Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

13 страниц

304.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на методы оптического вида неразрушающего контроля объектов и устанавливает общие требования к аппаратуре, стандартным образцам, порядку подготовки и проведению контроля, оформлению результатов и требования безопасности

Показать даты введения Admin

ГОСТ 23479-79

Группа Т59

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ

МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОГО ВИДА Общие требования Non-destructive testing. Optic methods. General requirements

ОКСТУ 00111

стандартным образцам, порядку подготовки и проведению контроля, оформлению результатов и требования безопасности.

Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в справочном приложении.

(Измененная редакция, Изм. N 1,2).

1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

1.1.    Методы оптического вида контроля основаны на применении электромагнитного излучения в диапазоне длин волн от 10^ до 10? мкм.

1.2.    Методы оптического вида контроля и области их применения приведены в табл.1.

Таблица 1

Название метода

Область применения

Факторы,

ограничивающие

область

применения

Контролируемые

параметры

Чувстви

тельность

Погреш

ность,

%

Визуальный

Дефектоскопия, контроль формы

Диапазон длин волн должен быть 0,38-0,76 мкм

Дефектность отклонение от заданной формы

0,1 мм

Визуально-оптический

Дефектоскопия с

помощью микроскопов,

стереоскопия,

размерный контроль с

помощью

проекционных

устройств, эндоскопия

внутренних

поверхностей,

интроскопия

Минимальная яркость изображения объекта контроля не

2

менее 1 кд/м

Размеры

изделий,

дефектов,

отклонения от

заданной

формы

Щ

А

0,1-1,0

Интерферометрический

Оптическая толщинометрия, контроль формы полированных изделий, анализ шероховатости

Применим только для полированных поверхностей

Сферичность,

плоскостность,

толщина

0,1Х

0,1

Дифракционный

Контроль размеров тонких волокон, формы острых кромок, структуры

Размеры дефектов должны быть сравнимы с длиной волны света

Диаметры волокон, размеры дефектов, острых кромок

0/_\

1,0

Поляризационный

Контроль напряжений в прозрачных средах методом

фотоупругости, анализ степени поляризации источников света, эллипсометрическая толщинометрия

Применим только для оптически прозрачных сред

Вращение плоскости поляризации двулучепрелом-ление, толщина

авх

А

1,0

Фазовоконтрастн ый

Контроль оптической неоднородности прозрачных сред

Применим только для оптически прозрачных сред

Градиент

показателя

преломления

0L6*

А

0,01

Рефрактометрический

Дисперсионный контроль оптических сред, измерение концентрации растворов

Применим только для оптически прозрачных сред

Показатель

преломления

0.6Х

А

0,01

Рефлексометрический

Контроль шероховатости поверхности изделий, измерение блеска и глянца

Коэффициент отражения должен быть не менее 1%

Коэффициент

отражения,

индикатрисса

отражения

О/'Ч

А

1,0

Денситометрически й

Анализ оптической плотности светофильтров, прозрачных пленок

Применим для нерассеивающих прозрачных сред

Оптическая

плотность,

коэффициент

пропускания

ЧС--

А

1,0

Спектральный

Контроль спектральных характеристик изделий в отраженном и проходящем свете, анализ состава газовых смесей, жидкостей, твердых веществ

Спектральные

коэффициенты

отражения,

поглощения,

пропускания,

концентрация

вещества

^-10-*

А

1,0

Колориметрический

Анализ цвета изделий

Наличие

источников

посторонней

засветки

Координаты

цвета

100,0 мкм

1,0

Нефелометрический

Анализ структуры кристаллов, стекол, растворов, газов, гранулометрия

Индикатрисса

рассеяния,

коэффициенты

рассеяния,

концентрация

объемных

включений

дел

А

1,0

Стробоскопический

Дефектоскопия и размерный контроль подвижных объектов

Угловая

скорость

10"6 с

5,0

Фотометрический

Измерение характеристик источников оптического излучения

Яркость

Освещенность

10"4 кд/M ^ Ю"3 ЛК

5,0

Голографический

Контроль геометрии объектов сложной формы, однородности оптических сред

Малая

когерентность

лазера,

вибрации

Деформации,

перемещения,

отклонение от

заданной

формы,

градиенты

показателя

преломления

0J\

1,0

Телевизионный

Электронно-оптический анализ структуры веществ, измерение линейных размеров

Гранулометри

ческие

характеристики,

размеры

дефектов

\

А

1,0

Примечание. ДЛ - минимальная разность длин волн, при которой возможно измерение спектральных характеристик объектов;

А - длина волны света;

А ш Ш Ш 0( - апертура оптической системы, где п - показатель преломления; а - апертурный угол.

2. АППАРАТУРА И СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ2

2.7.    Для настройки и периодической проверки работоспособности и расшифровки показаний аппаратуры должны использоваться стандартные образцы, разрабатываемые и изготавливаемые по технической документации разработчика аппаратуры или по отраслевым и междуведомственным техническим документам.

2.8.    При приемо-сдаточных, периодических и типовых испытаниях аппаратуры должны использоваться стандартные образцы, разработанные предприятием -разработчиком аппаратуры и изготовленные предприятием - изготовителем аппаратуры.

2.7, 2.8. (Измененная редакция, Изм. N 2).

2.9.    Для проверки аппаратуры непосредственно перед проведением контроля объектов, а также для контроля методом сравнения с объектом могут быть использованы образцы, специально изготовленные потребителем аппаратуры, с внесением определенного вида дефектов.

Наименьший размер выявляемых дефектов должен не менее чем в три раза превышать величину микронеровностей рельефа поверхности контролируемых объектов.

Примечание. Допускается использование имитаторов.

2.10. (Исключен, Изм. N 2).

3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ КОНТРОЛЯ

3.1. Подготовка аппаратуры и объекта контроля должна производиться в соответствии с технической документацией на контроль и включать:

подготовку объекта контроля к операциям контроля;

проверку работоспособности аппаратуры;

выбор условий контроля.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

3.2. Подготовка контролируемого объекта к операциям контроля должна производиться в следующей последовательности:

до начала проведения контроля с поверхности объекта контроля удаляют частицы или загрязнения, мешающие проведению контроля;

определяют границы контролируемого участка и характер дефектов.

3.3.    Проверка работоспособности аппаратуры должна производиться в соответствии с инструкцией по эксплуатационной документации.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

3.4.    Выбор условий контроля должен сводиться к обеспечению нормальных условий освещенности контролируемого объекта, установлению требуемого режима работы и взаимного расположения объекта контроля и аппаратуры.

3.5.    Схемы испытаний методами оптического вида контроля приведены в табл.2.

Таблица 2

Способ освещения

Схема испытаний

Области применения

В отраженном свете

>

Контроль поверхностных дефектов непрозрачных материалов, измерение линейных размеров

В проходящем свете

Контроль внутренних напряжений, наличия включений в прозрачных материалах, измерение линейных размеров

В рассеянном свете

jj^a

Контроль диффузно-отражающих изделий, обнаружение включений по методу темного поля, измерение блеска, цвета и яркости поверхности

Комбинированное

освещение

JJxiH3

Контроль кристаллов, полупрозрачных материалов, анализ структуры и микрорельефа поверхности изделий

Обозначения: 1 - источник излучения; 2 - объект контроля; 3 - приемное устройство; 4

- зеркальная составляющая отраженного потока.

Примечания:

1.    Схема испытаний зависит от размера и формы объекта и выбирается с учетом оптимальных условий выявляемое™ конкретного типа дефектов.

2.    Параметры источника излучения (интенсивность, спектр, поляризация, пространственно-временное распределение интенсивности, степень когерентности) следует выбирать так, чтобы обеспечить максимальный контраст изображения.

3.6. Нормы освещенности поверхности объекта при визуальном контроле в зависимости от контраста дефекта с фоном и его размером приведены в табл.З.

Таблица 3

Наименьший размер дефекта, мм

Контраст дефекта с фоном

Характеристика

фона

Освещенность, лк, при системе

комбинированного

освещения

общего освещения

разрядными

лампами

лампами

накаливания

разрядными

лампами

лампами

накаливания

До 0,15

Малый

Темный

5000

4000

1500

300

Светлый

4000

3000

1250

300

Средний

Темный

3000

3000

1000

300

Светлый

3000

2000

1050

300

Большой

Темный

1500

1250

400

300

Светлый

1500

1250

400

300

От 0,15 до 0,30

Малый

Темный

4000

3000

1250

300

Светлый

3000

2500

750

300

Средний

Темный

3000

2500

750

300

Светлый

2000

1500

500

300

Большой

Темный

2000

1500

500

300

Светлый

1000

750

300

250

От 0,30до 0,50

Малый

Темный

2000

1500

500

300

Светлый

1000

750

300

200

Средний

Темный

1000

750

500

300

Светлый

750

600

300

200

Большой

Темный

750

600

300

200

Светлый

400

400

200

150

От 0,50до 1,00 и более

Малый

Темный

750

600

300

200

Светлый

500

600

200

150

Средний

Темный

500

500

200

150

Светлый

500

400

150

100

Большой

Темный

400

400

150

100

Светлый

300

300

150

100

Примечания:

1.    Под системой общего освещения следует понимать такое расположение светильников, при котором они создают равномерную освещенность во всех точках производственного помещения.

2.    Под системой комбинированного освещения следует понимать такое расположение светильников, при котором на рабочих местам есть местное освещение, а по всей площади помещения - общее, создающее освещенность не менее 10% от значений, установленных в табл.З.

3. Контраст изображения определяют по формуле

где - яркость изображения дефекта, кд/м ;

2

- яркость фона окружающего дефект, кд/м

При JC > 0,5 контраст считают большим, при 0.2 ^ К К. 0l5 - средним, при ЛГ<0.2 - малым.

3.7.    Операции контроля должны производиться с учетом климатических характеристик и требований размещения аппаратуры, изложенных в паспорте и инструкции по эксплуатации.

3.8.    Контроль объектов должен осуществляться в соответствии с методикой контроля на конкретные типы аппаратуры и объекта и включать в себя следующие операции:

установку объекта контроля и аппаратуры в требуемое положение;

введение объекта в режим контроля (освещение, устранение смещения или вибрации и т.п.);

наблюдение и (или) измерение контролируемого параметра;

контроль качества объекта посредством сравнения его со стандартным образцом и другим способом;

обработку результатов.

(Измененная редакция, Изм. N 2).

3.9.    Методика контроля должна разрабатываться предприятием-изготовителем объектов контроля и утверждаться в установленном порядке.

4. ОФОРМЛЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ

4.1.    Результаты контроля объектов должны оформляться протоколом или заноситься в регистрационный журнал, в которых указывают:

наименование и тип контролируемого объекта, его номер или шифр;

размеры и расположение контролируемых участков на объекте контроля;

условия проведения контроля;

метод оптического вида контроля объекта;

основные характеристики выявленных дефектов (форму, размер, глубину залегания, расположение или ориентацию относительно базовых осей или поверхностей объекта контроля);

наименование и тип используемой аппаратуры и стандартных образцов;

техническую документацию на контроль;

дату и время контроля;

должность, фамилию, имя и отчество лица, проводившего контроль.

(Измененная редакция, Изм. N 1,2).

4.2.    При оформлении результатов контроля допускается вводить в регистрационный журнал дополнительные сведения, определяемые спецификой контроля.

5. ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ

5.1.    При работе с аппаратурой должны соблюдаться "Правила технической эксплуатации электроустановок и правила техники безопасности при эксплуатации электроустановок потребителей".

(Измененная редакция, Изм. N 2).

5.2. Работа с аппаратурой должна проводиться в соответствии с требованиями безопасности, изложенными в эксплуатационной документации на аппаратуру конкретных типов.

5.3.    При работе с аппаратурой, в состав которой входят оптические квантовые генераторы, необходимо соблюдать требования "Санитарных правил при работе с лазерами", утвержденные Министерством здравоохранения СССР.

ПРИЛОЖЕНИЕ

Справочное

ТЕРМИНЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ В СТАНДАРТЕ, И ПОЯСНЕНИЯ К НИМ

Термин

Пояснение

Оптический

неразрушающий контроль

Определение по ГОСТ 24521-80

Дефект

Определение по ГОСТ 15467-79

Разрешающая

способность

аппаратуры

Наименьшее расстояние между точками объекта, раздельно регистрируемыми устройством контроля, выраженное в линейной или угловой мере

Поле зрения аппаратуры

Область объекта, в которой производится контроль и которая измеряется в линейной или угловой мере

Чувствительность

Минимальное изменение размеров, формы, пространственного положения контролируемого объекта, минимальный размер (ширина, глубина, длина) выявляемого дефекта, минимальное изменение эквивалентного параметра, характеризующего структуру или физико-химические свойства контролируемого объекта, которые с заданной вероятностью обнаруживаются в данных условиях при использовании аппаратуры

(Измененная редакция, Изм. N 1).

Текст документа сверен по:

официальное издание

М.: Издательство стандартов, 1985

Юридическим бюро "Кодекс" в текст документа внесено Изменение N 2, утвержденное Постановлением Госстандарта СССР от 27.06.89 N 2064

1

Ограничение срока действия снято по протоколу N 4-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации. (ИУС N 4, 1994 год). Примечание "КОДЕКС".

ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 7 февраля 1979 г. N 484

Проверен в 1984 г. Постановлением Госстандарта от 22.08.84 N 2944 срок действия продлен до 01.01.90

ПЕРЕИЗДАНИЕ (ноябрь 1984 г.) с Изменением N 1, утвержденным в августе 1984 г. (ИУС 12-84)

ВНЕСЕНО Изменение N 2, утвержденное и введенное в действие постановлением Госстандарта СССР от 27.06.89 N 2064 с 01.01.90 и опубликованное в ИУС N 11, 1989 г.

Изменение N 2 внесено юридическим бюро "Кодекс" по тексту ИУС N 11,1989 г.

Настоящий стандарт распространяется на методы оптического вида неразрушающего контроля объектов и устанавливает общие требования к аппаратуре,

2

Наименование раздела. Измененная редакция, Изм. N 2.

2.1.    При контроле оптическим методом применяют аппаратуру по ГОСТ 12997-84 и техническим условиям, утвержденным в установленном порядке.

2.2.    Основными характеристиками аппаратуры оптического вида контроля должны быть:

разрешающая способность;

диапазон рабочих температур;

поле зрения;

предел допускаемой основной погрешности измерения (для аппаратуры с измерительной системой).

2.1, 2.2. (Измененная редакция, Изм. N 2).

2.3.    Величины погрешности аппаратуры должны определяться по стандартам и техническим условиям на конкретные типы аппаратуры, а виды нормируемых характеристик средств измерений должны соответствовать ГОСТ 8.009-84.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

2.4.    Аппаратура оптического вида контроля должна обеспечивать качество изображения дефектов (яркость, цвет, контраст, размер, время анализа), необходимое для обеспечения оптимальных условий их наблюдения.

2.5.    При выборе аппаратуры следует предпочитать (при одинаковых характеристиках) приборы с экранным методом наблюдения, вызывающие меньшее зрительное утомление.

2.6.    Для защиты от попадания в глаз оператора мешающих наблюдению световых лучей аппаратура должна иметь соответствующие устройства (диафрагмы, бленды и т.п.).