Сертификация: тел. +7 (495) 175-92-77
Стр. 1
 

10 страниц

304.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости - относительных единиц в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки

Утратил силу в РФ

Утратил силу на территории РФ, с 01.01.2013 пользоваться ГОСТ Р 8.768-2011

Действие завершено 01.01.2013

Оглавление

1 Эталоны

2 Образцовые средства измерений

3 Рабочие средства измерений

Показать даты введения Admin

Страница 2

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР qo стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Н. Л. Яцынина, канд. техн. наук (руководитель темы); Г, А, Ведюшкин, канд. техн. наук; Н. М. Карих, канд. техн. наук; Н. А. Никулина; Н. А. Щеткин

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л. К. Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октября 1985 г. М2 118

Страница 6

Стр. 4 ГОСТ 1.274—8S

Ssotm    от МО"3 до    SIO-3    по диэлектрической и магнитной проницаемостям и Srotgd    от 5-10-2 до 15*10-2 по тангенсу угла потерь

для рабочих эталонов единиц 6икомплексной проницаемости;

Szo*    от 5*10"3 до    Ь10“2    по диэлектрической проницаемости

и    Szotge    от 3.10-2 до    7*10“2    по тангенсу угла диэлектрических по

терь для рабочего эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости; '

Ssop от 3-10—3 до МО-1 для модуля коэффициента отражения для рабочего эталона единицы модуля коэффициента отражения.

1.2.6. Рабочие эталоны применяют для передачи размера единиц образцовым рредствам измерений I и 2-го разрядов методом прямых измерений.

2. ОБРАЗЦОВЫЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

2.1.    Образцовые средства измерений 1-го разряда

2.1.1.    В качестве образцовых средств измерений 1-го разряда применяют:

образцовую установку для измерений параметров диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2-г-1.0 ГГц и в диапазоне измерений 1ч-20 для диэлектрической проницаемости и Ы0~4ч- МО'1 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 1ч-10 для диэлектрической проницаемости;

образцовую установку для измерений комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,5ч-3,0 ГГц при температурах от минус 50 до плюс 200 °С и управляющих напряжениях •от 0 до 1000 В в интервалах измерений 10ч-1000 для диэлектрической проницаемости, 5*10_3ч-1 для тангенса угла диэлектрических потерь'

2.1.2.    Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 1-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

бое от 0,5 до 2,0 % по диэлектрической проницаемости и 'Sotgo от 7 до 30 % по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерений параметров диэлектриков малых объемов.

бое 0,3 % по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости; *

бое 2% nb‘диэлектрической проницаемости и 6otge 10% по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерения комплексной диэлектрической проницаемости1.

2.1.3.    Образцовые средства измерений 1-го разряда применяет для передачи размера единиц стандартным образцам 2-го раз-

Страница 10

I

лете юмерскиЯ вихсмплсксиоЛ гтроииавемостн и модуля ковффиаяеттт* отражения ■ дамадем «стот ОД-Н.О ГГц    -ГОСТ «Л74 »5

•'ДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ БИМОМ ПЛЁМСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ

о.гм.о гтц

/л\е‘ -жо    -1ХК+1

St -I KK    Sf    -2 *0^-1 to-'

в» ”3    Bt    “5 УУ-г2 Ю-’

V, -О.Г Ю'    tfc    -0.01т0л5

ЫвГОД ПрЯМЫХ И«м«с»*«й

5jJtg£ -".ОЭгЭ.»

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ БИИОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОД 41.0 ГГЦ -vmo

ИУ-ЯУ J/rЙ,Ч ^ »>

Метод иоееенич» н^'врс»:*й ***' “ООЗ-Ю.15

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ

вииомплеисной проницаемости wmi

ц'.С' -ню    tg$    -1    «К+1

«ЧЮ*»*-*'    -*•»**»    ХУ


Непосредственное

ЧСНИв

£«-42%

Метод

I#/


si«. -3»-

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ 0.М-3.0 ГГц

л' -то-woo

-5 «И-И Ю* Siftgg -3 »*г7 Ю>

Метод nvuvi намерений Sit, -ОАИ.0%

Sttff.-Эт-7%

Метод НОС—ним» ммаеремнй

5i*/ “s «к-ио1

РАБОЧИЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦЫ МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ «ГГц 1/>1£ -1 ККт-3,5 Ю'

-вктвк


Образцовая гстаиом для шеереянй но* -, ппвисмой диалемтртвспой п рои кие ем ости ;

• итервегм температур от -вО»С до +200*С и управляиАцих напряжений от 0 до 1000 В 0,5*3.0 ГГм *'-ЮИООО    ^*-в«К+1

&// -«*


Стандартные образцы диэлектрической проницаемости

0,27-1.0 ГГц & ' —1гЮ «4 -0.34


Метод прямыа измерений

4^ -0.1-0.54 Silos’ -*т-204


> ГСИ помощи номп«р*тор«

^ -о.еч


Метод прямых намерений

f±-t% _ "W,k


Метод прямы» измерений

Ь'г -0,3-10,0%



wepneie образцы б~-гтеиоюй проницаемости 0.2+1.0 ГГц . -1+20 «Г -ИО'-И Ю-1

#>4 -0,3-10%

-ИН-30%

Стандартные пбрезцы би-комплексном проницаемости 1+7 Пм а!л" -Ь-20 qS -IIO'+IKK

хЯ

*ot* -0.3^1,04 <tot96 *ЮтЭ04

Стандартные образцы диэлектрической проницаемости 0.2-1.0 ГГм -tr10 4*14

Стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости

O.W-3.0 ГГц

Я■ -юмооо

tgf -ЯУ-1 Set. ■#! Н ”

Стандартные образцы тем-паретурнороеврсивиой комплексной диэлектрическом проницаемости

0.5+3.0 ГГм 2004-2000

tgS' •♦Ю*Н s9i9y

Стандартные о«шцы модуля коэффициента отравления

М-ЭГГц

//>/*■ -1.010'>-3,5Ю-'

-«-204


Метод прямых измерет)

Sit. -*Ч4

-12-15%


Метод прямых измерений

Sa/> -Х>г20*


Метод прямых измерении

-0.ЭП.1Ш Stiff -«*-30*


*

Иэмеритепн полных сопротиапмня’1 с ячейкой агя намерений гчраметрое метеоиа-

лое

й" —1*4000

м' ни»

-5 1041 ~«-2(П.

- 0.06

Sotff


Намерит ели переиет-ро« иомллеисной ли-а.тентримвеиой прони-иоемости

«' —20г4000

tgS —5 ю*-м Soc -*-204

S0t9s


Попосновме

NOwnoHc«u-iWHbie

иэм#рктели

//»If - 0,05-f0,50

St ft - 20М0Ч


■*■■■»■ парэ-етров материалов

ОДт-1.0 ГГц «../** —1J-20 -010-N-t вд^Ы -З.ЧОЧ

.    0.05

V -”0f^4


Имеритсли перемет рое метермапса

1+7 ГГм

#,>* —1-г20

-в Ю'-Н


с ячекиамн для намерений переметров метеркалое

t -1^4000

fl —Н-20

tgS —вКХ-rl

-*rJ0%

-    0.05


Рупсрнме изгдермтели l/»lf - 0.05f0.50


- 20M04


’ej>


-J^tO% 0X15


'1ГЦ.


Итмеритепи номппеис-ных ноарфициеитоа.. перелечи с ячейиой для намерений пере- -метров материалов

«' -1^*000

Af' -1i-20

-410*4-1

S0t^i -«+аоч

а    0,05

°ot<)S -*м“ —) %


Пенорамные иаморите-ли иоаффиииенте стоячей волны с я-ейкой для намерений пере-мегров метеркапэв

с -ьчооэ

tgf-9 ю*м б,с -t -20%


Заменяет ГОСТ 8.274-78