Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

23 страницы

396.00 ₽

Купить ГОСТ 28623-90 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем.

  Скачать PDF

Переиздание. Май 2005

Оглавление

1. Область применения

2. Общие положения

2.1 Порядок приоритетности нормативно-технических документов (НТД)

2.2 Используемые документы

2.3 Единицы физических величин, термины и обозначения

2.4 Предпочтительные значения

2.5 Маркировка

2.6 Категории качества сертифицированных приборов

2.7 Отбраковочные испытания

3. Порядок сертификации приборов

3.1 Требования к испытаниям на утверждение соответствия приборов ТУ

3.2 Закрытая информация промышленного значения

3.3 Комплектование контролируемых партий

3.4 Конструктивно-подобные приборы

3.5 Утверждение соответствия приборов ТУ

3.6 Контроль соответствия заданному уровню качества

3.6.1 Деление испытаний на группы и подгруппы

3.6.2 Требования к контролю

3.6.3 Дополнительная методика облегченного контроля

3.6.4 Требования к выборочному контролю партий малых объемов

3.6.5 Сертификационные протоколы выпущенных партий (СПВП)

3.6.6 Поставки приборов, подвергнутых разрушающим или неразрушающим испытаниям

3.6.7 Задержка поставок

3.6.8 Дополнительное условие поставок

3.7 Порядок проведения статического выборочного контроля

3.8 Испытания на срок службы при заданном значении LTPD

3.9 Испытания на срок службы при заданной интенсивности отказов

3.9.1 Общие сведения

3.9.2 Комплектование выборок

3.9.3 Отказы

3.9.4 Продолжительность испытаний на срок службы и объем выборки

3.9.5 Процедура, применяемая при числе отказов, превышающем приемочное число

4. Испытания и измерения

4.1 Нормальные атмосферные условия для измерения электрических параметров

4.2 Проверка физического состояния

4.2.1 Визуальный контроль

4.2.2 Размеры

4.2.3 Стойкость маркировки

4.3 Измерения электрических параметров

4.4 Испытания на воздействие внешних факторов

Приложение А. Планы выборочного контроля по допустимому проценту дефектных изделий в партии (LTPD)

Приложение B. Проверяемые размеры

Приложение с. Направления приложения сил при механических испытаниях

Информационные данные

Показать даты введения Admin

ГОСТ 28623-90 (МЭК 747-10-84)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 10

ОБЩИЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИБОРЫ И ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ

I


БЗ 9-


Издание официальное

Москва

Стандартинформ

2005

Предисловие

1.    Официальные решении или соглашении МЭК по техническим вопросам, подгото&тенные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты. выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрении по рассматриваемым вопросам.

2.    Эти решении представлиют собой рекомендации дли международного пользовании и в этом виде принимаютсн национальными комитетами.

3.    В целях содействии международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы национальные комитеты приняли за основу настоящий стандарт МЭК в качестве своих национальных стандартов, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

Введение

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».

Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия полупроводниковых приборов: дискретных приборов и интегральных микросхем (исключая оптоэлектронные приборы и гибридные микросхемы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

Текст настоящего стандарта основан на следующих документах:

По правилу шести месяцев

Отчет о голосовании

47 (Центральное бюро) 816

47 (Центральное бюро) 818

47А (Центральное бюро) 108

47А (Центральное бюро) 111

47 (Центральное бюро) 893

47 (Центральное бюро) 928

47А (Центральное бюро) 128

47А (Центральное бюро) 139

47 (Центральное бюро) 894

47 (Центральное бюро) 929

47А (Центральное бюро) 129

47А (Центральное бюро) 140

По правилу двух месяцев

Отчет о голосовании

47 (Центральное бюро) 826 47А (Центральное бюро) 112

47 (Центральное бюро) 867 47А (Центральное бюро) 119

Более подробную информацию можно найти в отчетах о голосовании, указанных выше. Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером технических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

УДК 621.382:006.354

Группа Э20

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ    СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

ГОСТ 28623-90 (МЭК 747-10-84)

Часть 10

Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные

микросхемы

Semiconductor devices.

Part 10. Generic specification for discrete devices and integrated circuits

МКС 31.080 31.200 ОКСТУ 6331. 6341

Дата введения 1991—01—01

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устана&тнвает общие технические условия (далее — ТУ) на полупроводниковые приборы (далее — приборы), дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем.

Настоящий стандарт устанавливает общий порядок сертификации, применяемый в Системе сертификации изделий электронной техники (далее — ИЭТ). а также общие принципы методов измерения электрических характеристик, климатических и механических испытаний, испытаний на срок службы.

Примечание. Настоящий стандарт должен применяться совместно с групповыми ТУ. ТУ на семейство и стандартами «форма Ту», если таковые имеются, на приборы конкретного типа или типов.

2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

2.1. Порядок приоритетности нормативно-технических документов (далее — НТД)

При наличии в НТД противоречивых требований устанавливается следующий порядок приоритетности:

1)    ТУ на приборы конкретных типов:

2)    ТУ на семейство приборов, если таковые имеются;

3)    форма ТУ на приборы конкретных типов;

4)    групповые ТУ;

5)    общие ТУ;

6)    основополагающие ТУ;

7)    правила процедуры системы сертификации ИЭТ МЭК;

8)    любой другой международный НТД (например СТ МЭК). на который дается ссылка;

9)    национальный НТД.

Аналогичный приоритет должен быть установлен для соответствующих национальных НТД.

Издание официальное    Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов. 1990 © Стандартинформ. 2005

С. 2 ГОСТ 28623-90

2.2. Используемые документы

При разработке ТУ на изделии конкретного типа следует указывать применяемые документы: Публикации МЭК:

Публикации 27    «Буквенные обозначении. применяемые в

электротехнике*.

Публикации 50    «Международный электротехнический словарь

Публикации 68

Публикации 68-1 (1982) Публикация 68-2

(МЭО.

«Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов».

«Часть I. Общие положении и руководства*.

или

Публикации 147

Публикации 147-0 (1966) и дополнении Публикации 147-1 (1972) и дополнении Публикации 147-2 (1963) и дополнении Публикации 147-4 (1976) Публикации 148 (1969) и дополнении Публикации 147-5 (1977) и дополнении ИЛИ

Публикации 747

Публикации 747-1 (1983) Публикации 748

Публикация 749 Публикации 191

Публикация 191-I (1966) и дополнении Публикации 191-2 (1966) и дополнении Публикации 191-3 (1974) и дополнении Публикации 410 (1973)

Публикации 617 Публикация ОС 001002 (198!)

Публикации ИСО: Стандарт ИСО 1000 (1973)

Стандарт ИСО 2015 (1976) Стандарт ИСО 2859 (1974)

«Часть 2. Испытании».

«Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и обшие принципы измерений».

«Часть 0. Общие сведении и терминология».

•Часть I. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики».

«Часть 2. Общие принципы методов измерений»

«Приемка и надежность».

«Буквенные обозначения дли полупроводниковых приборов и интегральных схем».

«Часть 5. Механические и климатические испытании».

«Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы».

«Часть 1. Общие положении».

«Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы».

«Механические и климатические испытания*. «Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов»

«Часть I. Подготовка чертежей полупроводниковых приборов».

«Часть 2. Размеры».

«Часть 3. Общие правила подготовки габаритных чертежей интегральных схем».

«Правила и планы выборочного контроля по качественным признакам».

«Графические обозначении дли схем».

«Правила процедуры Системы сертификации ИЭТ МЭК (МСС ИЭТ)».

«Единицы системы СИ и рекомендации по использованию их кратных чисел и других единиц». «Нумерация недель».

• Порядок и таблицы выборочного контроля по качественным признакам».

ГОСТ 28625-90 С. 3

2.3.    Ьлиницы физических величии, термины и обозначения

Единицы физических величин, термины, графические и буквенные обозначения должны соответствовать следующим НТД:

ИСО 1000;

МЭК 27;

МЭК 50;

МЭК 617.

Любые дополнительные единицы физических величин, термины и обозначения, относящиеся к одному из полупроводниковых приборов, на которые распространяются настоящие общие ТУ, должны соответствовать МЭК или ИСО (указанным в и. 2.2 настоящего стандарта) или же могут быть образованы (построены) в соответствии с принципами, изложенными в указанных выше НТД.

2.4.    Предпочтительные значения

Предпочтительные значения напряжений, токов и температур для измерения характеристик, испытаний и рабочих режимов установлены в МЭК 747-1*. МЭК 748-1*.

2.5.    Маркировка

а)    Если позволяет площадь, то на прибор должны быть нанесены следующие данные:

1)    обозначение выводов (п. 2.5.1);

2)    обозначение типа прибора (п. 2.5.2), категории качества (п. 2.6) и. при необходимости, обозначение программы отбраковочных испытаний (п. 2.7);

3)    наименование изготовителя (сокращенное или товарный знак) и. при необходимости, код завода-изготовителя (п. 2.5.3);

4)    код контролируемой партии (п. 2.5.4);

5)    знак соответствия, если нс используется сертификат соответствия;

б)    знаки предосторожности при обращении с прибором (при необходимости).

Если площадь поверхности прибора нс позволяет нанести всю маркировку полностью, то в ТУ на приборы конкретных типов должна быть приведена сокращенная маркировка в соответствии с приведенной выше последовательностью.

6)    На первичной упаковке, в которую непосредственно упакован поставляемый прибор, должны быть нанесены следующие данные:

1)    вся информация по п. 2.5 (перечисление а), за исключением обозначения выводов;

2)    обозначение ТУ на приборы конкретных типов:

3)    указания на предосторожность при обращении, например предупредительные знаки.

2.5.1.    Обозначение выводов по МЭК 747-1 должно быть приведено в ТУ на приборы конкретных типов со ссылкой на тип корпуса или габаритный чертеж.

2.5.2.    Если в состав маркировки входит тип прибора, то он преимущественно обозначается буквенно-цифровым или цветовым кодом, что указывается в ТУ на приборы конкретных типов. Цветовые коды могут быть указаны в групповых ТУ.

2.5.3.    Обозначение изготовителя или товарного знака

Если по наименованию или товарному знаку изготовителя невозможно установить конкретный завод, то в состав маркировки должно быть включено кодовое обозначение завода-и згото-вителя.

2.5.4.    Код контролируемой партии указывается в соответствии со стандартом ИСО 2015. в котором двум цифрам обозначения недели предшествуют две цифры обозначения года (например 8345 = 45-я неделя 1983 г.).

Если место для маркировки на приборе ограничено, то первая цифра года опускается (например 345 ■ 45-я неделя 1983 г.), что устанавливается в ТУ на приборы конкретных типов. Код контролируемой партии обозначает дату представления приборов на контроль. Если в течение недели контролю подвергаются несколько партий приборов, то вводится дополнительное обозначение в виде буквы для каждой последующей партии.

2.6.    Категории качества сертифицированных приборов

Стандарт устанавливает грн категории качества сертифицированных приборов. Приборы группируют в контролируемые партии, промаркированные с учетом даты выпуска и проверенные на соответствие установленной категории качества. Приемлемый уровень качества AQL (Acceptable Quality Level) или допустимый процент дефектных приборов партии LTPD (Lot Tolerance Percent Defective), относящиеся к одной и той же группе испытаний, могут быть различными для каждой категории и должны указываться в ТУ на приборы конкретных типов.

Государственный стандарт находится в стадии разработки (здесь и далее).

К категориям предъявляются следующие минимальные требования:

Категория I — тип приборов соответствует квалификационным требованиям категории II или III. Каждая партия проходит контроль по группе А, включающий проверку работоспособности. Каждые три месяца одна партия проверяется на соответствие требованиям к контролю паяемости. Ежегодно одна партия проверяется на соответствие требованиям к контролю по группам В и С.

Категория II — каждая партия подвергается испытаниям по группам А и В при контроле по партиям и испытаниям по группе С при периодическом контроле.

Категория III — каждая партия подвергается 100 %-ным отбраковочным испытаниям и испытаниям по группам А и В. Испытания по группе С проводятся периодически.

В групповых ТУ устанавливаются минимальные требования для каждой категории качества. ТУ на приборы конкретных типов могут содержать дополнительные требования, включая отбраковочные испытания, в дополнение к требованиям, установленным в общие ТУ, групповые ТУ или формы ТУ на приборы конкретных типов.

2.7. Отбраковочные испытания

Отбраковочное испытание — это проверка или испытание, которому подвергаются все приборы в партии.

Если отбраковочные испытания предусмотрены ТУ на приборы конкретных типов, то они проводятся на всех приборах партии по одной из программ, установленных в соответствующих групповых ТУ. Дефектные приборы изымаются.

Если установленные групповыми ТУ программы отбраковочных испытаний не согласуются или находятся в противоречии с известными механизмами отказов, то применяются любые иные программы отбраковочных испытаний, не установленные в соответствующих групповых ТУ.

Если часть отбраковочных испытаний, установленных в соответствующих групповых ТУ. является составной частью производственного процесса с указанной программой, то ее повторно можно нс проводить.

В настоящем стандарте электротермотреннровка определяется как тепловое и электрическое воздействие, которому подвергаются все приборы партии в течение определенного периода времени для выявления и изъятия потенциально ненадежных приборов.

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ПРИБОРОВ

Сертификация приборов представляет собой порядок утверждения соответствия приборов ТУ согласно п. 3.5 с последующим контролем качества на основе испытаний по партиям (в том числе и отбраковочные испытания, при необходимости) и периодических испытаний, как указывается в ТУ на приборы конкретных типов.

Сертификационные испытания подразделяют на испытания по группам А, В и С, которые проводят по партиям (А и В) или периодически (С) согласно п. 2.6. В некоторых случаях могут проводиться испытания по группе D, например при испытании на утверждение соответствия приборов ТУ.

3.1.    Требования к испытаниям на утверждение соответствия приборов ТУ

Испытания на утверждение соответствия приборов ТУ могут проводиться, если соблюдаются требования Публикации МЭК QC 001002*. П. 11.

3.1.1.    Начальный этап технологического процесса устанавливается в групповых ТУ.

3.2.    Закрытая информация промышленного значения

Если какая-нибудь часть производственного процесса представляет информацию указанного типа, то это должно быть четко определено и начальник службы технического контроля должен доказать Госстандарту СССР, что при этом соблюдаются положения Публикации МЭК QC 001002. п. 10.2.2.

3.3.    Комплектование контролируемых партий

Комплектование контролируемых партий проводится в соответствии с Публикацией МЭК QC 001002. п. 12.2.

3.4.    Конетруктивнополобные приборы

Определение конструктивноподобных приборов — в соответствии с Публикацией МЭК QC 001002. п. 8.5.3.

Подробные сведения по объединению приборов в группы конструктивноподобных приборов приводятся в соответствующих групповых ТУ.

Разработка государственного стандарта нс предусмотрена (здесь и далее).

ГОСТ 28625-90 С. 5

3.5.    Утверждение соответствия приборов ТУ

Утверждение соответствия приборов ТУ проводится в соответствии с Публикацией МЭК ОС 001002. п. 11.3.

По усмотрению изготовителя решение об утверждении соответствия приборов принимается при выполнении одного из условий в соответствии с требованиями контроля, приведенными в групповых ТУ. Допускается комплектование выборок из соответствующих конструктнвноподобных приборов. В некоторых случаях для утверждения соответствия приборов ТУ необходимо проведение испытаний по группе D.

Все измерения по количественным признакам, проводимые после испытаний в соответствии с ТУ на приборы конкретных типов, регистрируются как информационные данные.

В отчете испытаний на утверждение соответствия приборов ТУ должны содержаться все результаты испытаний по группе и подгруппе, включая число испытанных и отказавших приборов. В итоговые результаты не включают результаты информационных и (или) дополнительных измерений.

Изготовители должны хранить все данные для представления по требованию Госстандарта СССР.

3.6.    Контроль соответствия заданному уровню качества

Контроль соответствия заданному уровню качества проводится посредством измерений и испытаний по группам А. В. С и D в соответствии с ТУ на приборы конкретных типов.

Для испытаний по (руппам В и С допускается комплектование выборок из конструктивноподобных приборов. Выборки для периодических испытаний должны быть взяты из одной или более партий, прошедших испытания по группам А и В. Отдельные приборы, включаемые в выборку для проведения периодических испытаний, должны пройти испытание по группе А в соответствии с ТУ на приборы конкретных типов.

3.6.1.    Деление испытаний на группы и подгруппы

3.6.1.1.    Контроль по группе А (контроль по партиям)

Контроль по группе А предусматривает визуальный контроль и измерения, проводимые на каждой партии для оценки основных свойств приборов. Комплектование выборок из конструктивноподобных приборов не допускается, если иное нс установлено в ТУ на приборы конкретных типов.

Группа контроля А подразделяется на следующие подгруппы:

А1 — визуальный конлроль приборов в соответствии с п. 4.2.1 настоящего стандарта;

А2 — измерение основных характеристик прибора;

АЗ и А4 — измерение второстепенных характеристик прибора. Контроль по подгруппам АЗ и А4 устанавливается при необходимости. Уточненные требования для каждого вида приборов устанавливаются в соответствующих групповых ТУ. Выбор между подгруппами АЗ и А4 определяется целесообразностью проведения измерений для установленной категории качества.

3.6.1.2.    Контроль по группе В (контроль по партиям, за исключением категории I (п. 2.6)

Группа испытаний В включает испытания, проводимые для определения дополнительных

свойств приборов, и включает механические, климатические испытания и испытания на срок службы, которые обычно проводятся в течение одной недели.

3.6.1.3.    Контроль по группе С (периодический)

Контроль по группе С предусматривает проведение периодических испытаний для оценки определенных дополнительных свойств приборов и включает электрические измерения, механические и климатические испытания и испытания на срок службы, которые проводятся каждые три месяца для категорий качества II или III или один раз в год для категории качества I, если иное условие нс установлено в ТУ на приборы конкретных типов.

3.6.1.4.    Деление испытаний по группам В и С на подгруппы

Для обеспечения сравнения и удобства перехода от испытаний по группе В к группе С и, при необходимости, обратно (п. 3.6.3). испытания в этих группах подразделяются на подгруппы с сохранением того же номера для соответствующих испытаний.

Группы испытаний В и С подразделяют на подгруппы следующим образом:

BI/CI — контроль размеров приборов, определяющих взаимозаменяемость приборов:

В2а/С2а — измерения, предназначенные для оценки электрических свойств приборов с учетом их конструктивных особенностей;

В2в/С2в — измерения, предназначенные для более детальной опенки электрических характеристик прибора, прошедшего измерения по группе А, путем измерения при различных режимах напряжения, тока или температуры:

В2с/С2с — проверка предельно допустимых значений параметров приборов;

ВЗ/СЗ — испытания для оценки механической прочности выводов, например испытания на вращающий момент и испытания на изгиб;

В4/С4    — испытания для оценки паяемости прибора;

В5/С5    — испытания дтя оценки стойкости прибора к климатическим воздействиям,

например смена температуры, герметичность;

В6/С6    — испытания для оценки стойкости прибора к механическим воздействиям,

например постоянное линейное ускорение;

В7/С7    — испытания для оценки стойкости прибора к длительному воздействию

влаги;

В8/С8    — испытания на срок службы;

В9/С9    — испытания на хранение при высокой температуре;

В10/010 — испытания на воздействие изменения атмосферного давления;

BI I/O I — испытания на стойкость маркировки;

ПВ11 — перечень испытаний и (или) измерений, проведенных в предшествующих подгруппах, результаты которых должны быть иредста&зены в сертификационном протоколе выпущенных партий (СПВП).

В состав испытаний допускается включать часть испытаний, входящих в группу В и С.

3.6.1.5. Контроль по группе D

В группу испытаний D включаются испытания, проводимые с периодичностью 12 мес или при утверждении соответствия приборов ТУ.

3.6.2. Требования к контролю

Порядок статистического выборочного контроля устанавливается согласно п. 3.7 настоящего стандарта.

3.6.2.1. Критерии забракования партии

Партии, не отвечающие требованиям контроля качества по группе А или В. нс подлежат при

емке.

Если во время контроля качества установлено, что приборы не выдержали испытания по какой-либо подгруппе испытаний, что может привести к забракованию партии, то контроль качества должен быть прекращен и партия считается забракованной по группам А и В. Если партия изъята как несоответствующая требованиям контроля и повторно не предъявлена на контроль, то она считается забраковаиной.

3.6.2.2.    Партии, повторно предъявленные на контроль

Забракованные партии дорабатываются, если это технически возможно, и повторно предъявляются на контроль качества. Партин, вторично предъявляемые на контроль, должны состоять только из приборов, входящих в первоначально забракованные партии.

Допускается только однократное повторное предъявление партий на контроль по каждой группе (А и В).

Парши, повторно предъявляемые на контроль, хранятся отдельно от новых партий и обозначаются как повторно предъя азе иные. Из повторно предъяазенных партий комплектуются выборки и но планам усиленного контроля проводятся испытания по тем подгруппам, в которых имелись отказы.

Повторно предъяазенные партии, забракованные при контроле по группе В. должны пройти контроль по группе А.

3.6.2.3.    Порядок, применяемый в случае отказа испытательного оборудования или ошибки оператора

Если отказы испытуемых приборов произошли в результате неисправности испытательного оборудования или ошибки оператора, то это должно быт ь зарегистрировано в протоколе испытаний (но может быть исключено из сертификационных протоколов выпущенных партий по согласованию с Госстандартом) и представлено Госстандарту с подробным объяснением, почему данные отказы следует считать недействительными. Главный контролер должен определить возможность дополнения выборки замещающими приборами из той же контрольной партии.

Замещающие приборы должны быть подвергнуты тем же испытаниям, которым были подвергнуты забракованные приборы до отказа, и остальным испытаниям, установленным в ТУ на приборы конкретных типов, которым забракованные приборы первоначально до отказа не подвергались.

3.6.2.4.    Порядок, применяемый в случае отказа при периодических испытаниях

Если произошел отказ при испытаниях по группе В. то результаты соответствующих испытаний по группе С (п. 3.6.1.4) также считаются недействительными.

ГОСТ 28623-90 С. 7

Если отказ при периодических испытаниях произошел нс из-за отказа испытательного оборудовании или ошибки оператора, то следует руководствоваться положениями Публикации МЭК ОС 001002, п. 12.6 с учетом следующих изменений:

п. 12.6.1, перечисление а) — «поставки всех конструктивно подобных приборов временно приостанавливают»;

п. 12.6.4, перечисление а) — «поставки партий с устраненными дефектами должны быть возобновлены немедленно после устранения производственных дефектов»;

п. 12.6.8 —«если решение об утверждении соответствия приборов ТУ отменено в соответствии с Публикацией МЭК QC 001002. п. 12.6.7. то оно может быть восстановлено по упрощенной процедуре (учитывающей особенности, вызвавшие отказ) по усмотрению Госстандарта СССР».

3.6.3.    Дополнительная методика облегченного контроля

3.6.3.1.    Группа В

Если по одной или нескольким подгруппам на 10 последовательно проверенных партиях получены удовлетворительные результаты контроля, то вместо контроля каждой партии поданной подгруппе (или подгруппам) допускается переход к нормальному контролю каждой четвертой партии с максимальной периодичностью три месяца. Обратный переход к контролю каждой партии осуществляется в случае получения отрицательного результата при облегченном контроле.

3.6.3.2.    Группа С

Если для периодических испытаний установлен интервал 3 мсс. то период испытаний может быть увеличен до 6 чес при условии, что три последовательно проведенные периодические испытания с интервалом 3 мсс прошли удовлетворительно.

Переход к нормальным испытаниям с периодичностью 3 мес осуществляется в том случае, если выборка не выдержала испытания по какой-нибудь подгруппе при увеличенном интервале периодических испытаний (п. 3.6.2.4).

3.6.4.    Требования к выборочному контролю партий малых объемов

Если партия состаатяет не более 200 приборов, то применяется приведенная ниже методика, соответствующая требоазниям приложения А.

Если применяется план контроля no AQL, то следует выбирать значение LTPD, соответствующее значение AQL из табл. А-Ill приложения А.

а)    Неразрушающие испытания

Для испытаний, определенных как нсразрушаюшнс. применяется один из следующих планов контроля:

1)    проверяются 100 % приборов;

2) любой соответствующий план одноступенчатого выборочного контроля по LTPD (табл. А-II приложения А);

3)    любой соответствующий план двухступенчатого выборочного контроля no LTPD.

б)    Разрушающие испытания:

1) любой соответствующий план одноступенчатого выборочного контроля по LTPD (табл. А-II приложения А);

2)    любой соответствующий план двухступенчатого выборочного контроля по LTPD.

3.6.5.    Сертификационные протоколы выпущенных партий (СМВМ)

Сертификационные протоколы выпущенных партий (далее — СПВП) оформляются в соответствии с требованиями Публикации МЭК ОС 001002, п. 14.

3.6.6.    Поставки приборов, подвергнутых разрушающим или неразрушающнм испытаниям

Разрушающие испытания в формах ТУ обозначаются буквой D.

Приборы, подвергавшиеся разрушающим испытаниям, не включаются в поставляемую партию.

Допускается поставка приборов, подвергавшихся неразрушающим испытаниям на воздействие внешних факторов, если они вторично испытываются по группе А и удовлетворяют требованиям этих испытаний.

3.6.7.    Задержка поставок

Если приборы хранились на складе более двух лет, то перед поставкой они должны быть проконтрол прованы по группе А и испытаниям на иаяемость по группе В. После этих испытаний, проведенных для всей партии, никакие дальнейшие повторные испытания данной партии в течение двух лет не требуются.

3.6.8.    Дополнительное условие поставок

Изготовитель может по своему усмотрению поставлять приборы более высокого уровня качества. несмотря на то, что заказы поступили на приборы с менее жестким уровнем качества