Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

27 страниц

456.00 ₽

Купить ГОСТ 28624-90 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Настоящий стандарт распространяетя на полупроводниковые дискретные приборы, за исключением оптоэлектронных приборов

  Скачать PDF

Оглавление

Предисловие

Введение

1. Область применения

2. Общие положения

2.1 Используемые документы

2.2 Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)

2.3 Рекомендуемые значения напряжений и токов (предпочтительные значения)

2.4 Обозначение выводов

2.4.1 Диоды

2.4.2 Транзисторы

2.4.3 Тиристоры

2.5 Цветовой код для обозначения типа приборов

2.5.1 Обозначение приборов типа JEDEC

2.5.2 Обозначение приборов типа PRO ELECTRON

2.5.3 Обозначение приборов других видов

3. Порядок сертификации изделий

3.1 Основной этап технологического процесса

3.2 Конструктивно-подобные приборы

3.2.1 Объединение приборов для проведения электрических испытаний

3.2.2 Объединение приборов для проверки размеров, проведения климатических и механических испытаний

3.2.3 Объединение приборов для проведения испытаний на срок службы

3.3 Требования контроля при утверждении соответствия изделий ТУ

3.4 Контроль соответствия заданному уровню качества

3.5 Испытания по группе D

3.6 Отбраковочные испытания

3.7 Планы выборочного контроля

4. Методы испытаний и измерений

Показать даты введения Admin

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 11. ГРУППОВЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИБОРЫ

ГОСТ 28624-90 (СТ МЭК 747-11-85)

35 коп. БЗ 6—89/473


Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ

Москва

ПРЕДИСЛОВИЕ

1.    Официальные решения илы соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2.    Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.

3.    В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы национальные комитеты приняли за основу настоящий стандарт МЭК в качестве своих национальных стандартов, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

1—2175

Продолжение табл. 2

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

В1

Размеры (взаимозаменяемость)

конкретных типов

В2а

Электрические характеристики (параметры конструкции)

Устанавливаются при необходимости

В2в

Электрические

характеристики

(различные режимы)

Устанавливаются при необходимости, например, при высокотемпературных измерениях

В2с

Проверка предельно допустимых значений электрических параметров (импульсный режим)

Устанавливаются при необходимости, например, ударный ток для выпрямительных диодов

вз*

Прочность выводов

749, гл. II, разд. I (ГОСТ 28578)

Устанавливаются, например, для изгиба выводов

В4

Паяемость

749, гл. II, п. 2.1 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются

В5

Быстрая смена температур, сменяемая влажным теплом (циклическим) или герметичностью

749, гл. III, разд. 1 (ГОСТ 28578)

749, гл. III, разд. 4 (ГОСТ 28578)

749, гл. III, разд. 7 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются в зависимости от способа герметизации

В6

Механический удар или вибрация, сменяемая постоянным линейным ускорением

749, гл. II, разд. 4 (ГОСТ 28578)

749, гл. И, разд. 3 (ГОСТ 28578)

749, гл. II, разд. 5 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются в зависимости от способа герметизации (если требуется по стандартам вида <;форма ТУ» на приборы конкретных типов)

В7

Не используется

ГОСТ 28624-90 С. 9

Продолжение табл. 2

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используем ые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

В8

Испытание на срок службы с электрической нагрузкой

168 ч

В9

Хранение при высокой температуре

749, гл. III, разд. 2 (ГОСТ 28578)

168 ч; при максимальной температуре хранения

СПВП

Сертификационные протоколы выпущенных партий

Информационные данные должны соответствовать стандартам вида «форма ТУ» на приборы конкретных типов

* Нс применима для приборов в микроминиатюрном исполнении. Примечание. Для приборов категории I следует руководствоваться МЭК 7-17-10 (ГОСТ 28623).

Таблица 3

Группа испытаний С. Периодические испытания

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

С1

Размеры

В соответствии с чертежом, приведенным в ТУ на приборы -конкретных типов

С2а

Электрические

характеристики (параметры конструкции)

Устанавливаются

С2Ь

Электрические характеристики (различные режимы)

Устанавливается при необходимости, например, при измерениях при крайних температурах

С2с

Проверка предельно допустимых значений электрических параметров (импульсный ре--/сим)

Устанавливаются, например, ударный ток для выпрямительных диодов

Продолжение табл. 3

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

C2d

Тепловое сопротивление переход— корпус

Разрабатывается

Устанавливаются

сз*

Прочность выво-водов

749, гл. II, разд. 1 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются, например, растяжение или крутящий момент

С4

Теплостойкость при пайке

749, гл. II, п. 2.2 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются

С5

Быстрое изменение температуры, сменяемое влажным теплом (цик-лический режим) или герметичностью

749, гл. Ш, разд. 1 (ГОСТ 28578)

749, гл. III, разд. 4 (ГОСТ 28578)

749, гл. III, разд. 7 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются в зависимости от спо* соба герметизации

С6

Механический удар или вибрация, сменяемые постоянным ускорением

749, гл. II, разд. 4 (ГОСТ 28578)

749, гл. II, разд. 3 (ГОСТ 28578)

749, гл. II, разд. 5 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются в зависимости от способа герметизации (если это необходимо согласно «форме ТУ» на приборы конкретных типов)

С7

Влажное тепло (постоянный режим) или влажное тепло (циклический режим)

749, гл. III, разд. 5 (ГОСТ 28578)

749, гл. III, разд. 4 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются в зависимости от способа герметизации

С8

Испытание на срок службы с электрической нагрузкой или эквивалентное ускоренное испытание

1000 ч, условия должны быть установлены

С9

Хранение при высокой температуре

749, гл. III, разд. 2 (ГОСТ 28578)

1000 ч

СЮ

Пониженное атмосферное давление

749. гл. III, разд. 3 (ГОСТ 28578)

Устанавливаются для данной группы или группы D

ГОСТ 28624-90 С. П

Продолжение табл. 3

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

С11

Стойкость маркировки

749, гл. IV, разд. 2 (ГОСТ 28578)

Должны быть установлены

спвп

Сертификационные протоколы выпущенных партий

Информационные данные должны со* ответствовать стандартам вида «форма ТУ» на приборы конкретных типов

* Не применима для приборов в микроминиатюрном исполнении.

3.5.    Испытания по группе D

Испытания по группе D, при необходимости, устанавливают в ТУ на приборы конкретных типов или в стандарте вида «форма ТУ» на приборы конкретных типов только для подтверждения соответствия приборов техническим условиям.

3.6.    Отбраковочные испытания

Если проведение отбраковочных испытаний согласовано или предусмотрено ТУ на приборы конкретных типов, то испытания должны проводиться для всех приборов производственной партии в соответствии с табл. 4.

Отбраковочные испытания проводятся, как правило, до испытаний по группа А, В и С.

Если отбраковочные испытания проводят после испытаний по группам А, В (при контроле по партиям) и С (периодические испытания), то должны быть проведены повторные испытания на паяемость, герметичность и испытания по группе А.

В стандарте вида «форма ТУ» на приборы конкретных типов могут быть предусмотрены дополнительные испытания, пп*, еоди-мые после отбраковочных испытаний.

Программа отбраковочных испытаний устанавливается в соответствии с табл. 4.

Tf

СО

tf

Я

ч

ю

X

н


я

S

X

х

н

2

е

о

X

си

2

х

X

о

а

о

х

Л

о.

н

О


ш


«

я

х

л

н

3

с

CJ

X

л

г

s

л

а

t-

О

О.

С


Q


О


CQ


1

+

+

1

I

1

!

1

1 ! I

1

1

+

+

+

+

1

+

+

+

+

+

“Ь

+

+

+

.

О) X

ov -— оо »• N-Is*» 1Л

00

о w со-

R

Я Ч X о X Н &« а>


«

о

ч

и

>>


к

Я

X

а.

н

о

£

о

о

со

а.

СО

X


со;*

£*-н со о,

05

с S а ь


к 2 х

Ьн

х £! w о.

х


я


2 ^

- я 2 S Ш п,

X о к Чо

5 « s

та rv

v я е m 5-3 е о

Е— И

о со Я >1 X н


CQ


Н

х


X 2 х

н

05

к Й-

U X Н X

2 S

со *

X

X

ч

X X X X

н

о

>5


2

о.

о

о

X

а,

х


х о с

X X X н


X со

я

н

X X а. х

« я

о

о и

к *

S со

О о, 'g В

Я я

х a х

_ X

CQ о

х

о


X

CQ

Ж

1

X

н

нч

Е-

05

>.

X

Н

X

•*•

Я

X

мн

Е-

05

X

X

Си

а>

X

о,

я

о

я

о

X

О)

X

05

f-

>} О)

X

2

X

Си

05

я

о

X

я о

X

X

X X

05

X

а. о

Я

я

X X


X

я

X

н

2

с

о

X


X

sft—I

So

sS


2 ^

X

CJ _

Е Is- О


05 05^:

4    ^ -

05    t'-

о*

ССЪ g

S §


Tf


Я ^ сч

С 00 £ 00 СЧ

Ч^Н

g*o

as 2

х < ^


Ь

и

о

U

ы

ъ

£


Ч

X

X ^

а. оо

•—ч LC

*—' оо

ин СЧ

ЧН u О оГр

Tf t-H N~


ю

4

со

д 00

~ СЧ

ьи

оГр

Tf С-Ч о. W


О

<L>

£

»-ГЧ«


X

ч

X

со


00

N*

Ю

СО

сч


StCU

So

X (-н

Sf s_


О

а

4 о н

- ч>.—,

5    о

•—I

„сч

N. 00

—ч сч сч н оо U чэ О

L-

X


х

ч

о

а

н

X

о

X

о

X

х

л

X

о

X

о

2

X

я

X


о I = О Я я

*2 о с и а о я -


х

ч

со

>.

СП

X

X



X

ч

о

о.

н

X

о

X


я

О)

о,

н

х

«я

X


о я о н 2^ X


X V

о. £■

д

^ Е-

X

х й*

я £ — X g я 5 S я

О- flj 1—с

0) н Я

И- ^ X м    х

X    X

pa »g ч

О — X \С


сч


£

а>

н

а>

нм

X

а)

X


X

о

S

о.


<15 а>

£ I-

СП

X

05

о „ -р- о. « н >,я оря х х 2

ГП О- 03 ^ 05 О

с о.


2


со


о

X

я

05

а.

о ч-

х g

05 X

05

Р-

g 3S


X

05

X

я


*

Tf


н

О)

о


н

05

£

CL

а

Рн


*

ю


ч

со

«

сз

S

Еч

X

03

ш

Е-

а

2

я

►—

0>

О

£

X

ч

03

о

£

£

о

03

Сх

а

с?

С-1

О

а

П

щ

аз


а


о


+


+


+


+


4-00


+


+Ь-


, 00 + CD


я

я

03

н

2

с

о

S

к

я

сс

с

с?

V

>5


СО О СХ Я со

С а> о £

2 §

К °

Ч

со

о _

ЕС

03 н-Н Я о CU

* S3

£


о

CU

Я


^3

0    £ о. *

S я

1    О-

СО

л

СО

с


о

о

Я

а.

сз


4)

2


о со н о <и


&!•£&

Ч Ы £


и

о * я о СО *

и S

о

а)

Я

я з

а, *

£g £ с


а> а;

в Я »я о ЕС

X


•6-° _ <D

и ^ СО ^ £

. Я

,—, п 3 * СХ и-я е- л

СО ■З-' ft ЕС £ О СО СО VO

я о. я а я а с е с


н 4> о я


>5

н

сз


х •

Я £

Я с Н С

0J

R &S

X

о


о

ь

2

СО

в

Я

ч


3 w я к

н £

* 2 - s-e-g

5 сх £

|!*3

2ё.»к


>5 X •

г OS СО

н £ ч


Н

4) ,д

к а н к Я о Я о о


в


Я g

о, g

Я о. с


я

я

н

о

>5


я

о

С <-*

я я

Е- 4>


н

и

о

U


*

(7)


£


О)

X

я

о

О)

5*

я

о.

н

я


я я я

ч

я д


h-

^0*


а

я

н

о>

сх

я

я

о

я


о я

<D

^ я й

№ О ^

^ я О в ч? Й>2 о

<■ 6- Я я

о о- я >. е н


а


л


о>

2

со

Я

си

о

2

о.

л

н

Я

£

ч

Л ;

4>

я

я

о

э

4)

о.

Я

41

Я

С

О.

н

я

си

ч

Я

я

я


о

я

я

о

CL

я

я

<v

о.

Е-

о

£

СХ


4)

S

со

Я


О

&

н

я

0>

ч


4)

со

я

а.

Я

н

а>

£

со

а>

3

3

я

а

я

Я

я

я

я

a

о

а»

Ч

QJ

0J

сх

н

я

о

4>

Я

Н

Я

я

2

Ч

а

о

с

о

£

сх

4)

я

ч

И

о*

я

я

О

Е-

я

СХ

я

сп

я

ь

0J

ч—*'

я

я

ч

си

4?

(Т)

Я

сх

я

Ч

я

4)

я

я

£

я


о

сх

4) о>

с>. н

<

РЭ

О

СО со

со

со

t-


hi

3

3


ns

К

X

я

н

3

с

о

X

я


ы


Q


+


о

по

о

£

S

я

о.

и

о

о,

с


О


СО


+


<


+


я


я

г*

С

U>


X

е

о

J

>:


Н

О

о

и


яг

Ъ


g со „ s

Я § д

о. ** в

С-н . Я

у< к 2<£> Ч


та



О, >> та ^ * н

о- »я

Си й

о £ С я


та

с

си

*


СУ

с-4


э ч

О- СП

о

о

я К

& = С Н

сх

та

С

3 м*

я к

н 2 я £

«у 2

*©< СЯ

су S

с[ 3

СП

Я


I FQ

я §

5 л

^ о 'О я Я ®-

5 “-2

ц; С ^

н

та

а

g X

£ а


со *©" ex

о ^ с я •=* та

о. о

\о ч


я

a

си

2

о

2

vo

та

я

а

О-

я

О

Си

Я

н

О

я

я

я

та

о

я

е*

су

ч

1—

ей

У

о

У

я

S

та

н

о

Е

>.

о

VO

су

я

2

ч

СУ

о

я

я

я

о

я

,

я

мм

У

ч

Е

е(

СУ

та

У

а>

et

я

У

н

о

я

a

о

£и

я

и

я

о

я

ч

о

я

н

a

я

2

VO

X

я

я

су

а.

4

jg

Я

•Д ,

g S

5 Й та о

У

Си

я

У

Е

г—

(-■

я

CD

я

о

та

Я

г

СУ

су

СУ

та

та

О

та

си

я

о

a

с

та

ч

о

я

г—1

д

о

Я


я

о

н

я


*=*


о

И

о

а,

с


я


СУ

я

я

та

н

a

я

и

я


V


я


е*

О

я

о

я.


X

та

о

>.

я

СУ


су

я

я

та

a

я

CJ

Я


ф а-

си <у

»М

су н

О

S о

а

та си

н к

я ь

Я

9 =

щ § С с

(У с-

5 л ^

о *

С с->

то ч.

у у a

я е- И

О _

я О О

я -

Си О СХ

й) ^

е- я е

S —

я я

О У

я

Ч Си

мн

CD « Ь

я о

я S

5

х -■ я

К Ч н

О, 4) -г

|gg

С Q, о

00

с я


О о Я Я


я о н « et О Я О

&S

N4

(П ^

“ §: oч а я о в я

2 s Я. ь я

X

я a

ссз

*    g

*    & я о я


а

§

н

СУ

Е


та

Си


я


х

a

я

я

та

о.

та

О

а.

с


е-

та

я

та

я

та

О


я я


А

+

V

Я

та

я

СО


о в я о к g я 2 £ * я * Си

Я к С?

•Cf *

* *


«

я

я

та

н

a

с

о

я


су

я


та

я

а>

S

я

CU

С


ГОСТ 28624-90 С. 15

3.7. Планы выборочного контроля В табл. 5 и 6 приведены планы выборочного контроля, конкретные значения которых устанавливаются в стандартах вида «форма ТУ» на диоды и транзисторы.

Таблица 5

Требования к выборочному контролю для испытаний по группе А

LTPD***

AQL*

Погруппа

Кате

гория

II

Кате

гория

III

Категория I

Категория II

Категория III

Кате

гория

I

IL

а

<

IL

AQL

IL

AQL

А1

5

5

5

I

0,65

I

0,65

I

0,65

А2а**’ *4 транзисторы

-

1,0

1,0

1,0

II

0,15

II

0,15

II

0,15

диоды

0,7

0,7

0,7

II

0,10

II

0,10

II

0,10

А2Ь**- *4 транзисторы

5

5

3

II

0,65

II

0,65

II

0,40

диоды

3

3

2

II

0,40

II

0,40

II

0,25

АЗ

7

7

7

S4

1,0

S4

1,0

S4

1,0

А4

20

20

20

S3

2,5

S3

2,5

S4

2,5

* Значения AQL (Acceptable Quality Level — приемлемый уровень качества) приведены для общего числа дефектных приборов в каждой подгруппе.

** Если для испытаний по группе А выбран LTPD (Lot Tolerance Percent Defective—допустимый процент дефектных приборов в партии), то AQL разрешается использовать только для подгруппы А2.

***LTPD с максимальным приемочным числом 4.

*4 Если 1001%-ной проверкой подтверждено, что число дефектных приборов а партии менее 0,1%, то выходной выборочный контроль электрических параметров в данной подгруппе для данной партии не проводится.

Таблица б

Требования к выборочному контролю для испытаний по группам В и С, в которых следует использовать LTPD

LTPD*

Категория III

Подгруппа

Программа отбраковочных

испытаний

Категории I и II

A

в

С

D

Е

B1

15

15

15

15

15

15

Cl

30

30

30

30

30

30

Продолжение табл. 6


LTPD*

Подгруппа

Категории I и II

А

К<

Трограм

В

атегория

ма отбр испытан

С

Ш

аковочь

иЙ

D

ых

Е

В2 С2а

15

15

15

15

15

15

С2Ь

15

15

15

15

15

15

С2с

15

15

15

15

15

15

С2

20

20

20

20

20

20

ВЗ СЗ

15

15

15

15

15

15

В4 С4

15

15

15

15

15

15

В5 С5

20

20

20

20

20

20

В6 С6

20

20

20

20

20

20

В7 С7

20

20

20

20

20

20

В8 С8

10

5

7

10

7

10

В9 С9

15

5

7

10

7

10


* LTPD с максимальным приемочным числом 4.

4. МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ И ИЗМЕРЕНИЙ

Методы испытаний и измерений полупроводниковых приборов со ссылками на соответствующие стандарты МЭК (государственные стандарты) приведены в таблице настоящего пункта. Данными методами следует пользоваться в том случае, когда эго указано в ТУ на приборы конкретных типов в соответствии с МЭК 747-— 10 (ГОСТ 28623).


Методы испытаний и измерений


Обозначение

прибора


|    Буквенное    )    {

|    обозначение    ;    Наименование параметра    i

I    параметра    I    !


Метод испытания или измерения по МЭК (ГОСТ)


G-001


G-002


G-003

G-004


*th

7th

V

Kt!i


Общие параметры

; Температура в копт- ! 'рольной точке    !

| Тепловое сопротивлеы ,нне (исключая транзиД [сюры)    г

| Переходное тепловое


747—2 и 747—6, гл. IV,

гл. IV,

учетом по учетом по


п. 2.1 (ГОСТ*)

747—2 и 747-6, п. 2.2.

Тепловое    сопротнвле-    ;47(ЦБ)    886    с

;ние (для транзисторов) ; правок | Методы    испытаний    [47 (ЦБ)    955    с

'приборов    чувствитель-    ■ правок

;ных к    статическому    :

электричеству


* Находится в стадии разработки.



Продолжение

Буквенное

Метод испытания

прибора

обозначение

параметра

Наименование параметра

или измерения по МЭК (ГОСТ)


Диоды сигнальные и переключательные. Методы измерения основных параметров


D-001

D-002

D-003

D-004


D-005

D-006 D-00 7

D-008

D-009

D-010

D-011

D-012


D-021

D-022

D-023

D-024


V'


¥


2R

Qr

tn


tu

^FRM

4

Ctot

4v

rtp

I

V(BR)

I ^RRM

j 1 £RSM

|    | PPRM

!    \ ^RSM

! Kn , /n


Прямое напряжение


Обратный ток Заряд восстановления Время обратного восстановления: при заданном Irm при заданном VR ' Время прямого вое-' становления Импульсное иапряже- ' ние прямого восстановления Общая емкость Коэффициент детектирования по напряжению Коэффициент детектирования по мощности Пробивное напряжение

Переходная энергия в обратном направлении

Обратная рассеиваемая мощность

; Шум


747—3, гл. IV, разд. 1,п. 2

(ГОСТ*)


747—3, гл. IV, разд. I, n. 1

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 4.2 (ГОСТ*)

747—3, гл. IV, разд. I, п. 4.2

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 3 747—3, гл. IV, разд. I, п. 5.1

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 5.2

747—2, гл. IV, п. 1.3 (ГОСТ*)

747—3

747—2, гл. IV, п. 3.3 747—3, гл. IV, разд. 1, п. 6


Опорные диоды и стабилитроны

V:,    j Рабочее напряжение    j    747—3,    гл.

rz    J Дифференциальное со-    :    747—3,    гл.

противление    |

#vz    I Температурный коэф-    \    747—3,    гл.

;фициепт напряжения ста-    j

билизацип    i

Vn    Шумовое    напряжение    i    747—3, гл.


IV,    разд.    2,    n.    1

IV,    разд.    2,    п.    2

IV,    разд.    2,    п.    3


IV, разд. 2, п. 7


Варикапы

D-031

Отклонение значения

емкости

D-032

Q

Эффективный коэффи

циент добротности

D-033

'■'s

Последовательное со

противление

47 (ЦБ) 888

147—2В, гл. (ГОСТ*) 147—2В, гл.

* Находится в стадии разработки.


I, разд. 5, п. 3 I, разд. 5, п. 6


ВВЕДЕНИЕ

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».

Настоящий стандарт устанавливает групповые технические >с-ловия на дискретные приборы (исключая оптоэлектронные приборы) в рамках Системы сертификации изделий электронной тех-

ники МЭК (МСС ИЭТ).

Текст настоящего стандарта тах:

основан на следующих докумен-

По Правилу шести месяцев

Отчет о голосовании

47 {Центральное бюро) 895

47 (Центральное бюро) 938

Более подробную информацию можно найти в отчете о голосовании, указанном в данной таблице.

Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером технических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

Продолжение

Обозначение

Буквенное

Наименование параметра

Метод испытания

прибора

обозначение

или измерения

параметра

по МЭК (ГОСТ)


747—2, гл. IV, п. 1.3

Выпрямительные диоды

D-0Q9

У{Ш)

Пробивное напряжение

D-041

Импульсное прямое напряжение (импульсный метод)

D-042

Аш

Импульсный обратный

ток

D-043

А7

Ударный (неповторяющийся) прямой ток

D-Q44-

^RSM

Неповторяющееся импульсное обратное напряжение

3-045

Qr

Заряд восстановления

D-046

f ^RRM )

Обратная рассеиваемая

I ^RSM /

мощность

D-047

/ £RRM )

Переходная энергия в

\ £RSM j

обратном направлении

D-048

^RM

Им пульсн ый о бр а тн ы й

ток при рассеиваемой мощности, обусловленной средним прямым током Импульсный ток не-

D-049

пробоя корпуса

747—2, гл. IV, п. 1.5 747—2, гл. IV, п. 3.3

47 (ЦБ) 888, п. 4.2 747-2, гл. IV, п. 1.4.4

747—2, гл. IV, п. 1.2.3

747—2, гл. IV, п. 1.4.3 747—2, гл. IV, п. 3.1 747—2, гл. IV, п. 3.2

Диоды — регуляторы тока

's

Ток регулирования

alS

Температурный коэффициент тока регулиро

вания

Изменение тока регу

Vl

лирования

Напряжение ограниче

ния

Проводимость диода —

.регулятора тока в режи-

ме малого сигнала

gk

Проводимость на изгибе вольтамперной ха

рактеристики

Транзисторы биполярные, измерения основных параметров

D-050

D-051

D-052

D-053

D-054

D-055

47 (ЦБ)* 892 с учетом поправок

747—3, гл. IV, разд. 3, п. I 747—3, гл. IV, разд. 3, п. 2

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 3 747—3, гл. IV, разд. 3, п. 4 747—3, гл. IV, разд. 3, п. 5

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 6

Методы

^СВО


747—7 (ГОСТ**)


Т-001


Обратный ток коллектор-база


* Центральное Бюро.

** Находится в стадий разработки.


УДК 621.382:006.354

Группа Э23

ГОСТ

28624—90

(CT МЭК 747—11—85)

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть И. Групповые технические условия на дискретные приборы

Semiconductor devices Part 11: Sectional specification for discrete divices

ОКСТУ 6341

-«—■■ —■    —n jririiTT i u'ii ТЧТЛПЧПИТТ mniwmi iiHiy»-- ^ it ii inn ■win I mi ичтиипп i n ■ ri г i hi ини шп г >И1гм..ьга.|

Дата введения 01.01.91

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящие групповые технические условия (далее — ТУ) рас-простнапяются па полупроводниковые дискретные приборы (далее — приборы), за исключением опгоэлектронных приборов.

2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Настоящие групповые ТУ должны применяться совместно с соответствующими общими ТУ стандарта МЭК 747—10 (ГОСТ 28623).

В настоящих гр>пповых ТУ установлен порядок сертификации, требования контроля, программы отбраковочных испытаний, требования выборочного контроля, порядок испытаний и измерений, необходимых для подтверждения соответствия приборов заданному уровню качества.

2.1.    Используемые документы

СТ МЭК 747—10 (ГОСТ 28023) «Полупроводниковые приборы. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы».

2.2.    Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)

Рекомендуемые значения температур установлены в СТ МЭК 747—1, глава VI, разд. 5 (ГОСТ *).

2.3.    Рекомендуемые значения напряжений и токов (предпочтительные значения)

Рекомендуемые значения напряжений и токов установлены в СТ МЭК 747—1, глава VI, разд. 6.

* Находится в стадии разработки.

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

© Издательство стандартов, 1990

С. 2 ГОСТ 28624-90

2.4.    Обозначение выводов

2.4.1.    Диоды

Полярность диодов должна быть четко обозначена одним из следующих способов:

1)    графическим обозначением — стрелкой выпрямителя, направленной в сторону катода;

2)    цветовым кодом:

диоды в корпусах А20 по СТ МЭК 191—2 (ГОСТ 17467) (КД-6 по ГОСТ 18472) и меньших размеров должны быть маркированы со стороны катода полосой или точкой контрастного цвета. В том случае, когда цветовыми полосами обозначается тип прибора, диод со стороны катода может быть промаркирован полосой двойной ширины, используемой для обозначения первой цифры. Если существует вероятность смещения цветового кода для обозначения катода диодов в корпусах меньших размеров, чем корпус AIB по СТ МЭК 191—2 (КД-11 по ГОСТ 18472), то последний вариант маркировки не должен применяться;

для обозначения катодов диодов в корпусах, имеющих размеры больше, чем корпус А20 по СТ МЭК 191—2 (КД-6 поГОСТ 18472), следует применять красный цвет.

2.4.2.    Транзисторы

Обозначение выводов должно быть установлено в ТУ на транзисторы конкретных типов.

2.4.3.    Тиристоры

Выводы должны быть обозначены одним из следующих способов:

1)    графическим обозначением тиристора: стрелкой с острием, направленным в сторону катода;

2)    цветовым кодом: вывод катода должен быть обозначен красным цветом, вывод анода — голубым или черным цветом, вывод управляющего электрода — белым или желтым цветом.

Если перечисленные выше способы маркировки технически не выполнены, то обозначения выводов должны быть установлены в ТУ на тиристоры конкретных типов.

2.5.    Цветовой код для обозначения типа прибора

2.5.1. Обозначение приборов типа JEDEC

Цветовой код числовой части обозначения типа диода малого сигнала (числа, следующего за 1 N) и возможных буквенных индексов устанавливается в соответствии с таблицей настоящего пункта.

Порядок нумерации устанавливается слева направо, причем левая сторона обозначается более широкой цветовой полосой или размещением цветовой группы ближе к левой стороне корпуса.

Двузначным номерам должен предшествовать нуль.

ГОСТ 28624-90 С. 3

Цвет

Цифра

Буквенный

индекс

Цвет

Цифра

Буквенный

индекс

Черный

0

Отсутствует

Голубой

6

F

Коричневый

1

А

Пурпурный

Красный

2

в

(фиолето-

Оранжевый

3

с

вый)

7

G

Желтый

4

D

Серый

8

Н

Зеленый

5

Е

Белый

9

J

2.5.2. Обозначение приборов типа PRO ELECTRON Цветовой код обозначения типа диода малого сигнала устанавливается в соответствии с таблицей настоящего пункта.

Предшествующие буквы

Серийный номер

Последующая буква (при необходимости)

Метод I

Метод II

Метод I — узкие полосы

2 широких полосы

Цвет корпуса

Метод II — одна широкая полоса, за которой следуют

узкие полосы

АА — коричневый

0 — черный

А — коричневый

Z — белый

1 — коричневый

ВА — красный

1 BAY — серый

2 — красный

В — красный

Y — серый

3 — оранжевый

С — оранжевый

X — черный

ВАХ — черный

4 — желтый

D — желтый

W — голубой

| BAW — голубой

5 — зеленый

Е — зеленый

V — зеленый

| ВАУ — зеленый

б — голубой

F — голубой

Т — желтый

| ВАТ — желтый

7 — фиолетовый

G — фиолетовый

S — оранжевый

BAS — оранже-

8 — серый

Н — серый

| вый

9 — белый

J — белый

Сторона катода обозначается широкой полосой (полосами).

2.5.3. Обозначение приборов других типов

Цветовой код устанавливается в ТУ на приборы конкретных типов, для обозначения цифр от 0 до 9 следует использовать цветовой код, установленный в таблице пп. 2.5.1, 2.5.2.

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИИ

3.1. Начальный этап технологического процесса

Начальный этап технологического процесса — первый процесс, который изменяет тип проводимости исходного монокристалличе-ского полупроводникового материала р- или тг-типа для кремниевых приборов или подобным образом изменяет другие полупроводниковые материалы.

Э—2175

С. 4 ГОСТ 28624-90

3.2.    Конструктивно-подобные приборы

В целях комплектования выборок для утверждения соответствия приборов ТУ, контроля по партиям и периодических испытаний приборы могут быть сгруппированы по типам, как указано ниже.

3.2.1. Объединение приборов для проведения электрических испытаний

Приборы одной конструкции, изготовленные на одной производственной линии, отличающиеся номинальными значениями электрических параметров или их предельно допустимыми значениями, должны быть объединены в подпартии в соответствии с данными различиями, то есть распределены по типам.

Такие приборы должны быть преимущественно включены в одни ТУ на приборы конкретных типов, но в каждом конкретном случае в отчете по испытаниям на утверждение соответствия приборов требованиям ТУ необходимо указывать признаки, по которым проводилось объединение.

3.2.1 Л. Различные предельно допустимые значения электрических параметров

Для той части испытаний, где предельно допустимые значения электрических параметров отличаются для подпартий, объем выборки для испытаний от каждой подпартии определяется в зависимости от количества приборов в каждой подпартии.

Например:

1)    включение в подпартии диодов с различными предельно до-пустимыми значениями напряжений;

2)    включение в подпартии транзисторов с различными предельно допустимыми значениями коэффициента прямого тока;

3)    включение в подпартии выпрямительных диодов с различными предельно допустимыми значениями напряжения;

4)    включение в подпартии тиристоров с различными предельно допустимыми значениями напряжения.

3.2.1.2.    Идентичные предельно допустимые значения электрических параметров

Для той части испытаний, где одни и те же предельно допустимые значения электрических параметров и условия испытании одинаковы для всех подпартий, объединенная партия должна оцениваться одним из двух способов:

1)    по выборке, объем которой соответствует объему объединенной партии с включением равного или пропорционального числа приборов от всех подпартий;

2)    по выборке, набранной произвольным образом из объединенной партии; объем выборки должен соответствовать объему всей партии.

Примером подобного испытания является измерение падения прямого напряжения диодов, при котором одно п то же предель-

ГОСТ 28624-90 С. 5

но допустимое значение относится к диодам всех типов, подвергнутых контролю, согласно перечислению 2), и объединенных в зависимости от значения обратного напряжения.

3.2.2. Объединение приборов для проверки размеров, проведения климатических и механических испытаний

Приборы, герметизированные одним и тем же методом, имеющие одинаковый базовый тип внутренней механической структуры и идентичные элементы конструкции 1, подвергнутые общим операциям доводки п герметизации, могут рассматриваться как конструктивно-подобные, и вся партия, состоящая из таких приборов, может быть оценена по результатам единой выборки, объем которой должен соответствовать объему обьединспной партии.

3.2.2.1 .Приборы, изготовленные на идентичных производственных линиях2

Испытания, для проведения которых применим принцип объединения приборов, установленный в п. 3.2.2;

a)    визуальный контроль;

b)    проверка размеров;

е) испытание на способность к пайке; теплостойкость при пайке;

d)    испытание выводов на прочность;

e)    проверка стойкости к коррозии, например, испытание на воздействие повышенной влажности п температуры, постоянный режим;

П изменения температуры среды;

g)    циклическое испытание на воздействие повышенной влажности и температуры (или герметичность);

h)    вибрация;

i)    постоянное линейное ускорение;

j)    механические удары.

Примечание. Такими приборами являются, например, транзисторы различных типов, выпускаемые в корпусе, выполненном из идентичных комплектующих изделий, и изготовленные на идентичных производственных линиях.

3.2.2.2. Приборы, изготовленные на раз л и чных производственных лини ях

Испытания, для проведения которых применим принцип объединения приборов, установленный в п. 3.2.2:

a)    визуальный контроль;

b)    проверка размеров;

С. 6 ГОСТ 28624-90

c)    способность к пайке, теплостойкость при пайке;

d)    испытание выводов на прочность;

e)    проверка стойкости к коррозии, например воздействие повышенной влажности и температуры, постоянный режим.

3.2.3. Объединение приборов для проведения испытаний на срок службы

При проведении испытаний на срок службы, например, испытание на срок службы с электрической нагрузкой или хранение при высокой температуре, приборы одной конструкции, изготовленные на одной и той же производственной линии, отличающиеся только предельно допустимыми значениями электрических параметров, должны быть сгруппированы в подпартии в зависимости от номинальных значений электрических параметров или их предельно допустимых значений.

Приборы, сгруппированные в подпартии, должны быть включены в одни и те же ТУ на приборы конкретных типов, но в каждом конкретном случае в отчете по испытаниям на утверждение соответствия приборов требованиям ТУ при проведении квалификационных испытаний необходимо указывать признаки, по которым проводилось объединение.

3.2.3.1.    Порядок оценки партии при испытаниях, предусмотренных в группе В (контроль по партиям)

Оценка партии приборов по любому виду испытания на срок службы (если иное не установлено в форме ТУ на приборы конкретных типов) может проводиться по одной выборке, объем которой должен соответствовать объему объединенной партии при со-блюлепии следующих условий:

1)    общее число приборов в выбранной подпартии вместе с общим числом приборов во всех других подпартиях, имеющих или более низкое номинальное значение характеристики (параметра) или менее жесткое их предельно допустимое значение составляет не менее 60% полного объема всех подпартий в объединенной партии;

2)    в процессе производства, в течение трех месяцев, предшествующих проводимым испытаниям по группе В, испытания на срок службы с электрической нагрузкой проводились на подпартии, имеющей или наивысшие предельно допустимые значения параметров или их наиболее жесткие предельно допустимые значения, и партия подвергалась контролю в течение этого периода путем испытания выборки, соответствующей полному объему объединенной партии.

3.2.3.2.    Оценка приборов при испытаниях по группе С (периодических)

Для каждого вида периодических испытаний на срок службы эценка объединенной партии может проводиться по единой выбор-

ГОСТ 28624-90 С. 1

ке, объем которой устанавливается в форме ТУ на приборы конкретных типов.

Единую выборку следует преимущественно формировать из подпартии, содержащей наибольшее число приборов, обеспечивая также периодические испытания других подпартий в дальнейшем.

3.3.    Требования контроля при утверждении соответствия изделий ТУ

Утверждение соответствия изделий ТУ следует проводить в соответствии с Публикацией МЭК QC 001002 * (п. 11.3.1) по планам выборочного контроля, установленным в табл. 5 и 6 настоящего стандарта или в соответствующих формах ТУ на приборы конкретных типов.

3.4.    Контроль соответствия заданному уровню качества

3.4.1. Распределение методов испытаний и контроля на группы и подгруппы

Распределение испытаний на группы и подгруппы устанавливается в соответствии с табл. 1—3.

Таблица I

Группа испытаний А. Контроль по партиям

Подгруппа испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ), пункт

Особенности и условия испытаний, контроля

А1

Внешний визуальный контроль

747—10, П. 4.2.1.1 (ГОСТ 28623)

А2а

Неработающие

приборы

Должны быть определены

А2Ь, АЗ, А4

Электрические

характеристики

747 (ГОСТ**) или

147 (ГОСТ**)

Устанавливаются в соответствии с применяемыми методами измерения

** Находится в стадии разработки.

Таблица 2

Группа испытаний В. Контроль по партиям

Подгруппа

испытаний

Вид испытания, контроля

Используемые МЭК (ГОСТ)

Особенности и условия испытаний, контроля

В1

Размеры (взаимозаменяемость)

—.

В соответствие с чертежами, приведенными в ТУ на приборы

* Разработка государственного стандарта не предусмотрена.

1

Идентичные элементы конструкции — элементы конструкции, изготовлен1 ные или закупленные по одним и тем же чертежам или ТУ ц соответствующие нм.

Идентичные производственные линии — производственные линии, оснащенные идентичным оборудованием, с контролем техпроцесса, осуществляемого ПО идентичным чертежам пли ТУ, использующие идентичные комплектующие изделия и материалы, расположенные на одном и том же предприятии и представляющие возможность изготовления идентичных приборов.

2

31