Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

10 страниц

304.00 ₽

Купить ГОСТ 8.274-85 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2 - 1,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости - относительных единиц в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки.

  Скачать PDF

Действие завершено 01.01.2013

Оглавление

1 Эталоны

2 Образцовые средства измерений

3 Рабочие средства измерений

Показать даты введения Admin

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН И ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,2 1,0 ГГц

Цена 5 кбП.

ГОСТ 8.274-85

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

М о с кла

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР цо стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Н. Л. Яцынина, канд. техн. наук (руководитель темы),' Г. А, Ведюшкин, канд. техн. наук; Н. М. Карих, канд. техн, наук; Н. А. Никулина; HL А. Щеткин

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л. К. Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государствен-ного комитета СССР по стандартам от 17 октября 19SS г. № 118

УДК £21.3.089.6:006.354    Группа    Т84

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

Государственная система обеспечения единства

измерений

ГОСТ

8.274-85

Взамен ГОСТ 8.274-78

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН

И ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА

ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА

ОТРАЖЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,2 -ь 1.0 ГГц

State system for ensuring the uniformity of measurements. State special standard and state verification schedule for means measuring complex permittivity and complex permeability as well as reflection factor modulus at frequencies of 0,2 to 1 GHz

ОКСТУ 0008

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октября 1985 г. И® 118 срок введения установлен

с 01.01.87

Настоящий стандарт распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-*-1,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости — относительных единиц в диапазоне частот 0,2    1,0 ГГц, комплекс основных средств измере

Издание официальное

ний, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки.

Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1986

Стр. 2 ГОСТ 8.274-85

t. ЭТАЛОН»

1.1.    Государственный специальный эталон

1.1.1.    Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2^ 1,0 ГГц и передачи размера единиц при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений, применяемым в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в стране.

1.1.2.    В основу измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2 н-1,0 ГГц. должны быть положены единицы, воспроизводимые указанным эталоном.

1.1.3.    Государственный специальный эталон состоит из комплекса следующих средств измерений:

комплект эталонных двухполюсников;

комплект эталонных четырехполюсников;

компаратор для воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости и передачи их размеров вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда.

1.1.4.    Диапазон значений относительных единиц бикомплексной проницаемости, воспроизводимых эталоном, составляет 1-4-10 для действительных частей (диэлектрической г' и магнитной р/), 1 • 10~* -4-1 для мнимых частей (диэлектрической е" и магнитной р").

1.1.5.    Государственный специальный эталон обеспечивает воспроизведение единиц со средним квадратическим отклонением результата измерений So, не превышающим ЫО-4 для действительных частей, 2-10~2-4-МО-1 — для мнимых частей при десяти независимых наблюдениях. Неисключенная систематическая погрешность 0о не превышает 2-10-4 для действительных частей, 5-10_2-т-2-10 1 — для мнимых частей.

Нестабильность эталона за год vo составляет 0,7-10-4 для действительных частей и 0,01-5- 0,05 для мнимых частей бикомплексной проницаемости.

1.1.6.    Для обеспечения воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения эталона, утвержденные в установленном порядке.

1.1.7.    Государственный специальный эталон применяют для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда непосредственным сличением, методом прямых измерений и методом косвенных измерений.

1.2. Вторичные эталоны

1.2.1. В качестве эталона сравнения единиц бикомплексной проницаемости применяют комплект эталонных четырехполюсников в

ГОСТ 8.2Г4—85 Стр. 3

диапазоне измерений 1-5-10 для относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и 1*10-4-5-1 для тангенсов углов потерь (tg6).

1.2.2 Средние квадратические отклонения результатов сличения эталона сравнения с государственным не должны превышать: •Ssoen—3*10-4 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и Ssotge — от 5*10~2 до 3*10-1 для тангенса угла потерь.

1.2.3.    Эталон сравнения применяют для международных сличений.

1.2.4.    В качестве рабочих эталонов единиц комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей применяют:

рабочий эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов толщиной не более 2 мм в диапазоне частот 0,2-н 1,0 ГГц и в диапазоне измеряемых величин* е' 1-5-10 для диэлектрической проницаемости и Ы04-НЫ0-1 для тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единиц от рабочего эталона образцовым средствам измерений 1-го разряда;.

рабочие эталоны единиц бикомплексной проницаемости в диапазонах частот 0,2-5-1,0 ГГц и 1-5-7 ГГц и в диапазоне измеряемых величин 1-5-10 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и Ы0-4-ь1 для тангенсов углов потерь, содержащий комплект эталонных четырехполюсников, компаратор для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости образцовым средствам измерений 2-го разряда;

рабочий эталон комплексной диэлектрической проницаемости^ в диапазоне частот 0,5-5-3,0 ГГц и в диапазоне измерений 10-5-1000 для диэлектрической проницаемости и 5-10“3-—1 для тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий эталонный образец и компаратор для передачи размера единиц комплексной диэлектрической проницаемости образцовым средствам измерений 1-го разряда;

рабочий эталон единицы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 1-5-3 ГГц и в диапазоне измерений Ы0_2—-3,5-10^1 (| р | Е ) модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля, полученного расчетным путем от воспроизведенной государственным специальным эталоном единицы диэлектрической проницаемости, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единицы модуля коэффициента отражения образцовым средствам измерений 2-го разряда.

1.2.5.    Средние квадратические отклонения Sso результатов сличений рабочих эталонов с государственным составляют:

Szoe от МО-3 до М0~2 по диэлектрической проницаемости и •Szotge от 4-10-2 до 2-10-1 по тангенсу угла диэлектрических потерь для рабочего эталона комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов;

Стр. 4 ГОСТ 8.274-85

Szqeji от Ы0~3 до 5*10-3 по диэлектрической и магнитной проницаемостям и Ssotge от 5*1 ()“2 ДО 15-10-2 ло^ тангенсу угла потерь для рабочих эталонов единий бикомплексной проницаемости;

0$ от 5-10~з до Ь10-2 по диэлектрической проницаемости и 52otg6 от 3*10-2 до 7*10-2 по тангенсу угла диэлектрических потерь для рабочего эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости;

52оР от 3.10-3 до МО-1 для модуля коэффициента отражения для рабочего эталона единицы модуля коэффициента отражения.

1.2.6. Рабочие эталоны применяют для передачи размера единиц образцовым средствам Измерений 1 и 2-го разрядов методом прямых измерений.

2. ОБРАЗЦОВЫЕ средства измерений

2.1.    Образцовые средства измерений 1-го разряда

2.1.1.    В качестве образцовых средств измерений 1-го разряда применяют:

образцовую установку для измерений параметров диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2-f-1.0 ГГц и в диапазоне измерений 1-1-20 для диэлектрической проницаемости и ЫО-4-г МО-1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 1-ИО для диэлектрической проницаемости;

образцовую установку дЛя измерений комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,5-ь 3,0 ГГц при температурах от минус 50 до плк7С 200 °С и управляющих напряжениях от 0 до 1000 В в интервалах измерений 10 ч-1000 для диэлектрической проницаемости, 5-10~3^ 1 для тангенса угла диэлектрических потерь'

2.1.2.    Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 1-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

бое от 0,5 до 2,0 % п0 диэлектрической проницаемости и 1>otg6 от 7 до 30 % ПО тангенсУ угла диэлектрических потерь образцовой установки для из^еРений параметров диэлектриков малых объемов.

бое 0,3 % ПО диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости;

бое 2 % по диэлектрической проницаемости и 6otge 10 % по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерения комплексной диэлектрической проницаемости.

2АД.    тмщтим.    i-m    чцямтяг

гют для передачи размера единиц стандартным образцам 2-го раз-

ГОСТ 8.274-85 Стр. S

ряда и рабочим средствам измерений методом прямых измерений и сличением при помощи компаратора.

2.2. Образцовые средства измерений 2-го разряда

2.2.1.    В качестве образцовых средств измерений 2-го разряда применяют:

стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2ч-1,0 ГГц и в диапазоне измерений 1—-20 для диэлектрической проницаемости и Ы0-4ч- ЫО"1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2-М,0 ГГц и 1ч-7 ГГц и в диапазоне измерений 1ч-20 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и Ы0~4ч-Ы0—1 для тангенсов углов потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,2ч-1,0 ГГц и в диапазоне измерений 1ч-10 для диэлектрической проницаемости;

стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,5ч-3,0 ГГц в диапазоне измерений 10-i-4000 для диэлектрической проницаемости и 5-10~3ч-1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы температурно-реверсивной комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 200-4-2000 для диэлектрической проницаемости и 5-10“3-г-1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 1-4-3 ГГц с интервалом измерений 1,0-10-2ч-3,5*10~Е для модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля.

2.2.2.    Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 2-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

бое от 1 до 3% по диэлектрической проницаемости и 6otg« от 10 до 60 % по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов;

ftoeti от 0,3 до 1,0 % по диэлектрической и магнитной проницаемостям и б otgs от 10 до 30% по тангенсам углов потерь для стандаотных образцов бикомплексной проницаемости;

бое 1 % по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости;

бое от 3 до 6 % по диэлектрической проницаемости и 6otgs 12 % по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости;

бое от 4 до 6% по диэлектрической проницаемости и 6otgs 15 % по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов темнературно-реверсивной комплексной диэлектрической проницаемости;

бо, от 10 до 20 % по модулю коэффициента отражения для стандартных образцов модуля коэффициента отражения.

2.2.3. Образцовые средства измерений 2-го разряда предназначены для поверки рабочих средств измерений методом прямых измерений.

3. РАБОЧИЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

3.1.    В качестве рабочих средств измерений применяют измерители параметров диэлектрических материалов, измерители параметров диэлектрических пленок, измерители добротности с приставками, измерители параметров материалов, измерительные линии с ячейками для измерений параметров материалов, измерители полных сопротивлений с ячейками для измерений параметров материалов, измерители комплексных коэффициентов передачи с ячейкой для измерений параметров материалов, панорамные измерители коэффициента стоячей волны с ячейкой для измерений параметров материалов, измерители параметров высоких значений комплексной диэлектрической проницаемости, полосковые компенсационные измерители, рупорные измерители.

3.2.    Относительные доверительные погрешности рабочих средств измерений при доверительной вероятности 0,95 составляют от 3 до 15% для диэлектрической проницаемости, от 5 до 15% для магнитной проницаемости, (10 +0,05/tg6) % для тангенсов углов потерь и 20-М0.% для модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля.

Редактор М. А. Глазунова Технический редактор М. И. Максимова Корректор Я. Д. Чехотина

Сдано в наб. 27.11.86 Подп. в печ. 23.01^86 0,5 уел. п. л- + вкл. 0,5 уел. п. л. 1,0 уел1, кр.-отт.

0,42 4- 0.44 вкл. уч.-изд. л. Тир. 12000 Цена 5 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123840, Москва, ГСП

Новопресненский пер., 3.

Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 3557

Государственная поверочная схема «ддя средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэфф


ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ эталон единиц биномпленсной прс 0,241,0 ГГц

/*W -1-10    -iiov-

Sa “1 ю4    sg    -2.|о*т

в„ -5 10V

\>д -0,01-гО


6а -2 НИ Vj -0,7 10-*


Метод прямых измерений

sic*. -aw )

S'loi-jS -0.03-H3.15 У


ЭТАЛОН СРАвНЕНИЯ 0,2^1,0 ГГц /*', а' -I-ю    tgS    -110-vi

Чоул- “310~‘ *ыда °5 **** ю-’


(Метод прямых измерений \

S'ioe, -310-*    )

4otgS -0.0340.15 у

“РАБОЧИЙ Э1АЛОН ЕДИНИЦ КОМПЛЕКСНОЙ

диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов

0,2-f1,0 ГГц

е' -i4io    tgS —1 кк-н«V

Sc ^ -1W4lW 51оЦЪ -4 W>V2 Ю-*



?Ле 'од прямых измерений \ 4-е - “*310-*    )

SfjtCC _ Я 03-3,15 У


[ Метод косвенных ц.л e?ci..< (    *‘г.об*. “ЗЮ-‘


SjotrS -0,0340,15


рабочим эталон единиц бикомплексной проницаемости

0,2 - 1,3 ГГц (*!,£.' —Ж о    tgd “1 ю-Vi

-о W4510-- SMs! --S UH415W


РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИ№ БИКОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАТ 1т-7 ГГц

—1-vio    is/д    —но

■W”510



Метод прямых измерений б'аг. -0.34-1,04 &ntaff —З-т-20%


Образцовая установка для измерений параметров диэлснтринов малых объемов 0,241,0 ГГц

&' -1420    tgS —I ю**i w

две. -0,542,0%    ffitfS -7430%


_У*\_


Метод прямых измерений dJc -0,542,0% Skgr —7430%


Метод прямых измерений -0,140,5% $kgS- —5-7-20%


Стандартные образцы ком

плексной диэлектричесной

проницаемости диэлентри-

Стандартные образцы би-

Стандартные образцы би-

ное малых объемов

вомппексиой проницаемости

номплепсной проницаемости

0,241,0 ГГц

0,241,0 ГГц

147 ГГц

£,' -1420

—1420

file.' -1420

tgS -110-V1-KH

igS' -1-10-V1-10-’

tgS -i io-vi io-’

баш, “14'3%

SOBtft -0,341,0%

So£.,fi *0,341,0%

SotgS —10460%

SotgS -1«^30%

SotgS -10430%


Метод прямых измерений

S‘B&, -0,341,0$

SotgS -4420%


Метод прямых измерений 8'оъ -143%

SotgS -КНЯ0%


)—С


Метод прямых измерений &*.Ц -«,341,0% -10430%


Приборы для измерений бикомплексной проницаемости


£    -144000

//' -1420 igS —5 10-*41 S'oejfi “1% $0tgS ~20%


Измерители параметров диэлектрических материалов

0,241,0 ГГц £.' -1-20 tgS -1 io-vi 10-Sov —34"15%

0,005


Измерители параметров диэлентричесних пленок

0,241,0 ГГц б' -1420 tgS~ 1Юvi Sot. -3420%

„ 0,01

SotgS “<204 —}%


Измерители добротности с приставкам» 0,0240,30 ГГц £.' -1410

«£^-1W45-W <£?«. “4%

Saiga-******'


Измерители параметров материалов 0.241,0 ГГц е'/I* -1420 tgS —5-io-vi Soju «43410%

_    0,05

Solgt Нао+^%


Измерители параметров материалов 147 ГГц —1-г20

tgS -510-V1 боец -3410%

„    0,05


Измерительные линии с ячейками для измерений параметров материалов

£.’ -144000 fl -1420 tgS -5 io-vi Sgtjt —6420%

.    0,05

SatgS


Измерктели сопротивпе кой для изм пзрамвтров лоа

С “1-

/а' -1-to5 -5


°oe>g

SotgS


e; SMtg6; S'Wtk SWP> bo*> eotg* • «б»: «^-погрешности метода передачи размера едшдац


щств измерений «ихомллексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,24-1,0 ГГц

ГОСТ S.274—81