

2    Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, используют эквивалентный оптический диаметр

3    Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например, как в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее оседания в жидкости Значения характеристик материала, используемые для расчета, должны быть представлены дополнительно.

4    С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м1, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью

(ISOTTS 27687:2008. статья А.3.3. определение термина изменено]

3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

3.2.1_

радиус инерции: Мера распределения массы обьекта вокруг оси. проходящей че- radius of рез его центр, выраженная отношением квадратного корня из момента инерции gyration относительно данной оси к массе обьекта.

Примечание — Для определения характеристик манообьектов (2 2), например размеров частиц (3 1.1), необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например, малоуглового нейтронного рассеяния (3 2 2) или малоуглового рентгеновского рассеяния (3 2 4)

(ISO 14695:2003. статья 3.4]

3.2.2 малоугловое нейтронное рассеяние: МНР: Метод исследования обьекта, small angle основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов на объекте neutron при малых значениях углов рассеяния.    scattering:

SANS

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,5 до 10* и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2 9) и форме диспергированных в однородной среде частиц 2

1

2