Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

15 страниц

304.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает спектральные методы определения кремния (при массовой доле от 0,0007 до 0,6%), железа (при массовой доле от 0,0007 до 0,6%), меди (при массовой доле от 0,0007 до 0,02%), титана (при массовой доле от 0,0007 до 0,02%), цинка (при массовой доле от 0,0007 до 0,15%), марганца (при массовой доле от 0,0007 до 0,02%), магния (при массовой доле от 0,0007 до 0,02%), хрома (при массовой доле от 0,0007 до 0,01%), ванадия (при массовой доле от 0,0007 до 0,01%), натрия (при массовой доле от 0,0005 до 0,03%) в первичном алюминии высокой и технической чистоты с фотографической и фотоэлектрической регистрацией спектра

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

АЛЮМИНИЙ ПЕРВИЧНЫЙ

МЕТОДЫ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ГОСТ 3221-85

Издание официальное

БЗ 11


И ПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

Страница 2

УДК 669.71:543.42:006.354    Группа В59

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

АЛЮМИНИЙ ПЕРВИЧНЫЙ

Методы спектрального анализа    ГОСТ

Primary aluminium.    3221    85

Methods of spccl га! analysis

ОКСТУ 1709

Дата введения 01.07.86

Настоящий стандарт устанавливает спектральные методы определения кремния (при массовой доле от 0.0007 до 0,6 %), железа (при массовой доле от 0.0007 до 0,6 %), меди (при массовой доле от 0.0007 до 0,02 %), титана (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), цинка (при массовой доле от 0,0007 до 0.15 %), марганца (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), магния (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %). хрома (при массовой доле от 0,0007 до 0.01 %), ванадия (при массовой доле от 0,0007 до 0.0! %), натрия (при массовой доле от 0,0005 до 0,03 %) в первичном алюминии высокой и технической чистоты с фотографической и фотоэлектрической регистрацией спектра.

Методы основаны на возбуждении атомов алюминия и примесей электрическим разрядом, разложении излучения в спектр, регистрации аналитических сигналов, пропорциональных интенсивности или логарифму интенсивности спектральных линий, и последующем определении массовой доли элементов в образце с помощью градуировочных характеристик.

I. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

1.1.    Градуировочные характеристики устанавливают графическим или расчетным способом для каждого элемента по соответствующим стандартным образцам (СО), аттестованным и применяемым в соответствии с ГОСТ 8.315.

1.2.    Регистрация спектра — фотографическая и фотоэлектрическая.

1.3.    Для подготовки проб и выполнения анализа алюминия высокой чистоты должно быть выделено отдельное оборудование. В помещении лаборатории должна действовать установка для очистки воздуха от пыли и других загрязнений, а также поддерживаться заданные температура и влажность воздуха.

(Измененная редакция, Изм. .Ne 1).

2. ОТБОР ПРОБ

2.1. Отбор проб от жидкого металла

Отбор проб проводят заливкой жидкого металла в графитовый или чугунный плотно закрывающийся кокиль. Внутренняя поверхность кокиля и ложки, которой отбирают пробу, должна исключать возможность загрязнения пробы определяемыми элементами. Конструкция кокиля произвольная. Конструкция кокиля и его подготовка к отбору проб должны обеспечить получение однородных проб правильной формы и размеров без раковин, трещин и приливов.

На отобранных пробах должен быть выбит соответствующий номер.

Изланне официальное    Перепечатка    воспрещена

© Издательство стандартов, 1985 © И ПК Издательство стандартов. 1998 Переиздание с Изменениями

Страница 3

С. 2 ГОСТ 3221-85

2.1.1.    Для анализа алюминия технической чистоты отбирают пробы диаметром 5—6 мм.

2.1.2.    Для анализа алюминия высокой чистоты отбирают пробы диаметром X—10 мм.

2.1.3.    При выполнении анализов на квантометре с продувкой разряда аргоном пробы отбирают диаметром и высотой 30—50 мм, в зависимости от конструкции штатива, формы и размеров СО.

2.1.4.    (Исключен, Изм. № 1).

2.2. Отбор проб от чушек и других видов полуфабрикатов из первичного алюминия

2.2.1.    Для контроля химического состава чушек и других видов полуфабрикатов из первичного алюминия пробы отбирают в виде прутков, полос, дисков или другой формы в соответствии с нормативно-технической документацией.

2.2.2.    Пробы должны быть однородны. На поверхности пробы, предназначенной для обыскри-ваиня. не допускаются раковины, шлаковые включения и другие дефекты.

3. ПОДГОТОВКА ПРОБ К АНАЛИЗУ

3.1.    Для анализа используют образцы (после заточки): прутки круглого или квадратного сечения диаметром от 5 до 50 мм, длиной 35—120 мм, диски, полосы толшиной не менее 5 мм. Допускается использовать образцы других размеров, соответствующих размерам СО.

3.2.    Обыскриваемую поверхность анализируемых образцов (АО) и стандартных образцов (СО) затачивают на плоскость, конус или полусферу на токарном или фрезерном станке (образцы диаметром 5—10 мм допускается обрезать механическим ножом или затачивать напильниками) до получения однородной поверхности без раковин и шлаковых включений.

(Измененная редакция, Изм. .\° I).

3.3.    Для анализа используют парные АО или АО с противоэлектродом из спектр&чьночистого

угля.

3.3.1.    Спектральночистые угольные противоэлектроды диаметром 6 мм затачивают на полусферу с радиусом закругления 3—4 мм или на усеченный конус с площадкой диаметром 1.5—2 мм. при угле заточки 40—60 *.

3.4.    Чтобы избежать попадания в разряд загрязнений с боковой поверхности АО и СО. концы образцов должны быть протерты этиловым ректификованным спиртом.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

3.4.1—3.4.2. (Исключены, Изм. I).

3.5.    При определении массовой доли натрия, а также минимальных значений массовой доли железа, кремния и титана в алюминии высокой чистоты рекомендуется травление образцов в течение 10—15 мин в растворе соляной кислоты (1:5) в сосудах, не загрязняющих раствор определяемыми элементами.

При выполнении следующего травления часть образца, ранее подвергавшуюся травлению, удаляют.

(Измененная редакция, Изм. № I).

3.5.1.    (Исключен, Изм. № 1).

3.6.    Подготовка АО и СО к анализу должна быть идентичной.

4. МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАИИЗА С ФОТОГРАФИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИЕЙ

СПЕКТРА

4.1.    Аппаратура, материалы, реактивы

Спектрограф типов ИСГ1-30, СТЭ-1, ДФС-452.

Генератор типов ИГ-3. И ВС-23, И ВС-28. ДГ-2, Аркус, УГЭ-4.

Спектропроектор типов ПС-18, SP-2, ДС11-2.

Микрофотометр типов МФ-2, МД-100. ИФО-460.

Ослабители девятнступенчатые.

Фасонные угольные электроды особой чистоты марки ОСЧ-7—3, марки ОСЧ-7—4.

Фотопластинки для спектрального анализа типа ПФС-01 (СП-1); ПФС-03 (СП-2); ПФС-02 (СПЭС); «микро», чувствительностью 3—130 единиц по ГОСТ 10691.0ГОСТ 10691.4 или любого типа, обеспечивающие нормальное почернение аналитических линий и линий сравнения (принадлежащих прямолинейному участку характеристической кривой фотоэмульсии).

Страница 4

ГОСТ 3221-85 С. 3

Фотокюветы или другие сосуды для обработки фотопластинок.

Сушильный шкаф или электрополотенце для сушки фотопластинок любого типа, обеспечивающие нагрев воздуха до 30'С. Комнатный кондиционер типов КС-4— 12Б, КЛ-6Л, БК-2500 и др.

Термометр лабораторный по ГОСТ 28498.

Станки токарные типов ТВ-16. ТВ-14 и др.

Станки для заточки образцов типа КП-35.

Приспособления для заточки угольных протнвоэлектродов, позволяющие затачивать их на полусферу или конус.

Ножи типа гильотины для обрезки алюминиевых образцов на плоскость.

Тиски ручные и настольные.

Напильники типов 2820-0016, 2820-0021, 2820-0022, 2820-0026, 2820-0027 по ГОСТ 1465. Электрододержатели. конструкции которых и материалы, из которых они изготовлены, исключают попадание в аналитический разрядный промежуток контролируемых элементов.

Батист для чистки оптики; размер куска 200 х 200 мм на 1 прибор, сроком на 3 мес.

Фланель для обтирки приборов и генераторов; размер куска 300 x 300 мм на один прибор, сроком на 3 мес.

Ткань хлопчатобумажная для обтирки АО перед анализом; размер куска 200 х 200 мм на 100 образцов диаметром 5—10 мм, размер куска 200 х 200 мм на 50 образцов диаметром 30—50 мм. Лабораторная мерная посуда (цилиндры, мензурки, колбы) по ГОСТ 1770.

Спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 18300; при анализе алюминия технической чистоты — 1 см’ на 5 образцов диаметром 5—6 мм: при анализе алюминия высокой чистоты — I см3 на I образец диаметром 8—10 мм или I см3 на одну поверхность диаметром 30—50 мм; при заточке проб на фрезерном или токарном станке со спиртовым охлаждением и смазкой — 7 см’ на одну анализируемую поверхность. Допускается применение очищенного перегонкой технического этилового спирта по ГОСТ 17299.

Вата гигроскопическая по ГОСТ 5556.

Проявитель, состоящий из двух растворов.

Раствор Л

метол (параметиламннофенолсульфат) по ГОСТ 25664 — 2,3 г; натрий сернистокислый (сульфит натрия) кристаллический — 110 г; гидрохинон (парадиокснбензол) по ГОСТ 19627 — 11,5 г; вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — до 1000 см3.

Раствор Б

натрия углекислый 10-водный по ГОСТ 84 — 115 г;

калий бромистый по ГОСТ 4160 — 7 г;

вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — до 1000 см3.

Растворять вещества следует последовательно в порядке, указанном выше.

Перед прояапением смешивают растворы А и Б в равных объемах.

Фиксаж:

вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000 см3;

натрий тиосульфат (гипосульфит) кристаллический по ГОСТ 244 — 300 г; аммоний хлористый по ГОСТ 3773 — 60 г.

Раствор уксусной кислоты:

кислота уксусная по ГОСТ 61 — 30 см3;

вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000 см3.

Кислота соляная по ГОСТ 3118. разбавленная дистиллированной водой 1:5.

Стандартные образцы; государственные стандартные образны (ГСО), отраслевые стандартные образцы (ОСО), стандартные образцы предприятия (СОП).

Длина используемых стандартных и анализируемых образцов не должна быть менее 35 мм при диаметре 5—10 мм и менее 15 мм — при диаметре 30—50 мм.

4.2.    Допускается применение других средств измерений с метрологическими характеристиками и оборудования с техническими характеристиками не хуже, а также реактивов по качеству не ниже вышеуказанного. Среде та измерений должны пройти проверку (государственную или ведомственную) или быть аттестованы по ГОСТ 8.326.

4.3.    Рекомендуемый режим обработки фотопластинок Температура фоторастворов должна быть (20±!) ’С.

Страница 5

С. 4 ГОСТ 3221-85

Последовательность обработки: фотопластинку проявляют, промывают проточной водой, опускают на 10—15 с в раствор уксусной кислоты, снова споласкивают водой и опускают в фиксаж до полной прозрачности неэкспонированных участков пластинки, после чего ее тщательно промывают водой и сушат.

Проявление фотопластинок ведут при красном свете или в темноте — в зависимости от типа фотопластинок. Во время проявления кювету необходимо плавно покачивать для перемешивания проявителя. Фиксирование начинают в тех же условиях, что и проявление, через 2—3 мин можно продолжать при обычном освещении.

4.1—4.3. (Измененная редакция,Изм. № I).

4.4. Проведение анализа

4.4.1. Условия проведения анализа с фотографической регистрацией спектра приведены в табл. 1 приложения 1. Длины волн спектральных линий и соответствующие диапазоны значений массовой доли контролируемых элементов приведены в табл. I.

Таблица 1

Определяемый элемент

Длина волны опрс цел немого элемента, нм

Мешающие элемент

Диапазон значений массовой лодн элемента, %

Ванадий

437,92

Железо

0.003-0.01

318.54

0

0,001-0,01

318.40

»

0.001-0,01

Железо

371,99

0.0005-0,5

302.06

Хром

О.ОООЗ-О.З

275,40

0,1-1,0

274,32

Никель

0,1-1,0

259.94

0.03-1.0

248.33

0.0005-1.0

239.56

0.1 —1.0

Кремний

390.55

Железо

0,1-1,0

298,76

0.5-1.0

288.16

0.0005-1.0

251.61

Тиган

0.001-1.0

250.69

0.01-1.0

Магний

518,36

_

0,001-0,02

285.21

Железо

0,0005-0,02

280.27

Марганец

0.001-0.02

279,55

Железо

0.001-0.02

279,08

0.003-0.02

Марганец

482,35

0.001-0.02

403,08

Галлии, железо

0.0002-0.02

294,92

Вольфрам, титан

0.001-0.02

293,30

0.005-0,02

280.11

Магний, железо

0.0002-0.02

260,57

0.001-0.02

259,37

Железо

0.001-0.02

Медь

510.55

Железо

0.001 —0,03

327,40

О.ОООЗ-О.ОЗ

324.75

Желе к), титан

0,0003-0,03

О.ОООЗ-О.ОЗ

Натрий

589.59

0,001-0.03

589.00

0.0003 -0.02

Титан

365,35

Железо

0,002-0.03

337,28

0.003-0.03

334.90

0.0001-0.03

323,45

Желе ю

0.005-0.03

Хром

425,43

_

0,0001-0.005

359.35

Железо

0.001-0,01

357,87

Полоса CN

0.003-0.01

301,48

Железо

0.003-0.01

Цинк

636,23

_

0.001-0.1

4SI.05

0.001-0.1

334.50

-

0.0002-0,1

Страница 6

ГОСТ 3221-85 С. 5

Продолжение

Определяемый элемент

Длина волны определяемого элемента, мм

М с шлюш ие элемент

Дн.пиюи значений массовой доли элемента, %

Линия сравнения:

1) алюминий

396,153

394,403

308,216

305,993

305.008

293.6

266,92

265.249

266.039

237.841

2) фон вблизи анали

тических линий

П р и м с ч а н и я:

!. Из приведенных линий для конкретной аналитической методики выбирают оптимальные линии в зависимости от их интенсивности, наложения других линий («мешающие элементы»), типа спектральной установки, чувствительности фотопластинок или фотоумножителей, возможности размещении выходных щелей на каретках прибора.

2. Допускается использовать другие спектральные линии, при условии получения метрологических характеристик, не хуже установленных настоящим стандартом.

4.4.2.    Дня построения градуировочной характеристики выбирают не менее четырех СО, охватывающих определенный диапазон значений массовой доли данного элемента. Недопустимо экстраполировать градуировочные характеристики за пределы значений массовой доли контролируемого элемента в соответствующих СО. на основании которых была установлена градуировочная характеристика.

Спектры АО и СО фотографируют на одной фотопластинке при выбранных условиях анализа сериями: спектры СО должны располагаться между спектрами АО так, чтобы усреднить возможную неоднородность фотоэмульсии. Для каждого СО и АО фотографируют не менее двух спектров от независимо заточенных поверхностей. Например, если АО представляют собой прутки диаметром 5—10 мм, спектры получают от их разных торцов.

При определении значений массовой доли примесей в алюминии высокой чистоты и при определении массовой доли натрия по всех марках первичного алюминия фотографируют не менее грех спектров от каждого СО и АО.

4.4.3.    После выполнения фотообработки сухую чистую фотопластинку фотометрируют на микрофотометре. Измеряют почернения S аналитических линий и линий сравнения (5— пропорционально логарифму интенсивности света данной длины волны, падающего на фотопластинку), вычисляют разность почернений AS для аналитических пар линий и среднее арифметическое Д5ср по двум-трем спектрам. Строят градуировочные характеристики в координатах Д.У.р — IgC для каждого элемента, где С — массовая доля контролируемого элемента в СО. Эта характеристика пригодна для определения массовой дат элемента в тех АО, спектры которых сфотографированы вместе со спектром СО на одной фотопластинке.

Почернения аналитических линий должны находиться в области прямолинейного участка характеристической кривой для данной фотоэмульсии и длины волны. Если почернения аналитических линий находятся вне прямолинейной области характеристической кривой, то необходимо изменить экспозицию при фотографировании спектров или использовать фотопластинки другой чувствительности.

При определении минимальных содержаний, когда малы почернения и мала разница между почернениями линии и фона, переходят от почернений к интенсивностям с помощью характеристической кривой, построенной в области недодержек.

Градуировочную характеристику в этом случае строят в координатах

18 (///«,)-!»С.

где /— интенсивность линии определяемого элемента;

/ — интенсивность линии сравнения или фона вблизи линии контролируемого элемента.

(Измененная редакция, Изм. .\е 1).

Страница 7

С. 6 ГОСТ 3221-85

4.4.4. При выполнении экспрессного анализа допускается использовать метод «постоянного графика».

Основную градуировочную характеристику устанавливают при внедрении конкретной методики на данной спектральной установке.

Для этого фотографируют не менее трех спектров каждого СО на пяти разных фотопластинках. Вычисляют Д5С[> — среднее арифметическое 15 измерений (по 15 спектрам). Определяют прямолинейный участок градуировочного графика и выбирают два СО, расположенных на границах прямолинейного участка.

При анализе АО на рабочей фотопластинке три раза фотографируют спектры выбранных СО и два раза — АО. По результатам фотометрирования спектров СО определяют угол поворота рабочего графика и величину его параллельного смещения по отношению к основному графику.

По градуировочной характеристике в виде графика или таблицы определяют значение массовой доли контролируемого элемента в АО.

4.5. Обработка результатов

4.5.1. Параллельным (единичным) определением (Q считают значение массовой доли компонента в анализируемом материале, рассчитанное по аналитическому сигналу в одной спектрограмме, полученной на фотопластинке при фотографической регистрации спектра или на фотоэлектрической установке.    _

За результат анализа принимают среднее арифметическое С двух параллельных определений

С = -^Д    (I)

при условии, что при /*=0,95

IC.-CU4,    (2)

где </, — абсолютное допускаемое расхождение двух параллельных определений массовой доли, характеризующее сходимость результатов анализа; значения d2 приведены в табл. 2.

Если условие (2) не выполняется, то анализ следует повторить, установив необходимое число параллельных определений п (с учетом двух выполненных измерений) по формуле

я = 2    (3)

где daaU4ы — расхождение параллельных определений, полученных при выполнении анализа. Полученное значение округляют до большего целого числа.

За окончательный результат принимают среднее арифметическое параллельных определений при доверительном интервале, соответствующем доверительному интервалу среднего арифметического, которое было бы получено при соответствии (С, —С) нормативам табл. 2.

Таблица 2

Допускаемые расхождения, характеризующие схолимосгь н воспрои(волимосль результатов анализа

ирн фотографическом методе

Примесь

Диапазон массовой доли. %

Лбсолвнпые допускаемые расхождения двух параллель* них определений массовой доли примеси d2 <%). характеризующие показатель сходимости параллельных определений ос1 (/*—0.95 >

Лбсолюшые допускаемые расхождении двух параллельных определений массовой доли примеси D (3>). характеризующие покаитель воспроизводимости результагоа анализа а.кр. (Р-0.95»

Железо.

Ог 0,003 до 0.010 включ.

0.002

0.004

кремний

Св. 0,010 . 0.030 .

0.006

0.010

» 0.03 * 0.10 »

0.01

0,02

* 0.10 * 0,30 *

0,03

0,05

> 0.30 * 0,60 »

0.04

0.06

Медь

Or 0.0005 до 0.0010 включ.

0.0002

0,0004

Св. 0.0010 » 0,0050 »

0.0007

0.0015

* 0.005 . 0,010

0.001

0.002

* 0,010 * 0,020

0.002

0,003

Страница 8

ГОСТ 3221-85 С. 7

Продолжение

Примесь

Линии Kin массовой доли. %

Абсолютные допускаемые расхождения двух параллель них определений массовой доли примеси dj (%), характеризующие показатель сходимости параллельных определений с£1 (/*-0.95>

Абсолютные допускаемые расхождении двух параллельных определений массовой доли примеси 0 <%). характеризующие показатель воспроизводимости результатов анализа oeoi.Ilp (/*—0,95»

Магний

Or 0.0007 до 0.0010 включ.

0.0002

0.0004

Св. 0.0010

* 0.0050 *

0,0007

0.0015

* 0.005

» 0.020

0.002

0.003

Титан.

Or 0,0007 до 0.0010 включ.

0,0002

0,0004

марганец

Св. 0.0010

» 0.0050 *

0,0007

0,0015

» 0.005

» 0,010

0.001

0.002

» 0.010

* 0.020

0.002

0,003

Цинк

Or 0,0007 до 0.0010 включ.

0.0002

0,0004

Св. 0.0010

» 0.0050 *

0,0007

0.0015

» 0.005

» 0.010

0.002

0.003

» 0.010

» 0.100 »

0.007

0.015

Хром.

Or 0.0010 до 0,0020 включ.

0,0004

0,0008

ванадий

Св. 0.002

• 0.010 •

0.001

0.002

Натрий

Or 0.0007 до 0.0010 включ.

0.0010

0.0020

Св. 0.001

» 0.004 *

0.002

0,003

» 0.004

* 0.010 .

0,004

0,006

* 0,010

» 0.020 .

0.008

0,015

4.5.2. При определении массовой доли контролируемых элементов в алюминии высокой чистоты и массовой доли натрия выполняют три параллельных определения (по трем спектрам). За результат анализа принимают среднее арифметическое С трех параллельных определений С,, С, и Су с доверительной вероятностью Р = 0,95

(4)

при условии, что

(5)

Если условие (5) не выполняется, то анализ повторяют, определив необходимое число параллельных определений (включая выполненные)) по формуле (3), где donuill — расхождение наибольшего и наименьшего результатов параллельных определений, полученных при выполнении анализа.

За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое п параллельных определений: его доверительный интервал соответствует доверительному интервалу среднего арифметического. которое было бы получено при соответствии (Стм—Cmin) нормативам табл. 2.

4.5.3. При определении значений массовой доли контролируемых элементов вблизи границы марки результат анализа вычисляют как среднее двух и более определений. Необходимое количество определений (.V) вычисляют по формуле

d1 (1.64)' d; r'Q = г 42.77)1


0,35 -If, г2


(6)


N


где z — коэффициент, характеризующий предельную погрешность анализа для принятой доверительной вероятности /*=0.95 (г=1.64); г — цена единицы последнего разряда максимально допустимого значения массовой доли контролируемого элемента по ГОСТ 11069;

Q— фактор Пирсона (£*=2,77).

Полученное значение N округляют до большего целого числа.

4.5.1, 4.5.2. (Измененная редакция, Изм. № 1).

Страница 9

С. 8 ГОСТ 3221-85

4.6.    Контроль воспроизводимости результатов анализа

4.6.1.    Контроль воспроизводимости результатов спектрального анализа проводят не реже одного раза в квартал.

(Измененная редакция,Him. Nb 1).

4.6.2.    Количество повторных определений устанавливают в зависимости от обшего количества поступающих проб, но не менее 0.5 % всех проб товарной продукции, поступивших в лабораторию за квартал.

4.6.3.    Контроль воспроизводимости результатов анализа (рассчитанных как среднее арифметическое п параллельных определений, м>2) выполняют, сравнивая полученный ранее и воспроизведенный по данной методике результат анализа для выбранной пробы.

Расхождение между результатами первичного и повторного анализов сравнивают с нормативом D:/\n, где D, — абсолютное допускаемое расхождение результатов двух параллельных определений (полученных в разные смены), характеризующее воспроизводимость результатов анализа (значения

D, приведены в табл. 2).

Если разность результатов первичного и повторного анализов одной и той же пробы превосходит значение норматива Д/м'я не более чем в 5 % случаев, то воспроизводимость результатов спектрального анализа считают удовлетворительной.

4.7.    Контроль точности результатов спектрального анализа

4.7.1.    Контроль точности результатов спектрального анализа осуществляют по I CO через весь ход анализа. Использование для контроля точности ОСО и COI1 допустимо в случае, если не выпушен соответствующий комплект ГСО для аналитического диапазона или определяемого компонента. не предусмотренного ГОСТ 11069.

Разность единичного результата X определения массовой доли примеси в ГСО. используемых для контроля точности анализа, спектры которых каждый раз фотографируют со спектрами анализируемых проб, и аттестованного значения массовой доли примеси С,п. не должна превышать значений d2, приведенных в табл. 2.

I X-CaJJt&d2.    (7)

Для контроля точности результатов анализа используют не менее двух ГСО, аттестованные значения массовых долей компонентов которых близки к верхним и нижним границам диапазона массовой доли определяемых компонентов.

Если условие (7) не выполняется, то анализ повторяют, установив причины отклонения.

4.7.2.    Кроме контроля точности результатов анализа с применением ГСО, проводят также контроль полученных данных химическими методами по ГОСТ 25086 и ГОСТ 12697.1ГОСТ 12697.10 или другими методами не реже одного раза в квартал.

Количество результатов спектрального анализа, контролируемых химическими или другими методами, зависит от общего количества поступающих проб, но должно быть не менее 0.1 % всех проб, поступивших в лабораторию за указанный период.

4.7.3.    Совпадение двух методов можно считать удовлетворительным, если наблюдается условие

—I    (8)

{ v <ЛЛШ> '"см    V (П ,*) ' J

где </иип|, <4<кштр) ~ показатели сходимости для спектрального и контрольного методов, приведенные в соответствующих стандартах:    _    _

пса, пк(ш    —    число единичных результатов при вычислении ~'.п и TKOinp;

СЧЛ п) — фактор Пирсона; при /*=0,95

Q »

2,77 2 3,31 3

3,63 4

При «с|1=/»кс,11гр=2

М(св”^1с0*1» „1 < 0,5(4(св)+4<1ОН1р)).    (9)

Контроль точности результатов анализа также необходимо проводить после длительного перерыва в работе, pcMOitra оборудования.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

Страница 10

ГОСТ 3221-85 С. 9

5. МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА С ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИЕЙ СПЕКТРА

5.1.    Аппаратура, материалы, реактивы

Фотоэлектрическая установка типов МФС-4, МФС-6. МФС-8, ФСПА-У. Ост&аьная аппаратура: материалы, реактивы — по п. 4.1 и 4.2. за исключением специфически относящихся к фотографическому методу.

5.1.1.    (Исключен, Изм. № 1).

5.2. Подготовка к анализу

5.2.1.    Подготовку фотоэлектрической установки к выполнению измерений проводят согласно инструкции предприятия-изготовителя по обслуживанию и эксплуатации установки.

5.2.2.    Установление градуировочных характеристик для каждой <|ютоэлектрической установки осуществляют при внедрении методики выполнения измерений с помощью ГСО состава. Комплект ГСО должен полностью перекрывать весь диапазон определяемых значений массовой доли каждого из контролируемых элементов.

5.2.3.    При первичной градуировке выполняют не менее пяти серий измерений в разные дни работы фотоэлектрической установки. В серии для каждого СО проводят по две пары параллельных измерений (выполняемых одно за другим на одной поверхности). Допускается, если размер анализируемой поверхности не позволяет выполнить два измерения (пятна обыскривання перекрываются), использовать необходимое количество экземпляров одного и того же СО.

Порядок параллельных измерений выбирают случайным образом (меняя в каждой серии).

Вычисляют среднее арифметическое значение аналитических сигналов для пяти серий измерений каждого СО (20 измерений).

Расчетным или графическим способом устанавливают градуировочные характеристики, которые выражают в виде графика, таблицы или формулы.

Градуировочные характеристики используют для определения массовой доли контролируемых элементов в АО.

5.2.4.    Контроль стабильности градуировочных характеристик выполняют не реже чем через 4 ч работы фотоэлектрической установки. Допускается осуществлять контроль для верхнего и нижнего предела диапазона измерений.

Для выполнения контроля выбирают два СО с соответствующими значениями массовой доли данного элемента (или группы элементов) СО, и СО, и анализируют их не менее четырех раз. Вычисляют S, для серии измерений каждого СО (Л', и 5,).

Корректировка градуировочной характеристики необходима в том случае, если смещение D превышает стандартное отклонение четырех измерений СО для одного из пределов, т.е. при

где п„ — количество параллельных измерений СО. по которому контролируется положение градуировочных характеристик (па =4);

Qo/ ~ значение массовой доли элемента в /-м СО (/=1 или 2);

S, — относительное стандартное отклонение четырех измерений соответствующего СО.

5.2.5. Повторное градуирование фотоэлектрической установки выполняют в соответствии с п. 5.2.3 не реже одного раза в месяц, при этом допускается сокращение количества измерений.

5.3. Проведение анализа

5.3.1.    Условия проведения анализа приведены в табл. 2 приложения 1.

5.3.2.    Длины волн спектральных линий и соответствующие диапазоны значений массовой доли приведены в табл. 1.

5.3.3.    Выполняют два параллельных определения для каждого контролируемого элемента АО (по двум спектрам).

5.3.4.    При определении значений массовой доли контролируемых элементов в алюминии высокой чистоты марок А995 и А99 и при определении массовой доли натрия выполняют три параллельных определения (по трем спектрам).

5.3.3, 5.3.4. (Измененная редакция, Изм. № 1).

5.4.    Обработка результатов

5.4.1. Обработку результатов анализа выполняют в соответствии с п. 4.5. Значения d2, D, для фотоэлектрического метода приведены в табл. 3.

Страница 11

С. 10 ГОСТ 3221-85

Таблица 3

Допускаемые расхождения, характеризующие сходимость и воспрои «волимооъ результатов анализа

при фотоэлектрическом методе

Примесь

Диапаюн массовой доли. %

Абсолюты? допускаемые расхождения двух параллель них определений массовой доли примеси <%). характеризующие показатель сходимости параллельных определений ос% (Р-0.95)

Абсолютные допускаемые расхождении двух параллельных определений массовой доли npiiviecu D, С*\в). характеризующие imiauic.u воспроизводимости результатов а кал ни g„r|. I /»-0,95 >

Железо.

Or

0.0007 до 0.0010 включ.

0,0002

0,0004

кремний

Св. 0.0010 » 0.0030 .

0,0004

0,0006

*

0.003 * 0.010

0.001

0.002

*

0.010 * 0.030

0.003

0.005

0,030 . 0.100

0.007

0.010

»

0,10 * 0,30 *

0.01

0,02

W

0,30 * 0.60

0.02

0,03

Медь, магний.

От 0,0007 до 0.0010 вюиоч.

0,0002

0,0004

марганец.

Св. 0.0010 » 0,0050 »

0.0007

0.0010

титан

*

0,005 . 0,010 »

0.001

0,002

0.010 * 0,020

0,002

0.003

Ванадий,

От 0,0007 до 0.0010 включ.

0.0(Ю2

0.0004

хром

Св. 0.0010 * 0,0020 *

0,0004

0,0006

%

0.0020 . 0.0050 .

0.0007

0,0010

*

0.005 . 0.010 .

0.001

0.002

Цинк

Or

0.0007 до 0.0010 включ.

0.0003

0,0006

Св. 0.0010 * 0.0030 *

0.0006

0.0010

»

0.003 . 0,007

0.001

0.002

*

0.007 * 0,010 *

0,002

0.003

»

0.010 » 0,070

0.005

0.008

»

0.07 .0.15

0.01

0.02

Натрий

Or 0,0005 до 0.0010 включ.

0,0005

0,0008

Св. 0.0010 * 0.0040 *

0.0010

0,0015

»

0.004 . 0,010 *

0.002

0,003

*

0.010 » 0.020 *

0,004

0.006

(Измененная редакция,Изм. № 1).

5.5. Контроль воспроизводимости результатов анализа выполнен в соответствии с п. 4.6.

5.6. Контроль правильности результатов анализа выполняют в соответствии с п. 4.7.

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Рекомендуемое

Таблица I

Условия проведения анализа с фопнрафической регистрацией спектра

Значения массовой доли контролируемых элементов

%

Контролируемый

параметр

Железо, кремний — менее 0.03; медь, мар-ганец, магний, титан, и и и к — менее 0.005

Ванадий, хром, марганец, титан — менее 0,01; ииик — менее 0.1

Железо, кремний — менее 1.0: медь, мартанеи. магний, гитан — менее 0.03

Натрий — менее 0.02

Спектрограф

Ширина щели спектрографа, мм

ИСП-30

0,010-0.030

ИСП-30

0,010-0,025

ИСП-30

0,020-0,040

СТЭ-1

0.007-0.015

Страница 12

ГОСТ 3221-85 С. 11

Продолжение

Значения массовой доли контролируемы* элеменюв

%

Контролируемый

параметр

Железо, кремний — менее 0.03, медь, мар-ганец, магний, титан, цинк — менее 0.00S

Вамалий. хром, марганец, титан — менее 0.01; цинк — менее 0.1

Желе», кремний -менее 1.0: медь, марганец, магний, гитан — менее 0.03

Натрий — менее 0.02

Генератор. ха

ДГ-2; И ВС-28;

ДГ-2; И ВС-28;

ИГ-3: И ВС-23;

ДГ-2; И ВС-28:

рактер разряда

УГЭ-4

УГЭ-4

УГЭ-4

УГЭ-4. Дуга

Дуга переменного

Дуга переменного

Высоковольтная.

переменного или

или постоянного тока

или постоянного тока

конденсированная искра. Схема простая или сложная (управляемая)

постоянного тока

Индуктивность, XI Гн

0; 0.01; 0,05: 0.15; 0.55

Емкость, мкФ

0.005: 0.01; 0.02

Аналитический

промежуток, мм

1,5-2,0

1.5-2,0

2-3

1.5

Сила тока, А

5-9

7-9

1,5-4.0

7-8

Обжит, с

3-10

2-5

20-40

Без обжига

Полярность СО и АО в дуге постоян

ного тока

Анод

Анод

Анод

Фотопластинки,

1,2,ЭС, диапози

1.2.ЭС, диапози

!,2,ЭС, диапози

Изо панхром.

тип

тивные, «микро»

тивные, «микро»

тивные, «микро»

панхром

Система коорди

Д^-lgC; lg///cp-lgC

Д^-lgC; lg///£p-lgC

AS-lgC

Д5—IgC; tg///cp—IgC

нат

Примечания:

1.    Кроме парных образцов допускается применение угольного прогивоэлектрода, заточенного на плоскость. полусферу или усеченный конус.

2.    Время экспозиции устанавливают н зависимости от чувствительности фотопластинки. Почернения аналитических линий должны находиться на прямолинейном участке характеристической кривой.

3.    Допускается использовать другие условия анализа (в зависимости or имсюшейся аппаратуры, материалов, реактивов) при условии получения метрологических характеристик не хуже установленных настоящим стандартом.

Условия проведения ana.uiш с фотоэлектрической решетраиней спектра

Таблица 2

Значения массовой доли контролируемых элементов

%

Контролируемый

параметр

Железо, кремний — менее 1.0: медь, марганец, магний, гитан — менее 0.03

Же.тето, кремний — менее 0.03: мель, марганец, магний, титан, цинк — менее 0.00S

Ванадий, хром, марганец, титан — менее 0.01. цинк — менее 0,1

Натрии - менее 0.02

Фотоэлектрическая установка

МФС-4. 6. 8

МФС-4,6. 8

МФС-4. 6. 8

ФСПА-У

Напряжение питания. В

220±20

220±20

220*20

220±20

Ширина входной щели, мм

0.01-0.06

0,01-0.06

0,01-0,06

0,01-0.06

Ширина выходных щелей, мм

0,030-0.200

0.030-0.200

0.030-0,200

0.030-0.200

Страница 13

С. 12 ГОСТ 3221-85

Продолжение

Значения массовой доли контролируемых элеменюв

%

Контролируемый

параметр

Железо, кремний — менее 1.0: медь, марганец, магний, гитан — менее 0.03

Желсто, кремний — менее 0.03: мель, марганец, магний, титан, ииик — менее 0.00S

Ваналий, хром, марганец, титан — менее 0.01; иинк — менее 0,1

Haipiiit — менее 0.02

Генератор, ха

ИГ-3; И ВС-23;

ДГ-2; И ВС-28. УГЭ-

— дуга переменного.

постоянного тока или

рактер разряда

УГЭ-4

прсрывисгая дуга разной скважности

Сила тока, А

Высоковольтная конденс и рован н ая искра. Схема простая или сложная (управляемая)

1,5-4,0

3-9

3-9

7-8

Аналитический

промежуток, мм

1.5-3,0

1.5-2.0

1,5-2,0

1,5-2,0

Обжиг, с

20-40

3-5

3-5

Без обжша

Индуктивность, XI Гн

0; 0.01; 0.05; 0.15; 0.55

_

_

_

Емкость, мкФ

0.005; 0.01:0.02

Полярность СО и АО в дуге постоян

ного тока

Анод

Анод

Анод

Система коорди

нат

м—С;

Ign-lgC,

п—lgC

Примечания:

1.    Кроме парных образцов допускается использование угольного противоэлектрода. заточенного на полусферу или усеченный конус.

2.    Допускается использовать другие условия анализа (в зависимости от имеющейся аппаратуры) при условии получения метрологических характеристик, не хуже установленных настоящим стандартом.

ПРИЛОЖЕНИЕ I. (И шененная редакция. Изм. № I).

ПРИЛОЖЕНИЕ 2. (Исключено, Him. № 1).

Страница 14

ГОСТ 3221-85 С. 13

И НФОРМАЦИОН11Ы Е ДАН Н Ы Е

1.    РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством цветной металлургии СССР РАЗРАБОТЧИКИ

В.П. Киселев, канд. техн. наук; В.В. Барановский, канд. техн. наук; JI.В. Друцкая, канд. техн. наук; В/Г. Лаврентьева

2.    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17.06.85 № 1698

3.    Периодичность проверки — 5 лет

4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД. на который лапа ссылка

Номер пункта

ОБошаченне НТД. на который лама ссылка

Номер пункта

ГОСТ 8.315-97

1.1

ГОСТ 10691.0-84-

ГОСТ 8.326-89

4.2

ГОСТ 10691.4-84

4.1

ГОСТ 61-75

4.1

ГОСТ 11069-74

4.7.1

ГОСТ 84-76

4.1

ГОСТ 12697.1-77-

ГОСТ 244-76

4.1

ГОСТ 12697.10-77

4.7.2

ГОСТ 1465 -80

4.1

ГОСТ 17299-78

4.1

ГОСТ 1770-74

4.1

ГОСТ 18300-87

4.1

ГОСТ 3118-77

4.1

ГОСТ 19627-74

4.1

ГОСТ 3773-72

4.1

ГОСТ 25086-87

4.7.2

ГОСТ 4160-74

4.1

ГОСТ 25664-83

4.1

ГОСТ 5556-81 ГОСТ 6709-72

4.1

4.1

ГОСТ 28498-90

4.1

5. Ограничение срока действия снято по протока!)' № 5—94 Межгосударственного Совета по стандартизации. метрологии и сертификации (ИУС 11—12—94)

6. ПЕРЕИЗДАНИЕ (июнь 1998 г.) с Изменением № 1, утвержденным в августе 1990 г. (ИУС 11—90)

Страница 15

Редактор В.II. Кописоп Технический редактор Н.С, Гришаыола Корректор B.C. Чсрпах Компьютерная верстка В.II. Грищепко

И и. лни. >«021007 от 10.08.95. Сдано п набор 30.04.9S. Подписано в печать IS.06.9S. Уел. печ. л. I.S6. Уч.-изд. л. 1.53. Тираж 190 эк». С/Д 4874. Зак. 329.

ИПК И тдатсльстпо стандартов, 107076, Москва, Ко.юлемный пер.. 14.

Набрано и Издательстве на ПЭВМ Филиал ИПК Издательство стандартов — тип. "Московский печатник", Москва. Лялин пер., 6.

Плр J* 0S0102

Заменяет ГОСТ 3221-75