Купить ГОСТ Р 56647-2015 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее
Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"
Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.
Является частью серии стандартов ИСО/TС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
Идентичен 80004-6:2013
1 Область применения
2 Основные термины и определения
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения
3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов
3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов
3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ
3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения
4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов
5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях
Алфавитный указатель терминов на русском языке
Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке
Библиография
Дата введения | 01.04.2016 |
---|---|
Добавлен в базу | 01.02.2017 |
Завершение срока действия | 01.07.2017 |
Актуализация | 01.01.2021 |
20.10.2015 | Утвержден | Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии | 1586-ст |
---|---|---|---|
Разработан | ФГУП ВНИИНМАШ | ||
Издан | Стандартинформ | 2016 г. |
Чтобы бесплатно скачать этот документ в формате PDF, поддержите наш сайт и нажмите кнопку:
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИ ЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ |
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
(ISO/TS 80004-6:2013, ЮТ)
Издание официальное
Москва
2016
Стандартинформ
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 «Нанотехнологии»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. № 1586-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТС 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» (ISO/TS 80004-6:2013 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization», IDT).
Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного документа для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2012 (пункт 3.5)
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
© Стандартинформ, 2016
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
Примечания
1 Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ, — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.
2 СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).
3 В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).
3.3.2 | ||||||||||
| ||||||||||
3.3.4 |
электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ: Устройство для измерения Faraday-cup электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9). aerosol
electrometer;
FCAE
Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.
[ИСО 15900:2009, статья 2.12, определение термина изменено]
[ИСО 15900:2009, статья 2.5]
3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле; ПФП: Метод разде- field flow ления и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц fractionation; FFF суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.
Примечания
1 Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.
centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS
2 В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нанообъектов (2.2) и их распределение по размерам.
3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости; ЦОЖ; дифференциальное центрифугирование; ДЦ\ Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.
6
Примечание — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.
гель-проникающая хроматография; ГПХ: Вид жидкостной хроматографии, size-exclusion в котором разделение веществ основано на элюировании молекул опреде- chromatography; ленного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной SEC пористым неадсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.
[ИСО 16014-1:2012, статья 3.1]
Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).
3.4.3
3.4.4 метод электрочувствительной зоны; метод Коултера: Метод опре- electrical zone деления распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), на- sensing; ходящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса Coulter counter электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).
Примечания
1 Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.
2 Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.
3 Для определения размеров нанообъектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.
3.5.1
сканирующая зондовая микроскопия; СЗМ: Метод исследования объекта scanning probe с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем меха- microscopy; нического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом SPM и поверхностью объекта.
[ИСО 18115-2, статья 3.30]
Примечания
1 Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомносиловая микроскопия» (ACM) (3.5.2), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).
2 С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ, можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ, до 1 мкм, например в сканирующей термо-микроскопии.
atomic force microscopy; AFM;
scanning force microscopy (deprecated); SFM
(deprecated)
3.5.2
атомно-силовая микроскопия; ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия; ССМ): Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.
[ИСО 18115-2, статья 3.2]
7
Примечания
1 С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.
2 В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х, у, z, а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.
3 С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.
4 С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии.
5 ACM регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.
6 Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0,1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.
3.5.3
сканирующая туннельная микроскопия; СТМ: СЗМ (3.5.1), применяемая для исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.
scanning
tunnelling
microscopy;
STM
Примечания
1 С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта.
2 Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.
3 С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости (туннельной плотности состояний) исследуемого объекта. Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.
[ИСО 18115-2, статья 3.34]
3.5.4
сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; ближнепольная сканирующая оптическая микроскопия; БСОМ\ Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.
near-field scanning optical microscopy; NSOM; scanning near-field optical microscopy; SNOM
Примечания
1 Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.
2 Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда. Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм, что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое слоем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.
8
3 С помощью СОМБП получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3.5.2) и других методов зондовой микроскопии.
low energy electron microscopy; LEEM
[ИСО 18115-2, статья 3.17]
3.5.5 | |
растровая электронная микроскопия; РЭМ (Нрк. сканирующая электронная микроскопия; СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение). [ИСО 17751, статья 4.10, определение термина изменено] |
scanning electron microscopy; SEM |
3.5.6 | |
просвечивающая электронная микроскопия; ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. [ИСО 29301:2010, статья 3.37, определение термина изменено] |
transmission electron microscopy; ТЕМ |
3.5.7 | |
просвечивающая растровая электронная микроскопия; ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. |
scanning transmission electron microscopy; STEM |
Примечания 1 Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм. 2 С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины. | |
[ИСО/ТС 10797, статья 3.10, определение термина изменено] |
3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий, генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта.
Примечания
1 ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.
2 В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.
3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помо- scanning ion щью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверх- microscopy ности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0,1 до 1 нм.
Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.
9
3.5.10 | ||||||||||||||||||||||
|
3.5.15 микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования super-resolution объекта с помощью микроскопа, формирующего его изображение с простран- microscopy ственным разрешением выше дифракционного предела.
Примечания
1 Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).
2 Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основаны на явлении флуоресценции (3.5.12).
3.5.16 микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид ми- localization кроскопии сверхвысокого разрешения (3.5.15), с помощью которой реконстру- microscopy ируют изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении в нем флуоресцентных молекул (флуорофоров).
Примечания
1 В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофоров, флуоресцирующих в зависимости от вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоактивации (МЛФ) (в качестве флуорофоров применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР), которые основаны на контролируемом «включении» и «выключении» флуорофоров и их последовательной регистрации.
2 Для получения картины распределения флуорофоров в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофоров. При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, а по очереди, и изображения флуорофоров в различных кадрах не были перекрыты.
3.6.1
удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе: Отношение об- mass specific щей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе. surface area
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе, — м2/кг.
[ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]
3.6.2
общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объ- surface area
ему.
Brunauer— Emmett—Teller Method;
BET method
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему, — м2/м3. [ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]
3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера; метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Брунауэром, П. Эмметом и Э. Теллером.
Примечания
1 Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра, П. Эммета и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, том 60, 1938, с. 309.
11
2 Метод БЭТ применяют для анализа веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на непористых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на мезопористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). Закрытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ, используемый при измерениях.
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия» или «спектрометр» в зависимости от контекста.
4.1 оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный optical на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиоле- spectroscopy товом или инфракрасном диапазонах длин волн.
4.2 | ||||||||||||||||||
|
4.9 | |
комбинационное рассеяние света: Явление неупругого рассеяния оптического излучения на молекулах вещества, облученного моноэнергетическим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии. [ИСО 18115-2, статья 5.128] 4.10 |
Raman effect |
спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9). [ИСО 18115-2, статья 5.129] |
Raman spectroscopy |
4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света; СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9), проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2), адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером в нанодиапазоне (2.1), и облученным соответствующим светом. |
surface enhanced Raman spectroscopy; SERS |
Примечания
1 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообъекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия.
Примечание — Термин «электронный спектрометр» может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронно-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измерительную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные электронно-оптические части, источник возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос, персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и выдачу результатов измерений.
[ИСО 18115-1, статьи 4.187, 4.190, определение термина изменено]
2 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.
4.12 | |
спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света; СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного в непосредственной близости от поверхности исследуемого объекта. [ИСО 18115-2, статья 3.42] 4.13 |
tip enhanced Raman spectroscopy; TERS |
электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определения числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости интенсивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов. |
electron spectrometer |
4.14 | |
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с объектом. |
electron energy loss spectroscopy; EELS |
Примечания
1 Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ, будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) (4.18), а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упруго отраженных электронов.
2 Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.
[ИСО 18115-1, статья 4.197, наименование и определение термина изменены]
4.15
Оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего Auger electron
излучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних
оболочек.
Примечание — Энергия Оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии Оже-элек-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.
[ИСО 18115-1, статья 4.37, определение термина изменено]
4.16
электронная Оже-спектроскопия; ЭОС: Метод исследования объекта с Auger electron помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации spectroscopy; энергетических спектров Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности AES объекта.
Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию Оже-электронов отсчитывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры Оже-электронов и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.
[ИСО 18115-1, статья 3.1]
4.17
ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия; УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.
ultraviolet
photoelectron
spectroscopy;
UPS
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не I) и 40,8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.
[ИСО 18115-1, статья 3.22]
4.18
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.
Х-гау
photoelectron
spectroscopy;
XPS
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд) и алюминий (AI), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253,6 и 1486,6 эВ соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, в которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.
[ИСО 18115-1, статья 3.23]
4.19 рентгеновская спектроскопия поглощения; РСП: Метод исследования X-ray absorption объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения spectroscopy; объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения. XAS
Примечания
1 РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого объекта.
2 РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП), спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).
4.20
| ||||||||||||||||||||||||
дуемого объекта). |
ГОСТ P 56647—2015
1 Область применения..................................................................1
2 Основные термины и определения......................................................1
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам
их определения......................................................................3
3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов..........3
3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света.................4
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым
для определения характеристик аэрозольных нанообъектов.............................5
3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ.............6
3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии....................7
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов
и методам ее определения........................................................11
4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа................12
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов.......................................................................16
5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы...............16
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
кристаллических нанообъектов.....................................................17
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
нанообъектов в суспензиях........................................................17
Алфавитный указатель терминов на русском языке.........................................19
Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке...........................23
Библиография........................................................................27
Примечание — При исследовании объекта методом атомно-зондовой томографии применяют позиционночувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности нановолокна.
анализ выделяемых веществом газов; АВВГ: Метод исследования объекта, основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры. [ИСО 472:2013, статья 2.345, определение термина изменено] |
evolved-gas analysis; EGA |
4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса; ЯМР-спектроскопия\ Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта, основанный на явлении ядерного магнитного резонанса. |
nuclear magnetic resonance spectroscopy; NMR spectroscopy |
4.27 электронный парамагнитный резонанс; ЭПР: Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами, помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее в основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов). |
electron paramagnetic resonance; EPR |
Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР, аналогичен методу ЯМР-спекгроскопии. Но в отличие от ЯМР-спектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц. | |
4.28 | |
гамма-резонансная спектроскопия; мёссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэнергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником. [ИСО 921:1997, статья 764] |
Mossbauer spectroscopy |
4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП: Метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации. |
dual polarization interferometry; DPI |
Примечания |
1 Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.
2 ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.
5.1.1 метод пьезоэлектрического микровзвешивания; МПМ: Метод изме- quartz crystal рения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на за- microbalance; висимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) QCM от количества вещества, нанесенного на его поверхность.
Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газовой или жидкой средах.
Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.
Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов, а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.
В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:
- раздел 2 «Основные термины и определения»;
- раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам
их определения»;
- раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;
- раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».
Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов, и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.
Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения нанообъектов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.
Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов, в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов, и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов, чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.
Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъекгов | ||||||||||||||
|
Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.
Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящуюся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».
Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.
Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.
В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.
В стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.
V
Термины и определения
Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions
Дата введения — 2016—04—01
Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale
Примечания
1 Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как, в основном, уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются.
2 Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы
атомов.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 2.1]
нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному, nano-object двум или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).
Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне.
[ИСО/ТС 80004-1:2010, статья 2.5]
2.3
наночастица: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по всем трем nanoparticle измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).
Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекга значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица» можно использовать термины «нановолокно» (2.6) или «нанопластина» (2.4).
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.1]
Издание официальное
нанопластина: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапазоне (2.1), а размеры по двум другим измерениям значительно больше. Примечания |
nanoplate |
1 Наименьший линейный размер — толщина нанопластины.
2 Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем в три раза.
3 Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.2]
2.5 | |
наностержень: Твердое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.5] 2.6 |
nanorod |
нановолокно: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по двум измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше. Примечания |
nanofibre |
1 Нановолокно может быть гибким или жестким.
2 Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.
3 Наибольший линейный размер может находиться вне нанодиапазона.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.3]
2.7 | |
нанотрубка: Полое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.4] 2.8 |
nanotube |
квантовая точка: Нанообъект, линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами, при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях. [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.7] 2.9 |
quantum dot |
частица: Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами. |
particle |
Примечания
1 Физическая граница также может быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).
2 Частица может перемещаться как единое целое.
3 Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).
[ИСО 14644-6:2007, статья 2.102; ИСОЯС 27687:2008, статья 3.1]
2.10 | |
агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9), или их агрегатов (2.11), или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов. |
agglomerate |
Примечания
1 Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабыми и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса или простым физическим переплетением частиц друг с другом.
2 Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют «первичные частицы».
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.2]
2.11
агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных ча- aggregate стиц (2.9), общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.
Примечания
1 Силы, удерживающие частицы в составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом.
2 Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы». [ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.3]
2.12
аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц aerosol (2.9), взвешенных в газе.
[ИСО 15900:2009, статья 2.1]
2.13
суспензия: Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой яв- suspension ляются мелкие частицы твердого вещества.
[ИСО 4618:2006, статья 2.243]
3.1.1
размер частицы: Линейный размер частицы (2.9), определенный соответ- particle size ствующими методом и средствами измерений в заданных условиях.
Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например эквивалентный диаметр сферической частицы.
[ИСО 26824:2013, статья 1.5]
распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависи- particle size мости от их размеров (3.1.1). distribution
Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).
[ИСО 14644-1:1999, статья 2.2.4, определение термина изменено]
3.1.2 1
| ||||||||
эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий equivalent такое же воздействие на средство измерения для определения распределе- diameter ния частиц по размерам, что и измеряемая частица (2.9). |
Примечания
1 Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ИСО 9276-1:1998 [2]).
2 Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, используют эквивалентный оптический диаметр.
3 Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее осаждения в жидкости. Значения характеристик материала, используемых для расчета, должны быть представлены дополнительно.
4 С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м1, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья А.3.3, определение термина изменено]
3.2.1
радиус инерции: Мера распределения массы объекта вокруг оси, проходя- radius of щей через его центр, выраженная отношением квадратного корня из момен- gyration та инерции относительно данной оси к массе объекта.
Примечание — Для определения характеристик нанообъектов (2.2), например размеров частиц (3.1.1), необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например малоуглового нейтронного рассеяния (3.2.2) или малоуглового рентгеновского рассеяния (3.2.4).
[ИСО 14695:2003, статья 3.4]
3.2.2 малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объ- small angle neutron екта, основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов scattering;
на объекте при малых значениях углов рассеяния. SANS
Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,5° до 10° и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.
3.2.3 дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, при- neutron
меняемое для исследования атомной или магнитной структуры вещества. diffraction
Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией, примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества.
4
малоугловое рентгеновское рассеяние; МРР: Метод исследования объек- small angle X-ray та, основанный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского из- scattering; SAXS лучения, проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.
Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,1° до 10° и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.
[ИСО 18115-1, статья 3.18] | ||||||||||||||
|
1 Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6), по формуле Стокса—Эйнштейна.
2 Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц.
3.3.1
счетчик конденсированных частиц; СКЧ: Устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).
condensation particle counter; CPC
1