Находится в:


ГОСТ 23070-78: Анализ и оптимизация на ЭВМ радиоэлектронных схем. Термины и определения
ГОСТ 26975-86: Микросборки. Термины и определения
ГОСТ 28111-89: Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
ГОСТ 29108-91: Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы
ГОСТ 24613.9-83: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
ГОСТ 24613.0-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001: Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
ГОСТ 30350-96: Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
ГОСТ 29109-91: Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы
ГОСТ 28814-90: Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
ГОСТ 28623-90: Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
ГОСТ 23089.16-90: Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
ГОСТ 27694-88: Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
ГОСТ 23089.14-88: Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
ГОСТ 17021-88: Микросхемы интегральные. Термины и определения
ГОСТ 23089.12-86: Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
ГОСТ 23089.13-86: Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
ГОСТ 23089.10-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
ГОСТ 23089.4-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 23089.2-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей
ГОСТ 18683.0-83: Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров
ГОСТ 24613.16-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
ГОСТ 24613.11-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
ГОСТ 24613.14-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
ГОСТ 24613.18-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
ГОСТ 29107-91: Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
ГОСТ 19480-89: Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров
ГОСТ 4.465-87: Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей
ГОСТ 24613.8-83: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
ГОСТ 24613.7-83: Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
ГОСТ 23089.8-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
ГОСТ 18725-83: Микросхемы интегральные. Общие технические условия
ГОСТ 18683.1-83: Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статистических электрических параметров
ГОСТ 23089.9-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
ГОСТ 23089.7-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
ГОСТ 24613.1-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
ГОСТ 24613.4-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
ГОСТ 24613.2-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
ГОСТ 24613.3-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
ГОСТ 24460-80: Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры
ГОСТ 24613.10-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
ГОСТ 24613.15-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
ГОСТ Р 50044-92: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
ГОСТ 23089.15-90: Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
ГОСТ 17467-88: Микросхемы интегральные. Основные размеры
ГОСТ 26949-86: Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
ГОСТ 23089.3-83: Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э.д.с cмещения нуля опреционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 23089.6-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
ГОСТ 23089.1-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 23089.5-83: Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 23089.11-83: Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 24613.5-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
ГОСТ 24613.6-81: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
ГОСТ 24459-80: Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
ГОСТ 23622-79: Элементы логические интегральных микросхем. Основные параметры
ГОСТ 24613.13-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
ГОСТ 24613.17-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
ГОСТ 24613.19-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
ГОСТ 20281-74: Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров
ГОСТ 29106-91: Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
ГОСТ 23089.17-90: Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
ГОСТ 23089.0-78: Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
ГОСТ 24613.12-77: Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
ГОСТ 19799-74: Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
ГОСТ 17447-72: Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры
ГОСТ 17230-71: Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений
ГОСТ 27780-88: Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
ГОСТ 18683.2-83: Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров