Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1 

35 страниц

487.00 ₽

Купить ГОСТ Р 56647-2015 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее

Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"

Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.

Способы доставки

  • Срочная курьерская доставка (1-3 дня)
  • Курьерская доставка (7 дней)
  • Самовывоз из московского офиса
  • Почта РФ

Является частью серии стандартов ИСО/TС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

 Скачать PDF

Идентичен 80004-6:2013

Оглавление

1 Область применения

2 Основные термины и определения

3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

     3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

     3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

     3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов

     3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

     3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

     3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов

     5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы

     5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов

     5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях

Алфавитный указатель терминов на русском языке

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке

Библиография

 
Дата введения01.04.2016
Добавлен в базу01.02.2017
Завершение срока действия01.07.2017
Актуализация01.01.2019

Этот ГОСТ находится в:

Организации:

20.10.2015УтвержденФедеральное агентство по техническому регулированию и метрологии1586-ст
ИзданСтандартинформ2016 г.
РазработанФГУП ВНИИНМАШ

Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20
Стр. 21
стр. 21
Стр. 22
стр. 22
Стр. 23
стр. 23
Стр. 24
стр. 24
Стр. 25
стр. 25
Стр. 26
стр. 26
Стр. 27
стр. 27
Стр. 28
стр. 28
Стр. 29
стр. 29
Стр. 30
стр. 30

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИ ЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

ГОСТР

56647-

2015/

ISO/TS 80004-6:2013

НАНОТЕХНОЛОГИИ

Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения

(ISO/TS 80004-6:2013, ЮТ)

Издание официальное

Москва

2016


Стандартинформ

Предисловие

1    ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4

2    ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 «Нанотехнологии»

3    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. № 1586-ст

4    Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТС 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» (ISO/TS 80004-6:2013 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization», IDT).

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного документа для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2012 (пункт 3.5)

5    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

© Стандартинформ, 2016

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

Примечания

1    Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ, — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.

2    СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).

3    В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).

3.3.2

классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц; КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров.

differential

electrical

mobility

classifier; DEMC

Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое поле. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП. Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.

[ИСО 15900:2009, статья 2.7]

3.3.3

система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц; САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП, нейтрализатора, счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.

[ИСО 15900:2009, статья 2.8]

differential mobility analysing system; DMAS

3.3.4


электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ: Устройство для измерения Faraday-cup электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9).    aerosol

electrometer;

FCAE

Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.

[ИСО 15900:2009, статья 2.12, определение термина изменено]


[ИСО 15900:2009, статья 2.5]

3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле; ПФП: Метод разде- field flow ления и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц fractionation; FFF суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.

Примечания

1    Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.

centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS

2    В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нанообъектов (2.2) и их распределение по размерам.

3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости; ЦОЖ; дифференциальное центрифугирование; ДЦ\ Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.

6

ГОСТ Р 56647-2015

Примечание — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.

гель-проникающая хроматография; ГПХ: Вид жидкостной хроматографии, size-exclusion в котором разделение веществ основано на элюировании молекул опреде- chromatography; ленного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной SEC пористым неадсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.

[ИСО 16014-1:2012, статья 3.1]

Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).


3.4.3

3.4.4 метод электрочувствительной зоны; метод Коултера: Метод опре- electrical zone деления распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), на- sensing; ходящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса Coulter counter электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).

Примечания

1    Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.

2    Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.

3    Для определения размеров нанообъектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).

3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.

3.5.1

сканирующая зондовая микроскопия; СЗМ: Метод исследования объекта scanning probe с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем меха- microscopy; нического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом SPM и поверхностью объекта.

[ИСО 18115-2, статья 3.30]

Примечания

1    Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомносиловая микроскопия» (ACM) (3.5.2), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).

2    С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ, можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ, до 1 мкм, например в сканирующей термо-микроскопии.

atomic force microscopy; AFM;

scanning force microscopy (deprecated); SFM

(deprecated)

3.5.2

атомно-силовая микроскопия; ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия; ССМ): Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.

[ИСО 18115-2, статья 3.2]

7

Примечания

1    С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.

2    В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х, у, z, а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.

3    С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.

4    С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии.

5    ACM регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.

6    Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0,1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.


3.5.3


сканирующая туннельная микроскопия; СТМ: СЗМ (3.5.1), применяемая для исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.


scanning

tunnelling

microscopy;

STM


Примечания

1    С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта.

2    Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.

3    С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости (туннельной плотности состояний) исследуемого объекта. Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.

[ИСО 18115-2, статья 3.34]


3.5.4


сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; ближнепольная сканирующая оптическая микроскопия; БСОМ\ Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.


near-field scanning optical microscopy; NSOM; scanning near-field optical microscopy; SNOM


Примечания

1    Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.

2    Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда. Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм, что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое слоем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.


8


ГОСТ Р 56647-2015

3 С помощью СОМБП получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3.5.2) и других методов зондовой микроскопии.

low energy electron microscopy; LEEM

[ИСО 18115-2, статья 3.17]

3.5.5

растровая электронная микроскопия; РЭМ (Нрк. сканирующая электронная микроскопия; СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение).

[ИСО 17751, статья 4.10, определение термина изменено]

scanning

electron

microscopy;

SEM

3.5.6

просвечивающая электронная микроскопия; ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

[ИСО 29301:2010, статья 3.37, определение термина изменено]

transmission

electron

microscopy;

ТЕМ

3.5.7

просвечивающая растровая электронная микроскопия; ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

scanning

transmission

electron

microscopy;

STEM

Примечания

1    Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм.

2    С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины.

[ИСО/ТС 10797, статья 3.10, определение термина изменено]

3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий, генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта.

Примечания

1    ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.

2    В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.

3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помо- scanning ion щью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверх- microscopy ности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0,1 до 1 нм.

Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.

9

3.5.10

конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположенную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта, блокируя свет от остальных точек.

confocal optical microscopy

Примечания

1    Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит либо благодаря свойству инерционности зрения при быстром сканировании, либо посредством использования фотоприемников и электронных запоминающих устройств.

2    Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.

[ИСО 10934-2:2007, статья 2.11, определение термина изменено]

3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный свет от подложки или предметного стекла.

surface enhanced ellipsometric contrast microscopy;

SEEC

microscopy

Примечание — В микроскопе применяют специальные антиотражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз.

3.5.12

флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим выделением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.

[ИСО 18115-2:2010, статья 5.52]

fluorescence

3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12).

fluorescence

microscopy

Примечания

1    В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длина волны, испускаемой объектом флуоресценции, всегда больше длины волны света возбуждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры.

2    К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроскопию, флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3.5.15).

3    В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются.

3.5.14

флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения; ФМПВО:

Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое раздела двух сред с разными показателями преломления.

[ИСО 10934-2:2007, статья 2.51, определение термина изменено]

total internal reflection fluorescence microscopy;

TIRF

microscopy

ГОСТ Р 56647-2015

3.5.15    микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования super-resolution объекта с помощью микроскопа, формирующего его изображение с простран- microscopy ственным разрешением выше дифракционного предела.

Примечания

1    Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).

2    Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основаны на явлении флуоресценции (3.5.12).

3.5.16    микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид ми- localization кроскопии сверхвысокого разрешения (3.5.15), с помощью которой реконстру- microscopy ируют изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении в нем флуоресцентных молекул (флуорофоров).

Примечания

1    В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофоров, флуоресцирующих в зависимости от вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоактивации (МЛФ) (в качестве флуорофоров применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР), которые основаны на контролируемом «включении» и «выключении» флуорофоров и их последовательной регистрации.

2    Для получения картины распределения флуорофоров в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофоров. При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, а по очереди, и изображения флуорофоров в различных кадрах не были перекрыты.

3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъекгов и методам ее определения

3.6.1

удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе: Отношение об- mass specific щей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе.    surface area

Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе, — м2/кг.

[ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]

3.6.2

удельная площадь поверхности, вычисляемая по объему: Отношение    volume specific

общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объ-    surface area

ему.

Brunauer— Emmett—Teller Method;

BET method

Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему, — м23. [ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]

3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера; метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Брунауэром, П. Эмметом и Э. Теллером.

Примечания

1 Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра, П. Эммета и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, том 60, 1938, с. 309.

11

2 Метод БЭТ применяют для анализа веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на непористых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на мезопористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). Закрытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ, используемый при измерениях.

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия» или «спектрометр» в зависимости от контекста.

4.1 оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный optical на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиоле- spectroscopy товом или инфракрасном диапазонах длин волн.

4.2

люминесценция: Излучение атомов, молекул или ионов вещества, находящихся в неравновесном (возбужденном) состоянии за счет энергии внешнего воздействия или энергии внутреннего происхождения, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела и продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний.

[МЭК 60050-845:1987, статья 04-18]

luminescence

4.3

фотолюминесценция: Люминесценция (4.2), возникающая при поглощении веществом возбуждающего оптического излучения.

[МЭК 60050-845:1987, статья 04-19]

photoluminescence

4.4 фотолюминесцентная спектроскопия; ФЛ-спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом.

photoluminescence

spectroscopy;

PL spectroscopy

4.5 флуоресцентная спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом.

fluorescence

spectroscopy

4.6 спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра:

Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом и ультрафиолетовом диапазонах длин волн.

UV—Vis spectroscopy

4.7 флуоресцентная корреляционная спектроскопия; ФКС: Метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции (3.5.12).

fluorescence

correlation

spectroscopy;

FCS

Примечание — С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частиц (2.9), среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).

4.8

инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье; Фурье-ИКС: Метод исследования, основанный на регистрации спектра поглощения при облучении исследуемого объекта инфракрасным излучением с получением интерферограммы, обрабатываемой математическим методом, называемым преобразованием Фурье.

[ИСО 13943:2008, статья 4.158, определение термина изменено]

Fourier transform infrared spectroscopy; FTIR

4.9

комбинационное рассеяние света: Явление неупругого рассеяния оптического излучения на молекулах вещества, облученного моноэнергетическим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии.

[ИСО 18115-2, статья 5.128]

4.10

Raman effect

спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9).

[ИСО 18115-2, статья 5.129]

Raman

spectroscopy

4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света; СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9), проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2), адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером в нанодиапазоне (2.1), и облученным соответствующим светом.

surface

enhanced Raman

spectroscopy;

SERS

Примечания

1    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообъекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия.

Примечание — Термин «электронный спектрометр» может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронно-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измерительную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные электронно-оптические части, источник возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос, персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и выдачу результатов измерений.

[ИСО 18115-1, статьи 4.187, 4.190, определение термина изменено]


2    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.

4.12

спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света; СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного в непосредственной близости от поверхности исследуемого объекта.

[ИСО 18115-2, статья 3.42]

4.13

tip enhanced Raman spectroscopy; TERS

электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определения числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости интенсивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов.

electron

spectrometer

4.14

спектроскопия характеристических потерь энергии электронами;

СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с объектом.

electron energy loss

spectroscopy;

EELS

Примечания

1    Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ, будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) (4.18), а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упруго отраженных электронов.

2    Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.

[ИСО 18115-1, статья 4.197, наименование и определение термина изменены]


4.15


Оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего Auger electron

излучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних

оболочек.

Примечание — Энергия Оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии Оже-элек-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.

[ИСО 18115-1, статья 4.37, определение термина изменено]

4.16


электронная Оже-спектроскопия; ЭОС: Метод исследования объекта с Auger electron помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации spectroscopy; энергетических спектров Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности AES объекта.

Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию Оже-электронов отсчитывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры Оже-электронов и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.

[ИСО 18115-1, статья 3.1]

4.17


ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия; УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.


ultraviolet

photoelectron

spectroscopy;

UPS


Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не I) и 40,8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.

[ИСО 18115-1, статья 3.22]


4.18


рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.


Х-гау

photoelectron

spectroscopy;

XPS


Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд) и алюминий (AI), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253,6 и 1486,6 эВ соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, в которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.

[ИСО 18115-1, статья 3.23]


ГОСТ Р 56647-2015

4.19    рентгеновская спектроскопия поглощения; РСП: Метод исследования X-ray absorption объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения spectroscopy; объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения. XAS

Примечания

1    РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого объекта.

2    РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП), спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).

4.20

рентгеновская флуоресценция; РФ: Вторичное излучение, возникающее в результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического рентгеновского излучения.

Х-гау

fluorescence;

XRF

Примечание — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента.

[ИСО 3497:2000, статья 2.1]

4.21

энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия; ЭДРС: Метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов.

[ИСО 22309:2011, статья 3.11, определение термина изменено]

energy-

dispersive X-ray spectroscopy; EDS; EDX

4.22

масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой; ИСП-МС: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным в виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности.

[ИСО 15202-3:2004, статья 3.3.7, определение термина изменено]

inductively coupled plasma mass

spectrometry;

ICP-MS

4.23

масс-спектрометрия вторичных ионов; МСВИ: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распределенных в пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду, и возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных ионов.

secondary-ion

mass

spectrometry;

SIMS

Примечание — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного состава нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элементного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверхности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 1016 ионов/м2).

[ИСО 18115-1, статья 3.17]

4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (иссле-

atom-probe

tomography

дуемого объекта).

ГОСТ P 56647—2015

Содержание

1    Область применения..................................................................1

2    Основные термины и определения......................................................1

3    Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам

их определения......................................................................3

3.1    Термины и определения понятий,    относящихся к размерам и форме нанообъектов..........3

3.2    Термины и определения понятий,    относящихся к методам рассеяния света.................4

3.3    Термины и определения понятий,    относящихся к устройствам, применяемым

для определения характеристик аэрозольных нанообъектов.............................5

3.4    Термины и определения понятий,    относящихся к методам разделения веществ.............6

3.5    Термины и определения понятий,    относящихся к методам микроскопии....................7

3.6    Термины и определения понятий,    относящихся к площади поверхности нанообъектов

и методам ее определения........................................................11

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа................12

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов.......................................................................16

5.1    Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы...............16

5.2    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик

кристаллических нанообъектов.....................................................17

5.3    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик

нанообъектов в суспензиях........................................................17

Алфавитный указатель терминов на русском языке.........................................19

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке...........................23

Библиография........................................................................27

Примечание — При исследовании объекта методом атомно-зондовой томографии применяют позиционночувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности нановолокна.


анализ выделяемых веществом газов; АВВГ: Метод исследования объекта, основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры.

[ИСО 472:2013, статья 2.345, определение термина изменено]

evolved-gas

analysis;

EGA

4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса; ЯМР-спектроскопия\ Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта, основанный на явлении ядерного магнитного резонанса.

nuclear

magnetic

resonance

spectroscopy;

NMR

spectroscopy

4.27 электронный парамагнитный резонанс; ЭПР: Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами, помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее в основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов).

electron

paramagnetic

resonance;

EPR

Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР, аналогичен методу ЯМР-спекгроскопии. Но в отличие от ЯМР-спектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц.

4.28

гамма-резонансная спектроскопия; мёссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэнергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником.

[ИСО 921:1997, статья 764]

Mossbauer

spectroscopy

4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП: Метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации.

dual polarization

interferometry;

DPI

Примечания


1    Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.

2    ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов

5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы

5.1.1 метод пьезоэлектрического микровзвешивания; МПМ: Метод изме- quartz crystal рения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на за- microbalance; висимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) QCM от количества вещества, нанесенного на его поверхность.

Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газовой или жидкой средах.


Введение

Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.

Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов, а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.

В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:

-    раздел 2 «Основные термины и определения»;

-    раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам

их определения»;

-    раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;

-    раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».

Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов, и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.

Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения нанообъектов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.

Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов, в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов, и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов, чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.

Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъекгов

Характеристика

Методы

Размер

Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ), система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС), растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Форма

Атомно-силовая микроскопия (ACM), растровая электронная микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Площадь поверхности

Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (метод БЭТ)

Химические характеристики поверхности объекта

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)

Химический состав объекта

Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС), спектроскопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия)

Элекгрокинетический потенциал частиц в суспензии

Определение дзета-потенциала

ГОСТ Р 56647-2015

Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.

Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящуюся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.

Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».

Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.

Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.

В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.

В стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.

V

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
НАНОТЕХНОЛОГИИ Часть 6
Характеристики нанообъектов и методы их определения.

Термины и определения

Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions

Дата введения — 2016—04—01

1    Область применения

Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

2    Основные термины и определения

2.1

нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale

Примечания

1    Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как, в основном, уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются.

2    Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы

атомов.

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 2.1]

2.2

нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному, nano-object двум или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне.

[ИСО/ТС 80004-1:2010, статья 2.5]

2.3

наночастица: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по всем трем nanoparticle измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекга значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица» можно использовать термины «нановолокно» (2.6) или «нанопластина» (2.4).

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.1]

Издание официальное

нанопластина: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапазоне (2.1), а размеры по двум другим измерениям значительно больше.

Примечания

nanoplate


1    Наименьший линейный размер — толщина нанопластины.

2    Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем в три раза.

3    Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона.

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.2]


2.5

наностержень: Твердое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.5]

2.6

nanorod

нановолокно: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по двум измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше.

Примечания

nanofibre


1    Нановолокно может быть гибким или жестким.

2    Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.

3    Наибольший линейный размер может находиться вне нанодиапазона.

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.3]


2.7

нанотрубка: Полое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.4]

2.8

nanotube

квантовая точка: Нанообъект, линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами, при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях. [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.7]

2.9

quantum dot

частица: Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами.

particle


Примечания

1    Физическая граница также может быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).

2    Частица может перемещаться как единое целое.

3    Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).

[ИСО 14644-6:2007, статья 2.102; ИСОЯС 27687:2008, статья 3.1]


2.10

агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9), или их агрегатов (2.11), или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов.

agglomerate


Примечания

1    Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабыми и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса или простым физическим переплетением частиц друг с другом.

2    Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют «первичные частицы».

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.2]

2.11

агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных ча- aggregate стиц (2.9), общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.

Примечания

1    Силы, удерживающие частицы в составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом.

2    Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы». [ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.3]

2.12

аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц aerosol (2.9), взвешенных в газе.

[ИСО 15900:2009, статья 2.1]

2.13

суспензия: Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой яв- suspension ляются мелкие частицы твердого вещества.

[ИСО 4618:2006, статья 2.243]

3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

3.1.1

размер частицы: Линейный размер частицы (2.9), определенный соответ- particle size ствующими методом и средствами измерений в заданных условиях.

Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например эквивалентный диаметр сферической частицы.

[ИСО 26824:2013, статья 1.5]

распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависи- particle size мости от их размеров (3.1.1).    distribution

Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).

[ИСО 14644-1:1999, статья 2.2.4, определение термина изменено]


3.1.2 1

форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9). [ИСО 3252:1999, статья 1401]

particle shape

3.1.4

аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине. [ИСО 14966:2002, статья 2.8]

aspect ratio

3.1.5

эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий equivalent такое же воздействие на средство измерения для определения распределе- diameter ния частиц по размерам, что и измеряемая частица (2.9).

3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

Примечания

1    Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ИСО 9276-1:1998 [2]).

2    Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, используют эквивалентный оптический диаметр.

3    Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее осаждения в жидкости. Значения характеристик материала, используемых для расчета, должны быть представлены дополнительно.

4    С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м1, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью.

[ИСО/ТС 27687:2008, статья А.3.3, определение термина изменено]


3.2.1

радиус инерции: Мера распределения массы объекта вокруг оси, проходя- radius of щей через его центр, выраженная отношением квадратного корня из момен- gyration та инерции относительно данной оси к массе объекта.

Примечание — Для определения характеристик нанообъектов (2.2), например размеров частиц (3.1.1), необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например малоуглового нейтронного рассеяния (3.2.2) или малоуглового рентгеновского рассеяния (3.2.4).

[ИСО 14695:2003, статья 3.4]

3.2.2    малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объ- small angle neutron екта, основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов scattering;

на объекте при малых значениях углов рассеяния.    SANS

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,5° до 10° и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.

3.2.3    дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, при- neutron

меняемое для исследования атомной или магнитной структуры вещества.    diffraction

Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией, примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества.

4


малоугловое рентгеновское рассеяние; МРР: Метод исследования объек- small angle X-ray та, основанный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского из- scattering; SAXS лучения, проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,1° до 10° и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.


[ИСО 18115-1, статья 3.18]

3.2.5

рассеяние света: Преобразование распределения светового потока на границе раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства.

[ИСО 13320:2009, статья 3.1.17]

light scattering

3.2.6 гидродинамический диаметр: Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы (2.9), имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и реальная частица в этой среде.

hydrodynamic

diameter

3.2.7 динамическое рассеяние света; ДРС; фотонная корреляционная спектроскопия; ФКС; квазиупругое рассеяние света; КРС: Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13), основанный на анализе изменения интенсивности рассеянного света частицами (2.9), находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемого объекта лазерным лучом.

dynamic light scattering; DLS; photon correlation spectroscopy; PCS;

quasi-elastic light scattering; QELS

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6), по формуле Стокса—Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм. Верхний предел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц.

3.2.8 анализ траекторий движения наночастиц; АТДН; анализ траекторий движения частиц; АТДЧ: Метод определения размеров частиц (3.1.1), основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным пучком лазера частиц (2.9), находящихся в броуновском движении в суспензии (2.13).

nanoparticle tracking analysis;

NTA;

particle tracking analysis; PTA

Примечания


1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6), по формуле Стокса—Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц.

3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъекгов

3.3.1


счетчик конденсированных частиц; СКЧ: Устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).


condensation particle counter; CPC


1