Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

42 страницы

517.00 ₽

Купить ГОСТ 27694-88 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров

  Скачать PDF

Ограничение срока действия снято: Протокол № 4-93 МГС от 21.10.93 (ИУС 4-94)

Переиздание (май 1999 г.) с изменениями № 1, 2, 3 (ИУС 10-89, 12-90, 7-96)

Оглавление

1 Общие требования

2 Методы измерения диапазона автоматической регулировки усиления

3 Методы измерения коэффициента неравномерности амплитудно-частотной характеристики

4 Методы измерения коэффициента ослабления амплитудной модуляции

5 Методы измерения входного и выходного напряжений

6 Методы измерения коэффициента усиления

7 Методы измерения коэффициента гармоник

8 Методы измерения коэффициента шума

9 Методы измерения тока потребления и потребляемой мощности

10 Методы измерения входного и выходного сопротивлений

11 Методы измерения выходной мощности

12 Методы измерения коэффициента полезного действия

Приложение 1

Приложение 2 Расчет показателей точности при измерении диапазона автоматической регулировки усиления

Приложение 3 Расчет показателей точности при измерении коэффициента неравномерности АЧХ

Приложение 4 Термин и пояснение

Приложение 5 Расчет показателей точности при измерении коэффициента ослабления амплитудной модуляции

Приложение 6 Расчет показателей точности при измерении входного и выходного напряжений

Приложение 7 Расчет показателей точности при измерении коэффициента усиления напряжения

Приложение 8 Расчет показателей точности при измерении коэффициента гармоник

Приложение 9 Расчет показателей точности при измерении коэффициента шума

Приложение 10 Расчет показателей точности при измерении тока потребления и потребляемой мощности

Приложение 11 Расчет показателей точности при измерении входного и выходного сопротивлений

Приложение 12 Расчет показателей точности при измерении выходной мощности

Приложение 13 Расчет показателей точности при измерении коэффициента полезного действия

Показать даты введения Admin

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

УСИЛИТЕЛИ НИЗКОЙ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ и высокой ЧАСТОТЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

БЗ 12-98


Издание официальное

ИНК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ    СТАНДАРТ

Микросхемы интегральные

УСИЛИТЕЛИ НИЗКОЙ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ

И ВЫСОКОЙ ЧАСТОТЫ    ГОСТ

Методы измерения электрических параметров    27694—88

Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods of measuring electric parameters

ОКП 62 3Ю0

Дата введения 01.01.90

Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты (далее — микросхемы) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров. Термины и определения — по ГОСТ 19480.

Соответствие настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 и СТ СЭВ 3411—81 приведено в приложении 1.

1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

1.1. Условия и режим измерения

1.1.1.    Электрические параметры следует измерять в нормальных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406 или в условиях, установленных в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.

1.1.2.    Режимы измерений электрических параметров микросхем должны соответствовать установленным в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.1.3.    Погрешность установления и поддержания параметров режима питания микросхем при измерении должна находиться в пределах ±5 %. Нестабильность источников питания, вызванная изменением напряжения сети и температурой окружающей среды, должна быть в пределах ±1 % для источников постоянного тока и ±2 % — для источников переменного и импульсного токов.

1.1.4.    Электрические параметры микросхем измеряют в установившемся статическом, динамическом и тепловом режимах работы. Время между отдельными измерениями должно быть минимальным.

1.1.5.    Во время проведения измерений предельное отклонение установленной температуры окружающей среды должно быть в пределах ±2 1 2С.

1.1.6.    Границы интервала погрешности методов измерения должны находиться в пределах:

± 10 % — для измерения в статическом режиме;

±20 %    2    »    2    динамическом »

1.2. Аппаратура

1.2.1. Средства измерения должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, а также требованиям, установленным в настоящем стандарте.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

1.2.2.    Частотный диапазон приборов должен соответствовать частотному диапазону измеряемых микросхем или быть шире. При необходимости требования к частотному диапазону приборов должны быть указаны в методах измерения конкретных параметров микросхем.

1.2.3.    В измерительных установках места подключения измерительных приборов для контроля параметров режима могут отличаться от указанных на структурных схемах. При этом погрешность установления и поддержания режимов не должна выходить за установленные пределы.

1.2.4.    В измерительных установках приборы для измерения параметров режима могут отсутствовать, если обеспечена требуемая точность установления и поддержания режима. Допускается применять в измерительных установках дополнительные измерительные приборы и сигнальные устройства. При этом погрешность измерения параметров микросхем не должна выходить за установленные пределы.

1.2.5.    Полное входное сопротивление измерительных приборов должно превышать полное сопротивление микросхем между точками их подключения не менее чем в 100 раз или должно быть учтено при определении значения нагрузки или погрешности измерения.

1.2.6.    Резисторы, значение сопротивления которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск нс более 1 %. Конденсаторы, значение емкости которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 5 %.

1.2.7.    Для защиты микросхем от перегрузок, возникающих под действием переходных процессов, статического электричества и паразитного самовозбуждения, измерительные установки должны быть снабжены устройствами защиты, исключающими возможность превышения предельно допустимых электрических режимов, установленных в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Применение защитных устройств не должно приводить к увеличению погрешности измерений.

1.2.8.    Характер и значение нагрузки, схема подключения нагрузки должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов. Допустимое отклонение сопротивления нагрузки не должно превышать 1 %.

1.2.9.    Характер и значение элементов измерительной схемы (схемы включения микросхемы) должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.2.10.    Контактирующие устройства измерительных установок должны обеспечивать надежное электрическое подключение микросхем, исключающее механическое повреждение выводов.

1.2.11.    При измерениях электрических параметров микросхем на высокой частоте влияние реактивных составляющих элементов (резисторов, конденсаторов, монтажных проводов, кабелей, контактирующих устройств, переключателей и т. п.) должно быть таким, чтобы оно практически не сказывалось на погрешности измерения параметров микросхем или должно быть учтено при расчете показателей точности измерений.

1.3. Т р е б о в а н и я безопасности

1.3.1.    Измерение электрических параметров микросхем относится к работам по управлению электроустановками с напряжением до 1000 В.

1.3.2.    Измерительные установки при эксплуатации должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, ГОСТ 12.1.019, ГОСТ 12.1.030, ГОСТ 12.2.003 и ГОСТ 12.3.019.

1.3.3.    Силовые трансформаторы измерительных установок должны соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.007.2.

1.3.4.    К измерениям электрических параметров микросхем допускаются операторы, прошедшие специальную подготовку и имеющие допуск к указанным работам.

1.3.5.    В целях обеспечения безопасности труда при выполнении измерений электрических параметров микросхем необходимо предусмотреть:

-    защиту изоляции наружной электропроводки измерительных установок от механических, химических и термических повреждений;

-    наличие и надежность заземления элементов схемы установок;

-    защиту контактируюущих приспособлений для подключения микросхем, исключающую возможность прикасания оператора к токоведущим частям установок.

го

ШОЦЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАПАЗОНА

РЕГУЛИРОВКИ УСИЛИЯ

д микросхем без схемы управления измерение диапазона тоштсст i\o шрдашо (дже - АРУ) проводят по методу I, для микросхем со ехт

Метод 1

.1 Аппаратура


L\ .1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой г

.1.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.2.11. Генератор сигналов должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на входе микросхемы с погрешностью в пределах ±3%. Погрешность установления частоты должна быть в пределах ±\ %. Коэффициент гармоник должен быть в пределах ±5 %.

2.2.1 .3. Погрешность измерителей переменного напряжения должна быть в пределах ±5 %.

111 Подготовка и проведение итрений

12.11. Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которою установлено в ТУ на микросхемы конкретных типов.

212.2. На вход микросхемы подают сигналы Uu и Uu, соответствующие минимальному и максимальному значению напряжения. Значение напряжения, частота (количество контролируемых точек) и условия выбора сигналов (/„, Un установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.2.2.3.    Измеряют выходные напряжения (/0| и Um микросхемы.

2.2.3.    Обработка результатов

Диапазон АРУ (ЯСС) вычисляют по формуле

О)

асс=*!ш

^Umm

где шх — максимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по фор-муле

(2)

Лит,„ “ минимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по формуле

(3)

2.2.4. Показатели тонкости измерений

Показатели точности измерений диапазона АРУ должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения диапазона АРУ должна находиться в интервале ±20 %.

Границы интервала, в котором должна находиться погрешность измерения, определяют по формулам, приведенным в приложении 2.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.3. Метод 2

2.3.1.    Аппаратура


2.3.1.1.    Измерения проводят на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 2.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.3.1.2.    Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать пп. 2.2.1.2 и 2.2.1.3.

2.3.1.3.    Погрешность измерителя постоянного напряжения должна находиться в пределах ±1 %.

2.3.2. Подготовка и проведение измерений

2.3.2.1.    Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого должно соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.3.2.2.    От источника постоянного напряжения подают напряжение АРУ (/AQCV значение которого должно соответствовать максимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.3.2.3.    На вход микросхемы подают сигнал Uw значение напряжения и частота (количество контролируемых точек) которого должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.3.2.4.    Измеряют выходное напряжение микросхемы (/„,.

2.3.2.5.    От источника постоянного напряжения подают напряжения АРУ С/Асс2, значение которого соответствует минимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов, и подают сигнал Un на вход микросхемы.

ГОСТ 27694-88 С. 5

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.3.2.6. Измеряют выходное напряжение микросхемы Uor

2.3.3.    Обработка результатов

Обработку результатов проводят в соответствии с требованиями п. 2.2.3

2.3.4.    Показатели точности измерений

Показатели точности измерений диапазона АРУ определяют в соответствии с требованиями

п. 2.2.4.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

3. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА НЕРАВНОМЕРНОСТИ АМПЛИТУДНО-ЧАСТОТНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ

3.1. Аппаратура

3.1.1.    Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

3.1.2.    Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать требованиям пп. 2.2.1.2 и 2.2.1.3.

3.2.    Подготовка и проведение измерений

3.2.1.    Значение напряжения питания микросхемы должно соответствовать установленному в ТУ на микросхемы конкретных типов.

3.2.2.    На вход микросхемы подают сигнал £/,, значение напряжения которого и частота соответствуют указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

3.2.3.    Плавно изменяют частоту входного сигнала в полосе пропускания усилителя или в заданном диапазоне и, поддерживая напряжение входного сигнала Ux постоянным, измеряют максимальное напряжение выходного сигнала £/0пид и минимальное напряжение выходного сигнала £/0|шп. Скорость изменения частоты входного сигнала выбирают из условия отсутствия в измеряемой микросхеме переходных паразитных процессов. Допускается дискретное изменение частоты входного сигнала. Степень дискретизации частоты должна соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов.

3.3.    Обработка результатов

Коэффициент неравномерности АЧХ (Л^), дБ, вычисляют по формуле

(4)

3.4. Показатели точности измерений

Показатели точности измерения коэффициента неравномерности АЧХ должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения коэффициента неравномерности АЧХ находится в интервале ±10 %.

Границы интервала, в котором должна находиться погрешность измерения, определяют по формулам приложения 3.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

4. МетОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОСЛАБЛЕНИЯ АМПЛИТУДНОЙ МОДУЛЯЦИИ

4.1.    Термин и пояснение параметра коэффициента ослабления амплитудной модуляции приведены в приложении 4.

4.2.    Для микросхем, выполняющих функции усиления и детектирования сигналов частотной модуляции (ЧМ) промежуточной частоты (ПЧ), измерения коэффициента ослабления амплитудной модуляции проводят по двум методам: одновременному — метод 1 и поочередному — метод 2.

Метод 2 рекомендуется применять при использовании автоматизированных измерительных систем.

4.3. Метод 1

4.3.1.    Аппаратура


4.3.1.1.    Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 3.

4.3.1.2.    Погрешность установления и поддержания параметров режима питания микросхем при измерении должна находиться в пределах ±1 %.

Пульсации напряжения источника питания не должны превышать 2 мВ.

4.3.1.3.    Генератор сигналов высокой частоты (ВЧ) должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на входе микросхемы в соответствии с техническими условиями на микросхемы конкретных типов. Погрешность установления частоты должна быть в пределах ±1 %. Коэффициент гармоник должен быть не более 5 %. Генератор должен обеспечивать возможность одновременной модуляции ВЧ по амплитуде и частоте.

Величину допустимой паразитной девиации частоты (4/у» возникающей при работе генератора в режиме AM, вычисляют по формуле

(4а)

где д/ — девиация частоты полезного сигнала;

оАМ — коэффициент ослабления AM (измеряемый параметр), выраженный в относительных единицах.

Измерение величины паразитной девиации частоты проводят при помощи измерителя модуляции.

Коэффициент гармоник огибающих сигнала AM и сигнала ЧМ должен быть не более 3 %.

4.3.1.4.    Генератор сигналов низкой частоты (НЧ) должен иметь выходной уровень, достаточный для обеспечения режима внешней AM генератора сигналов ВЧ.

Погрешность установления частоты должна находиться в пределах ±10 %. Коэффициент гармоник должен быть не более 0,02 %.

4.3.1.5.    Погрешность измерителей переменного напряжения должна находиться в пределах ±5 %.

4.3.1.6.    Измеритель модуляции должен обеспечивать измерение коэффициента AM и девиации частоты с погрешностью ±5 %.

Для контроля коэффициента AM допускается использовать измеритель коэффициента AM.

4.3.1.7.    Анализатор спектра должен обеспечивать измерение напряжений спектральных составляющих выходного сигнала микросхемы с погрешностью ±6%.

4.3.2. Подготовка и проведение измерений

4.3.2.1.    Устанавливают напряжение питания микросхемы, величина которого должна соответствовать указанной в ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.3.2.2.    На вход микросхемы подают модулированный по частоте сигнал с частотой модуляции

ГОСТ 27694-88 С. 7

1000 Гц Fx. Значения несущей частоты и ее напряжения, а также величина девиации должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов. Установление величины девиации осуществляют при помощи измерителя модуляции.

4.3.2.3.    Анализатором спектра измеряют выходное напряжение микросхемы на частоте Fv

4.3.2.4.    Сохраняя ЧМ, несущую частоту дополнительно модулируют по амплитуде частотой 400 Гц F2 с коэффициентом AM, равным 30 %. Коэффициент AM контролируют измерителем модуляции.

4.3.2.5.    Анализаторы спектра измеряют выходные напряжения микросхемы £/, и U2 на частотах Fи 2F2 и интермодуляционные составляющие Щ и UA на частотах {Fx—F2) и (Ft+F2).

4.3.3. Обработка результатов


Коэффициент ослабления AM (аАМ), дБ, вычисляют по формуле

где U02 — выходное напряжение микросхемы, определяемое по формуле

(4в)

u02=Jut+u}+u}+u} ■

4.3.4.    Показатели точности измерения

Показатели точности измерения коэффициента ослабления AM должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения коэффициента ослабления AM находится в интервале ±1,5 дБ.

Границы интервала, в котором находится погрешность измерения, определяют по формулам, приведенным в приложении 5.

4.4.    Метод 2

4.4.1.    Аппаратура


4.4.1.1.    Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 4.

4 4.1.2. Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать пп. 4.3.1.2-4.3.1.6.

4.4.1.3. Пофешностьселеетивного вольтметра должна находиться в пределах ±10 %.

4.4.2. Подготовка и проведение измерений

4.4.2.1. Устанавливают напряжение питания микросхемы, величина которого должна соответствовать указанной в ТУ на микросхемы конкретных типов.

модуляции Fv равной 1000 Гц, или значению, установленному в ТУ на микросхемы конкретных типов. Значения несущей частоты и ее напряжения, а также девиации частоты установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Величину девиации частоты устанавливают при помощи измерителя модуляции.

4.4.2.3.    Измерителем переменного напряжения измеряют выходное напряжение микросхемы {/01 на частоте модуляции режима ЧМ.

4.4.2.4.    Не изменяя уровня входного сигнала, переключают генератор ВЧ из режима ЧМ в режим

AM.

Значение модулирующей частоты Fx равно 1000 Гц или установлено в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Значение коэффициента AM т равно 0,3 или установлено в ТУ на микросхемы конкретных типов. Контроль т осуществляют при помощи измерителя модуляции.

4.4.2.5.    Селективным вольтметром измеряют выходное напряжение микросхемы U02 на частоте модуляции режима AM.

4.4.3. Обработка результатов

Коэффициент ослабления AM (аАМ) вычисляют по формуле

aAM=20lg^-.    (4г)

''02

4.4.4. Показатели точности измерения

Требования к показателям точности измерения должны соответствовать п. 4.3.4.

Границы интервала, в котором находится погрешность измерения, определяют по формулам, приведенным в приложении S.

5. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ВХОДНОГО И ВЫХОДНОГО НАПРЯЖЕНИЙ

5.1.    Методы 1 и 2 применяют при измерениях с использованием измерительных установок или автоматизированных измерительных систем.

5.2.    Измерения входного напряжения Uv максимального входного напряжения и1тшх и минимального входного напряжения Ulaun проводят по методу 1.

5.3.    Измерения выходного напряжения £/0, максимального выходного напряжения У0тхк и минимального выходного напряжения U0m[n проводят по методу 2.

5.4.    Метод 1

5.4.1.    Аппаратура

5.4.1.1.    Измерения Uv £/j Ulmn проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

5.4.1.2.    Генератор сигналов должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на

ГОСТ 27694-88 С. 9

входе микросхемы в соответствии с ТУ на микросхемы конкретных типов.

Погрешность установления частоты должна быть в пределах ± 1 %.

Коэффициент гармоник генератора должен быть не более 5 %.

5.4.1.3.    Погрешность измерителей переменного напряжения должна быть в пределах ±5 %.

5.4.1.4.    Измеритель нелинейных искажений должен обеспечивать измерение коэффициента гармоник в диапазоне частот, указанном в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Погрешность измерения измерителя нелинейных искажений должна быть в пределах ±10 %.

5.4.2. Подготовка и проведение измерений

5.4.2.1.    Устанавливают напряжение питания микросхемы, величина которого должна соответствовать ТУ на микросхемы конкретных типов.

5.4.2.2.    На вход микросхемы с генератора подают сигнал £/, со значениями напряжения и частоты, установленными в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Изменяя сигнал с генератора, устанавливают такие значения параметров-критериев микросхемы, которые установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

5.4.2.3.    Измеряют входное напряжение при установленных значениях выходного напряжения, выходной мощности или другого параметра-критерия.

5.4.2.4.    Измеряют максимальное входное напряжение при установленных значениях коэффициента гармоник выходного напряжения или другого параметра-критерия.

5.4.2.5.    Измеряют минимальное входное напряжение при установленных значениях отношения сигнал — шум или другого параметра-критерия.

5.4.3. Показатели точности измерения

Показатели точности измерения входного напряжения, максимального входного напряжения, минимального входного напряжения должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения входного напряжения, максимального входного напряжения и минимального входного напряжения находится в пределах ±20 %.

Границы интервала, в котором находится погрешность измерения, определяют по формулам, приведенным в приложении 6.

5.5.    Метод 2

5.5.1.    Аппаратура

5.5.1.1.    Измерения U0, U0mM, f/0mjn проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

5.5.1.2.    Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать пп. 4.3.1.2—4.3.1.4.

5.5.2.    Подготовка и проведение измерений

5.5.2.1.    Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого приведено в ТУ на микросхемы конкретных типов.

5.5.2.2.    На вход микросхемы с генератора подают сигнал £/, со значениями напряжения и частоты, установленными в ТУ на микросхемы конкретных типов.

Изменяя сигнал с генератора, устанавливают такие значения параметров-критериев микросхемы, которые приведены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

5.5.2.3.    Измеряют выходное напряжение при установленных значениях входного напряжения или другого параметра-критерия.

5.5.2.4.    Измеряют максимальное выходное напряжение при установленных значениях коэффициента гармоник выходного напряжения или другого параметра-критерия.

5.5.2.5.    Измеряют минимальное выходное напряжение при установленных значениях отношения сигнал — шум или другого параметра-критерия.

5.5.3. Показатели точности измерений

Показатели точности измерений выходного напряжения, максимального выходного напряжения, минимального выходного напряжения должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.

Погрешность измерения выходного напряжения, максимального выходного напряжения, минимального выходного напряжения находится в пределах ±20 %.

Границы интервала, в котором находится погрешность измерения, определяют по формулам,

1

Издание официальное    Перепечатка    воспрещена

2

© Издательство стандартов, 1988 © ИПК Издательство стандартов, 1999 Переиздание с Изменениями