Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

6 страниц

244.00 ₽

Купить ГОСТ 24613.8-83 — официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора.

  Скачать PDF

Заменяет ГОСТ 22440.4-77

Ограничение срока действия снято: Протокол № 3-93 МГС от 12.03.93 (ИУС 5-93)

Оглавление

1 Прямой метод

2 Косвенный метод

Показать даты введения Admin

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ И ОПТОПАРЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ СКОРОСТИ ИЗМЕНЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ

ГОСТ 24613.8-83

Цена 3 коп.


Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

УДК 621.3.049.77.083:806.354    Группа    Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСТ

24613.8-83

Взамен ГОСТ 22440.4-77

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ

И ОПТОПАРЫ

Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции

Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage

ОКП 62 3000

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 21 июня 1983 г. № 2607 срок действия установлен

с 01.07.84 до 01.07.89

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов (далее — приборы), и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.

Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора.

Общие условия при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 24613.0-81.

1. ПРЯМОЙ МЕТОД

1.1. Принцип и условия измерения

1.1.1.    Критическая скорость изменения напряжения изоляции — скорость, при которой еще не происходит срабатывание прибора.

1.1.2.    Температурный режим, значения постоянных напряжений, амплитуда и длительность фронта импульса напряжения изоляции должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях.

Перепечатка воспрещена


Издание официальное ★


© Издательство стандартов, 1983

1.2. Аппаратура

1.2.1.    Измерения следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

1.2.2.    Генератор входного сигнала G1 должен обеспечивать задание и поддержание на входе проверяемого прибора входного

G1 — генератор входного сигнала. В — провс ряемыи прибор, G2 — генератор имп>льсного напряжения, PV — измеритель выходного сиг нала G3 — источник постоянного напряжения

сигнала постоянного тока или напряжения, значение уровня которого должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания входного сигнала должна быть в пределах ±5 %.

Черт 1

1.2.3. Генератор импульсного напряжения G2 должен обеспечивать задание линейно-нарастающего или экспоненциально-на-растающего напряжения, значение которого должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания и поддержания амплитуды напряжения и задания фронта импульса, определяемого на уровнях 0,1 и 0,9, должна быть в пределах ±10%.

1.2.4.    Измеритель выходного сигнала ГУ должен обеспечивать измерение уровней выходного сигнала с погрешностью в пределах ±5% и иметь входное сопротивление RBX , отвечающее условию R вх > 20R зух, где Гдых выходное сопротивление проверяемого прибора.

Примечание Измеритель PV допускается заменить устройством регистрации низкого и высокого уровня с теми же требованиями к погрешности и выходному сопротивлению

1.2.5.    Источник постоянного напряжения G3 должен обеспечивать задание напряжения питания проверяемого прибора в соответствии с требованиями, установленными в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания и поддержания напряжения питания должна быть в пределах ±3%.

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1.    К измерительной установке подключают проверяемый прибор.

1.3.2.    Устанавливают заданные значения: напряжения питания от источника G3, входного сигнала от генератора G1 и амплитуды импульса напряжения изоляции от генератора G2.

1.3.3.    Уменьшая длительность фронта входного импульса or


генератора G2, добиваются экстремального значения длительности фронта, при котором не происходит срабатывание проверяемого прибора.

1.4. Обработка результатов измерения

1.4.1. Критическую скорость изменения напряжения изоляции


Г dU

L dt


jKp


определяют по формуле


Г dU dt


нр


1^амп

ТФ


>


где £/амп — амплитуда импульса напряжения изоляции;

Тф — длительность фронта импульса напряжения изоляции;

К — коэффициент, учитывающий форму импульса напряжения изоляции и равный К=0,8 — для линейно-нарастающего импульса, К—2,2 — для экспоненциально-нарастающего импульса.

1.5. Показатели точности измерений

1.5.1.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.

1.5.2.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции 6i определяют по формуле


6,= ± К(8С;)а+(8м)а+(8Тф)а .

где 6 и — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания напряжения режима измерения на проверяемом приборе, %;

бм — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания амплитуды импульса на входе проверяемого прибора, %;

6Хф — составляющая погрешности, обусловленная неточностью измерения длительности фронта, %.


2. КОСВЕННЫЙ МЕТОД

2.1.    Принцип и условия измерения

2.1.1.    Критическую скорость изменения напряжения изоляции определяют на основе результатов измерения проходной емкости Спр и порогового входного тока /пор микросхемы.

2.1.2.    Пороговый входной ток измеряют на входе встроенной микросхемы.

2.1.3.    Температурный режим и значения напряжений должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.


2.2. Аппаратура

2.2.1. Измерения порогового входного тока следует проводить установке, электрическая структурная схема которой приведена черт. 2.

2.2.2.    Регулируемый источник постоянного напряжения G должен иметь пределы регулировки в соответствии с требованиями для низкого и высокого уровня, установленными в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.

2.2.3.    Измеритель тока РА должен обеспечивать измерение входного тока с погрешностью в пределах ±3%.

2.2.4.    Измеритель постоянного напряжения PV должен соответствовать требованиям п. 1.2.4.

и проведение измерений


на

на


ТТ-©п



1


G — регулируемый источник постоянного    напряжения,

РА — измеритель тока, D — проверяемый прибор; PV — измеритель постоянного напряжения


Черт. 2


'2.3. Подготовка


2.3.1.    Измеряют проходную емкость по ГОСТ 24613.1-81.

2.3.2.    Измеряют пороговый ток. Для этого проверяемый прибор подключают к измерительной установке, приведенной на черт. 2, и устанавливают значения напряжения питания микросхемы, указанные в стандартах или технических условиях на прибо

ры конкретных типов.

2.3.3. От источника G подают напряжение, увеличивая его до максимального значения, при котором не происходит срабатывание прибора D. Значение тока /пор регистрируют по измерителю РА.

2.4. Значение критической скорости изменения напряжения

Г du 1

' dU dt


^ПОр


кр


~м изоляции определяют по формуле L JkP

гДе Г пор — пороговый входной ток микросхемы, А;

Спр — проходная емкость, Ф.

2.5. Показатели точности измерений

2.5.1.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.

2.5.2.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции 62 определяют по формуле

ГОСТ 24613.8-83 Стр. 5

82= ± K(M2+(8i )2+(§с)2, где б и — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания напряжения;

6j — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания тока на входе проверяемого прибора, %;

б с — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности измерения проходной емкости, %.

Редактор Е. И. Глазкова Технический редактор Л. Я. Митрофанова Корректор А. Г, Старостин

Сдано в наб. 23.06.83 Подп. в пвч. 09 09.83 0,Э п. л. 0,27 уч.-изд. л. Тир. 10000 Цена 3 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, Новопресненскнй пер., 3. Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 1915