Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

6 страниц

244.00 ₽

Купить официальный бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Официально распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль".

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:

метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;

метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн

Показать даты введения Admin

Страница 1

ГОСТ 18986.10-74

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ

Издание официальное

БЗ 1-2001


И ПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ Москва

Страница 2

УДК 621.382.2.08:006.354    Группа    Э29

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУ IIРОВОДН И КОВЫ Е

ГОСТ

18986.10-74

Методы измерения индуктивности

Semiconductor diodes.

Methods for measuring inductance

MKC

3I.08U.10

Постановлением Государственно!*) комитета стандартов Совета Министров СССР от 27 декабря 1974 г. № 2824 дата ввелення установлена    _______

01.07.76

Офаничснис срока действия снято по протоколу St 5—94 Межгосударственного совета по станлартшанин. метрологии и сертификации (ИУС 11-12—94)

Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0.1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:

метод I — для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II — для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн.

Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 189X6.0—74. ГОСТ 19656.0-74 и настоящего стандарта.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

I. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ,

ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ 2 нГн И БОЛЕЕ

1.1.    Принцип, условия и режим измерений

1.1.1.    Принцип измерения индуктивности диодов основан на измерении резонансной частоты колебательного контура куметра при подключении к нему измеряемого диода.

1.1.2.    Постоянный прямой ток диода, при котором проводят измерение, должен быть таким, чтобы добротность контура с диодом была не менее 40.

1.1.3.    Частота измерения. ГГц, должна удовлетворять условию

где Lx - значение индуктивности, указанное в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Гн.

1.2. Аппаратура

1.2.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт. 1.

И мани-^г >ф|шиальнос    Перепечатка воспрещена

Издание (май 2004 г.) с Изменениями .М' /. 2, утвержденными в ffteepaie 1979 г.. августе 1982 г.

(ИУС 4-79, 12-82).

© Издательство стандартов, 1975

Страница 3

С. 2 ГОСТ 18986.10-74

О

Р

УЛ

G

RZ

ОН-н

С — блок смешения; РА — миллиамперметр: Я/ — резистор подачи смешения; Лк — катушка индуктивности,подключаемая к кумпру: Р — куметр; СкО — переменный конденсаюр кумегра: R2 — решсюр внутри куметра, на котором со мается ЭДС

высокой частоты, VD — измеряемый ДИОД. КЗ — замыкатель

Черт. 1

О И ПК Издательство стандартов. 2004

1.2.2.    Индуктивность контура должны выбирать из условия

LK й 20Lx.

1.2.3.    Индуктивность замыкателя должны выбирать из условия

Замыкатель рекомендуется изготовлять в виде отрезка плоской широком шины из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте.

В необходимых случаях требования к конструкции замыкателя должны быть указаны в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

1.2.4. Сопротивление резистора R1 должно удовлетворять условию

Rl >\02kTL3 .

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1.    При измерении индуктивности диодов должна быть определена обшая емкость колебательного контура С, с учетом распределенной емкости катушки индуктивности LK. Обшая емкость контура Ск определяется в положении переменного конденсатора Ск0, соответствующем настройке контура в резонанс на рабочей частоте при замыкании контактов Л и Б измерительной схемы замыкателем.

Измерение обшей емкости контура С\ должно проводиться в соответствии с документацией на куметр, который применяют для измерения индуктивности диода.

1.3.2.    Измеряемый диод включают в контур последовательно с катушкой индуктивности.

1.3.3.    Устанавливают через диод постоянный прямой ток.

1.3.4.    Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости С'^ .

1.3.5.    Вместо измеряемого диода устанавливают замыкатель.

1.3.6.    Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости CkU конденсатора куметра.

1.4. Обработка результатов

1.4.1. Значение индуктивности диода Lа вычисляют по формуле

* 4кУ^С.|С -(С„-С^)| »

где /— частота, на которой проводят измерение, Гн; С, Ск0, С'к{1 — значения емкостей. Ф.

Страница 4

ГОСТ 18986.10-74 С. 3

1.5. Показатели точности измерений

г 5 • 10" 1

1.5.1. Погрешность измерения индуктивности должна быть в пределах ± [0,1 t -—--jlOO % с

А

доверительной вероятностью 0,99.

Разд. 1. (Измененная редакция, Изм. № 2).

2. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ, ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ МЕНЕЕ 2 нГн

2.1.    Принцип, условия и режим измерений

2.1.1.    Принцип измерения индуктивности диода Lл основан на изменении положения узла стоячей волны при подключении в линию измеряемого диода.

2.1.2.    Измерения проводят при протекании через диод прямого тока, значение которого выбирают таким образом, чтобы коэффициент стоячей волны по напряжению в измерительной линии был не менее 4.

2.2.    Аппаратура

2.2.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой указана на черт. 2.

С/ — генератор мощности СВЧ: WU — согласующий аттенюатор с ослаблением 20 дБ: С - разделительный конденсатор; РЛ1 — миллиамперметр: W - измерительная линии: VD — измеряемый лиоа: V — адаптер: РЛ2 — микроамнерметр; 02 — блок смете НИЗ!

Черт. 2

2.2.2. Частоту измерения должны выбирать из условия

°'ш. ^ ^    0,25

~т~ *

мр

где Z* — волновое сопротивление измерительной линии. Ом;

/ — частота, Гц;

Z.4 — индуктивность, Гн, значение которой указывают в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов;

С — емкость корпуса диода.

2.2.3. Конструкция адаптера U, в котором измеряется диод, должна быть приведена в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

Замыкатель по форме и геометрическим размерам должен совпадать с корпусом диода измеряемого типа и изготовлен из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте. В необходимых

Страница 5

С. 4 ГОСТ 18986.10-74

случаях конструкция замыкателя должна быть указана в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

2.3. Проведение измерений и обработка результатов

2.3.1.    В адаптер Uустанавливают замыкатель и при помощи измерительной линии определяют положение ума стоячей волны /' и длину волны X в измерительной линии.

2.3.2.    В адаптер U вместо замыкателя устанавливают измеряемый диод и через него полают прямой ток. Определяют новое положение узла стоячей волны Г.

2.3.3.    Значение индуктивности L/ диода рассчитывают по формуле

2.4. Показатели точности измерений

5- 10 |»

2.4.1. Погрешность измерения индуктивности должна быть в пределах ± [о, I

] 100 %

с доверительной вероятностью 0,99.

Разд. 2. (Измененная редакция, Изм. .\ё 2).

Разд. 3. (Исключен, Изм. N° 2).

Страница 6

Редактор В.//. Кописоя Технический редактор В. И. Ирусако*а Кор рек гор Л/. С. Кавашоса Компьютерная неperка И.А. Налейкипой

Изд. лил. Si 02354 от 14.07.2000. Подписано и печать 31.05.2004. Уел. псч. л. 0.93. Уч.-изял. 0,47.

Тираж 69 JK3. С 2472. Зак. 203.

И ПК Нздагельсгво стандартов, 107076 Москва. Колодезный пер., 14. htlp://Vww.standar^ru    с    mail: inroilNtandjrJs.ru

Набрано и отпечатано и И ПК И жительство сгандартоя