Сертификация: тел. +7 (495) 175-92-77
Стр. 1
 

23 страницы

396.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам)

Переиздание. Май 2005 г.

Оглавление

I Общие положения

1 Область применения

2 Цель

3 Термины, определения и буквенные обозначения

4 Нормальные атмосферные условия

5 Внешний осмотр и проверка размеров

6 Электрические измерения

II Механические испытания

1 Прочность выводов

2 Пайка

3 Вибрация (синусоидальная)

4 Удар

5 Линейное ускорение

6 Испытание на прочность соединений

III Климатические испытания

1 Смена температуры

2 Хранение (при высокой температуре)

3 Пониженное атмосферное давление

4 Влажное тепло, циклическое испытание

5 Влажное тепло, постоянный режим

6 Составное циклическое испытание на воздейсвие температуры и влажности

7 Герметичность

8 Соляной туман

9 Испытание на перемежающиеся отказы при воздействии смены температуры

IV Разные испытания

1 Испытание приборов в пластмассовых корпусах на воспламеняемость

2 Стойкость маркировки

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСТ 28578-90 (МЭК 749-84)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МЕХАНИЧЕСКИЕ И КЛИМАТИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

Издание официальное

ВЗ 9-2004


Страница 2

ПРЕДИСЛОВИЕ

1.    Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2.    Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.

3.    В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы все национальные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального стандарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

II

Страница 3

ВВЕДЕНИЕ

Стандарт МЭК 749—84 подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы®.

Публикация МЭК 749 представляет собой общий стандарт на механические и климатические испытания, применяемые к дискретным приборам и интегральным схемам.

На совещании в Лондоне в сентябре 1982 г. Технический комитет МК 47 одобрил переиздание Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рассматриваемого прибора. Поскольку все части, составляющие настоящую публикацию, были в свое время утверждены по Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было признано нецелесообразным.

Сведения относительно дискретных приборов и интегральных схем, содержащиеся в Публикациях МЭК 147 и МЭК 148. включены в Публикацию МЭК 747 и МЭК 748.

Сведения относительно механических и климатических испытаний, ранее содержащиеся в Публикациях МЭК 147-5 и МЭК I47-5A, включены в Публикацию МЭК 749.

Соответствие данного стандарта современному уровню технически будет обеспечиваться пугем пересмотра и дополнения его, по мере дальнейшей работы технического комитета МЭК 47, с учетом последних достижений в области полупроводниковых приборов.

Примечание. Публикации МЭК 747 и МЭК 74К аннулируют и заменяют, по мерс издания их отдельных частей. Публикациями МЭК 147 и МЭК 148.

Настоящая публикация заменяет Публикацию МЭК 147-5 и МЭК 147-5А.

Таблица соответствия новых и прежних пунктов

Новая публикация МЭК 749

Прежние публикации

Новая публикация МЭК 749

Прежние публикации

Номер

■лапы

Номер

раздела,

пункта

Номер

главы

Номер

рамсла,

пункта

Номер

публикации

МЭК

Номер

швы

Номер

раздела.

пункта

Номер

главы

Номер

раздела,

пункта

Номер публикации МЭК

I

_

0

_

I47-:

111

_

II

_

147-5

I

1

0

1

147-5

III

1

II

1

147-5

1

1.4

1

1,4

147-5

111

l.l

II

1,1

I47-5A

1

2

0

2

147-5

III

1.2

II

1,2

147-5

1

3

0

3

147-5

111

2

II

2

147-5

1

4

0

4

147-5

III

3

II

3

147-5

I

5

0

5

147-5

III

5

II

5

147-5А

1

6

0

6

147-5

III

6

II

6

147-5А

II

_

1

_

147-5

III

7

II

7

147-5

II

1

1

1

147-5

III

7.1

II

7,1

147-5

II

1.1

1

М

147-5

III

7.2

II

7,2

147-5

II

1,2

1

1.2

147-5

111

7.3

II

7,3

147-5

II

1.3

1

1,3

147-5

III

7,4

II

2

I

2

147-5

111

8

II

8

147-5

II

2,1

I

2,1

147-5

III

9

II

9

147-5А

II

2.2

1

2,2

147-5

IV

III

147-5

II

3

I

3

147-5

IV

1

III

1

147-5

II

4

IV

1.1

III

1.1

147-5

II

4

1

4

147-5

IV

2

III

2

147-5

II

5

I

5

147-5

II

6

I

6

147-5А

III

Страница 4

УДК 621.382.001.4:006.354    Группа    Э29

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

ГОСТ 28578-90 (МЭК 749-84)

Механические и климатические испытания

Semiconductor dcvices.

Mcchanical and climatic test methods

MKC 31.080 ОКСТУ 6000

Дата введения 01.01.91

Глава I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ 1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для приборов без внутренних полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний.

Примечание. Прибор бел внутренней полости — это прибор, в котором герметизирующий материал непосредственно контактирует со всеми внешними поверхностями активного элемента и при изготовлении которого заполняется все внутреннее свободное пространство.

В настоящем стандарте, по возможности, учтены требования МЭК 68 (ГОСТ 28198-ГОСТ 28236).

2. ЦЕЛЬ

Установление единых методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки для оценки степени воздействия внешних факторов на полупроводниковые приборы.

В случае противоречия между настоящим стандартом и соответствующей нормативно-технической документацией (НТД) предпочтение отдается последней.

3. ТЕРМИНЫ, ОПРЕДЕЛЕНИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ

Ссылки делаются на МЭК 68 (ГОСТ 28198-ГОСТ 28236). МЭК 747* и МЭК 748 ♦.

4. НОРМАЛЬНЫЕ АТМОСФЕРНЫЕ УСЛОВИЯ

Ссылка: МЭК 68-1 (ГОСТ 28198).

Если не оговорено иное, все выдержки и восстановления проводятся при нормальных атмосферных условиях испытания, как указано в МЭК 68—1. п. 5.3 (ГОСТ 28198, п. 5.3):

-    температура от 15 *С до 35 ‘С;

-    относительная влажность от 45 % до 75 %, в случае необходимости:

-    атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

* Государственный стандарт находится в стадии разработки.

Издание официальное    Перепечатка    восирсшсна

£> Издательство стандартов, 1990 © Стандарт нформ, 2005