Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

32 страницы

456.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на измерительные электронно-оптические преобразователи (ЭОП), предназначенные для измерения и регистрации параметров импульсного лазерного излучения и других быстро протекающих процессов в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазонах спектра и устанавливает основные параметры ЭОП и методы их измерений

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ИМПУЛЬСНОГО ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

ПАРАМЕТРЫ. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

ГОСТ 25677-83

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Страница 2

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ИМПУЛЬСНОГО ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

ГОСТ 25677-83

Издание официальное

МОСКВА — 1*83

Страница 3

УДК 621.34)3.8:621.375.826:006.354    Групп1    П4*

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ИМПУЛЬСНОГО ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ

ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ    Г    ОСТ

Основные параметры. Методы юмереимм

25677-83

Measuring converter tube for puls* laser radiation.

Basic parameters. Methods lor measurement

ОКСТУ 6367    _

Постаноакениом Государственного комитета СССР по стандартам от 23 марта 1983 г. Н* 1305 срок ■ведения установлен

с 01.07.84

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на измерительные электронно-оптические преобразователи (далее — ЭОП), предназначенные для измерения и регистрации параметров импульсного лазерного излучения и других бысгропротекающих процессов в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазонах спектра, и устанавливает основные параметры ЭОП и методы их измерений.

1. ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ

].]. Устанавливаются основные параметры ЭОП: спектральная чувствительность входного фотокатода на фиксированных длинах волн;

область спектральной чувствительности (спектральный диапазон) фотокатода;

электронно-оптическое увеличение: пространственное разрешение н центре экрана; пространственное .разрешение .на краю экрана; размер рабочего поля фотокатода; размер рабочего поля экрана; чувствительность пластин; затворное напряжение; коэффициент преобразования;

диапазон значений плотности энергии излучения на фотокато-

Де;

Перепечатка воспре«цена

1

Страница 4

Стр. 2 ГОСТ 25*77-8»

предельно допустимое значение плотности энергии излучения на фотокаюдс;

временное разрешение.

Режим измерения основных параметров ЭОП приведен в табл. I, а их значения и размерности -в справочном приложении I.

Таблица I

Режим имкр^яям

Oi'HotNOA параметр ЭОП

Статичегкии

Дяхами-гсскк*

Спектральная чувствительность входного фото- > катода на фиксированных длинах волн    J    +

Область спектральной чувствительности (спектральный даапазон) фотокатода    4-

Электронно-оптическое увеличение    4-

Нространс-геенное разрешение н    центре экрана    4-

Простракствениое разрешение на краю жрана Разм<р рабочего поля фотокатода    +

Размер рабочего ноля экрана    +

Чувствительность пластин    +

Затворное напряжение    +

Коэффициент преобразования    Н*

Диапазон значений плотности энергии излучении на фотокатоде    j    •    +

Прюельно допустимое значение яло-тноети аиергнн излучения иа фотокатоде    +

Времеит.Ч' разрешение    I    1    -+•

Примечание. 3wa* «-*-* означает, что для указанного параметра устанавливается данный режим измерения.

2. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ К МЕТОДАМ ИЗМЕРЕНИЙ

2.1.    Основные параметры ЭОП следует измерять в условиях, обеспечивающих их защиту от посторонних засветок, внешних электрических и магнитных полей и других факторов, влияющих на результат измерения. Допустимые нормы воздействий указывают в нормативно-технической документации (далее — НТД) на ЭОП конкретного типа.

2.2.    Значения влияющих величин для нормальных условий применения ЭОП указаны в ГОСТ 24469— 80.

2.3.    Статическая освещенность фотокатода ЭОП не должна превышать пределов 10—Ю-4 лк, указанных в стандартах или НТД на ЭОП конкретного типа.

2.4.    Питание ЭОП должно осуществляться от высоковольтного источника питания постоянного тока, который должен обеспечить

Страница 5

ГОСТ 25677—М Стр. 3

работу ЭОП в режимах, заданных в НТД на ЭОП конкретного типа.    4

Дли питания фокусирующей катушки (в случае ЭОП с магнитной фокусировкой) должен использоваться стабилизированный но току источник питания.

2.5.    Источники питания должны удовлетворять следующим требованиям:

нестабильность выходного напряжения при нестабильности входного напряжения =:3% за 5 ч работы, %, не более ...0,1

пульсация выходного напряжения, %, не более ...0,05

2.6.    Высоковольтный источник питания должен иметь изолированные от земли выходы *—• и « + », обеспечивающие возможность последовательного включения не менее трех источников питания. Значение напряжения питания — в соответствии с НТД на ЭОП конкретного типа.

2.7.    Регулирующие устройства, обеспечивающие номинальный режим питания ЭОП, должны иметь возможность регулировки напряжения в пределах ±20 % от значения, установленного в Н'ГД на ЭОП конкретного типа. Конструкция их должна обеспечить безопасность и удобство работы.

2.8.    Блок питания фокусирующей катушки должен иметь следующие характеристики:

нестабильность выходного тока при нестабильности выходного напряжения ±3 % за 5 ч работы. %, не более ...0,1

пульсация выходного тока, %, не более ...0.1

Значение выходного тока и сопротивление фокусирующей катушки—в соответствии с НТД на ЭОП конкретного типа.

2.9.    Питание вспомогательных приборов должно осуществляться в соответствии с требованиями, указанными в НТД на эти приборы.

2.10.    Схема соединения ЭОП с источником питания указана в НТД на ЭОП конкретного типа.

2.11.    Требования но технике безопасности — по ГОСТ 24469-80.

2.12.    Требования к окружающей среде —по ГОСТ 21815-76.

». МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

3.1.    Измерение спектральной чувствительности входного фотокатода на фиксированных длинах волн

3.1.1.    Общие положения

Метод измерения основан на сравнении спектральной чувствительности исследуемого фотокатода ЭОП с известной чувствительностью опорного приемника излучения. Измерения проводятся б режиме насыщения.

Страница 6

Стр. 4 ГОСТ 21677—«)

3.1.2. Аппаратура

3.1.2.1. Для измерения спектральной чувствительности фотокатода следует применять измерительные ' приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, схема которой приведена на черт. 1, рекомендуемая аппаратура, входящая в схему, приведена в табл. 2.

Схема установки для измерения спектральной чувствительности фотокатода ЭОП

/—встохижк нал учен**. J-СлОк Пята-иия источника излучения;    3—ммэзоо-

мигоу: 4—опорный ЕраГСИВЯК *мл>ч*»ия: }—ЗОП: rf—блок siit.ibhs ЭОП; 7—устройств хл* юмеревия ваиодеого сиг-нала опорного првемяикл; Я—устройство для и|и«р«ии« «(йодного сигнала вс-здоуемогО ЭОП

Чер7. 1

Таблица 2

Нанмонояаихе аппаратури

Норнативио'Техиич«ская харав-терастяка

Зкачсиис

Источник излучения

Номинальное напряжение, В

30

типа КГМ-Э0-300

Номинальная мощность. Вт

300

Светоиой поток, ям

9150

Блок питания источ

Выходное напряжение, В

0.1—295

ника излучения (типа

Ток нагрузки, А

0.1-19.9

Ь5—&4)

Нестабильность при изменении сети на ±110%. %:

напряжение

0.01

так

0,05

Монохрс»ыа7ор (типа

Спектральный диапазон. нм:

ДМР-4»

с кварцевыми призмами

320-2500

со стеклянными, призмами

365-2400

Приемннх излучения

Диапазон значений измеря

(типи ПП-1)

емой плотности мощности. Вт

ОД—,1000

Диапазон длин волн, мкм Попрсшносгь измерения. %,

0.2J-45

не более

б

Страница 7

ГОСТ 25677—tj Стр. 5

Продолжение таб.*. 2

Нормкивао-тсавичсош мрак-«рвстгка

Зши»**

Навмсмоаяиие аширагуры

Блок питания ЭОП (типа Б6—63)

Выходное напряженке. В

1-499

0.001-0.499

Х0.05 f ±0.2

Ток нагрузки, А Нестабильность при изменен if и сети на ±10%, %: напряжение ток


Ампервольтметр (ти даа ФЭ0)

Диапазон измерения напряжения, В

0—360


Основная погрешность, %. не более


Диапазон измерений тока. А


Основная погрешность. %. не более


*(0,05 U+

‘.026'мыс)

<0— И!б)-Ю-


+0.026' ыа*с)


± (ОД /+0Д2/ИС>


Примечание. В случае применения других средств измерения иж метрологические характеристики должны быть не хуже указанных в табл. 2.

3.1.3.    Подготовка к измерениям

3.1.3.1.    Электрическое напряжение, указанное в НТД на исследуемый ЭОП конкретного типа, прикладывают между фотокатодом и соединенными вместе остальными электродами ЭОП.

3.1.4.    Проведение измерений

3.1.4.1.    Настраивают монохроматор на длину волны, соответствующую нижней границе спектрального диапазона (в соответствии с НТД на ЭОП конкретного типа).

3.1.4.2.    За выходной щелью монохроматора устанавливают поочередно опорный приемник излучения и исследуемый ЭОП и регистрируют значение э. д. с. на выходе опорного приемника и ток фотокатода ЭОП. Измерение проводят 5 раз.

3.1.4.3.    Аналогичные измерения проводят в других точках спектрального диапазона с интервалом 5—20 км в ультрафиолетовой области спектра л 10—30 нм в видимой и ближней инфракрасной области спектра.

3.1.4.4.    Полуширина спектрального интервала, выделяемого монохроматором, не должна превышать интервала, указа»ного в п. 3.1.4.3.

3.1.5. Обработка результатов

3.1.5.1. Спектральную чувствительность фотокатода X/ в м измерении определяют по формуле

^Фср


где Е/ — э. д. с. опорного приемника излучения, В;


(1)

Страница 8

Стр. 6 ГОСТ 25677—I)

// —ток фотокатода, Л;

ф — коэффициент преобразования опорного приемника, В-Вт-‘.

З.1.5.2. Для каждой установленной длины волны находят среднее значение спектральной чувсгвительности по формуле

(2)

и вычисляют среднехвадратическое отклонение результата 5 измерений спектральной чувствительности по формуле

K-V -

3.1.5.3. Границу погрешности результата измерения (без учета знака) спектральной чувствительности определяют по формуле

-+Slk,    (4)

где v е<1+01+е,ч*в|;

в, и 0j — погрешность устройства измерения выходного сигнала опорного приемника и ЭОП соответственно;

в» — погрешность установки длины волны монохроматора;

6* — погрешность опорного приемника;

К — коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неисключеннон систематической погрешностей и доверительной вероятности (ГОСТ 8.207-76).

3.2. Измерение области спектральной чувствительности (спектрального диапазона)    фотока-

то да

3.2.1.    Общие положения

Для определения спектрального диапазона фотокатода используются данные, полученные при определении спектральной чувствительности фотокатода (п. 3.1).

3.2.2.    Обработка результатов

3.2.2.1.    По совокупности значений спектральной чувствительности фотокатода <рд строится зависимость значений спектральной чувствительности от длины волны.

3.2.2.2.    На построенном графике находят длины волн    и

7.аи, на которых спектральная чувствительность составляет 5% от максимального значения. Совокупность длин по.п: or ?•*,!,. до '•««* определяет спектральный диапазон фотокатода.

Страница 9

ГОСТ 2М77—*1 Стр. 7

3.2.2.3. Погрешность результата измерения Xmin и    вы

числяют по формуле

I

(5)

где Дфл — см. формулу (4);

а —угол наклона кривой зависимости спектральной чувствительности <fx от длины волны для значений Xntn н

^ та* *

3.3. Измерение электронноч)птнческого увеличения

3.3.1.    Аппаратура

3.3.1.1.    Для измерения электронно-оптического увеличении следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, схема которой приведена на черт. 2. Рекомендуемая аппаратура, входящая в эту схему, приведена в табл. 3.

Схема установки для измерения

электронно-оптического увеличения

CD^IHIHEKIHIHz]

/-«kuctktmv. 2-iKflipmvKuft светофильтр; 3 • 4 лсроиЯ оСьеинп. J- »тор&г объектив; 6—ЭОП: 7—макроаоо

Чврг. 2

Таблица 3

Нйммэвоиаявс

Нормзт»*ио-т*хнмч#оиа ирая-Крмстикд

3iiiwim

Осветитель

(типа

Потребляемая мощность. Вт

20

ОИ 19)

Лаортура конденсатора

0.67

Нейтральные

састо-

См. спраьочное прило

фильтры

жение 2

Мира

По ГОСТ 1511-4-78

Объективы

(тяпа

Фокусное расстояние, мм

58.6*0,59

«Гслиос-44—2>)

Пределы фокуелро&ки, мм

0,5— оо

Угловое поле зрения

4СГ2&'

Микросхоп

(типа

Пределы измерения, мм

0,015-6

МИР-2)

Увеличение

19х—33х

Примечание. В случае применения других средств измерений их метрологические характеристики должны быть не хуже указанных в табл. 3.

Страница 10

Стр. 8 ГОСТ 25677-1}

3.3.2. Подготовки к измерениям

3.3.2.1.    ЭОП устанавливают в держатель и подключают к источникам питания.

Для времяанализирующнх ЭОП затворные, компенсирующие и отклоняющие пластины заземляют.

3.3.2.2.    Подают на ЭОП номинальные напряжения, указанные в НТД на ЭОП конкретного типа.

33.2.3.    Устанавливают миру в фокальной плоскости первого объектива и освещают ее осветителем, обеспечивая оптимальную для глаза яркость изображения на экране ЭОП с помощью нейтральных светофильтров.

3.3.2.4.    При помощи второго объектива фокусируют изображения миры на фогокатод ЭОП. При этом изображение миры переносится на фотокатод в масштабе 1:1.

3.3.2.5.    На ЭОП устанавливают оптимальное значение подфо-кусирующего напряжения.

3.3.3.    Проведение измерений

3.3.3.1.    Микроскопом измеряют изображение базы миры на экране ЭОП. Измерение повторяют 5 раз.

3.3.4.    Обработка результатов

3.3.4.1.    Электронно-оптическое увеличение для i-то измерения вычисляют по формуле

’о

(6)

где bt — значение базы изображения миры при «-м измерении, мм;

Ьц — база миры, мм.

3.3.4.2. Среднее значение электронно-оптического увеличения определяют по формуле

(7)

3.3.4.3. Среднеквадратическое отклонение результата 5 измерений электронно-оптического увеличения определяют но формуле

3.3.4.4. Границу погрешности результата (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть неисключенную систематическую погрешность определения параметров миры и фокусных расстояний объективов.

Страница 11

ГОСТ 25677-82 Ctp. 9

3.4. Измерение пространственного разрешения 3.4.1. Аппаратура Пространственное разрешение в динамическом режиме измеряют в соответствии со схемой, приведенной на черт. 3. Рекомендуемая аппаратура, входящая в схему, приведена в табл. 4.

Таблица «

Норунхоко-тсхиичссжгя лр»т-тсрмсгика

И*иэ«аоод'!НС гспэр*т)ры

Зк*ч*мке

справочное приложе-справотаос приложе-


2-3


(типа


100

1000

1.44

600

28


Микроскоп МИР 2)

Осветитель ОИ-19)

Мира

Коллиматор (из комплекта    оптической

скамьи ОСК-3)

Объектив (тала 0-2)


Лазер

Нейтральные светофильтры

Пластина вз молочного стекла (MG12)

Цветной светофильтр (типа ИКГЛ СЗС26. КС13)


Фотопр»уставка


(типа


С*, вне 3

См. вне 2

Толщина пластины, мм

По ГОСТ 9411 —75

ИКС5 (толщиной 2 мм-ври работе с излучением из длине ьолкы 1,06 мкм);

СЗС26 (толщиной 2 мм) и RGI5 (толщиной 5 мм)—при длине волны 0,69 мкм

См. табл. 3


См табл. 3

По ГОСТ 15114-78

Диаметр обьектнва. ым

Фокусное расстояние, мм

Предел разрешения объектам, с

Фокусное расстояние, мм

Разрешающая способность, мм-1

По НТД на ЭОП конкретного типа


Примечания:

!. При обработке данных, полученных при фотографировании с экрана ЭОЛ, используют:

а)    микрофотометр (тога ИФО-451): измеряемая относительная плотность D 0—2,5 отн. ед., погрешность измерения оптической плотности ... 0.01 отн. ед.;

б)    сенситометр (типа ФСР-41): цветовая температура Та« ... (2860* 20) К константа ступточагого клина ... (0.15*0.006) отн. сд.;

в)    фотопленку (типа РФ-3) чувствительностью не менее 900 обр. рентген, коэффициент контрастности у ... ке более 1,8.

2. В случае применения других средсга измерений их метрологические хаг рактеристакк должны быть ис хуже указанных в твбл. 4.

Страница 12

Стр. 10 ГОСТ 254/7—13

Черт. 3

3.4.2.2.    На ЭОП подают номинальное напряжение, указанное в НТД на ЭОП конкретного типа, освещают миру осветителем и настраивают ЭОП в статическом режиме.

3.4.2. Подготовка к измерениям

3.4.2.1. Испытуемый ЭОП устанавливают в измерительную установку (черт. 3) и подключают к источникам питания.


Схема установки для измерения пространственного разрешения в динамическом режиме

Г—мир: 7—onacriids из ыолочаогп стекла. 3 -нейтральный Сдетсфкльтр. 1 иитяой сисыфнльтр 5-мир». *- .чмли «и топ,

7—оЛклтп. .»-Э0П;    9—    някроемм. Ю—оскетитлль


3.4.2.3.    Расстояние от пластины из молочного стекла до миры выбирают не менее 150 мм с таким расчетом, чтобы обеспечить равномерное освещение поля в плоскости миры диаметром 30 мм.

3.4.2.4.    Штриховую миру располагают в фокальной плоскости коллиматора. Подстраивают режим фокусировки и пропускание нейтральных свегофильтров ЭОП, добиваясь разрешения в центре экрана ЭОП элемента миры с наибольшей частотой штрихов.

3.4.2.5.    При измерениях в спектральной области с К менее 0,4 мкм требования к мире м оптике укапывают в НТД на ЭОП конкретного типа.

3.4.3. Проведение измерений

3.4.3.1.    Включают лазер и фотографируют изображение миры.

3.4.3.2.    Фотографирование производят не менее 5 раз.

При помощи сенситометра (см, примечание I б к табл. 4) на свободный участок пленки впечатывают сенситометрический клин. Пленку обрабатывают в режиме согласно рекомендуемому приложению 4.

3.4.3.3.    Для усилителен яркости измерение пространственного разрешения на краю экрана проводят путем смещения изображения миры на край фотокатода, а для времяанализируюших ЭОП -путем отклонения указанного изображения на кран экрана подачей напряжения на отклоняющие пластины.

3.4.4. Обработка результатов

3.4.4.1. Для каждой из пленок по впечатанному на нее сенситометрическому клину строят характеристическую кривую пленки по ГОСТ 2653-80. По характеристической кривой определяют

Страница 13

ГОСТ 25(77—93 Cip. It

‘Dnm и Dma, — значения оптическом плотности (безразмерные), соответствующие границе линейного участка характеристической кривой, а также коэффициент контрастности пленки у (безразмерный).

3.4.4.2.    Используя микрофотометр (см. примечание к табл. 4), фотометрируют изображение ряда квадратов штриховой миры, регистрируемых на экране Э011 н удовлетворяющих следующим условиям:

а)    максимальная плотность изображения элементов миры не должна превышать Datt пленки:

б)    минимальная плотность изображения в промежутке между

соседними штрихами не должна быть меньше    пленки.

Ширина щели микрофотометра, приведенная к пленке, не должна превышать ширины темного или светлою штриха изображения миры.

3.4.4.3.    Для каждого квадрата миры с числом штрихов N/ на 1 мм определяют контраст изображения Af.v. по формуле

(9)

где D'Ttx — плотность изображения темного участка изображения миры;

— плотность изображения светлого участка изображения миры.

3.4.4.4. Проводят измерения MN{ и 5 точках по полю квад-

рата.

3.4.4.5.    Проводят усреднение для каждого из измеренных квадратов миры и находят среднее значение контраста М\.

3.4.4.6.    Строят график зависимости контраста изображения от частоты штрихов миры, соединяя полученные значения Мц плавной кривой.

3.4.4.7.    Определяют число штрихов Л’и на 1 мм, которые регистрируются на пленке с контрастом 0.05 (черт. 4).

3.4.4.8.    Пространственное разрешение Np в динамическом режиме » плоскости фотокатода вычисляют по формуле

(Ю )

где /к — фокусное расстояние коллиматора, см; f оо — фокусное расстояние объектива, см.

Страница 14

Стр. 12 ГОСТ 15477-8)

Зависимость коэффициента передачи контраста от числа штрихов

,«контраст; N—число ШтрИХО* пл I «м Л

квадрат* миры Черт. 4

3.4.4.9. Пространственное разрешение .V*, в динамическом режиме ка выходном экране (в центре экрана — jV“*‘"p; на краю экрана) рассчитывается по формуле

3.4.4.10. Границу погрешности результата измерения (без учета знака) пространственного разрешения вычисляют но формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть среднеквадратическое отклонение результата измерения контраста изображения (п. 3.4.4.3), а также ненсключенные систематические погрешности определения параметров миры, фокусных расстояний, микрофотометра, сенситометра и микроскопа.

3.5. Измерение рабочего поля фотокатод*

3.5.1.    Аппаратура

3.5.1.1.    Измерение рабочего поля фотокатода производят по схеме, приведенной на черт. 2, причем мира в этом случае заменяется масштабной мерной сеткой (см. справочное приложение 5).

3.5.1.2.    В случае, если максимальный диаметр окружности масштабной мерной сетки меньше рабочего поля фотокатода, второй объектив оптической системы заменяют более длиннофокусным объективом, фокусное расстояние которого f'2 определяют по формуле

Страница 15

ГОСТ 25*77—83 Стр. 13

Г. >-5-/; (ем),    (12)

“®»х

где d' — размер рабочего поля фотокатода, указанный в НТД на ЭОП конкретного типа, мм;

«W—максимальный диаметр окружности на масштабно мерной сетке, мм; f —фокусное расстояние первого объектива оптической системы, см.

3.5.2. Проведение измерений

3.5.2.1.    Проецируют масштабную мерную сетку иа фотокагод таким образом, чтобы центр сетки совпадал с центром фотокато-

да.

3.5.2.2.    Определяют максимальный диаметр окружности масштабной мерной сетки, видимый на экране ЭОП.

3.5.2.3.    Определяют размер рабочего поля фотокатода dK по формуле

d, « -y---Г- <«*),    (13)

м

где dt —видимый на экране максимальный диаметр окружности масштабной мерной сетки, мм.

3.5.2.4.    Измерения производят 5 раз.

3.5.2.5.    Границу погрешности результата измерения рабочего поля вычисляют по формуле, аналогичной (4). в которой необходимо учесть неисключенныс систематические погрешности определения параметров электронно-оптического увеличения, фокусных расстояний, мерной сетки н микроскопа.

3.6. Измерение рабочего ноля экрана

3.6.1.    Общие положения

3.6.1.1.    Размер рабочего лоля экрана ЭОП — усилителей яркости, не имеющих отклоняющих пластин, зависит от рабочего поля фотокатода и может быть определен из результатов измерения рабочего поля фотокатода (п. 3.5) по формуле

(14;

3.6.1.2.    Размер рабочего поля времяанализнрующих ЭОП определяется максимальной величиной, на которую может быть отклонено изображение при подаче напряжения па систему отклоняющих пластин.

3.6.2.    Аппиратура

3.6.2.1. Рабочее поле экрана времяанализнрующих ЭОП измеряют по схеме, приведенной на черт. 2, в которой вместо миры используют щель (типа УФ-2): ширина 0,1 мм, высота равна размеру рабочего поля фотокатода, которую устанавливают в фокальной плоскости первого объектива.

Страница 16

Стр. 14 ГОСТ 2И77—*3

3 6.3. Подготовка к измеррниям

3.6.3.1.    Испытуемый ЭОП устанавливают в держатель и под ключ а ют к источникам питания. Затворные и компенсирующие пластины ЭОП заземляют, а отклоняющие пластины подключают к источнику питания, обеспечивающему подачу на них напряжения. достаточного для отклонения изображения на край экрана.

3.6.3.2.    Освещают щель источником света, обеспечивая оптимальную для глаза яркость изображения на экране ЭОП.

3.6.4. Проведение измерений

3.6.4.1.    Отмечают положение изображения щели на экране-ЭОП гири отсутствии отклоняющего напряжения.

3.6.4.2.    Включают блок отклоняющих напряжений и, постепенно увеличивая напряжение, смещают изображение на край экрана так, чтобы высота щели ничем не ограничивалась.

3.6.4.3.    Измеряют величину Л, мм, на которую отклонено изображение щели относительно се начального положения. Измерение повторяют 5 раз.

3.6.4.4.    Изменяют полярность отклоняющего напряжения и измеряют величину /2. мм. на которую отклонено изображение щели — относительно ее начального положения — в другом направлении. Измерение повторяют 5 раз.

3.6.5. Обработка результатов

3.6 5.1. Для j'-ro измерения размер рабочего поля экрана определяют по формуле

(15)

3.6.5.2. Вычисляют среднее значение рабочего поля экрана по формуле

(16>

3.6.5.3. Определяют среднеквадратическое отклонение результата 5 измерений рабочего ноля экрана по формуле

3.6.5.4. Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть неисключенную систематическую погрешность микроскопа.

3.7. Измерение чувствительности пластин

3.7.1. Общие положения

Определяют чувствительность пластин развертки, а также затворных и компенсирующих пластин.

Страница 17

ГОСТ 15677—IJ Стр. »S

3.7.2.    Аппаратура

3.7.2.1.    Испытуемый времяанализирующий ЭОП подключают по схеме, приведенной на черт. 2, в которой вместо миры используют толь с параметрами, указанными в п. 3.6.2.1.

3.7.3.    Проведение измерений

3.7.3.1.    В центр фотокатода ЭОП проецируют изображение щели.

3.7.3.2.    Па исследуемые пластины подают парафззнос напряжение, величину которого выбирают в соответствии с НТД на ЭОП конкретного типа. При этом остальные пластины заземляют.

3.7.3.3.    Отклонение изображения щели иа экране ЭОП измеряют микроскопом 5 раз.

3.7.4. Обработка результатов

3.7.4.1.    Чувствительность исследуемых пластин А,- для i-то измерения рассчитывают по формуле

н‘ - ■ <18> где I, — отклонение на экране, мм;

U„-, иг1 —напряжение на 1 и 2-й отклоняющих пластинах, соответственно, В.

3.7.4.2.    По результатам измерений определяют среднее значение чувствительности пластин

А - 4- V, Л,    (19>

и находят среднеквадратическое отклонение результата 5 измерений чувствительности пластин по формуле

/ 1-

./ 2 (*-*«)*

У Т--(20)

3.7.4.3.    Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть неисключенные систематические погрешности микроскопа и вольтметра.

3.8. Измерение затворного напряжения

3.8.1.    Аппаратура

Испытуемый времяа'нализирующий ЭОП подключают по схеме, приведенной на черт. 2, в которой вместо мнры используют щель с параметрами, указанными в п. 3.6.2.1.

3.8.2.    Проведение измерений

3.8.2.1. В центр фотокатода ЭОП проецируют изображение щели.

I

Страница 18

Стр. 16 ГОСТ 2S677—83

3.8.2.2.    На вводы затворных пластин подают парафазное напряжение от источника, указанного в НТД на ЭОП конкретного типа.

3.8.2.3.    Изменяют напряжение на затворных пластинах до значения Uun, В, при котором изображение, проецируемое на фотокатод, не просматривается на экране, а дополнительные фоновые засветки отсутствуют во всем диапазоне отклоняющих напряжений.

3.8.2.4.    Измерение Uit;t , соответствующего исчезновению изображения, повторяют 5 раз.

3.8.3. Обработка результатов

3.8.3.1. По результатам измерений определяют среднее значение затворного напряжения

(21)

и среднеквадратическое отклоните результата измерения затворного напряжения по формуле

3.8.3.2. Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной формуле (4), в которой необходимо учесть неисключенную систематическую погрешность вольтметра.

3.9. Измерение коэффициента преобразования

3.9.1.    Аппаратура

3.9.1.1.    Для измерения коэффициента преобразования в динамической режиме —при подаче на вход ЭОП импульсных потоков излучения — следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, схема которой приведена на черт. 5; рекомендуемая аппаратура, входящая в схему, приведена в габл. 5.

'Г a G л и и а 5

НорихивАомсшич^-ил «..(И».-

См. справочное приложение 3

Лазер

Делительная пластина (тала БС-2)

Толщина, мм

2

Входит в коыалект набора цветного оптического стекла по


ГОСТ 9411-75

Страница 19

ГОСТ 25477—8) Стр. 17

Продолжение табл. 5

Шпмеяо»«ии« допаргтури

Норы1тмсво т'ХШ1'<е<кая xopiv-терветвка

Зягчсиие

Нейтральные свето

См. справочное приложе

фильтры

ние 2

Пластина из молоч

Толщина пластины, мм

2-3

ного стекла (MCI2)

Калиброванная диаф

Диаиегр диафрагмы дол

рагма

жен выбираться из расчета получения на экране ЭОП изо

бражения диаметром не более.

мм

(5*0.1)

Коллиматор

См. табл. 4

Объектив

См. табл. 3

Измеритель эзерпш

Нижний предел измерения.

излучения с выхода

Дж. ие более

5-IO-*

ЭОП (типа ФПМ-02)

Диапазон энергий, Дж Длила волны, мкм

5*10-*—0,5-Ю-* 0.53; 0.69; I.0S

Дополнительные данные в

п. 39.2 3

Измеритель энергии

Диапазон измерений. Дж Погрешность, %, не более

0,05—150(1000)

лазерного излучения

10(25)

(типа ИКТ-1)

Максимальная плотность

энергии. Дж-см-*

Пределы измерения энер

200

гии, Дж

0,05-1000

Диапазон длин воли, мкм

0,4-4

Средняя плотность энергии.

Дж-см-*, ис более

75

Максимальная плотность

энергии, Джем-*

200

Примечание. В случае применения других средств измерений ах кет* рологнчеекке характеристики должны быть ис хуже указанных в табл. 5.

3.9.1.2.    ЭОП в статическом режиме настраивают в соответствии со схемой, приведенной на черт. 3.

3.9.1.3.    Нейтральные светофильтры должны быть аттестованы на длине волны излучения лазера по коэффициенту пропускания. В установке должен использоваться набор нейтральных светофильтров, пропускание которых должно составлять геометрическую прогрессию со знаменателем 1,4—1,5. Минимальное пропускание должно быть не более 0,01.

3.9.1.4.    Измеритель энергии излучения с выхода ЭОП должен быть откалиброван на длинах волн 1.06; 0,69 и 0,53 мкм, а также по источнику, спектр излучения которого приведен к спектру свечения люминофора выходного экрана ЭОП.

Страница 20

Стр. 18 ГОСТ 25677-11

3.9.2. Подготовка к измерениям

3.9.2.1.    Устанавливают диафрагму в фокальной плоскости коллиматора.

3.9.2.2.    Устанавливают приемную поверхность измерителя энергии 9 (черт. 5, поз. 1) в фокальную плоскость объектива 7 и защищают его от влияния подсветок (статических и динамических).

Схема установим для измерения коэффициента преобразования ЭОП я динамическом режиме

I- аааар. делительная гиагтина: Я-1И*традыт* састофялыр.

*~пластика и» молотого стехда: £-калнбро«аияая дкафрагуа. •—коллиматор; 7—обьеатяя. в—ЗОН; »—мзиаритель аяергяя «му-чей г.* с »ы»од« ЭОП; 1C- илмсритсль >я«ргни яа-иринго ммутеяи»

(IIMJ. ! В <OOTMTVT*M» t Я. 3-95.4. noi. II — Я СООПЯТСТЯМЯ с

n 3« 34)

Черт 5

3.9.2.3.    Включают лазер, измеритель энергии 9 и измеритель энергии лазерного излучения 10.

5.9.3.    Проведение измерений

3.9.3.1.    Устанавливают нейтральные светофильтры 3 с такой плотностью, чтобы в соответствии с п. 3.9 2.2 получить уверенные показания измерителя энергии 9, и производят 15 пусков лазера, снимая показания измерителей энергии 9 и 10.

3.9.3.2.    Устанавливают в измерительную установку ЭОП и подключают его к источникам питания.

3.9.3.3.    Включают ЭОП и фокусируют изображение диафрагмы на экране ЭОП при помощи объектива 7. На экран наклеивают непрозрачную маску с отверстием, равным диаметру изображения диафрагмы на экране. Отверстие маски совмещают с изображением диафрагмы. Вплотную к маске устанавливают приемный элемент измерителя энергии 9.

3.9.3.4.    Устанавливают нейтральный светофильтр с плотностью, обеспечивающей отклонение индикаторного устройства измерителя энергии 9 на 2/s шкалы при измерении на самом чувствительном диапазоне и производят 15 пусков лазера, регистрируя показания измерителей 9 и 10 (черт. 5 поз. II).

3.9.4.    Обрабогка результатов

3.9.4.1. Для каждого из измерений, полученных при выполнении п. 3.8.2, определяют отношение энергии, зарегистрированной

Страница 21

ГОСТ 2М7Г—83 Стр. 19

измерителем энергии 9, к энергии, зарегистрированной измерителем энергии 10

К,=    ** (безразмернын) ,    (2.3)

wi«i

и усредняют полученные значения

«-Т5-1, *'    <24>

3.9.4.2.    По результатам измерений находят среднее значение указанного отношения энергии Ко при отсутствии светофильтров, ослабляющих лазерное излучение

*•= К- ,    (25)

где ti — коэффициент пропускания светофильтров, установленных пр« измерении по п. 3.9.3.1, безразмерный.

3.9.4.3.    Для каждого из измерений, полученных при выполнении требований п. 3.9.3.4, определяют искомый коэффициент преобразования по формуле

W * I

Ги=-^--    (безразмерны!.),    (26)

где TtB — коэффициент пропускания светофильтров при измерении по п. 3.9.3.4.

Результаты измерений усредняют

I 15

<27>

3.9.4.4.    Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть сумму среднеквадратических отклонений результатов измерений параметров К и ц, а также неисключенные систематические погрешности измерителей энергии 9 и 10 и нейтральных светофильтров.

3.10. Измерение диапазона значений плотности энергии излучения на фотокатодс

3.10.1.    Аппаратура

3.10.1.1.    При измерении диапазона значений плотности энергии излучения используют аппаратуру и схему измерений, приведенные’ в пп. 3.9.1.1 и 3.9.1.2.

3.10.2.    Подготовка к измерениям

3.10.2.1.    Подготовку к измерениям производят аналогично п. 3.9.2.

3.10.3.    Проведение измерений

3.10.3.1.    Повторить операции no п. З.9.З.1.

Страница 22

Стр. 20 ГОСТ 2J6T7—«1

3.10.3.2.    Устанавливают в измерительную установку испытуемый ЭОП и подключают его к источникам питания.

3.10.3.3.    Повторить операции по п. 3.8.3.3.

3.10.3.4.    Устанавливают нейтральные светофильтры с минимальным коэффициентом пропускания, обеспечнвакнше отклонение индикаторного устройства измерителя энергии 9 на Vs шкалы при измерении на самом чувствительном диапазоне и производят 15 пусков лазера, регистрируя показания измерителей 9 и 10. Величина падающей энергии, соответствующая такому отклонению, является минимальной энергией №ш,„.

3.10.3.5.    Повторяют операции п. 3.10.3.4, последовательно увеличивая (с шагом 1,5+2) коэффициент пропускания нейтральных светофильтров.

3.10.3.6.    Измерения прекращают, когда коэффициент преобразования составит 40+60 % от его величины при малых уровнях энергии.

3.10.4. Обработка результатов

3.10.4.1.    Для каждого из измерений, полученных при выполнении требований пп. 3.10.3.4 и 3.10.3.5, определяют коэффициент преобразования по формуле (26). Результаты измерений усредняют в соответствии с формулой (27).

3.10.4.2.    Строят график зависимости коэффициента преобразования от уровня энергии на входе и по нему определяют значение входной энергии в точке, где коэффициент преобразования составляет 90 % от максимального. Значение этой энергия является м а кс и м а л ыго й — W .

3.10.4.3.    Определяют значение максимальной плотности энергии на фотокатоде ЭОП по формуле

Я.. -    .    (28)

где 5t — площадь изображения диафрагмы на фотокатоде ЭОП, см2.

3.10.4.4.    Определяют минимальную плотность энергии иа фотокатоде ЭОП по формуле

#«in «= -|р"    (29)

3.10.4.5.    Значение плотности энергии №првд, в 5 раз больше . определяют как предельно допустимое значение плотности

энергии излучения на фотокатоде.

3.10.4.6.    Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле, аналогичной (4), в которой необходимо учесть сумму среднеквадратических отклонений результатов измерений параметров К и п (п. 3.9), а также иеисключсн-кые систематические погрешности измерителей энергии 9 и 10 (черт. 5), нейтральных светофильтров.

Страница 23

ГОСТ 25677—S3 Стр. 21

3.11. Измерение временного разрешения

3.11.1.    Общие положения

3.11.1.1.    Временное разрешение ЭОП т измеряют методом регистрации на экране ЭОП двух последовательных сдвинутых во времени импульсов оптического излучения и определения конт раста полученного изображения.

3.11.1.2.    За временное разрешение принимают временной интервал т. разный интервалу между двумя последовательными им пульсами одинаковой интенсивности, который регистрируют на экране ЭОП при контрасте изображения 0,05.

3.11.1.3.    Контраст изображения на экране ЭОП двух близко расположенных импульсов определяют по формуле

М--    1п (безразмерный),    (30)

°т1п

где Bmix и Вю,ш —соответственно максимальная и минимальная яркость свечения экрана (черт. 6), отн. ед.

Распределение яркости в млображении двух близко расположенных импульсов

Г

Г

JJ ■ г.улость сведения мрапа; Jt -ось kc-p.ui“»i

Черт. 6

3.11.2. Аппаратура

3.11.2.1.    Для измерения временного разрешения следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства, входящие в установку, схема которой приведена на черт. 7. Рекомендуемая аппаратура, входящая в схему, приведена в табл. 6.

3.11.2.2.    При определении временнбго разрешения ЭОП, не имеющих собственного усилителя яркости изображения, для устранения перегрузок входного фотокатода необходимо использовать усилитель яркости с коэффициентом преобразования для

Страница 24

Стр. 27 ГОСТ И677-Ы

Схема установки для определения временного разрешенм

l-яазер: ?-uninin»i ПМСПШ»: -»— оптмесхяя лшш* зааержжи (р>е-> удиругмая); +- ясйтрьтеашЯ смтофильтр; S— интегЛескжетв Фгбри—Перо. (- iuc.li., 7- оЛьежти»; g-блок пятаиия ЭОП. 9- ЭОЛ >0 -усилитель яркости; II—устройство регистрации кмбражсям с ирамл ЭОП. 17—бпоь формирования ипуепакмдего я и пульса; ЛТ—«.то* р*«мотки

Черт. 7

Таблица 6

Норматявно-т«>яич*еж*я *»ра*-тт-рис* и>а

Наям«мое»В*е аппаратуры

Значение

Лазер

Делительная пластина

Оптическая задеожки

линия

Нейтральные спето-фильтры

Интерферометр Фаб-рм-Псро (типа ИТ-51— -30)

Щель (типа УФ-2)

См. справочное приложение 3

t*ш, <02S-WpVp)-i

Длительность импульса, с

Энергия излучения, Дж, не менее

Число излучаемых импульсов

См. табл. 5

Максимальная задержка, не. не менее

Регулировка задержки ступенями через 1—2 не и плавно

о пределах ступени

См. табл. 5

База интерферометра, мм

Ширина изображения щели на фогокатоде ЭОП Максимальная ширина раскрытия. мм Погрешность установки величины раскрытия, мм

10-‘

I

50

0,3-30

da, <(2 Nр)-1 0.4 0.001


Страница 25

ГОСТ J5477—•> Стр. 23

Продолжение табл 6

Н*вмекоа»а*в < imp»typ<

Нбригамо-пиамои мрм-твриетика

Зяачеше

Объект ий (типа

Фокусное расстояние, мм

130

П-6М)

Разрешающая способность, мм-1:

в центре

90

на краю

40

Блок питания ЭОП

В соответствии с НТД на

ЭОП конкретного типа

Устройство регист

В соответствии с НТД ка

ра кии изображении с экрана ЭОП

ЭОП конкретного типа

Блок формирования

Амплитуда импульса, В

20—100

запускающего импуль

Длительность фронта, не

<1

са*

Длительность иыпудьса. ис Полярность импульса—положительная Нестабильность по отношению к световому импульсу,

>5

■Блок развертки**

не. не более

0 .Ь

Вид выходного напряжения: лииейно-мзмеияющеося. иарафазное

Амплитуда напряжения

... *♦

каждой фазы. В

Нелинейность разверчен в пределах рабочего поля экра

и>^ГГ

на. %, не более Длительность прямого хода разд&рткм:

5

минимальная, «с

<1

максимальная, мс Собственная задержка запуска. не. не более (при минимальной длительности раз

10

вертка)

25

1

   При обработке данных с жрана ЗОН используются: микрофотометр ■ гсиопометр, указанные о примечании к табл 4.

Страница 26

Стр. 24 ГОСТ 25*77—»»

излучения с длиной волны, соответствующей максимуму спектральной характеристики выходного экрана, не менее I04.

Оптическая стыковка преобразователей должна осуществляться через волоконно-оптические диски (при их наличии на выходе времяэнализирующего ЭОП и на входе усилителя яркости) или с помощью оптической системы.

3 11.3. Подготовка к измерениям

3.11.3.1.    Устанавливают исследуемый ЭОП в держатель и подключают его к источникам питания.

3.П.3.2. Юстируют установку, структурная схема которой изображена на черт. 7, таким образом, чтобы излучение лазера проходило по центрам оптических элементов и попадало на середину щели, а отражение от делительной пластины — на приемный элемент блока формирования запускающего импульса.

3.11.3.3.    Необходимую скорость развертки рассчитывают по формуле

(31>

где    — расчетное временное разрешение    ЭОП    (указываемое в

ИТД на ЭОП конкретного типа,    с), и    устанавливают

ее на блоке развертки.

3.11.3.4.    Устанавливают щель необходимой ширины (см. табл. 6) и нейтральные светофильтры, обеспечивающие получение' на входе ЭОП энергии, необходимой для регистрации импульсов с плотностью почернения на пленке в диапазоне 1,0—1,5.

3.11.3 5. Включают аппаратуру, указанную на черт. 7, и после соответствующего прогрева производят несколько пусков лазера. При    этом    контролируют запуск развертки    ЭОП.    Регулировкой

величины    оптической задержки добиваются    получения изображе

ния последовательности импульсов, возникающих на выходе интерферометра Фабри-Перо, на экране ЭОП. В случае необходимости регулируют коэффициент пропускания нейтральных светофильтров.

3.11.4.    Проведение измерений

3.11.4.1.    Устанавливают базу 0, интерферометра Фабри-Перо близкой к значению

(32)

где с — скорость света, мм • сг1.

3.11 4.2. Производят серию из 10 пусков лазера и регистрируют изображение процесса с выходного экрана ЭОП на фотопленку.

3.11.4.3. При помощи сенситометра (см. примечание к табл. 3) на свободный участок пленки впечатывают сенситометрический

Страница 27

ГОСТ 25677—II Стр. 25

клин. Пленку обрабатывают в режиме согласно рекомендуемому приложению 4.

3.11.4.4. Уменьшают, а затем увеличивают приблизительно в два раза базу интерферометра Фабри-Перо и повторяют операции по пп. 3.11.4.2 и 3.11.4.3.

3.11.5. Обработка результатов

3.11.5.1.    Для каждой из пленок по впечатанному на нее сенситометрическому клину строят характеристическую кривую пленки по ГОСТ 2G53- 44. По характеристической кривой определяют границы (/)„,„ и Dnlx) ее линейного участка, а также коэффициент контрастности пленки у-

3.11.5.2.    Используя микрофотометр (см. примечание к табл. 3). фотомстрнруют последовательности импульсов, зарегистрированных с экрана ЭОП. Для регистрации выбирают импульсы, удовлетворяющие следующим условиям:

а)    максимальная плотность изображения импульса не должна г.репышать DmtK пленки;

б)    минимальная плотность изображения в промежутке между соседними импульсами но должна быть менее D „„„ пленки.

Ширина щели микрофотометра, приведенная к пленке, должна быть равна ширине щели (в плоскости пленки).

3.11.5.3.    Для каждой пары (но не более 10 пар) импульсов (удовлетворяющих условиям п. 3.11.5.2) на пленке, отснятой при фиксированной базе интерферометра Фабри-Перо, определяют жоитраст изображения по формуле

°ma< ^д1п

10    ’    —1

Л1 .---:-(безразмерный),    (33)

Рт1п

10    1    +1

где D'"та —плотность изображения, соответствующая амплитуде импульса;

Dmla — плотность изображения в промежутке между соседними импульсами.

3.11.5.4.    Усредняют и находят среднее значение контраста М дг, , полученное при данной величине базы интерферометра Фабри-Перо р| (или при данном значении временного интервала

2<

между импульсами    с    )•

3.11.5.5.    Аналогично определяют контраст изображения при измененной (в соответствии с п. 3.11.4.4) базе интерферометра Фабри-Пиро — М±п и М&п соответственно.

Страница 28

Cip. ?6 ГОСТ 25677-41

3.11.5.6.    Строят график зависимости контраста изображения от интервала Дг между соседними импульсами, соединяя полученные значения Мл/, —М&<, плавной кривой.

3.11.5.7.    По зависимости Л*д, = /(Д/) для значения контраста изображения Af—O.OS определяют временное разрешение испытуемого ЭОП (черт. 8).

График зависимости контраста изображении двух импульсов ■ зависимости or временного интервала между ними

Л1 Л1 —ионтрасг и»обр»мсм*и. ЛГ-и«гегвад между имвульевмв Черт. 8

3.11.5.8.    В случае определения по вышеизложенной методике-временного разрешения тус по экрану усилителя яркости (см. п. 3.11.2.2) временное разрешение ЭОП определяют по формуле

• - У *** - “7*Г“ <0,    (34>

У    •'р    ус

где Nyc --пространственное разрешение усилителя яркости.

3.11.5.9.    Границу погрешности результата измерения (без учета знака) вычисляют по формуле. аналогичной (4), в которой необходимо учесть среднеквадратическое отклонение результата измерения т по черт. fi. а также неисключенмые систематический: погрешности микрофотометра н сенситометра.

Страница 29

ГОСТ «*77-13 Ctp. 27

ПРИЛОЖЕНИЕ Г Справочное

ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ »ОП. ИХ ЗНАЧЕНИЯ И РАЗМЕРНОСТИ

Параметр

Об05»*ч«ИИ«

f'aj*er*ocik

Зиачеине

1. Спектральная чуьс-твительность входного фогокатода на фиксированных длинах волн

Ь.

A-Вт-'

10“*—10-*

2. Область спектральной чувстввгель-пост (спектральный диапазон) фотокатода

HIM

МКМ

0.25—1.2

3. Электронно-оптн-чесхое увеличение

Г

Безразмерный

1-5

4 Пдостранетвекное разрешение: а) а центре sxpaaa

КГР

мм-1

10—40

б) на краю жрана

УК

км-‘

10-40

5. Размер рабочего поля фотокатода

d.

мм

3-60

6. Ра «мер рабочею поля экрана

а,

им

20-60

7. Чунетвителыюсть «ластя н

к

мм-В-1

I0--—ю-»

8. Затворное напряжение

Vur.

В

От нескольких

9. Коэффициент преобразовании

т.

Безразмерный

сот до 2 кВ 1—106

10 Предельное допустимое значение плотности энергии излучения на фотокатоде

Httftx

Дж-см 3

ю *—ю-*

И. Временное разрешение

1

с

Ю-и~Ю-»

12. Диапазон значений плотности энергии излучения на фстокатоде

Дж-см-*

10-"-10-*

Страница 30

Стр. 28 ГОСТ 35*77—83

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное

: V, . . \'{V)

Спектральная

**

%

<

%

й

И

характеристика    ....    2

Двойное луче-

преломление    ....    3

Бессаильность .....2В

Пузырнесть    .....4

N    .......4

ДА'    .......—

Р    .......IV

в    ........5

Спстоэой диаметр,    мм . .    Зв

d. мн

Оптя'Маия амтяость О

Ъ2А

ол

12А

0.4

41,34

0.6

15.24

0.8

19.24

J.0

Светофильтр: стекло НС! по ГОСТ 9411-75.

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное

Тип лазера выбирают в зависимости от типа ЭОП.

Для одиохамериых ЭОП без усиления вспользуют лазер, работающий в режиме свободной генерации, типа ГОС-ЭОМ (энергия импульса излучения на длине полны 1,06 мхм— не менее 30 Дж; длительность импульса свободной генерации МО-9 с).

Для двухкамерных ЭОП с коэффициентом усиления по току не более 100— ксдолко’стся лазер (типа ЛТИ-5), работающий в режиме модулированной добротности, генерирующий мононмпульс длительностью 10—70 не.

Страница 31

ГОСТ 2St77-IJ Стр. 2»

Для многокамерных ЭОП я ЭОП с коэффициентом усиления по току более 100 используют лазер (тала ЛИ-С801), работающий а режиме синхронизации мод , генерирующий одиночный импульс длительностью 10—100 пс с энергией 10-4 Дж.

Дли ЭОП с кислородио-саребрвяо-цезменым фотокатодом используют лазер с длиной волны излучения 1.06 мкм; для ЭОП с многощелочным ф0Т0К370Д0М — лазер с длиной волны 0,69 нлн 0,53 мкм (типа ОГМ-40).

ПРИЛОЖЕНИЕ 4 Рекомендуемое

РЕЖИМ ОБРАБОТКИ ФОТОПЛЕНКИ

I Проявление фотопленки РФ-3: проявитель типа Д-76;

температура проявителя (293 ±2) К [(20ж2°С)]; время (26±0.1) мин.

2.    Оооласасияаиие: вояоароводная вода;

температура воды 287-2SO К (14—20К~.); время 10—15 с.

3.    Остановка проявления:

10%-нЫй раствор уксусной кислоты; температура растзора 287—293 К (И—20°С); время 20—30 с.

4.    Фиксирование: фиксаж БКФ-1;

температура фиксажа 291—293 К (18—20°C); время 10 м-ин.

5.    Промьшка:

вода волоороводкая;

гемыература йоды 287—293 К (14—20°С); время 20—30 мин.

6.    Сушка.

Страница 32

Стр. 30 ГОСТ 2S<77-S3

МАСШТАБНАЯ МЕРНАЯ СЕТКА

1,    Число конаеигричссжял окружностей — 6. В центре — гожа.

ПРИЛОЖЕНИЕ 5 Справочное


2.    Ширина рисок —ОД мм, глубина — 0.2 мм.

.Материал; стекло органическое ТОСПЗ, сорт 2 по ГОСТ 17622--72.

Редактор В. П Огурцов Технический редактор Л. Я- Митрофанова Корректор А В. Прокофьева

Слано n наб. 12.01&3 Подл, в с««. 1в.(Х>.83 ?.0п. л. 1,72 у*.-над. я. Тир. Ю00 Цсиа Юков.

•Орлей.» «3:*мк Пслкте» Хзлатгльстю ггсклартоо, 12УЯ7, Мосям. Иоаопрес<>гис.киА «ср . Э. Колуне»»* типография сшила|»ов. >д. Московски*. JS6. 3j«. 1-0»