Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

23 страницы

396.00 ₽

Купить ГОСТ 28578-90 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам).

  Скачать PDF

Переиздание. Май 2005 г.

Оглавление

I Общие положения

1 Область применения

2 Цель

3 Термины, определения и буквенные обозначения

4 Нормальные атмосферные условия

5 Внешний осмотр и проверка размеров

6 Электрические измерения

II Механические испытания

1 Прочность выводов

2 Пайка

3 Вибрация (синусоидальная)

4 Удар

5 Линейное ускорение

6 Испытание на прочность соединений

III Климатические испытания

1 Смена температуры

2 Хранение (при высокой температуре)

3 Пониженное атмосферное давление

4 Влажное тепло, циклическое испытание

5 Влажное тепло, постоянный режим

6 Составное циклическое испытание на воздейсвие температуры и влажности

7 Герметичность

8 Соляной туман

9 Испытание на перемежающиеся отказы при воздействии смены температуры

IV Разные испытания

1 Испытание приборов в пластмассовых корпусах на воспламеняемость

2 Стойкость маркировки

Показать даты введения Admin

ГОСТ 28578-90 (МЭК 749-84)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МЕХАНИЧЕСКИЕ И КЛИМАТИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

БЗ 9-


Издание официальное

Москва

Стандартинформ

2005

ПРЕДИСЛОВИЕ

1.    Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национатьные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2.    Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.

3.    В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы все национатьные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального стандарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

II

ВВЕДЕНИЕ

Стандарт МЭК 749—84 подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы*.

Публикации МЭК 749 предста&тяет собой обший стандарт на механические и климатические испытании, примениемые к дискретным приборам и интегральным схемам.

На совещании в Лондоне в сентибре 1982 г. Технический комитет МК 47 одобрил переиздание Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рассматриваемого прибора. Поскольку все части, составляющие настоищую публикацию, были в свое времи утверждены по Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было признано нецелесообразным.

Сведении относительно дискретных приборов и интегральных схем, содержащиеся в Публикациях МЭК 147 и МЭК 148. включены в Публикацию МЭК 747 и МЭК 748.

Сведения относительно механических и климатических испытаний, ранее содержащиеся в Публикациях МЭК 147-5 и МЭК I47-5A, включены в Публикацию МЭК 749.

Соответствие данного стандарта современному уровню технически будет обеспечиваться путем пересмотра и дополнения его. по мере дальнейшей работы технического комитета МЭК 47. с учетом последних достижений в области полупроводниковых приборов.

Примечание. Публикации МЭК 747 и МЭК 748 аннулируют и заменяют, по мерс издания их отдельных частей. Публикациями МЭК 147 и МЭК 148.

Настояния публикация заменяет Публикацию МЭК 147-5 и МЭК 147-5Л.

Таблица соответствия новых и прежних пунктов

Новая публикация МЭК 749

Прежние публикации

Новая публикация МЭК 749

Прежние публикации

Номер

главы

Номер

раисла.

пункта

Номер

главы

Номер

раисла,

пункта

Номер

публикации

МЭК

Номер

главы

Номер

раиела,

пункта

Номер

главы

Номер

раисла,

пункта

Номер публика-1 ии М 'К

I

0

147-5

III

II

_

147-5

1

1

0

1

147-5

III

1

II

1

147-5

1

1.4

1

1.4

147-5

III

l.l

II

1.1

I47-5A

1

2

0

2

147-5

III

1.2

II

1.2

147-5

1

3

0

3

147-5

III

2

II

2

147-5

1

4

0

4

147-5

III

3

II

3

147-5

I

5

0

5

147-5

III

5

II

5

I47-5A

1

6

0

6

147-5

III

6

II

6

I47-5A

II

_

I

147-5

III

7

II

7

147-5

II

1

I

1

147-5

III

7.1

II

7.1

147-5

II

1,1

I

1.1

147-5

III

7.2

II

7.2

147-5

II

1.2

1

1.2

147-5

III

7.3

II

7.3

147-5

II

1.3

1

1,3

147-5

III

7.4

II

2

I

2

147-5

III

8

II

8

147-5

II

2.1

I

2.1

147-5

III

9

II

9

I47-5A

II

2.2

I

2.2

147-5

IV

III

147-5

II

3

1

3

147-5

IV

1

III

1

147-5

II

4

_

_

IV

l.l

III

1.1

147-5

II

4

I

4

147-5

IV

2

III

2

147-5

II

5

I

5

147-5

II

6

I

6

I47-5A

III

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ГОСТ 28578-90 (МЭК 749-84)

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Механические и климатические испытания

Semiconductor devices.

Mechanical and climatic test methods

МКС 31.080 ОКСТУ 6000

Дата введения 01.01.91

Глава I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для приборов без внутренних полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний.

Примечание. Прибор без внутренней полости — это прибор, в котором герметизирующий материал непосредственно контактирует со всеми внешними поверхностями активного элемента и при изготовлении которого заполняется все внутреннее свободное пространство.

В настоящем стандарте, но возможности, учтены требования МЭК 68 (ГОСТ 28198-ГОСТ 28236).

2. ЦЕЛЬ

Установление единых методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки для оценки степени воздействия внешних факторов на полупроводниковые приборы.

В случае противоречия между настоящим стандартом и соответствующей нормативно-технической документацией (НТД) предпочтение отдается последней.

3. ТЕРМИНЫ, ОПРЕДЕЛЕНИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ

Ссылки делаются на МЭК 68 (ГОСТ 28198-ГОСТ 28236), МЭК 747* и МЭК 748*.

4. НОРМАЛЬНЫЕ АТМОСФЕРНЫЕ УСЛОВИЯ

Ссылка: МЭК 68-1 (ГОСТ 28198).

Если не оговорено иное, все выдержки и восстановления проводятся при нормальных атмосферных условиях испытания, как указано в МЭК 68—1. п. 5.3 (ГОСТ 28198, п. 5.3):

-    температура от 15 *С до 35 *С;

-    отноаггельная влажность от 45 % до 75 %, в случае необходимости;

-    атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

• Государственный стандарт находится в стадии разработки.

Издание официальное    Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1990 © Стандартинформ. 2005

С. 2 ГОСТ 28578-90

При этом все электрические измерении, а также восстановление с последующими измерениями выполняют при следующих атмосферных условиях:

-    температура (25 ± 5) *С;

-    относительная влажность от 45 % до 75 %. в случае необходимости:

-    атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

Арбитражные испытания проводят при следующих нормальных атмосферных условиях:

-    температура (25 ± I) 'С;

-    относительная влажность от 48 % до 52 %;

-    атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

Измерения следует проводить только посте достижения образками температурного равновесия. Температура окружающей среды во время измерений должна быть указана в протоколе испытания.

При проведении измерений образцы не должны подвергаться воздействию сквозняков, освещения или другим воздействиям, которые могут привести к погрешности измерения.

5. ВНЕШНИЙ ОСМОТР И ПРОВЕРКА РАЗМЕРОВ

5.1.    Внешний осмотр должен включать:

a)    проверку правильности и стойкости маркировки (метод испытания находится на рассмотрении);

b)    обнаружение повреждений корпуса и выводов:

c)    проверку внешнего вида корпуса и выводов.

5.2.    Должны быть проверены размеры, указанные в соответствующей НТД.

5.3.    Если не оговорено иное, внешний осмотр проводят при 3- и 10-кратном увеличении в зависимости от размера прибора.

6. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ

6.1.    При испытаниях на воздействие внешних факторов измеряемые характеристики следует выбирать из главы «Приемка и надежность* соответствующей части МЭК 747 или МЭК 748. Эти характеристики указывают для каждой категории приборов.

6.2.    Условия измерений — см. таблицу «Условия испытаний на срок службы», приведенную в главе «Приемка и надежность* соответствующей части МЭК 747 или МЭК 748.

6.3.    Первоначальные измерения

Если в качестве критерия указывают только верхнее и (или) нижнее предельные значения, то первоначальные измерения проводят по усмотрению изготовителя. Их проводят в том случае, если в качестве критерия используется первоначальное показание конкретного прибор;!.

6.4.    Измерения, проводимые во время испытания на воздействие внешних факторов

Указываются при необходимости.

6.5.    Заключительные измерения

Если в соответствующей НТД указано, что испытание входит в последовательность (подгруппу) испытаний, то измерения проводят только по окончании всех испытаний, составляющих данную последовательность. Для некоторых испытаний, таких как испытание на паяемость или на усталость выводов, можно использовать приборы с электрическими дефектами.

Глава II. МЕХАНИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

Выбор соответствующих испытаний зависит от типа приборов и корпуса. Необходимые испытания должны быть указаны в соответствующей НТД.

I. ПРОЧНОСТЬ ВЫВОДОВ

Ссылка: МЭК 68-2-21 (ГОСТ 28212).

1.1. Растяжение

Это испытание соответствует испытанию Ua| с учетом следующих требований.

После испытания проводят осмотр при 3— 10-кратном увеличении.

ГОСТ 28578-90 С. 3

Прибор бракуют, если обнаружена трещина (кроме трещин к области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса приборов в месте его крепления.

1.2.    Изгиб

Эго испытание соответствует испытанию Ub с учетом следующих требований:

в п. 4.2 метод 2 рекомендуется использовать только для ДИГ1-корпусов и подобных им корпусов. конфигурация которых затрудняет или делает невозможным использование метода I.

1.3.    Скручивание

Эго испытание соответствует испытанию Uc с учетом следующих требований.

Методика

Используются либо метод А (степень жесткости 2), либо метод В.

Критерии отказа

Прибор считают отказавшим, если после снятия нагрузки при 10— 20-кратном увеличении обнаружена трещина (кроме трещин в области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса прибора в месте его крепления.

1.4.    Крутящий момент

1.4.1.    Испытание выводов в виде винта на воздействие крутящего момента

Данное испытание соответствует испытанию Ud с учетом следующих требований.

Прибор считают отказавшим в следующих случаях:

-    поломки или удлинения винта более чем на половину шага резьбы:

-    срыва резьбы или деформации установочной плоскости;

-    когда посте испытания электрические параметры прибора нс соответствуют требованиям соответствующей НТД, если такие измерения проводят.

1.4.2.    Испытание выводов на воздействие крутящею момента. Новое испытание Ud->

1.4.2.1.    Цель

Определение способности выводов выдерживать скручивание, которому они могут подвергаться в процессе проверки или эксплуатации после установки в аппаратуру.

1.4.2.2.    Метод испытания

Образец жестко закрепляют, к испытуемому выводу медленно прикладывают крутящий момент до тех пор. пока угол скручивания не будет равен (30 ± 10) * или величина крутящего момента не достигнет заданного значения в зависимости от того, какое условие будет выполнено скорее.

Затем вывод возвращается в первоначальное положение. Крутящий момент, равный (1.4 х х К)-2 ± 1,4 х 10“3) Н м. прикладывают к выводу на расстоянии (3.0 ± 0,5) мм от корпуса прибора или в пределах I мм от конца вывода, если он короче 3 мм.

Выводы подвергают воздействию крутящего момента в каждом направлении.

Если прибор имеет выводы, изогнутые близко к корпусу, то крутящий момент прикладывают на расстоянии (3,0 ±0,5) мм от точки изгиба вывода.

1.4.2.3.    Заключительные измерения

После испытания следует провести осмотр при 3— 10-кратном увеличении. Прибор бракуют, если обнаружена трещина вывода, ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса в месте его крепления.

1.4.2.4.    Сведения, которые должны быть указаны в соответствующей НТД

Принцип выбора и количество выводов, подвергаемых испытанию.

2. ПАЙКА

Ссылка: МЭК 68-2-20 (ГОСТ 28211).

2.1. Неясность

Это испытание должно соответствовать испытанию Та с учетом следующих требований.

При использовании метода I

Выводы подвергают испытанию методом паяльной ванны. Выводы погружают в кишу на 1.5 мм от установочной плоскости прибора или на другое расстояние, установленное в соответствующей НТД.

Примечание. Если глубина погружения от установочной плоскости менее 1,5 мм. то выбирают другие критерии отказа, которые должны быть указаны.

При использовании метода 2

Выводы подвергают испытанию методом паяльника типа А. Расстояние от места пайки до

С. 4 ГОСТ 28578-90

корпуса прибора должно быть установлено в соответствующей НТД, время соприкосновения паяльника с выводом должно соста&зять (3,5 ±0,5) с.

При использовании метода 3

Выводы подвергают испытанию методом капельной установки. Выводы испытывают в точке, отстоящей на (5 ± I) мм от корпуса прибора. Проволочный вывод смачиатют припоем в течение 2,5 с.

Критерии смачиваемости

При осмотре с 10-кратным увеличением погружаемая поверхность должна быть покрыта ровным блестящим слоем припоя с незначительными дефектами (приблизительно 5 %). такими как проколы или несмачиваемые участки. Эти дефекты не должны быть сконцентрированы в одном месте.

2.2. Теплостойкость при пайке

Это испытание соответствует испытанию ТЬ с учетом следующих требований.

Метод

Используют метод IA со временем погружении (10± I) с или метод IB.

3. ВИБРАЦИЯ (СИНУСОИДАЛЬНАЯ)

Ссылка: МЭК 68-2-6 (ГОСТ 28203).

Это испытание соответствует испытанию Рс с учетом следующих требований:

-    во время испытания корпус и выводы прибора должны быть надежно закреплены;

-    испытание на вибропрочность проводят методом качания частоты;

-    ускорение 1% м/с2 (20 g,,);

-    диапазон частот 100—2000 Гц;

-    число циклов на ось — 15.

4. УДАР

Ссылка: МЭК 68-2-27 (ГОСТ 28213).

Эго испытание соответствует испытанию Еа с учетом следующих требований. Соответствующие условия выбирают из приведенной ниже таблицы в зависимости от массы прибора и его внутренней конструкции.

Пиковая амплитуда, м/с2 (g„)

Длительность, мс

Форма импульса

14700 (1500)

0.5

Полусниусоилальмаи

4900 (500)

1.0

Полусмнусоилальная

980(100)

6.0

Полусинусоидальная

Прибор подвергают воздействию трех последовательных ударов в обоих напра&тениях по трем взаимно перпендикулярным осям, выбранным таким образом, чтобы вероятность выяазения повреждения была наибольшей, т. е. в общей сложности должно быть 18 уларов |см. п. 5.2 Публикации МЭК 68-2-27 (ГОСТ 28213)).

Во время испытания корпус и выводы прибора должны быть надежно закреплены.

5. ЛИНЕЙНОЕ УСКОРЕНИЕ

Ссылка: МЭК 68-2-7 (ГОСТ 28204).

Эго испытание соответствует испытанию Ga с учетом следующих требований.

Крепление

В соответствии с п. 4 МЭК 68-2-47 (ГОСТ 28231) при одновременном закреплении корпуса и выводов.

Методика испытания

Если не оговорено иное, прибор должен подвергаться воздействию ускорения в течение нс менее I мин в обоих направлениях но трем основным осям.

Предпочтительные степени жесткости:

196000 м/с2 (20000 gn) — для приборов массой < 10 г;

ГОСТ 28578-90 С. 5

19600 м/с2 (2000 g„) — для приборов массой 10—100 г;

4900 м/с2 (500 gn) — дли приборов массой > 100 г.

Сведения, которые должны указывать в соответствующей НТД:

I) степень жесткости;

т) оси и направления ускорения.

6. ИСПЫТАНИЕ НА ПРОЧНОСТЬ СОЕДИНЕНИЙ

6.1.    Общие положения

6.1.1.    Цель

Измерение прочности соединений или определение соответствия прочности соединений заданным требованиям.

6.1.2.    Общее описание испытания

Приводят описание следующих шести методов испытания, каждый из которых имеет свое назначение:

-    методы А и В предназначены для испытания внутренних соединений прибора на разрыв соединительной проволоки;

-    метод С предназначен для испытания внешних соединений прибора и представляет собой воздействие отслаивающей силы, приложен ной между гибким или жестким выводом и платой или подложкой;

-    метод D предназначен для испытания внутренних соединений и представляет собой воздействие сдвигающей силы, приложенной между кристаллом и подложкой или между аналогичным образом соединенными поверхностями;

-    методы Е и F предназначены для испытания внешних соединений и предстаатяют собой воздействие сил «стаскивания» и «сталкивания», приложенных между кристаллом и подложкой.

6.1.3.    Описание испытательного оборудовании (для всех методов)

Оборудование для данного испытания должно включать соответствующий прибор, обеспечивающий приложение заданной силы к соединению, проволочному выводу или месту его крепления в соответствии с выбранным методом испытания, а также калиброванный в ньютонах (Н) прибор для измерения силы, приложенной в точке разрыва соединения. С помощью этого измерительного прибора измеряют силу до 100 мН включительно с точностью ± 2,5 мН. силу от 100 до 500 мН с точностью до ± 5 мН и силу, превышающую 500 мН. с точностью ± 2.5 % указанного значения.

6.2. Методы А и В (см. также приложение к данному пункту)

6.2.1.    Область применения

Данное испытание предназначено для определения прочности внутренних проволочных соединений с кристаллом, подложкой или с внешним выводом внутри корпуса полупроводниковых приборов, соединения которых выполнены пайкой, термокомпрессией, ультразвуком или другими аналогичными способами.

6.2.2 Общее описание испытания

6.2.2.1.    Метод А. Разрыв проволочного соединения (сила прилагается к каждому соединению в отдельности)

Проволочный вывод, присоединенный к кристаллу или подложке, разрезают так, чтобы к конкам проволоки можно было приложить растягивающую силу. Если проволока короткая, то можно обрезать один ее конец почти у основания и проводить испытание на разрыв с противоположного конца. Проволоку зажимают в соответствующем зажимном устройстве и прикладывают растягивающую силу к проволочному выводу или к прибору (с зажатым выводом). При испытании сварных соединений силу прикладывают перпендикулярно поверхности кристалла или подложки с отклонением в пределах 5*, при испытании стежковых соединений — параллельно поверхности кристалла или подложки с отклонением в пределах 5*.

6.2.2.2.    Метод В. Разрыв проволочного соединения (силу прилагают к двум соединениям одновременно)

Под проволочный вывод, соединяющий кристалл или подложку с внешним выводом, подводят крючок и прикладывают к нему растягивающую силу, при этом прибор крепят неподвижно. Растягивающую силу прикладывают приблизительно к середине проволочного вывода перпендикулярно к поверхности кристалла или подложки или перпендикулярно к прямой линии, проведенной между соединениями с отклонением в пределах 5*.

С. 6 ГОСТ 28578-90

6.2.2.3.    Растягивающую силу постепенно увеличивают до тех пор. пока не произойдет разрыв проволочного вывода или соединения (п. 6.2.2.4а) или пока не будет достигнуто минимальное значение силы (п. 6.2.2.4Ь).

6.2.2.4.    Критерии отказа:

a)    для определения годности прибора значение растягивающей силы, при которой происходит разрыв проволочного вывода или соединения, регистрируют и сравнивают со значением, приведенным в табл. I. п. 6.6 (см. примечание к настоящему пункту);

b)    для определения годности прибора можно использовать другой метод: увеличивать растягивающую силу до заданного минимального значения (см. примечание). Если при этом не возникает разрыва проволочного вывода или соединения, считают, что прибор выдержат испытание.

Примечание. При необходимости растягивающая сила должна быть изменена (например атя метода В) с учетом сведений, приведенных в приложении.

6.2.2.5.    Классификация отказов

При необходимости отказы допускается классифицировать следующим образом:

a)    разрыв проволочного вывода в месте утончения (уменьшение поперечного сечения при выполнении операции соединения);

b)    разрыв проволочного вывода в любой другой точке, но нс в месте утончения:

c)    разрушение соединения (граница между проволочным выводом и металлизацией у кристалла);

d)    разрушение соединения (граница между проволочным выводом и металлизацией) у подложки, у вывода корпуса или в любой другой точке, но не у кристалла;

e)    отслаивание металлизации от кристалла;

0 отслаивание металлизации от подложки или вывода корпуса;

g)    трещина в кристалле;

h)    трещина в подложке.

Примечание. Метод В нс рекомендуется для измерения абсолютного значения прочности соединения (см. приложение). Однако его можно применять для определения путем сравнения качества соединений в процессе изготовления.

6.3. Метод С

6.3.1.    Область применения

Данное испытание обычно применяют к внешним соединениям с корпусом прибора.

6.3.2.    Метод С. Отрыв соединения

Гибкий или жесткий вывод и корпус прибора должны быть закреплены или зажаты таким образом, чтобы усилие на отрыв прилагалось иод заданным углом между гибким или жестким вынодом и платой или подложкой. Если нс оговорено иное, то силу прикладывают под углом 90'.

6.3.3.    Растягивающую силу постепенно увеличивают до тех пор, пока не произойдет отрыв гибкого (или жесткого) вывода или соединения (п. 6.3.4.1) или пока не будет достигнуто минимальное значение силы (п. 6.3.4.2).

6.3.4.    Критерии отказа

6.3.4.1.    Для определения годности прибора значение растягивающей силы, при котором произошел отрыв соединения, регистрируют и сравнивают со значением, приведенным в табл. I п. 6.6. Испытание является достоверным только в том случае, если при приложении растягивающей силы разрушается, в первую очередь, само соединение. Отказами считают только обрывы самих соединений.

6.3.4.2.    Для определения годности прибор;» допускается использовать другой метод: увеличить растягивающую силу до заданного минимального значения. Если при этом нс произошло отрыв;» гибкого или жесткого вывода или соединения, считают, что соединение выдержало испытание.

6.3.5.    Классификация отказов

Мри необходимости отказы допускается классифицировать следующим образом:

a)    обрыв гибкого или жесткого вывода в месте деформации (участок, затронутый сваркой);

b)    обрыв гибкого или жесткого вывода в точке, не подвергавшейся воздействию при выполнении сварки;

c)    разрушение границ соединения (в припое или в точке сварки между гибким (или жестким) вы нодом и контактной площадкой на кристалле или подложке);

d)    отрыв контактной площадки от платы или подложки;

e)    трещина в плате или подложке.

ГОСТ 28578-90 С. 7

6.4. Метол I)

6.4.1.    Область применения

Данное испытание обычно применяют к внутренним соединениям полупроводникового кристалла с подложкой, на которую он крепится одной из своих граней. Оно может быть также применено к соединениям между подложкой и кристаллодержателем или второй подложкой, на которую монтируют кристалл.

6.4.2.    Метод D. Сдвиг соединения (для соединений методом перевернутого кристалла)

Соответствующий инструмент или клин подводят вплотную к кристаллу (или кристаллодер-

жателю) в точке, находящейся непосредственно над первой подложкой, н прикладывают силу, перпендикулярно к одной из граней кристалла (или крнстадлодержатсля) и параллельно первой подложке с целью разрыва соединения путем сдвига.

6.4.3.    Прилагаемую силу постепенно увеличивают до тех пор. пока нс произойдет разрыв соединения (п. 6.4.4.1) или пока не будет достигнуто минимальное значение силы (п. 6.4.4.2).

6.4.4.    Критерии отказа

6.4.4.1.    Для определения годности прибора регистрируют значение силы, вызвавшей разрыв соединения. Оно должно быть не менее 50 мН, умноженное на число соединений. Испытание является достоверным только в том случае, если при приложении силы разрушается, в первую очередь, само соединение. Отказами считаются только разрывы самого соединения.

6.4.4.2.    Для определения годности прибора допускается использовать другой метод: увеличить силу до 50 мН. умножив ее на число соединений. Если ни соединения, ни подложка или кристалл не разрушаются, считают, что соединения выдержали испытание.

6.4.5.    Классификация отказов

При необходимости отказы допускается классифицировать следующим образом:

a)    разрушение материала соединения или его основания, если имеется;

b)    Iрешина в кристалле (шли крнсталлодержателе) или в подложке (т. е. смешение части кристалла шли подложки непосредственно под соединением):

c)    отслаивание металлизации (т. е. отделение слоев металлизации или основания соединения от кристалла (или кристаллодержателя или подложки).

6.5.    Методы Е и F

6.5.1. Область применения

Эти методы предназначены для испытания приборов с балочными выводами.

Метод Е обычно применяют для технологического контроля и проводят на образце полупроводникового кристалла, прикрепленного к специально подготовленной подложке. Поэтому этот метод нельзя использовать для произвольно выбранных образцов или контролируемых партий.

Метод F обычно применяют для испытания образцов приборов с балочными выводами, прикрепленных к подложке из керамики или другого соответствующего материала.

6.5.2 Метод Е. Испытание на «сталкивание»

При данном методе используют металлизированную подложку с отверстием. Соответствующим образом сцентрированное отверстие должно быть достаточно большим, чтобы обеспечивать свободное прохождение приспособления для сталкивания, но не настолько большим, чтобы затрагивать зоны соединений. Приспособление для сталкивания должно иметь достаточные размеры, чтобы свести к минимуму появление трещин в приборе во время испытания, однако оно не должно касаться балочных выводов в месте крепления.

Подложку жестко крепят, а приспособление для сталкивания вводят в отверстие. Приспособление для сталкивания вводят в соприкосновение с прибором без ощутимого толчка (менее 0,25 мм в минуту). К нижней поверхности прибора посредством этого приспособления прикладывают равномерно возрастающую силу до тех пор. пока не будет достигнуто значение, указанное в п. 6.5.5, или пока не произойдет отказ.

6.5.3. Метод F. Испытание на «стаскивание*

Отградуированное устройство для испытания на «стаскивание» должно включать приспособление для стаскивания (например электрически нагреваемая петля из нихромовой проволоки), соприкасающееся с быстро твердеющим клейким веществом (например чувствительным к теплу клеем из поливинилаиетатной смолы), нанесенным на верхнюю поверхность кристалла с балочными выводами. Нельзя допускать стекания клейкого вещества вдоль балочного вывода или под кристалл. Подложку жестко крепят в зажиме приспособления для стаскивания, а приспособление для стаскивания механически плотно соединяют с клейким веществом. Силу стаскивания следует прикладывать перпендикулярно прибору с отклонением в пределах 5* до тех пор, пока не будет достигнуто.