Товары в корзине: 0 шт Оформить заказ
Стр. 1
 

45 страниц

Устанавливает методы испытаний для определения характеристик карт на интегральных схемах с контактами и связанных с ними устройств сопряжения в соответствии с определением, приведенном в ИСО/МЭК 7816. На каждый метод испытания имеется указание в одном или нескольких основных стандартах, например в ИСО/МЭК 7816, либо в одном или нескольких дополнительных стандартах, устанавливающих требования к различным технологиям хранения информации, применяемым в карте

 Скачать PDF

Оглавление

1 Область применения

2 Нормативные ссылки

3 Термины и определения

4 Общие понятия, относящиеся к методам испытаний

     4.1 Внешние условия при испытаниях

     4.2 Предварительное кондиционирование

     4.3 Выбор метода испытаний

     4.4 Допускаемые отклонения

     4.5 Суммарная погрешность измерения

     4.6 Соглашения по электрическим измерениям

     4.7 Оборудование

     4.7.1 Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами (испытательное оборудование)

     4.7.2 Оборудование для испытаний устройства сопряжения (испытательное оборудование для IFD)

     4.7.3 Сценарий испытаний

     4.8 Взаимосвязь методов испытаний с требованиями базовых стандартов

5 Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами

     5.1 Контакт VCC

     5.1.1 Оборудование

     5.1.2 Методика

     5.1.3 Отчет об испытаниях

     5.2 Контакт I/O

     5.2.1 Оборудование

     5.2.2 Методика

     5.2.3 Отчет об испытаниях

     5.3 Контакт CLK

     5.3.1 Оборудование

     5.3.2 Методика

     5.3.3 Отчет об испытаниях

     5.4 Контакт RST

     5.4.1 Оборудование

     5.4.2 Методика

     5.4.3 Отчет об испытаниях

     5.5 Контакт SPU (С6)

6 Методы испытаний логических операций карт с контактами

     6.1 Ответ-на-Восстановление

     6.1.1 «Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (ATR)

     6.1.2 «Теплое» восстановление

     6.2 Протокол Т = 0

     6.2.1 Синхронизация передачи I/О для протокола Т = 0

     6.2.2 Повторение знака I/О для протокола Т = 0

     6.2.3 Синхронизация приема I/О и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0

     6.3 Протокол Т = 1

     6.3.1 Синхронизация передачи I/О для протокола Т = 1

     6.3.2 Синхронизация приема I/О для протокола Т = 1

     6.3.3 Характер изменения времени ожидания знака (CWT) карты

     6.3.4 Реакция карты на превышение IЯЗ времени ожидания знака (CWT)

     6.3.5 Разграничительный интервал блока (BGT)

     6.3.6 Упорядочение блоков в карте

     6.3.7 Реакция карты на ошибки протокола

     6.3.8 Устранение ошибок передачи в карте

     6.3.9 Ресинхронизация

     6.3.10 Согласование IFSD

     6.3.11 Прерывание IFD

7 Методы испытаний физических и электрических характеристик IFD

     7.1 Активация контактов

     7.1.1 Оборудование

     7.1.2 Методика

     7.1.3 Отчет об испытаниях

     7.2 Контакт VCC

     7.2.1 Оборудование

     7.2.2 Методика

     7.2.3 Отчет об испытаниях

     7.3 Контакт I/О

     7.3.1 Оборудование

     7.3.2 Методика

     7.3.3 Отчет об испытаниях

     7.4 Контакт CLK

     7.4.1 Оборудование

     7.4.2 Методика

     7.4.3 Отчет об испытаниях

     7.5 Контакт RST

     7.5.1 Оборудование

     7.5.2 Методика

     7.5.3 Отчет об испытаниях

     7.6 Контакт SPU (С6)

     7.7 Деактивация контактов

     7.7.1 Оборудование

     7.7.2 Методика

     7.7.3 Отчет об испытаниях

8 Методы испытаний логических операций IFD

     8.1 Ответ-на-Восстановление

     8.1.1 Восстановление карты («холодное» восстановление)

     8.1.2 Восстановление карты («теплое» восстановление)

     8.2 Протокол Т = 0

     8.2.1 Синхронизация передачи I/О для протокола Т = 0

     8.2.2 Повторение знака I/О для протокола Т = 0

     8.2.3 Синхронизация приема I/О и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0

     8.3 Протокол Т = 1

     8.3.1 Синхронизация передачи I/О для протокола Т =1

     8.3.2 Синхронизация приема I/О для протокола Т = 1

     8.3.3 Характер изменения времени ожидания знака (CWT)

     8.3.4 Реакция IFD на превышение времени ожидания знака в карте

     8.3.5 Разграничительный интервал блока (BGT)

     8.3.6 Упорядочение блоков в IFD

     8.3.7 Устранение ошибок передачи в IFD

     8.3.8 Согласование IFSC

     8.3.9 Прерывание карты

     8.4 IFD - Реакция IFD на неправильные РСВ

     8.4.1 Оборудование

     8.4.2 Методика

     8.4.3 Отчет об испытаниях

Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов ссылочным национальным стандартам Российской Федерации

Стр. 1
стр. 1
Стр. 2
стр. 2
Стр. 3
стр. 3
Стр. 4
стр. 4
Стр. 5
стр. 5
Стр. 6
стр. 6
Стр. 7
стр. 7
Стр. 8
стр. 8
Стр. 9
стр. 9
Стр. 10
стр. 10
Стр. 11
стр. 11
Стр. 12
стр. 12
Стр. 13
стр. 13
Стр. 14
стр. 14
Стр. 15
стр. 15
Стр. 16
стр. 16
Стр. 17
стр. 17
Стр. 18
стр. 18
Стр. 19
стр. 19
Стр. 20
стр. 20
Стр. 21
стр. 21
Стр. 22
стр. 22
Стр. 23
стр. 23
Стр. 24
стр. 24
Стр. 25
стр. 25
Стр. 26
стр. 26
Стр. 27
стр. 27
Стр. 28
стр. 28
Стр. 29
стр. 29
Стр. 30
стр. 30

НАЦИОНАЛЬНЫЙ

СТАНДАРТ

РОССИЙСКОЙ

ФЕДЕРАЦИИ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

ГОСТ Р исо/мэк 10373-3-2011

КАРТЫ ИДЕНТИФИКАЦИОННЫЕ Методы испытаний

Часть 3

Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения

ISO/IEC 10373-3:2010 Identification cards — Test methods —

Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices

(IDT)

Издание официальное

Москва

Стандартинформ

2013

Предисловие

Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных стандартов Российской Федерации — ГОСТ Р 1.0-2004 «Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения»

Сведения о стандарте

1    ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 «Информационные технологии» на основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4

2    ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 «Информационные технологии»

3    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 13 декабря 2011 г. № 1007-ст

4    Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-3:2010 «Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3: Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения» (ISO/IEC 10373-3:2010 «Identification cards — Test methods — Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices»).

При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА

5    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

6    Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объектами патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных прав

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты», а текст изменений и поправок — в ежемесячно издаваемых информационных указателях «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет

© Стандартинформ, 2013

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

Таблица 17 — Напряжение VCC и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

^СС

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

± 20 мВ

10 нс

4.7.2.3 Измерение напряжения SPU (С6) (Ucc) и синхронизация

Таблица 18 — Напряжение SPU и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

^СС

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

± 20 мВ

10 нс

4.7.2.4 Генерирование тока RST

Таблица 19 — Ток RST

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Время стабилизации после достижения уровня

4

Активный

От -30 до 200 мкА

±10 мкА

< 100 нс

4

Активный

От -250 до 30 мкА

±10 мкА

< 100 нс

ia

Неактивный

От -1,2 до 0 мА

±10 мкА

< 100 нс

а Выходное напряжение должно быть ограничено от -0,5 до 5,5 В.

4.7.2.5 Измерение напряжения RST и синхронизация

Таблица 20 — Напряжение RST и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

<4. <4

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

20 нс

4

От 0 до 2 мкс

± 20 нс

Примечание — fR и fF измеряются от 10 % до 90 % от значений UH min и UL max.

4.7.2.6 Генерирование токов I/O

Таблица 21 — Токи I/O

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Время стабилизации после достижения уровня

4> 4н

Оборудование: Прием и передача, IFD: Передача и прием

От —400 до 50 мкА

± 5 мкА

< 100 нс

4

Оборудование: Прием, IFD: Передача и прием

От 0 до 1,5 мА

± 10 мкА

< 100 нс

4>l

IFD: Прием

От 0 до 1200 мкА

± 10 мкА

< 100 нс

ia

Неактивный

От -1,2 до 0 мА

± 10 мкА

< 100 нс

а Выходное напряжение должно быть ограничено от -0,5 до 5,5 В.

Таблица 22 — Напряжение I/O и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

Чн- 4L

Класс А, В,С

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

20 нс

4

От 0 до 2 мкс

± 20 нс

Примечание — fR и fF измеряются от 10 % до 90 % от значений VH min и VL max.

4.7.2.8 Генерирование напряжения I/O и синхронизация в режиме передачи

Таблица 23 — Напряжение I/O и синхронизация (режим передачи)

Параметр

Режим

Режим работы

Диапазон

Точность

Чн- 4l

IFD: Прием, Оборудование: Передача

Класс А, В

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

Чн

IFD: Прием, Оборудование: Передача

Класс С

От -1 до 2 В

+ 20 мВ

4l

IFD: Прием, Оборудование: Передача

Класс С

От -1 до 2 В

+ 20 мВ

4

IFD: Прием, Оборудование: Передача

От 0 до 2 мкс

± 100 нс

Примечание — fR и fF генерируются от 10 % до 90 % от значений UH min и UL max.

4.7.2.9 Измерение тока I/O в режиме передачи

Таблица 24 — Ток I/O (режим передачи)

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Разрешение

4|_

Передача

От 0 до 1200 мкА

±10 мкА

20 нс

/а

Неактивный

От 0 до 1,2 мА

±10 мкА

20 нс

а Выходное напряжение должно быть ограничено от -0,5 до 5,5 В.

4.7.2.10 Генерирование тока CLK

Таблица 25 — TokCLK

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Время стабилизации после достижения уровня

4

Активный

От -30 до 150 мкА

±10 мкА

< 20 нс

4

Активный

От -150 до 30 мкА

±10 мкА

< 20 нс

Is

Неактивный

От -1,2 до 0 мА

±10 мкА

< 100 нс

а Выходное напряжение должно быть ограничено от -0,5 до 5,5 В.

4.7.2.11 Измерение напряжения CLK и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

ЦН. UIL

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

± 20 мВ

20 нс

4.7.2.12 Измерение формы волны CLK (измерение в одиночном цикле)

Таблица 27 — Формы волны CLK

Характеристика

Диапазон

Точность

Рабочий цикл3

От 35 % до 65 % периода

± 2,5 % периода

Частота13

От 0,5 до 20,5 МГц

± 2,5 % периода

t t С lR’ lF

От 1 % до 10 % периода

± 2,5 % периода

Примечание — Испытательное оборудование IFD должно быть способно проверять каждый цикл в течение измерений.

3 Рабочий цикл следует измерять от 50 % до 50 % UH min (100%) и L/Lmax(0%)no нарастающему фронту. ь Частоту следует измерять от 50 % до 50 % ведущих фронтов двух прилегающих синхронизирующих импульсов от UH min (100 %) и UL max (0 %) по нарастающему фронту.

с tR и tF следует измерять от 10 % до 90 % от значений UH min (100 %) и UL max (0 %).

4.7.2.13 Измерение емкости контактов между GND и I/O

Таблица 28 — Емкость контактов

Характеристика

Диапазон

Точность

С

От 0 до 50 пФ

± 5 пФ

4.7.2.14    Эмуляция протокола I/O

Испытательное оборудование для IFD должно иметь возможность эмулировать протокол Т = 0 и Т = 1, а также приложения карты, требующиеся для выполнения сценария испытания.

Примечание — Если специфичные функции не реализованы в карте, то требование о наличии соответствующей системы контроля в испытательном оборудовании для карт не является обязательным (например, протокол Т = 1 не реализован в карте).

4.7.2.15    Генерирование синхронизации знака I/O в режиме передачи

Испытательное оборудование для IFD должно иметь возможность генерировать поток битов I/O в соответствии со стандартом ИСО/МЭК 7816-3 применительно к частоте CLK.

Все параметры синхронизации, например стартовая длина в битах, разграничительный временной интервал и сообщения об ошибках, должны быть настраиваемыми.

Таблица 29 — Параметры синхронизации

Символ

Параметр

Точность

£f

Все параметры синхронизации

± 4 цикла CLK

4.7.2.16 Измерение и мониторинг протокола I/O

Испытательное оборудование для IFD должно иметь возможность выполнять измерения и мониторинг синхронизации логических низких и высоких состояний линии I/O относительно частоты CLK.

Характеристика

Точность

Все параметры синхронизации

± 2 цикла CLK

4.7.2.17 Анализ протокола

Испытательное оборудование IFD должно иметь возможность анализировать битовый поток I/O в соответствии с протоколами Т = 0 и Т = 1 согласно стандарту ИСО/МЭК 7816-3 и экстрагировать поток логических данных для дальнейшей проверки протокола и приложений.

Примечание — Если специфичные функции не реализованы в карте, то требование о наличии соответствующей системы контроля в испытательном оборудовании IFD не является обязательным (например, протокол Т = 1 не реализован в карте).

4.7.2.18 Полный импеданс (источники тока и напряжения неактивны)

Таблица 31 — Импеданс

Контакт

Сопротивление

Точность

Емкость

Точность

VCC

10 кОм

± 1 кОм

30 пФ

± 6 пФ

I/O

50 кОм

± 5 кОм

30 пФ

± 6 пФ

RST

50 кОм

± 5 кОм

30 пФ

± 6 пФ

CLK

50 кОм

± 5 кОм

30 пФ

± 6 пФ

4.7.3 Сценарий испытаний

Испытания DUT, определенные в разделах 6, 7, 8 и 9, требуют выполнения сценария испытаний. Он представляет собой типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения, зависящие от специальных функциональных характеристик протокола и приложения, предусматриваемых при нормальном применении и реализованных в DUT.

Сценарий испытаний должен быть определен организацией, проводящей эти испытания, и документально оформлен совместно с результатами испытаний. Он должен включать репрезентативное подмножество или, если это целесообразно, полные функциональные возможности DUT, которые согласно ожиданиям будут использоваться при нормальном применении. Сценарий испытаний должен иметь продолжительность не менее 1 с.

Примечание — Испытательная организация может потребовать информацию о выполняемых протоколах и функциональных характеристиках, а также о предусматриваемом применении DUT, которая позволит ей определить сценарий испытаний.

4.8 Взаимосвязь методов испытаний с требованиями базовых стандартов

Относительные значения напряжения (например, 0,7UCC, 0,151/сс или Ucc + 0,3 В) должны быть определены относительно GND и проверены на соответствие с одновременно измеренным значением исс-

Таблица 32 — Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Подраздел

Наименование

Базовый стандарт

Пункт

5.1

Контакт VCC

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.1

5.2

Контакт I/O

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.5

5.3

Контакт CLK

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.3

5.4

Контакт RST

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.2

5.5

Контакт SPU (С6)

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.4

Таблица 33 — Методы испытаний логических операций карт с контактами — Ответ-на-Восстановление

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел/пункт

6.1.1

«Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (ATR)

ИСО/МЭК 7816-3

6.2.1,6.2.2, 7, 8

6.1.2

«Теплое» восстановление

ИСО/МЭК 7816-3

6.2.3

Таблица 34 — Методы испытаний логических операций карт с контактами — Протокол Т = 0

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел

6.2.1

Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 10.2

6.2.2

Повторение знака I/O для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.3, 8.2

6.2.3

Синхронизация приема I/O и сообщение об ошибках для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 7.3, 10.2

Таблица 35 — Методы испытаний логических операций карт с контактами — Протокол Т = 1

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел/пункт

6.3.1

Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 1

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 8.3,11.2, 11.3, 11.4.2, 11.4.3

6.3.2

Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 8.3,11.2, 11.3, 11.4.2, 11.4.3

6.3.3

Характер изменения времени ожидания знака (CWT)

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

6.3.4

Реакция карты на превышение IFD времени ожидания знака

(CWT)

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

6.3.5

Разграничительный интервал блока (BGT)

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

6.3.6

Очередность блоков в карте

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

6.3.7

Реакция карты на ошибки протокола

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

6.3.8

Исправление ошибок передачи в карте

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

6.3.9

Повторная синхронизация

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

6.3.10

Согласование IFSD

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.2

6.3.11

Прерывание

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

Таблица 36 — Методы испытаний физических и электрических характеристик IFD

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Подраздел

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел/пункт

7.1

Активация контактов

ИСО/МЭК 7816-3

6.1, 6.2.1,6.2.2

7.2

Контакт VCC

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.1

7.3

Контакт I/O

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.5

7.4

Контакт CLK

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.3

7.5

Контакт RST

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.2

7.6

Контакт SPU (С6)

ИСО/МЭК 7816-3

5.2.4

7.7

Деактивация контактов

ИСО/МЭК 7816-3

6.4

Таблица 37 — Методы испытаний логических операций IFD — Ответ-на-Восстановление

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Пункт

8.1.1

Восстановление карты («холодное» восстановление)

ИСО/МЭК 7816-3

6.2.2

8.1.2

Восстановление карты («теплое» восстановление)

ИСО/МЭК 7816-3

6.2.3

Таблица 38 — Методы испытаний логических операций IFD — Протокол Т = 0

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел

8.2.1

Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.1,7.2,10.2

8.2.2

Повторение знака I/O для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.3,10.2

8.2.3

Синхронизация приема I/O и сообщение об ошибках для протокола Т = 0

ИСО/МЭК 7816-3

7.1,7.2,7.3, 10.2

Таблица 39 — Методы испытаний логических операций IFD — Протокол Т = 1

Метод испытаний по ИСО/МЭК 10373-3

Соответствующие требования

Пункт

Наименование

Базовый стандарт

Подраздел/пункт

8.3.1

Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 1

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 8.3, 11.2, 11.3, 11.4.2, 11.4.3

8.3.2

Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1

ИСО/МЭК 7816-3

7.1, 7.2, 8.3, 11.2, 11.3, 11.4.2, 11.4.3

8.3.3

Характер изменения времени ожидания знака IFD (CWT)

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

8.3.4

Реакция IFD на превышение CWT в карте

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

8.3.5

Разграничительный интервал блока (BGT)

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.3

8.3.6

Очередность блоков IFD

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

8.3.7

Исправление ошибок передачиIFD

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

8.3.8

Согласование IFSC

ИСО/МЭК 7816-3

11.4.2

8.3.9

Прерывание карты

ИСО/МЭК 7816-3

11.6.3

5 Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами

5.1    Контакт VCC

Цель данного испытания состоит в измерении тока, потребляемого картой на контакте VCC, и проверке работоспособности карты в установленном диапазоне Ucc (см. ИСО/МЭК 7816-3, 5.2.1).

5.1.1    Оборудование См. 4.7.1.

5.1.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

а) Устанавливают следующие параметры испытательного оборудования для карт (начинают с класса наиболее низкого напряжения, поддерживаемого картой):

Таблица 40 — Параметры испытательного оборудования для карт

Параметр

Установочные параметры

^сс

^СС min

fCLK

f а 'CLK max

а ^clk max в соответствии с ИСО/МЭК 7816-3, 8.3.

b)    Производят восстановление карты.

c)    Запускают сценарий испытаний. В процессе коммуникации следует непрерывно контролировать сигналы и определять величины, указанные в таблице 41.

Таблица 41 — Контролируемые характеристики

Характеристика

Величина

1сс

^CC max

d)    Выполняют останов синхронизации согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.3.2, если это поддерживается картой. Во время останова синхронизации следует непрерывно контролировать характеристики, указанные в таблице 41, и определять их величины.

e)    Заново запускают fCLK согласно ИСО/МЭК 7816-3, 5.3.4.

f)    Запускают сценарий испытаний. В процессе этой коммуникации следует непрерывно контролировать характеристики, указанные в таблице 41, и определять их величины.

д) Повторяют этапы Ь) — f) при Ucc = Ucc max.

h) Повторяют этапы а) — д) при всех классах напряжения, поддерживаемых картой.

5.1.3 Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают данные о величинах, определенных во время выполнения методики, и сведения о соответствии всех коммуникаций ИСО/МЭК 7816-3.

5.2 Контакт I/O

Цель настоящего испытания состоит в измерении емкости контактов I/O, выходных напряжений I/O (ЦэН. U0L) при нормальных рабочих условиях (/0L max/mjn и /он max/min)> и {F в течение режима передачи карты и входного тока I/O (/|L) в течение режима приема карты.

5.2.1    Оборудование

См. 4.7.1.

5.2.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

a)    Измеряют емкость Сю контакта I/O.

b)    Устанавливают следующие параметры испытательного оборудования для карт (начиная с наиболее низкого класса напряжения, поддерживаемого картой) (см. таблицу 42):

Таблица 42 — Параметры испытательного оборудования для карт

Параметр

Установочные параметры

исс

^CC max

Цн

Цн min

U.L

^IL min

^он

а

^Э1_

^OL max

fR

^R max

tF

^F max

а Вместо источника тока для /он следует использовать резистор 20 кОм для VCC или эквивалентную цепь в целях предотвращения повреждения карты перенапряжением.

c)    Производят восстановление карты.

d)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 43, и определяться их величины.

Таблица 43 — Величины, которые должны быть определены

Характеристика

Величина

4

4 max

4

4 max

Цэн

UOH min’ UOH max

Цэ1_

^OL min’ 4)l_ max

fR

max

tF

tp max

e)    Выключают питание карты.

f)    Устанавливают для испытательного оборудования для карт параметры, указанные в таблице 42.

д) Выполняют восстановление карты.

h)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 43, и определяться их величины.

i)    Выключают питание карты.

j)    Повторяют этапы Ь) и i) для всех поддерживаемых классов напряжения.

5.2.3    Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают данные о значении емкости контакта I/O, других величинах, определенных при выполнении методики, а также данные о соответствии коммуникаций ИСО/МЭК 7816-3.

5.3    Контакт CLK

Цель данного испытания заключается в измерении тока, потребляемого картой на контакте CLK, и проверке работы карты при установленных тактовых частотах и формах волны (см. ИСО/МЭК 7816-3, 5.2.4, 8.3).

5.3.1    Оборудование

См. 4.7.1.

5.3.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

a)    Измеряют емкость контакта CLK CCLK.

b)    Устанавливают следующие параметры испытательного оборудования для карт (начинают с класса наиболее низкого напряжения, поддерживаемого картой) (см. таблицу 44).

Таблица 44 — Параметры испытательного оборудования для карт

Параметр

Установочные параметры

ucc

^CC max

<4

^IH min

<4

Ц|_ min

^CLK

4_K min

Рабочий цикл

40%

c)    Выполняют восстановление карты.

d)    Устанавливают fCLK на fCLK max согласно ИСО/МЭК 7816-3, 5.2.3, 8.3.

e)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 45, и определяться их величины.

Таблица 45 — Величины, которые должны быть определены

Характеристика

Величина

4

4 max

4

4 max

f) Выключают питание карты.

д) Устанавливают параметры испытательного оборудования для карт по таблице 44.

h)    Производят восстановление карты.

i)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 45, и определяться их величины.

j)    Выключают питание карты.

k)    Повторяют этапы Ь) и j) для всех поддерживаемых классов напряжения.

5.3.3 Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают данные о значении емкости контакта CLK, других величинах, определенных при выполнении методики, а также данные о соответствии коммуникаций ИСО/МЭК 7816-3.

5.4 Контакт RST

Цель данного испытания заключается в измерении тока, потребляемого картой на контакте RST, и проверке работы карты при допустимых минимальных и максимальных значениях синхронизации и напряжения сигнала RST (см. ИСО/МЭК 7816-3, 5.2.2).

5.4.1    Оборудование

См. 4.7.1.

5.4.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

a)    Измеряют емкость контакта RST CRST.

b)    Устанавливают следующие параметры испытательного оборудования для карт (начинают с класса наиболее низкого напряжения, поддерживаемого картой) (см. таблицу 46).

Таблица 46 — Параметры испытательного оборудования для карт

Параметр

Установочные параметры

исс

^СС max

<4

Цн min

<4

Ц|_ min

4_К min

c)    Производят восстановление карты.

d)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 47, и определяться их величины.

Таблица 47 — Величины, которые должны быть определены

Характеристика

Величина

4

“4 max

4

4 max

e)    Выключают питание карты.

f)    Устанавливают параметры испытательного оборудования для карт по таблице 46. д) Производят восстановление карты.

h)    Запускают сценарий испытаний. Во время данной коммуникации должны непрерывно контролироваться характеристики, указанные в таблице 47, и определяться их величины.

i)    Выключают питание карты.

j)    Повторяют этапы Ь) — i) для всех поддерживаемых классов напряжения.

5.4.3 Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают данные о значении емкости контакта RST, других величинах, определенных при выполнении методики, а также данные о соответствии коммуникаций ИСО/МЭК 7816-3.

5.5 Контакт SPU (С6)

Не существует стандартного испытания, которое применяется для контакта SPU (С6). Если в частном случае используется данное поле контактов, то должно применяться испытание, специальное для данного случая.

6 Методы испытаний логических операций карт с контактами

6.1    Ответ-на-Восстановление

6.1.1    «Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (ATR)

Цель данного испытания заключается в определении поведения карты во время процедуры «холодного» восстановления согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.2.

6.1.1.1    Оборудование

См. 4.7.1.

6.1.1.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

Во время выполнения данной методики должны непрерывно контролироваться контакты VCC, RST, CLK и I/O, регистрироваться все передаваемые сигналы (уровень и синхронизация), а также логическое содержание коммуникаций.

a)    Активируют карту согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.1.

b)    После активации CLK устанавливают RST в состояние Н 400 циклов синхронизации.

c)    Если карта реагирует при посылке ATR, то сигнал об ошибке передачи соответствует ИСО/МЭК 7816-3, 7.3 по крайней мере для одного знака (случайно выбранного) ATR.

d)    Запускают сценарий испытаний на карте.

e)    Выключают питание карты.

6.1.1.3    Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают измеренные значения сигналов и ATR.

6.1.2 «Теплое» восстановление

Цель данного испытания заключается в определении поведения карты во время процедуры «теплого» восстановления согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.3.

6.1.2.1    Оборудование

См. 4.7.1.

6.1.2.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

Во время выполнения данной методики должны непрерывно контролироваться контакты VCC, RST, CLK и I/O, регистрироваться все передаваемые сигналы (уровень и синхронизация), а также логическое содержание коммуникаций.

Активируют и производят восстановление карты согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.1 и 6.2.2.

a)    Запускают сценарий испытаний на карте.

b)    Генерируют «теплое» восстановление продолжительностью 400 циклов синхронизации согласно ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.3.

c)    Если карта реагирует при посылке ATR, то сигнал об ошибке передачи соответствует ИСО/МЭК 7816-3, 7.3 по крайней мере для одного знака (случайно выбранного) ATR.

d)    Запускают сценарий испытаний на карте.

e)    Выключают питание карты.

6.1.2.3    Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают измеренные значения сигналов и ATR.

ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011

Содержание

1    Область применения............................................1

2    Нормативные ссылки............................................1

3    Термины и определения..........................................2

4    Общие понятия, относящиеся к методам испытаний..........................2

4.1    Внешние условия при испытаниях..................................2

4.2    Предварительное кондиционирование...............................2

4.3    Выбор метода испытаний.......................................2

4.4    Допускаемые отклонения.......................................2

4.5    Суммарная погрешность измерения.................................2

4.6    Соглашения по электрическим измерениям............................3

4.7    Оборудование.............................................3

4.7.1    Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами

(испытательное оборудование)...................................3

4.7.2    Оборудование для испытаний устройства сопряжения (испытательное оборудование

для IFD)................................................6

4.7.3    Сценарий испытаний.....................................10

4.8    Взаимосвязь методов испытаний с требованиями базовых стандартов............10

5    Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами.................12

5.1    Контакт VCC.............................................12

5.1.1    Оборудование.........................................12

5.1.2    Методика............................................12

5.1.3    Отчет об испытаниях.....................................13

5.2    Контакт I/O..............................................13

5.2.1    Оборудование.........................................13

5.2.2    Методика............................................13

5.2.3    Отчет об испытаниях.....................................14

5.3    Контакт CLK.............................................14

5.3.1    Оборудование.........................................14

5.3.2    Методика............................................14

5.3.3    Отчет об испытаниях.....................................15

5.4    Контакт RST.............................................15

5.4.1    Оборудование.........................................15

5.4.2    Методика............................................15

5.4.3    Отчет об испытаниях.....................................16

5.5    Контакт SPU (С6)...........................................16

6    Методы испытаний логических операций карт с контактами......................16

6.1    Ответ-на-Восстановление......................................16

6.1.1    «Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (ATR).............16

6.1.2    «Теплое» восстановление..................................16

6.2    Протокол Т = 0............................................17

6.2.1    Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0.....................17

6.2.2    Повторение знака I/O для протокола Т = 0.........................17

6.2.3    Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0.......17

6.3    Протокол Т=1............................................18

6.3.1    Синхронизация передачи I/O для протокола Т    = 1.....................18

6.3.2    Синхронизация приема I/O для протокола Т =1......................19

6.3.3    Характер изменения времени ожидания знака    (CWT) карты...............19

6.3.4    Реакция карты на превышение IFD времени ожидания знака (CWT)...........20

6.3.5    Разграничительный интервал блока (BGT).........................20

6.3.6    Упорядочение блоков в карте................................21

6.3.7    Реакция карты на ошибки протокола............................22

6.3.8    Устранение ошибок передачи в карте............................22

6.3.9    Ресинхронизация.......................................23

ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011

6.2 Протокол Т = 0

Данные испытания применяют, если карта поддерживает протокол Т = 0.

Примечание — sf определяют по таблице 14.

6.2.1    Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0

Цель данного испытания заключается в определении синхронизации данных, передаваемых картой (см. ИСО/МЭК 7816-3, 7.1, 7.2, 10.2).

6.2.1.1    Оборудование

См. 4.7.1.

6.2.1.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

Во время выполнения методики должны непрерывно контролироваться контакты VCC, RST, CLK и I/O, регистрироваться все передаваемые сигналы (уровень и синхронизация), а также логическое содержание коммуникаций.

a)    Запускают сценарий испытаний на карте с номинальными параметрами тактовой синхронизации (см. ИСО/МЭК 7816-3, 10.2).

b)    Повторяют этап а) со всеми предоставленными факторами-etu.

c)    Повторяют этапы а) и Ь) для всех предоставленных приложений.

6.2.1.3    Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают измеренные значения протокола.

6.2.2 Повторение знака I/O для протокола Т = 0

Целью данного испытания является определение назначения и синхронизации повторения знака в карте (см. ИСО/МЭК 7816-3, 7.3).

6.2.2.1    Оборудование

См. 4.7.1.

6.2.2.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

a)    Запускают сценарий испытаний на карте с номинальными параметрами тактовой синхронизации (см. ИСО/МЭК 7816-3, 10.2).

b)    При выполнении следующих этапов методики должны непрерывно контролироваться контакты VCC, RST, CLK и I/O, регистрироваться все передаваемые сигналы (уровень и синхронизация), а также логическое содержание коммуникаций.

c)    На каждый байт, посланный картой, генерируют пять последовательных состояний ошибки, в соответствии с ИСО/МЭК 7816-3, 7.3, с минимальной продолжительностью (1 etu + zt) и минимальным временем между передним фронтом стартового бита и передним фронтом сигнала ошибки ((10,5-0,2) etu + Sf).

d)    На каждый байт, посланный картой, генерируют пять последовательных состояний ошибки, в соответствии с ИСО/МЭК 7816-3, 7.3, с максимальной продолжительностью (2etu - et) и максимальным временем между передним фронтом стартового бита и передним фронтом сигнала ошибки ((10,5 + 0,2) etu-Sf).

e)    Повторяют этапы с) — d) для всех предусмотренных ATR (см. выбор режима в ИСО/МЭК 7816-3, 6.2.4).

6.2.2.3    Отчет об испытаниях

В отчет об испытаниях включают измеренные значения протокола.

6.2.3    Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0

Цель настоящего испытания заключается в определении синхронизации приема и сообщении ошибок карты (см. ИСО/МЭК 7816-3, 7.1, 7.2, 7.3, 10.2).

6.2.3.1    Оборудование

См. 4.7.1.

6.2.3.2    Методика

Карту соединяют с испытательным оборудованием для карт.

Во время выполнения данной методики должны непрерывно контролироваться контакты VCC, RST, CLK и I/O, регистрироваться все передаваемые сигналы (уровень и синхронизация), а также логическое содержание коммуникаций.

а) Устанавливают параметры тактовой синхронизации испытательного оборудования для карт (см. таблицу 48).

17

6.3.10    Согласование IFSD.....................................23

6.3.11    Прерывание IFD.......................................24

7    Методы испытаний физических и электрических характеристик IFD.................24

7.1    Активация контактов.........................................24

7.1.1    Оборудование.........................................24

7.1.2    Методика............................................24

7.1.3    Отчет об испытаниях.....................................25

7.2    Контакт VCC.............................................25

7.2.1    Оборудование.........................................25

7.2.2    Методика............................................25

7.2.3    Отчет об испытаниях.....................................26

7.3    Контакт I/O..............................................26

7.3.1    Оборудование.........................................26

7.3.2    Методика............................................26

7.3.3    Отчет об испытаниях.....................................27

7.4    Контакт CLK.............................................27

7.4.1    Оборудование.........................................27

7.4.2    Методика............................................27

7.4.3    Отчет об испытаниях.....................................29

7.5    Контакт RST.............................................29

7.5.1    Оборудование.........................................29

7.5.2    Методика............................................29

7.5.3    Отчет об испытаниях.....................................30

7.6    Контакт SPU (С6)...........................................30

7.7    Деактивация контактов.......................................30

7.7.1    Оборудование.........................................30

7.7.2    Методика............................................30

7.7.3    Отчет об испытаниях.....................................30

8    Методы испытаний логических операций IFD..............................30

8.1    Ответ-на-Восстановление......................................30

8.1.1    Восстановление карты («холодное» восстановление)...................30

8.1.2    Восстановление карты    («теплое» восстановление)....................31

8.2    Протокол Т = 0............................................31

8.2.1    Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0.....................31

8.2.2    Повторение знака I/O для    протокола    Т = 0.........................31

8.2.3    Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0.......32

8.3    Протокол Т = 1............................................32

8.3.1    Синхронизация передачи I/O для протокола Т =1.....................33

8.3.2    Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1......................33

8.3.3    Характер изменения времени    ожидания    знака (CWT)...................34

8.3.4    Реакция IFD на превышение времени    ожидания знака в карте..............34

8.3.5    Разграничительный интервал    блока    (BG7).........................35

8.3.6    Упорядочение блоков в IFD.................................35

8.3.7    Устранение ошибок передачи    в IFD.............................37

8.3.8    Согласование IFSC......................................37

8.3.9    Прерывание карты......................................37

8.4    IFD — Реакция IFD на неправильные РСВ.............................38

8.4.1    Оборудование.........................................38

8.4.2    Методика............................................38

8.4.3    Отчет об испытаниях.....................................38

Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов

ссылочным национальным стандартам Российской Федерации...........39

IV

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

КАРТЫ ИДЕНТИФИКАЦИОННЫЕ Методы испытаний Часть 3

КАРТЫ НА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМАХ С КОНТАКТАМИ И СВЯЗАННЫЕ С НИМИ УСТРОЙСТВА СОПРЯЖЕНИЯ

Identification cards. Test methods. Part 3. Integrated circuit cards with contacts and related interface devices

Дата введения — 2013—01—01

1    Область применения

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для определения характеристик карт на интегральных схемах с контактами (далее — карт) и связанных с ними устройств сопряжения в соответствии с определением, приведенным в ИСО/МЭК 7816. На каждый метод испытания имеется указание в одном или нескольких основных стандартах, например в ИСО/МЭК 7816, либо в одном или нескольких дополнительных стандартах, устанавливающих требования к различным технологиям хранения информации, применяемым в карте.

Примечание — Критерии приемлемости не являются частью настоящего стандарта, но их можно найти в основных стандартах.

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, которые являются специфическими для технологий для карт на интегральных схемах с контактами. В ИСО/МЭК 10373-1 определены методы испытаний, являющиеся общими для одной или нескольких технологий для карт, а остальные стандарты этой серии устанавливают иные методы испытаний для специальных технологий.

Методы испытаний, описанные в настоящем стандарте, предназначены для отдельного и независимого выполнения. Для конкретной карты не требуется последовательное выполнение всех испытаний. Описанные в настоящем стандарте методы испытаний, основаны на методах, установленных в ИСО/МЭК 7816-3.

Соответствие техническим требованиям карт и IFD, установленное с помощью методов испытаний, определенных в настоящем стандарте, не исключает сбоев поля. Испытания на безотказность в настоящем стандарте не рассматриваются.

Настоящий стандарт не описывает испытания, позволяющие установить функциональные возможности карт на интегральных схемах в полном объеме. Методы испытаний, рассматриваемые в настоящем стандарте, требуют проверки лишь минимальной функциональности. Ее определяют следующим образом:

-    любая интегральная схема, имеющаяся в карте, продолжает показывать отклик на Ответ-на-Восстановление, который соответствует базовому стандарту;

-    каждый контакт, соединенный с интегральной схемой, имеющейся в карте, продолжает показывать электрическое сопротивление, которое соответствует базовому стандарту.

2    Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:

ИСО/МЭК 7810:2003 Карты идентификационные. Физические характеристики (ISO/IEC 7810:2003, Identification cards — Physical characteristics)

Издание официальное

ИСО/МЭК 7816-3:2006 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 3. Электронный интерфейс и протоколы передачи (ISO/IEC 7816-3:2006, Identification cards — Integrated circuit cards — Part 3: Cards with contacts — Electrical interface and transmission protocols)

ИСО/МЭК 7816-4:2005 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 4. Организация, защита и межотраслевые команды для обмена (ISO/IEC 7816-4:2005, Identification cards — Integrated circuit cards — Part 4: Organization, security and commands for interchange)

3    Термины и определения

В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:

3.1    карта (card): Карта на интегральной схеме с контактами, как определено в ИСО/МЭК 7816.

3.2    DUT (device under test): Карта или IFD, подвергающиеся испытанию.

3.3    фактор-etu (etu-factor): Параметры, предусмотренные выбором протокола и параметров (PPS), описанные в ИСО/МЭК 7816-3, 6.3.1

3.4    IFD (interface device): Устройство сопряжения для карт на интегральных схемах с контактами согласно определению ИСО/МЭК 7816-3.

3.5    нормальное применение (normal use): Применение карты в качестве идентификационной, как определено ИСО/МЭК 7810:2003,4.1, включая использование в машинных процессах, соответствующих технологии хранения информации, реализованной в данной карте, и хранение карты как личного документа в промежутках между машинными процессами.

3.6    метод испытаний (test method): Метод проверки характеристик идентификационных карт и связанных с ними устройств сопряжения с целью подтверждения их соответствия международным стандартам.

3.7    сценарий испытаний (test scenario): Определенный типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения, используемые в методах испытаний, установленных в настоящем стандарте.

3.8    типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения (typical protocol and application specific communication): Коммуникации между испытываемым устройством DUT и соответствующим испытательным оборудованием, основанные на протоколе и приложении, выполняемом в DUT, и представляющие его нормальное применение.

4    Общие понятия, относящиеся к методам испытаний

4.1    Внешние условия при испытаниях

Испытания физических, электрических и логических характеристик карт проводят при температуре окружающей среды 23 °С + 3 °С, относительной влажности 40 % — 60 %, если не определено иное.

4.2    Предварительное кондиционирование

Если метод испытаний требует проведения предварительного кондиционирования, испытуемые идентификационные карты выдерживают до начала испытания в нормальных климатических условиях в течение 24 ч, если не установлено иное.

4.3    Выбор метода испытаний

Определенный метод испытаний должен применяться в соответствии с требованиями для проверки характеристик карт, установленных в соответствующем базовом стандарте.

4.4    Допускаемые отклонения

Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных размеров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного оборудования) от указанных в стандарте значений не должны превышать ± 5 %, если не оговорены другие допускаемые отклонения.

4.5    Суммарная погрешность измерения

Суммарная погрешность измерения по каждой величине, определяемой данным методом испытаний, должна быть указана в протоколе испытаний.

ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011

4.6    Соглашения по электрическим измерениям

Разница потенциалов определяется относительно GND (земля) контакта карты, а ток, входящий в карту, считается положительным.

4.7    Оборудование

4.7.1    Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами (испытательное оборудование)

4.7.1.1    Генерирование напряжения VCC (Ucc) и синхронизация

Таблица 1 — Напряжение и синхронизация для VCC

Параметр

Режим работы

Диапазон

Точность

исс

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

± 20 мВ

{R’ {F

Класс А, В, С

От 0 до 500 мкс

±100 мкс

4.7.1.2 Измерение /сс

Таблица 2 — Параметры 1Сс

Характеристика

Режим

Диапазон

Точность

Разрешение

Измерение выбросов

От 0 до 200 мА

± 2 мА

20 нс

Активный режим

От 0 до 100 мА

± 1 мА

Среднее свыше 1 мс

Останов синхронизации

От 0 до 200 мкА

± 10 мкА

Среднее свыше 1 мс

4.7.1.3    Генерирование напряжения SPU (С6)

См. 5.5 и ИСО/МЭК 7816-3.

4.7.1.4    Генерирование напряжения RST и синхронизация

Таблица 3 — Напряжение RST и синхронизация

Параметр

Режим работы

Диапазон

Точность

U\H’ U\L

Класс А, В

От -1 до 6 В

± 20 мВ

Чн

Класс С

От -1 до 2 В

± 20 мВ

<4

Класс С

От -1 до 1 В

± 20 мВ

f{F

От 0 до 2 мкс

± 20 нс

Примечание — и ^ генерируют от 10 % до 90 % от значений UH min и UL max.

4.7.1.5 Измерение тока RST

Таблица 4—TokRST

Характеристика

Режим

Диапазон

Точность

Разрешение

4

Активный

От -30 до 200 мкА

±10 мкА

100 нс

4

Активный

От -200 до 30 мкА

±10 мкА

100 нс

4.7.1.6 Генерирование напряжения I/O и синхронизация в режиме приема

Таблица 5 — Напряжение I/O и синхронизация

Параметр

Режим

Режим работы

Диапазон

Точность

Чн> UIL

Карта: Прием, Оборудование: Передача

Класс А, В

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

Чн

Карта: Прием, Оборудование: Передача

Класс С

От -1 до 2 В

+ 20 мВ

4L

Карта: Прием, Оборудование: Передача

Класс С

От -1 до 1 В

+ 20 мВ

4 4

Карта: Прием, Оборудование: Передача

От 0 до 2 мкс

± 100 нс

Примечание — fR и fF генерируют от 10 % до 90 % от значений UH min и UL max.

4.7.1.7 Измерение тока I/O в режиме приема

Таблица 6 — Ток I/O (режим приема)

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Разрешение

4

Карта: Прием, Оборудование: Передача

От-300 до 30 мкА

± 10 мкА

100 нс

4

Карта: Прием, Оборудование: Передача

От-1,5 до -0,2 мА

± 50 мкА

100 нс

Карта: Прием, Оборудование: Передача

От -200 до 30 мкА

±10 мкА

100 нс

4.7.1.8 Генерирование тока I/O

Таблица 7 — Ток I/O

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Время стабилизации после достижения уровня

4>Н

Карта: Передача, Оборудование: Прием

От 20 кОм до VCC или эквивалентная цепь

± 200 Ом

4l

Карта: Передача, Оборудование: Прием

От 0 до 1,5 мА

± 50 мкА

< 100 нс

4.7.1.9 Измерение напряжения I/O и синхронизация

Таблица 8 — Напряжение I/O и синхронизация

Характеристика

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

Ч 4l

Класс А, В, С

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

20 нс

4 4

От 0 до 2 мкс

± 20 нс

Примечание — fR и tF измеряют от 10 % до 90 % от значений UH min и UL max.

4

4.7.1.10 Генерирование напряжения CLK

Таблица 9 — Напряжение CLK

Параметр

Режим работы

Диапазон

Точность

Разрешение

Цн. Щ

Класс А, В

От -1 до 6 В

+ 20 мВ

20 нс

U,h

Класс С

От -1 до 2 В

± 20 мВ

20 нс

Ц,

Класс С

От -1 до 2 В

± 20 мВ

20 нс

4.7.1.11 Генерирование формы сигнала CLK (в одном цикле измерения)

Таблица 10 — Формы сигнала CLK

Параметр

Диапазон

Точность

Рабочий цикл

От 35 % до 65 % периода

± 5 нс

Частота

От 0,5 до 5,5 МГц

± 5 кГц

Частота

От 5 до 20,5 МГц

± 50 кГц

4 fF

От 1 % до 10 % периода

± 5 нс

Примечание — tRv\tF генерируют от 10 % до 90 % от значений UH min (100 %) и UL max (0 %).

4.7.1.12 Измерение тока CLK

Таблица 11—TokCLK

Характеристика

Режим

Диапазон

Точность

Разрешение

4

Активный

От-30 до 150 мкА

+ 10 мкА

20 нс

4

Активный

От-150 до 30 мкА

±10 мкА

20 нс

4.7.1.13 Измерение емкости контактов RST, CLK и I/O

Таблица 12 — Емкость контактов

Характеристика

Диапазон

Точность

С

От 0 до 50 пФ

± 5 пФ

Примечание — Контактную емкость следует измерять между контактом и GND контактом.

4.7.1.14 Генерирование последовательности активации и деактивации контактов

Таблица 13 — Активация и деактивация

Диапазон переключения сигналов

Точность

От 0 до 1 с

± 200 нс (или 1 CLK период в зависимости от того, что меньше)

4.7.1.15 Эмуляция протокола I/O

Испытательное оборудование для карт должно быть способно эмулировать протоколы Т = 0 и Т = 1, а также приложения IFD, которые необходимы для запуска типовой коммуникации, специфичной для приложения, в соответствии в приложениями карты.

Примечание — Если специфичные функции не реализованы в карте, то требование о наличии соответствующей системы контроля в испытательном оборудовании для карт не является обязательным (например, протокол Т = 1 не реализован в карте).

4.7.1.16 Генерирование синхронизации знака I/O в режиме приема

Испытательное оборудование для карт должно быть способно генерировать поток битов I/O в соответствии с ИСО/МЭК 7816-3.

Все параметры синхронизации, например длина стартового бита, защитное время, сигналы ошибок и т. д., должны быть конфигурируемыми.

Таблица 14 — Синхронизация знака I/O

Символ

Параметр

Точность

Sf

Все параметры синхронизации

± 4 CLK цикла

4.7.1.17 Измерение и мониторинг протокола I/O

Испытательное оборудование для карт должно быть способно проводить измерения и мониторинг синхронизации логических низких и высоких состояний линии I/O по отношению к частоте CLK.

Таблица 15 — Характеристики синхронизации

Характеристики

Точность

Все характеристики синхронизации

± 2 CLK цикла

4.7.1.18 Анализ протокола

Испытательное оборудование для карт должно быть способно проводить анализ потока битов I/O по протоколам Т = 0иТ=1в соответствии со стандартом ИСО/МЭК 7816-3 и выделять поток логических данных для дальнейшей проверки протокола и приложения.

Примечание — Если специфичные функции не реализованы в карте, то требование о наличии соответствующей системы контроля в испытательном оборудовании для карт не является обязательным (например, протокол Т = 1 не реализован в карте). С другой стороны, от оборудования может потребоваться расширение возможностей, например генерировать любую команду варианта 2 (см. ИСО/МЭК 7816-4), если карта не поддерживает стандарт READ BINARY.

4.7.2 Оборудование для испытаний устройства сопряжения (испытательное оборудование для IFD)

4.7.2.1 Генерирование тока VCC (/сс)

Таблица 16 — TokVCC

Параметр

Режим

Диапазон

Точность

Время стабилизации после достижения уровня

Азе

Генерация выброса

От 0 до 120 мА

± 2 мАь

< 100 нс

Активный режим

От 0 до 70 мА

± 1 мА

< 100 нс

Холостой режим (CLK-стоп)

От 0 до 1,2 мА

±10 мкА

< 100 нс

Неактивный3

От -1,2 до 0 мА

+ 10 мкА

< 100 нс

fR' fF

100 нс

± 50 нс

Длина импульса

От 100 до 500 нс

± 50 нс

Длина паузы на частоте

От 100 до 1000 нс

± 50 нс

Длина паузы случайная

От 10 до 2000 мкс

± 1 мкс

а Максимальное выходное напряжение должно быть ограничено 5 В. ь Динамические условия для генерирования выбросов.