Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

8 страниц

244.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на фотографические, киносъемочные и телевизионные съемочные объективы и устанавливает метод измерения хроматической аберрации увеличения

Показать даты введения Admin

Страница 1

Я369&-19 SL3 699-Z9 Sii-wo-iB

ГОСУДАРСТВЕННЫЕ СТАНДАРТЫ СОЮЗА ССР

ОБЪЕКТИВЫ СЪЕМОЧНЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ АБЕРРАЦИЙ

ГОСТ 23698-79-ГОСТ 23700-79

Издание официальное

10 коп.


I


ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

Страница 2

*ДК 77051.001.4:006.351    Группа

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ОБЪЕКТИВЫ СЪЕМОЧНЫЕ Метод намерения хроматической аберрации у «винчения

ГОСТ

23698—79


Camera lenses. Method for Measurement oi the Lateral Chromatic Aberration

ОК.П 4445000300

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 1 июня 1979 г. И* 2091 ером действия установлен

с 01.01.1W1 г.

до 01.01.1906 г.

Несоблюдение стандарта преследуется по ааиоиу

Настоящий стандарт распространяется на фотографические, киносъемочные и телевизионные съемочные объективы и устанавливает метод измерения хроматической аберрации увеличения.

1. основные положения

1.1.    Метод измерения хроматической аберрации увеличения в заданных точках поля объектива сводится к измерению смещения в меридиональном направлении изображения короткой тонкой щели, расположенной в сагиттальной плоскости, при изменении длины волны света.

1.2.    Метод предусматривает измерения в видимой области спектра.

2. АППАРАТУРА

2.1.    Измерение хроматической аберрации увеличения объективов. рассчитанных для бесконечности, должно производиться на оптической скамье по схеме черт. 1, а объективов, рассчитанных для работы с конечного расстояния, по схеме черт. 2 или 3.

2.2.    Апертурный угол конденсора в пространстве изображений должен быть:

больше апертурного угла коллиматора — при измерениях по схеме черт. 1;

Издание официальное


Перепечатка воспрещена © Издательство стандартов, 1979



Страница 3

Стр. 2 ГОСТ 236»t— 79

/ — источник с-ста; 2 — кохдсэсор; J — монохроматор или иабор иитерфе-р*«Нио«иых фильтров для видимой области спектра; 4 - щель; 5 — коллам а точный объектив; 6 — поворогаыЯ рычаг: 7 — объектиюдгржателы в — испытуемый объехтив. 9 — игмеритедьиый микроскоп. 10 — лоиере^иая дииейкя

Черт. I

/ — источник овета: 2 — конденсор; 3 — момохроматор или набор интерференционных фальтроа для видимое области сдостра. 4 — «ель. $ — псосресная линейка и яр*>:гряиспю предметов; К — исвы* туемый о6ьс*;ий; 7 — обьактяводержвтнль; S — измерительный мяк* раскол; 9 — •опор** мая ивняка в пространстве изображена*

Черт 2

/ — источаих све?а; i — косшеясор; 3 — монохром* тор или я а бор иитгр-фврвнцяонвых фядывов дли видимой области <в*гтрв; 4 — цель; 5 — объеятиволержвтель; * — испытуемы* обга*тив: 7 — измерительный м■«роек оп; о — поперечная дииеАка; 9 — поворотный рычаг

Черт. 3

Страница 4

ГОСТ 23698-79 Стр. 3

больше числовой апертуры испытуемого объектива в пространстве предметов — при измерениях по схемам черт. 2, 3.

2.3.    Световой диаметр коллиматора должен превышать диаметр входного зрачка испытуемого объектиоа (см. черт. 1).

2.4.    Монохроматор и интерференционные фильтры не должны иметь полуширину паюсы пропускания более 15 нм.

2.5.    Щель 4 (см. черт. 3) должна устанавливаться на каретке, снабженной механизмом продольного микрометрениого перемещения. Погрешность определения положения «аретки не должна быть более 0.01 мм.

2.6.    Поперечная линейка с измерительным микроскопом должна быть параллельна опорному торну объектнводержателя. 11е-параллельность указанных сборочных единиц не должна превышать Г.

2.7.    Поперечная линейка в пространстве предметов должна быть параллельна поперечной линейке в пространстве изображений (см. черт. 2). Непараллельное™ указанных сборочных единиц не должна превышать 1'.

2.8.    Измерительный микроскоп должен быть снабжен окулярным микрометром или должен иметь микрометренный механизм перемещения микроскопа параллельно фокальной плоскости испытуемого объектива.

2.9.    Увеличение измерительного микроскопа должно быть не менее 100—150х .

2.10.    Апертура объектива микроскопа А должна быть рассчитана по формуле

4>sln(«;л f Од.),    <1)

где (fcVjJ0— половина наибольшего угла поля зрения испытуемого объектива в пространстве изображений,

(Од.)®—апертурный угол испытуемого объектива в пространстве изображений.

2.11.    Щель 4 (см. черт. 3) должна находиться на прямой, перпендикулярной к опорному торцу объектнводержателя при нулевом положении поворотного рычага и проходящей через вертикальную ось вращения рычага. Погрешность положения щели не должна превышать Г.

2.12.    Механизм продольного микрометрениого перемещения должен обеспечивать перемещение щели 4 (см. черт. 3) вдоль оптической скамьи в направлении, перпендикулярном к торцу объ-ективодержателя при нулевом положении рычага. Погрешность не должна превышать 3'.

2 Зок. 1811

3


Страница 5

Стр. 4 ГОСТ 2WW—79

3. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ

3.1.    Подготовка к измерению по схеме черт. I.

3.1.1.    Закрепляют испытуемый объектив в объективодержателе передней линзой к коллиматору.

3.1.2.    Устанавливают объектив так. чтобы центр входного зрачка находился вблизи оси вращения поворотного рычага.

3.1.3.    Выделяют монохроматором длину волны света, для которой сделан расчет испытуемого объектива, или устанавливают интерференционный фильтр для этой длины волны света.

3.1.4.    Устанавливают щель в фокальной плоскости объектива коллиматора 5 (см. черт. 1) и уменьшают ее ширину до тех пор, пока это не будет вызывать уменьшения ширины изображения щели в фокальной плоскости испытуемого объектива.

3.1.5.    Фокусируют измерительный микроскоп на плоскость наи-лучшего изображения по центру поля объектива.

3.1.6.    Устанавливают заданное относительное отверстие.

3.2. Подготовка к измерению по схеме черт.2.

3.2.1.    Закрепляют испытуемый объектиз в объективодержателе.

3.2.2.    Устанавливают щель, расположенную на поперечной линейке в пространстве предметов, на расчетном расстоянии минус S от первой линзы объектива. Ширина щели должна выбираться по правилу, изложенному в п. 3.1.4.

3.2.3.    Далее — по пп. 3.1.3, 3.1.5, 3.1.6.

3.3.    П одготовка к измерению по схеме черт. 3.

3.3.1.    Проводят по пп. 3.2.1, 3.1.2.    /

3.3.2.    Устанавливают щель 4 (см. черт. 3) в пространстве предметов на расчетном расстоянии минус S от первой линзы объектива. Ширину щели выбирают такой же, как указано в

3.3.3.    Далее ~ по пп. 3.1.3, 3.1.5, 3.1.6.

4. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ

4.1.    Проведение измерений по схеме черт. 1.

4.1.1.    Устанавливают поворотный рычаг с объективом иа угол ю,.

4.1.2.    Смещают измерительный микроскоп по поперечной линейке в плоскости изображения до совмещения изображения щели с центром поля зрения микроскопа.

4.1.3.    Снимают со шкалы окулярного микрометра или со шкалы механизма микрометренного перемещения микроскопа не менее трех отсчетов ал, , соответствующих положению изображения щели для каждой последовательно выделенной длины волны света из заданной области спектра.


4

Страница 6

ГОСТ 2ИМ—If Стр. 5

4.1.4. Устанавливают поворотный рычаг с объективом на угол минус Cl), .

4.1.6.    Далее — по п. 4.1.2.

4.1.6.    Снимают отсчеты Ьц} по п. 4.1.3.

4.1.7.    Повторяют измерения и снимают отсчеты по пп. 4.1.1— —4.1.6 для нескольких углов поля зрения объектива ±

4.2. П ро ведение измерений по схеме черт. 2.

4.2.1.    Смешают щель в пространстве предметов по поперечной линейке на расстояние у, .

4.2.2.    Далее — по пп. 4.1.2; 4.1.3.

4.2.3.    Смещают щель в пространстве предметов по поперечной линейке на расстояние минус у, .

4.2.4.    Далее — по пп. 4.1.2; 4.1.6.

4.2.5.    Повторяют измерения по пп. 4.2.1—4.2.4 для нескольких точек поля зрения объектива ± у, .

4.3. Проведение измерений по    схеме черт. 3.

4.3.1. Смещают щель от объектива в пространстве предметов вдоль оптической скамьи на расстояние 61* , связанное с yt зависимостью

где L — расстояние щели до оси вращения поворотного рычага при его нулевом положении;

о —угол поворота рычага с испытуемым объективом, соответствующий точке поля зрения объектива и определяемый по формуле

o^arctg -Й.

(3)


4.3.2.    Устанавливают поворотный рычаг с объективом на угол о .

4.3.3.    Далее — по пп. 4.1.2, 4.1.3.

4.3.4.    Устанавливают поворотный рычаг с объективом на угол минус о .

4.3.5.    Далее — по пп. 4.1.2, 4.1.6.

4.3.6.    Повторяют измерения по пп. 4.3.1—4.3.5 для нескольких точек поля зрения объектива ± уг .

5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

5.1. Вычисляют хроматическую аберрацию увеличения для каждой длины волны в заданных точках поля зрения объектива ± a>i (±у{ ).

5

Страница 7

Стр. 6 ГОСТ 23698-79

5.1.1.    При измерении с окулярным микрометром хроматическую аберрацию увеличения определяют по формуле

»л,-9яГ---2 --•    (

где q А- — вычисленное среднеарифметическое значение отсчета по шкале окулярного микрометра в точке поля зрения объектива (у, ) для длины волны л, ; яп# то же. для длины волны Л0 ;

—то же, в точке поля зрения объектива — и, (— у, ) для длины волны X,-;

Ь — то же. для длины волны л« ;

п — цена деления шкалы окулярного микрометра с учетом увеличения мнкрообъектива, мм.

5.1.2.    При измерении с механизмом микромстренного перемещения измерительного микроскопа хроматическую аберрацию увеличения определяют по формуле

^Г~Уо=-2- *    (    }

где а,\I —вычисленное среднее арифметическое значение отсчета по шкале механизма микрометренного перемещения измерительного микроскопа для длины волны в точке поля зрения объектива + <*>j ( +    ), мм;

aat то же, для длины волны А0, мм; buf —то же, в точке поля зрения объектива — о, (—у, ) для длины волны \j , мм; b ло —то же, для длины волны Х„ . мм.

Примечание. При вычислениях необходимо использовать правило знаков по ГОСТ 7427 76.

5.2.    Результаты измерений и вычислений оформляют в виде табл. 1 и 2 обязательного приложения.

5.3.    Инструментальная погрешность измерения не должна превышать 0,002 мм.


6

Страница 8

»    ПРИЛОЖЕНИЕ Обязательное

3*1 l»ll

Таблица I

Измерение с окулярным микрометром    _

X.

мм

91

ОКЧСТЫ в.. В 1Ф.1С-»ТИ11 ОК)'ЛЯр*ОГО МИК*

рОМС Тр^

Сред

нее

ч

а1У,~а

31,

Отсчет к Ь,. о

делмиях ©*у**р-■ого микрометре

Сред-

и««

ч

Лх/^а,

«И a 'в s >+

Ai « а." v

+< V^.>

а |

в!

«а

ь.

а,

2 ' “

Таблица 2

X, им

Отсчеты а

а,

с**-

•се

Ч

aat~aib

~*i

[-•р

Отсчеты 6 _ /X,

Сред-

«ее

ьп.~*1и

. . Г-!Х#IX-V в «V / 7

в.

в. | в.

6.

*<Х^ У/Х. 2

Измерение с механизмом микромегрсниого перемещения измерительного микроскопа


2МН-7* Ctp.