Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

10 страниц

304.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости - относительных единиц в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки

Утратил силу в РФ

Утратил силу на территории РФ, с 01.01.2013 пользоваться ГОСТ Р 8.768-2011

Действие завершено 01.01.2013

Оглавление

1 Эталоны

2 Образцовые средства измерений

3 Рабочие средства измерений

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН И ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,211,0 ГГц ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ЛО СТАНДАРТАМ Места ГОСТ 8.274-85 ' Г > -''Гсгу?;' ' Издание официальное

Страница 2

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР qo стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Н. Л. Яцынина, канд. техн. наук (руководитель темы); Г, А, Ведюшкин, канд. техн. наук; Н. М. Карих, канд. техн. наук; Н. А. Никулина; Н. А. Щеткин

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л. К. Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октября 1985 г. М2 118

Страница 3

"УДК 631.3.089.6:006.354 Групп« Т84 ГОСУДАРСТВЕННЫ» СТАНДАРТ СОЮЗА ССР Государственная система обеспечения единства измерений ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН И ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,2-*-1.0 ГГц State system for ensuring the uniformity of measurements. State special standard and state verification schedule for means measuring complex permittivity and complex permeability as well as refleclion factor modulus at frequencies of 0.2 to 1 GHz ОКСТУ 0008 Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октября 198S г. .№ 118 срок введения установлен с 01.01.87 Настоящий стандарт распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-*-1,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости — относительных единиц в диапазоне частот 0,2-*-1,0 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и лорядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона ттри помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки. гост 8.274-85 Взамен ГОСТ 8.274-78 Иэдани* официальное Перепечатка воспрещена © Издательство стандартов, 1986

Страница 4

Стр: 2 ГОСТ в.274—85 _ ;' _______ 1. ЭТАЛОН» ' _....... 1.1. Государственный специальный эталон 1.1.1. Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,24-1,0 ГГц и передачи размера единиц при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений, применяемым в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в стране. 1.1.2. В' основу измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-г-1,0 ГГц. должны быть положены единицы, воспроизводимые указанным эталоном. 1.1.3. Государственный специальный эталон состоит из комплекса следующих средств измерений: комплект эталонных двухполюсников; комплект эталонных четырехполюсников; компаратор для воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости и передачи их размеров вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда. 1.1.4. Диапазон значений относительных единиц бикомплексной проницаемости, воспроизводимых эталоном, составляет 1-И0 для действительных частей (диэлектрической е' и магнитной ц')> 1 • 4-1 для мнимых частей (диэлектрической г" и магнитной р."). 1.1.5. Государственный специальный эталон обеспечивает воспроизведение единиц со средним квалратпческим отклонением результата измерений 5г>, не превышающим Ы0~* для действительных частей, 2»10~2-ьЫ0-1 —для мнимых частей при десяти независимых наблюдениях. Неисключенная систематическая погрешность 0о не превышает 2-Ю-4 для действительных частей, 5-10-2 4-2-10—| —для мнимых частей. Нестабильность эталона за год vo составляет 0,7*10~4 для действительных частей и 0,014-0,05 для мнимых частей бикомплексной проницаемости. 1.1.6. Для обеспечения воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения эталона, утвержденные в установленном порядке. 1.1.7. Государственный специальный эталон применяют для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда непосредственным сличением, методом прямых измерений и методом косвенных измерений. * 1.2...В'тр£^ч^ные эталоны 12.1 Г В' качестве эталона сравнения единиц бикомплексной про-яйцаёмос?й яримёяяю^ "комплект эталонных четырехполюсников в

Страница 5

ГОСТ 1274-85 Стр. $ диапазоне измерений 1-5-10 для относительных диэлектрической и-магнитной проницаемостей и Ы0~4+1 для тангенсов углов потерь. (tg6). 1.2.2 Средние квадратические отклонения результатов сличения эталона сравнения с государственным не должны превышать: «S^oen—3-10"4 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и Siotce — от 5*10~2 до 3-10-1 для тангенса угла потерь. 1.2.3. Эталон сравнения применяют для международных сличений. 1.2.4. В качестве рабочих эталонов единиц комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей применяют: рабочий эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов толщиной не более 2 мм в диапазоне частот 0,2-г-1,0 ГГц и в диапазоне измеряемых величин-е' 1-5-10 для диэлектрической проницаемости и Ы04-=-Ы0"1 для» тангенса утла диэлектрических потерь, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единиц от рабочего эталона образцовым средствам измерений 1-го разряда;. рабочие эталоны единиц бикомплексной проницаемости в диапазонах частот 0,2+1,0 ГГц и 1+7 ГГц и в диапазоне измеряемых величин 1 + 10 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и? Ы0~4-г-1 для тангенсов углов потерь, содержащий комплект эталонных четырехполюсников, компаратор для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости образцовым средствам измерений 2-го 'разряда; рабочий эталон комплексной диэлектрической проницаемости) в диапазоне частот 0,5+3,0 ГГц и в диапазоне измерений 10+1000 для диэлектрической проницаемости и 5-10~3-=-1 для тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий эталонный образец и компаратор для передачи размера единиц комплексной диэлектрической проницаемости образцовым средствам измерений 1-го разряда; рабочий эталон единицы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 1+3 ГГц и в диапазоне измерений 1-10"2Ч-3,5-10~1 (|р| Е ) модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля, полученного расчетным путем от воспроизведенной государственным специальным эталоном единицы диэлектрической проницаемости, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единицы модуля коэффициента отражения образцовым средствам измерений 2-го разряда. 1.2.5. Средние квадратические отклонения Szo результатов сличений рабочих эталонов с государственным составляют; Szoe от МО-3 до ЬЮ-2 по диэлектрической проницаемости иг Szotge от 4-Ю-2 до 2-10—1 по тангенсу угла диэлектрических потерь для рабочего эталона комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов;

Страница 6

Стр. 4 ГОСТ 1.274—8S

Ssotm    от МО"3 до    SIO-3    по диэлектрической и магнитной проницаемостям и Srotgd    от 5-10-2 до 15*10-2 по тангенсу угла потерь

для рабочих эталонов единиц 6икомплексной проницаемости;

Szo*    от 5*10"3 до    Ь10“2    по диэлектрической проницаемости

и    Szotge    от 3.10-2 до    7*10“2    по тангенсу угла диэлектрических по

терь для рабочего эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости; '

Ssop от 3-10—3 до МО-1 для модуля коэффициента отражения для рабочего эталона единицы модуля коэффициента отражения.

1.2.6. Рабочие эталоны применяют для передачи размера единиц образцовым рредствам измерений I и 2-го разрядов методом прямых измерений.

2. ОБРАЗЦОВЫЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

2.1.    Образцовые средства измерений 1-го разряда

2.1.1.    В качестве образцовых средств измерений 1-го разряда применяют:

образцовую установку для измерений параметров диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2-г-1.0 ГГц и в диапазоне измерений 1ч-20 для диэлектрической проницаемости и Ы0~4ч- МО'1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 1ч-10 для диэлектрической проницаемости;

образцовую установку для измерений комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,5ч-3,0 ГГц при температурах от минус 50 до плюс 200 °С и управляющих напряжениях •от 0 до 1000 В в интервалах измерений 10ч-1000 для диэлектрической проницаемости, 5*10_3ч-1 для тангенса угла диэлектрических потерь'

2.1.2.    Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 1-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

бое от 0,5 до 2,0 % по диэлектрической проницаемости и 'Sotgo от 7 до 30 % по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерений параметров диэлектриков малых объемов.

бое 0,3 % по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости; *

бое 2% nb‘диэлектрической проницаемости и 6otge 10% по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерения комплексной диэлектрической проницаемости1.

2.1.3.    Образцовые средства измерений 1-го разряда применяет для передачи размера единиц стандартным образцам 2-го раз-

Страница 7

ГОСТ «.274—г$ Стр. 5 ряда и рабочим средствам измерений методом прямых измерений и сличением при помощи компаратора. 2.2. О б р а з цо в ы е средства измерений 2-го разряда 2.2.1. В качестве образцовых средств измерений 2-го разряда применяют: стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2+1,0-ГГц и в диапазоне измерений 1+20 для диэлектрической проницаемости и ЫО~4+ЫО~*1 для тангенса угла диэлектрических потерь; стандартные образцы бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2-г-1,0 ГГц и 1 + 7 ГГц и »в диапазоне измерений' 1-*-20 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и Ы0~4+ МО-1 для тангенсов углов потерь; стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,2+1,0 ГГц и в диапазоне измерений 1 + 10 для диэлектрической проницаемости; . стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,5 + 3,0 ГГц в диапазоне измерений 10+4000 для диэлектрической проницаемости и 5-10~3+1 для тангенса угла диэлектрически* потерь; стандартные образцы температурно-реверсивной комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 200+2000 для диэлектрической проницаемости и 5-10~3+1 для тангенса угла диэлектрических потерь; стандартные образцы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 1-гЗ ГГц с интервалом измерений 1,0-Ю-2+ 3,5-10—® для модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля. 2.2.2. Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 2-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют: бое от 1 до 3 % по диэлектрической проницаемости и Л ог^а от 10 до 60% по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов; Лоец от 0,3 до 1,0 % по диэлектрической и магнитной прони-цаемостям и от 10 до 30 % по тангенсам углов потерь для стандартных образцов бикомплексной проницаемости; бое 1 % по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости; бое от 3 до 6 % по диэлектрической проницаемости и 6о«е* 12 % по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости:

Страница 8

Стр. Б ТОСТ В.274—В5 бое от 4 до 6% по диэлектрической проницаемости и 6о»кг 15 % по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов температурно-реверсивной комплексной диэлектрической .проницаемости; ' б0. от 10 до 20% по модулю коэффициента отражения для стандартных образцов модуля коэффициента отражения. 2.2.3. Образцовые средства измерений 2-го разряда предназначены для поверки рабочих средств измерений методом прямых •измерений. 3. РАБОЧИЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ 3.1. В' качестве рабочих средств измерений применяют измерители параметров диэлектрических материалов, измерители параметров диэлектрических пленок, измерители добротности с приставками, измерители параметров материалов, измерительные линии с ячейками для измерений параметров материалов, измерители полных сопротивлений с ячейками для измерений параметров материалов, измерители комплексных коэффициентов передачи с .ячейкой для измерений параметров материалов, панорамные измерители коэффициента стоячей волны с ячейкой для измерений параметров материалов, измерители параметров высоких значений комплексной диэлектрической проницаемости, полосковые компенсационные измерители, рупорные измерители. 3.2. Относительные доверительные погрешности рабочих средств измерений при доверительной вероятности 0,95 составляют от '3 до 15% для диэлектрической проницаемости, от 5 до 15% для •магнитной проницаемости, (10+0,05^6) % для тангенсов углов потерь и 20ч-40 % для модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля. Редактор М. А. Глазунова Технический редактор М- И. Максимова Корректор Н. Д. Чехотина Сдано в наб. 27.11.86 Подп. в печ. 23.01186 0,5 усл. и. л. + вкл. 0.5 усл. п. л. 1.0 усл. кр.-отт. 0.42 + 0.44 вкл. уч.-нэд. л. Тир. 12000 Цена 5 коп. Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов. 123840. Москва. ГСП НовопресненскиП пер.. 3. Калужская типография стандартов, ул. Московская. 256. Зак. 3557

Страница 9

ЭТАЛОНЫ о -« СI р I i <3 ! ° 5 Ais 21 ? $ 1 5 з § W * $ * X А Д А 1 И*. S s 2 А А Д 1 î m 7\ S 3 а о S ! I к I а * ж А ■ X, ■ S 8 я I ■ к I

Страница 10

I

лете юмерскиЯ вихсмплсксиоЛ гтроииавемостн и модуля ковффиаяеттт* отражения ■ дамадем «стот ОД-Н.О ГГц    -ГОСТ «Л74 »5

•'ДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ БИМОМ ПЛЁМСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ

о.гм.о гтц

/л\е‘ -жо    -1ХК+1

St -I KK    Sf    -2 *0^-1 to-'

в» ”3    Bt    “5 УУ-г2 Ю-’

V, -О.Г Ю'    tfc    -0.01т0л5

ЫвГОД ПрЯМЫХ И«м«с»*«й

5jJtg£ -".ОЭгЭ.»

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ БИИОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОД 41.0 ГГЦ -vmo

ИУ-ЯУ J/rЙ,Ч ^ »>

Метод иоееенич» н^'врс»:*й ***' “ООЗ-Ю.15

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ

вииомплеисной проницаемости wmi

ц'.С' -ню    tg$    -1    «К+1

«ЧЮ*»*-*'    -*•»**»    ХУ


Непосредственное

ЧСНИв

£«-42%

Метод

I#/


si«. -3»-

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ 0.М-3.0 ГГц

л' -то-woo

-5 «И-И Ю* Siftgg -3 »*г7 Ю>

Метод nvuvi намерений Sit, -ОАИ.0%

Sttff.-Эт-7%

Метод НОС—ним» ммаеремнй

5i*/ “s «к-ио1

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦЫ МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ «ГГц 1/>1£ -1 ККт-3,5 Ю'

-вктвк


Образцовая гстаиом для шеереянй но* -, ппвисмой диалемтртвспой п рои кие ем ости ;

• итервегм температур от -вО»С до +200*С и управляиАцих напряжений от 0 до 1000 В 0,5*3.0 ГГм *'-ЮИООО    ^*-в«К+1

&// -«*


Стандартные образцы диэлектрической проницаемости

0,27-1.0 ГГц & ' —1гЮ «4 -0.34


Метод прямыа измерений

4^ -0.1-0.54 Silos’ -*т-204


> ГСИ помощи номп«р*тор«

^ -о.еч


Метод прямых намерений

f±-t% _ "W,k


Метод прямы» измерений

Ь'г -0,3-10,0%



wepneie образцы б~-гтеиоюй проницаемости 0.2+1.0 ГГц . -1+20 «Г -ИО'-И Ю-1

#>4 -0,3-10%

-ИН-30%

Стандартные пбрезцы би-комплексном проницаемости 1+7 Пм а!л" -Ь-20 qS -IIO'+IKK

хЯ

*ot* -0.3^1,04 <tot96 *ЮтЭ04

Стандартные образцы диэлектрической проницаемости 0.2-1.0 ГГм -tr10 4*14

Стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости

O.W-3.0 ГГц

Я■ -юмооо

tgf -ЯУ-1 Set. ■#! Н ”

Стандартные образцы тем-паретурнороеврсивиой комплексной диэлектрическом проницаемости

0.5+3.0 ГГм 2004-2000

tgS' •♦Ю*Н s9i9y

Стандартные о«шцы модуля коэффициента отравления

М-ЭГГц

//>/*■ -1.010'>-3,5Ю-'

-«-204


Метод прямых измерет)

Sit. -*Ч4

-12-15%


Метод прямых измерений

Sa/> -Х>г20*


Метод прямых измерении

-0.ЭП.1Ш Stiff -«*-30*


*

Иэмеритепн полных сопротиапмня’1 с ячейкой агя намерений гчраметрое метеоиа-

лое

й" —1*4000

м' ни»

-5 1041 ~«-2(П.

- 0.06

Sotff


Намерит ели переиет-ро« иомллеисной ли-а.тентримвеиой прони-иоемости

«' —20г4000

tgS —5 ю*-м Soc -*-204

S0t9s


Попосновме

NOwnoHc«u-iWHbie

иэм#рктели

//»If - 0,05-f0,50

St ft - 20М0Ч


■*■■■»■ парэ-етров материалов

ОДт-1.0 ГГц «../** —1J-20 -010-N-t вд^Ы -З.ЧОЧ

.    0.05

V -”0f^4


Имеритсли перемет рое метермапса

1+7 ГГм

#,>* —1-г20

-в Ю'-Н


с ячекиамн для намерений переметров метеркалое

t -1^4000

fl —Н-20

tgS —вКХ-rl

-*rJ0%

-    0.05


Рупсрнме изгдермтели l/»lf - 0.05f0.50


- 20M04


’ej>


-J^tO% 0X15


'1ГЦ.


Итмеритепи номппеис-ных ноарфициеитоа.. перелечи с ячейиой для намерений пере- -метров материалов

«' -1^*000

Af' -1i-20

-410*4-1

S0t^i -«+аоч

а    0,05

°ot<)S -*м“ —) %


Пенорамные иаморите-ли иоаффиииенте стоячей волны с я-ейкой для намерений пере-мегров метеркапэв

с -ьчооэ

tgf-9 ю*м б,с -t -20%


Заменяет ГОСТ 8.274-78