Купить ГОСТ 21006-75 — бумажный документ с голограммой и синими печатями. подробнее
Распространяем нормативную документацию с 1999 года. Пробиваем чеки, платим налоги, принимаем к оплате все законные формы платежей без дополнительных процентов. Наши клиенты защищены Законом. ООО "ЦНТИ Нормоконтроль"
Наши цены ниже, чем в других местах, потому что мы работаем напрямую с поставщиками документов.
Устанавливает применяемые в науке,технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения величин электронных микроскопов.
Ограничение срока действия снято: Постановление Госстандарта СССР № 5329 от 10.12.81
Основные виды электронных микроскопов
Конструктивные элементы электронных микроскопов
Изображения объекта в просвечивающем электронном микроскопе
Изображения объекта в растровом электронном микроскопе
Изображения объекта в эмиссионном электронном микроскопе
Параметры и характеристики
Алфавитный указатель терминов на русском языке
Алфавитный указатель терминов на немецком языке
Алфавитный указатель терминов на английском языке
Приложение Общие понятия электронно-оптических приборов
Дата введения | 01.07.1976 |
---|---|
Добавлен в базу | 01.09.2013 |
Актуализация | 01.01.2021 |
17.07.1975 | Утвержден | Госстандарт СССР | 1835 |
---|
Чтобы бесплатно скачать этот документ в формате PDF, поддержите наш сайт и нажмите кнопку:
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ Термины, определения и буквенные обозначения Electron microscopes. Terms definitions and letter symbols |
ГОСТ |
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 17 июля 1975 г. № 1835 дата введения установлена
01.07.76
Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта СССР от 10.12.81 № 5329
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения величин электронных микроскопов.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе. Приведенные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятия.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов-синонимов стандартизованного термина запрещается. Недопустимые к применению термины-синонимы приведены в стандарте в качестве справочных и обозначены пометой «Ндп».
Для отдельных стандартизованных терминов в стандарте приведены в качестве справочных их краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
В стандарте в качестве справочных для ряда стандартизованных терминов приведены иностранные эквиваленты на немецком (D) и английском языках (Е).
В стандарте приведены алфавитные указатели содержащихся в нем терминов на русском языке и их иностранных эквивалентов.
К стандарту дано приложение, содержащее термины общих понятий электронно-оптических приборов.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы - курсивом.
Термин |
Буквенное обозначение |
Определение |
1. Электронный микроскоп D. Elektronenmikroskop E. Electron Microscope F. Microscope électronique |
- |
Микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной оптики |
ОСНОВНЫЕ ВИДЫ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОСКОПОВ |
||
2. Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Ндп. Трансмиссионный электронный микроскоп D. Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop E. Transmission electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, проходящими сквозь этот объект |
3. Растровый электронный микроскоп (РЭМ) Ндп. Сканирующий электронный микроскоп D. Rasterelelektronenmikroskop E. Scanning electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом |
4. Отражательный электронный микроскоп D. Reflexions-Eletronenmikroskop E. Reflection electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, отраженными этим объектом |
5. Эмиссионный электронный микроскоп D. Emissions-Elektronenmikroskop E. Emission electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом |
6. Зеркальный электронный микроскоп D. Spiegelelektronenmikroskop E. Mirror electron microscope |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта, являющегося катодом электронного зеркала |
7. Автоэлектронный проектор Ндп. Микропроектор Микроскоп-проектор |
- |
Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, эмиттируемыми этим объектом под воздействием электрического поля |
КОНСТРУКТИВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОСКОПОВ |
||
8. Электронная пушка электронного микроскопа Электронная пушка D. Elektronenstranhler E. Electron gun |
- |
Эмиссионная система, предназначенная для ускорения электронов в электронном микроскопе |
9. Электронное зеркало D. Elektronenspiegel E. Electron mirror |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для изменения направления осевых составляющих скоростей электронов электронного пучка на обратное |
10. Видеоконтрольное устройство растрового электронного микроскопа (ВКУ) |
- |
Система визуального наблюдения процессов, протекающих в растровом электронном микроскопе при взаимодействии электронного зонда с объектом |
11. Электронная линза электронного микроскопа Линза D. Elektronenlinse E. Electron lens |
- |
Электронно-оптический элемент, предназначенный для фокусировки электронных пучков в электронном микроскопе |
12. Магнитная линза электронного микроскопа Магнитная линза D. Magnetische Linse E. Magnetic lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем |
13. Электростатическая линза электронного микроскопа Электростатическая линза D. Elecktrische Linse E. Electric lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков электрическим полем |
14. Формирующая линза |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая электронный зонд в плоскости объекта |
15. Конденсаторная линза электронного микроскопа Конденсор D. Kondensorlinse E. Condenser lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков, освещающих объект |
16. Двойной конденсатор электронного микроскопа Двойной конденсор D. Doppelkondensor E. Double condenser |
- |
Часть электронно-оптической системы, состоящая из двух конденсаторных линз, предназначенная для фокусировки электронных пучков, освещающих объект |
17. Объективная линза электронного микроскопа Объектив D. Objektivlinse E. Objective lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая первое увеличенное изображение объекта |
18. Дифракционная линза |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта или его дифракционной картины в предметной плоскости промежуточной линзы |
19. Промежуточная линза электронного микроскопа Промежуточная линза D. Zwischenlinse E. Intermediate lens |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта или его дифракционной картины в предметной плоскости проекционной линзы |
20. Проекционная линза электронного микроскопа Проекционная линза Ндп. Проектив D. Projektiv E. Projector |
- |
Электронная линза электронного микроскопа, формирующая увеличенное конечное изображение объекта или его дифракционной картины |
21. Регистрирующая система электронного микроскопа Регистрирующая система |
- |
Устройство, предназначенное для регистрации электронов и вторичных излучений в электронном микроскопе |
22. Фотокамера электронного микроскопа Фотокамера D. Aufnahmekammer E. Photographic chamber |
- |
Часть регистрирующей системы электронного микроскопа, предназначенная для фотографирования изображения в электронных пучках |
23. Вакуумная система электронного микроскопа Вакуумная система D. Vakuumanlage E. Vacuum system |
- |
Система, предназначенная для создания вакуума в электронном микроскопе |
24. Юстировочная система электронного микроскопа Юстировочная система |
- |
Устройство, предназначенное для совмещения электронного пучка с оптической осью электронно-оптической системы электронного микроскопа |
25. Отклоняющая система электронного микроскопа Отклоняющая система D. Ablenksystem E. Deflection system |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного пучка электрическими или магнитными полями |
26. Стигматор D. Stigmator E. Stigmator |
- |
Электронно-оптический элемент электронного микроскопа, предназначенный для исправления приосевого астигматизма |
27. Полюсный наконечник электронного микроскопа Полюсный наконечник D. Polschuh E. Pole piese |
- |
Часть магнитопровода электронного микроскопа, концентрирующая поле магнитной линзы в приосевой области |
28. Колонна электронного микроскопа Колонна D. Mikroskoprohr E. Microscope column |
- |
Совокупность конструктивно объединенных электронно-оптических и механических элементов электронного микроскопа |
29. Шлюзовое устройство электронного микроскопа Шлюз D. Schleuse E. Airlock |
- |
Устройство, предназначенное для ввода и вывода из колонны электронного микроскопа сменных элементов без существенного нарушения в ней рабочего вакуума |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В ПРОСВЕЧИВАЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
30. Светлопольное изображение D. Hellfeldabbildung E. Bright-field image |
- |
Изображение, сформированное в просвечивающем электронном микроскопе электронными пучками, содержащими нерассеянные в объекте электроны, а также рассеянные в пределах апертурного угла объективной линзы |
31. Темнопольное изображение D. Dunkelfeldabbildung E. Dark-field image |
- |
Изображение, сформированное в просвечивающем электронном микроскопе только рассеянными в объекте электронными пучками |
32. Микродифракция D. Feinbereichsbeugung E. Selected ared diffraction |
- |
Дифракционное изображение малого участка объекта, сформированное в задней фокальной плоскости объективной линзы и увеличенное электронными линзами просвечивающего электронного микроскопа |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
33. Изображение во вторичных электронах D. Abbildung mit sekundärelelektronen E. Secondary-Emission mobe |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием вторичных электронов от объекта |
34. Изображение в отраженных электронах D. Abbildung mit Rückstreuelektronen E. Backscackscattered Electron mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных от объекта электронов |
35. Изображение в поглощенных электронах D. Abbildung mit Probenstömen E. Absorbed specimen current mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием электронов, поглощенных объектом |
36. Катодолюминесцентное изображение D. Abbildung mit Kathodolumineszenz E. Cathodoluminescence mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием оптического излучения, возбуждаемого в объекте электронным зондом |
37. Изображение в наведенном электронным зондом токе D. Abbildung mit induzierten Probenströmen E. Induced current mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием тока, возникающего в цепи с полупроводниковым объектом при воздействии на него электронного зонда |
38. Изображение в рентгеновском характеристическом излучении |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием характеристического рентгеновского излучения, возбуждаемого в объекте электронным зондом |
39. Изображение в Оже-электронах |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием Оже-электронов |
40. Изображение в прошедших электронах |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе электронами, прошедшими сквозь объект |
41. Изображение картин каналирования электронов D. Abbildung mit Channelling Diagrammen E. Electron Channeling Pattern mode |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием эффекта каналирования электронных пучков в объекте |
42. Изображение при Y-модуляции |
- |
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе сложением видеосигнала с током (напряжением) кадровой развертки |
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА В ЭМИССИОННОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ |
||
43. Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта ионами |
44. Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта электронами |
45. Изображение в термоэлектронах |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием термоэлектронов, испускаемых объектом при нагревании |
46. Изображение в фотоэлектронах |
- |
Изображение, сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием фотоэлектронов, испускаемых объектом под действием оптического излучения |
ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ |
||
47. Ускоряющее напряжение электронного микроскопа Ускоряющее напряжение D. Beschleunigungsspannung E. Accelerating voltage |
U |
Разность потенциалов, определяющая энергию электронов в осветительной системе электронного микроскопа |
48. Нестабильность напряжения электронного микроскопа Нестабильность напряжения |
DU |
Самопроизвольное изменение значения ускоряющего напряжения электронного микроскопа во времени |
49. Нестабильность тока электронного микроскопа Нестабильность тока |
Dl |
Самопроизвольное изменение значения тока электронного микроскопа во времени |
50. Электронно-оптическое увеличение электронного микроскопа D. Elektronenoptische Vergröberung E. Electron optical magnification |
мэ |
Отношение линейного размера изображения, полученного непосредственно в электронном микроскопе, к линейному размеру соответствующего элемента объекта |
51. Общее увеличение D. Gesamtvergröberung E. Total magnification |
мo |
Увеличение изображения объекта, равное произведению электронно-оптического увеличения и дополнительного увеличения, полученного вне электронного микроскопа |
52. Разрешающая способность электронного микроскопа D. Auflösungsvermögen E. Resolving power |
δ |
Наименьшее расстояние между двумя деталями объекта, раздельно изображаемыми в электронном микроскопе |
53. Разрешающая способность электронного микроскопа по кристаллической решетке D. Netzebenenabbildung E. Lattice plane resolution |
δр |
Наименьшее межплоскостное расстояние кристаллической решетки, плоскости которой изображаются раздельно в электронном микроскопе |
54. Разрешающая способность электронного микроскопа по точкам D. Punktauflösung E. Point resolution |
δт |
Наименьшее расстояние между двумя микрочастицами объекта, раздельно изображаемыми в электронном микроскопе |
55. Электронная яркость D. Richtsrtahlwert E. Brightnes |
В |
Ток электронного пучка в пределах единичного телесного угла, приходящийся на единицу площади облучаемой поверхности |
56. Апертурный угол формирующей линзы |
aФ |
Половина угла расхождения траекторий электронов в электронном зонде |
57. Апертурный угол объективной линзы электронного микроскопа Апертурный угол объективной линзы |
aоб |
Половина угла расхождения траекторий электронов, покидающих объект и формирующих изображение |
58. Апертурный угол осветительной системы электронного микроскопа Апертурный угол осветительной системы |
aос |
Половина угла расхождения траекторий электронов, падающих на объект |
ВКУ |
10 |
Зеркало электронное |
9 |
Изображение в наведенном электронном зондом токе |
37 |
Изображение во вторичных электронах |
33 |
Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке |
43 |
Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке |
44 |
Изображение в Оже-электронах |
39 |
Изображение в отраженных электронах |
34 |
Изображение в поглощенных электронах |
35 |
Изображение в прошедших электронах |
40 |
Изображение в рентгеновском характеристическом излучении |
38 |
Изображение в термоэлектронах |
45 |
Изображение в фотоэлектронах |
46 |
Изображение картин каналирования электронов |
41 |
Изображение катодолюминесцентное |
36 |
Изображение при У-модуляции |
42 |
Изображение светлопольное |
30 |
Изображение темнопольное |
31 |
Колонна |
28 |
Колонна электронного микроскопа |
28 |
Конденсор |
15 |
Конденсор двойной |
16 |
Конденсор электронного микроскопа двойной |
16 |
Линза |
11 |
Линза дифракционная |
18 |
Линза магнитная |
12 |
Линза проекционная |
20 |
Линза промежуточная |
19 |
Линза формирующая |
14 |
Линза электронного микроскопа конденсорная |
15 |
Линза электронного микроскопа магнитная |
12 |
Линза электронного микроскопа объективная |
17 |
Линза электронного микроскопа проекционная |
20 |
Линза электронного микроскопа промежуточная |
19 |
Линза электронного микроскопа электронная |
11 |
Линза электронного микроскопа электростатическая |
13 |
Линза электростатическая |
13 |
Микродифракция |
32 |
Микропроектор |
7 |
Микроскоп-проектор |
7 |
Микроскоп электронный |
1 |
Микроскоп электронный зеркальный |
6 |
Микроскоп электронный отражательный |
4 |
Микроскоп электронный просвечивающий |
2 |
Микроскоп электронный растровый |
3 |
Микроскоп электронный сканирующий |
3 |
Микроскоп электронный трансмиссионный |
2 |
Микроскоп электронный эмиссионный |
5 |
Наконечник полюсный |
27 |
Наконечник электронного микроскопа полюсный |
27 |
Напряжение ускоряющее |
47 |
Напряжение электронного микроскопа ускоряющее |
47 |
Нестабильность напряжения |
48 |
Нестабильность напряжения электронного микроскопа |
48 |
Нестабильность тока |
49 |
Нестабильность тока электронного микроскопа |
49 |
Объектив |
17 |
Проектив |
20 |
Проектор автоэлектронный |
7 |
Пушка электронная |
8 |
Пушка электронного микроскопа электронная |
8 |
пэм |
2 |
РЭМ |
3 |
Система вакуумная |
23 |
Система отклоняющая |
25 |
Система регистрирующая |
21 |
Система электронного микроскопа вакуумная |
23 |
Система электронного микроскопа отклоняющая |
25 |
Система электронного микроскопа регистрирующая |
21 |
Система электронного микроскопа юстировочная |
24 |
Система юстировочная |
24 |
Способность электронного микроскопа по кристаллической решетке разрешающая |
53 |
Способность электронного микроскопа по точкам разрешающая |
54 |
Способность электронного микроскопа разрешающая |
52 |
Стигматор |
26 |
Увеличение общее |
51 |
Увеличение электронного микроскопа электронно-оптическое |
50 |
Угол объективной линзы апертурный |
57 |
Угол объективной линзы электронного микроскопа апертурный |
57 |
Угол осветительной системы апертурный |
58 |
Угол осветительной системы электронного микроскопа апертурный |
58 |
Угол формирующей линзы апертурный |
56 |
Устройство растрового электронного микроскопа видеоконтрольное |
10 |
Устройство электронного микроскопа шлюзовое |
29 |
Фотокамера |
22 |
Фотокамера электронного микроскопа |
22 |
Шлюз |
29 |
Яркость электронная |
55 |
Abbildung mit Channelling Diagrammen |
41 |
Abbildung mit Kathodolumineszengz |
36 |
Abbildung mit induzierten Probenströmen |
37 |
Abbildung mit Probenstömen |
35 |
Abbildung mit Rückstreuelektronen |
34 |
Abbildung mit sekundärelelektronen |
33 |
Ablenksystem |
25 |
Auflösungsvermögen |
52 |
Aufnahmekammer |
22 |
Beschleunigungsspannung |
47 |
Doppelkondensor |
16 |
Dunkelfeldabbildung |
31 |
Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop |
2 |
Elektrische Linse |
13 |
Elektronenlinse |
11 |
Elektronenmikroskop |
1 |
Elektronenoptische Vergröberung |
50 |
Elektronenspiegel |
9 |
Elektronenstrahler |
8 |
Emissions-Elektronenmikroskop |
5 |
Feinbereichsbeugung |
32 |
Gesamtvergröberung |
51 |
Hellfeldabbildung |
30 |
Kondensorlinse |
15 |
Magnetische Linse |
12 |
Mikroskoprohr |
28 |
Netzebenenabbildung |
53 |
Objektivlinse |
17 |
Polschuh |
27 |
Projektiv |
20 |
Punktauflösung |
54 |
Rasterelelektronenmikroskop |
3 |
Reflexions-Elektronenmikroskop |
4 |
Richtsrtahlwert |
55 |
Schleuse |
29 |
Spiegelelektronenmikroskop |
6 |
Stigmator |
26 |
Vakuumanlage |
23 |
Zwischenlinse |
19 |
Absorbed specimen current mode |
35 |
Accelerating voltage |
47 |
Airlock |
29 |
Backscattered Electron mode |
34 |
Bright-field image |
30 |
Brightness |
55 |
Cathodoluminescence mode |
36 |
Condenser lens |
15 |
Dark-field image |
31 |
Deflection system |
25 |
Double condenser |
16 |
Electric lens |
13 |
Electron Channeling Pattern mode |
41 |
Electron gun |
8 |
Electron lens |
11 |
Electron microscope |
1 |
Electron mirror |
9 |
Electron optical magnification |
50 |
Emission electron microscope |
5 |
Induced current mode |
37 |
Intermediate lens |
19 |
Lattice plane resolution |
53 |
Magnetic lens |
12 |
Microscope column |
28 |
Mirror electron microscope |
6 |
Objective lens |
17 |
Photographic chamber |
22 |
Point resolution |
54 |
Pole piese |
27 |
Projector |
20 |
Reflection electron microscope |
4 |
Resolving power |
52 |
Scanning electron microscope |
3 |
Secondary-Emission mode |
33 |
Selected ared diffraction |
32 |
Stigmator |
26 |
Total magnification |
51 |
Transmission electron microscope |
2 |
Vacuum system |
23 |
Справочное
Термин |
Пояснение |
1. Электронно-оптический элемент |
Устройство, предназначенное для формирования электронных пучков или управления ими электрическими и (или) магнитными полями |
2. Электронно-оптическая система |
Совокупность электронно-оптических элементов |
3. Осветительная система |
Часть электронно-оптической системы, предназначенной для формирования электронных пучков, освещающих объект |
4. Изображающая система |
Часть электронно-оптической системы, формирующая увеличенное изображение объекта или дифракционной картины |
5. Аберрация |
Искаженное изображение объекта, возникающее вследствии непараксиальности и немонохроматичности электронных пучков, дифракции электронов |
6. Электронный луч |
Совокупность электронов, движущихся по одной траектории |
7. Электронный пучок |
Совокупность электронных лучей, имеющих общую точку |
8. Кроссовер |
Минимальное сечение электронного пучка в эмиссионной системе |
9. Электронный зонд |
Электронный пучок, имеющий минимальное сечение в заданной плоскости |
10. Эмиссионная система |
Электронно-оптическая система, предназначенная для формирования электронного пучка и управления его интенсивностью |
11. Фиктивный катод Нрк. Мнимый источник |
Мнимое изображение катода, образованное полем, прилегающим непосредственно к катоду |
12. V-образный катод Нрк. Шпилькообразный катод |
Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого является эмиттером |
13. Остроконечный катод Нрк. Точечный катод Игольчатый катод Острийный катод |
Катод, эмиттер которого имеет заостренный конец |
14. Объект исследования Нрк. Препарат Образец |
Предмет, исследуемый в электронном микроскопе |
15. Столик объектов |
Устройство, предназначенное для установки и перемещения объектов |
16. Апертурная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая апертурный угол |
17. Селекторная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая участок объекта, с которого получают дифракционную картину |
СОДЕРЖАНИЕ
Основные виды электронных микроскопов. 1 Конструктивные элементы электронных микроскопов. 2 Изображения объекта в просвечивающем электронном микроскопе. 3 Изображения объекта в растровом электронном микроскопе. 4 Изображения объекта в эмиссионном электронном микроскопе. 4 Параметры и характеристики. 5 Алфавитный указатель терминов на русском языке. 5 Алфавитный указатель терминов на немецком языке. 7 Алфавитный указатель терминов на английском языке. 8 Приложение. Общие понятия электронно-оптических приборов. 9 |